「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(41ページ目) - Weblio英語例文検索

PATTERN GENERATING DEVICE AND METHOD, AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TEST DEVICE例文帳に追加

パターン発生装置及び方法並びに半導体集積回路試験装置 - 特許庁

ELECTRONIC COMPONENT SUCKING DEVICE, AND ELECTRONIC COMPONENT TEST APPARATUS HAVING THE SUCKING DEVICE例文帳に追加

電子部品吸着装置及びこれを備えた電子部品の試験装置 - 特許庁

To obtain a management device for an IC test device, where an application program without connection to an IC test device and a control device can be used and development and debugging are easily done.例文帳に追加

ＩＣ試験装置や制御装置を接続せずにアプリケーションプログラムを利用でき、開発やデバッグが容易なＩＣ試験装置の管理装置を提供する。 - 特許庁

INTERFACE DEVICE, ELECTRONIC COMPONENT TEST DEVICE PROVIDED WITH THE SAME AND ADAPTER SET例文帳に追加

インタフェース装置及びそれを備えた電子部品試験装置並びにアダプタセット - 特許庁

TEST DEVICE FOR CRIMPED CONDITION OF TERMINAL AND TERMINAL CRIMPING DEVICE PROVIDED WITH IT例文帳に追加

端子圧着状態検査装置およびそれを備えた端子圧着装置 - 特許庁

METHOD OF TEST FOR CONNECTION SYSTEM OF SEMICONDUCTOR MEMORY, DEVICE, AND PICTURE FORMING DEVICE例文帳に追加

半導体メモリ接続系統の検査方法，装置及び画像形成装置 - 特許庁

METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE, TEST PROGRAM, AND SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE例文帳に追加

半導体記憶装置の試験方法、試験プログラム及び半導体記憶装置 - 特許庁

CIRCUIT DEVICE, PACKAGE MEMBER, CIRCUIT MANUFACTURING METHOD, CIRCUIT TEST METHOD AND DEVICE例文帳に追加

回路装置、パッケージ部材、回路製造方法、回路試験方法および装置 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD, MANUFACTURING DEVICE, TESTING DEVICE, TEST METHOD, AND SUBSTRATE FOR CONNECTION例文帳に追加

製造方法、製造装置、試験装置、試験方法および接続用基板 - 特許庁

SOFTWARE TEST CASE EVALUATING DEVICE, AND SOFTWARE FAILURE TREE DEVICE AND SOFTWARE HAZARD DEVICE, AND SOFTWARE BEHAVIOR DESCRIBING DEVICE例文帳に追加

ソフトウェアテストケース評価装置、ソフトウェア故障木装置、ソフトウェアハザード装置、およびソフトウェア振舞い記述装置 - 特許庁

An input device is operated to change the test conditions input in the test condition columns 31a, 31b, 31e, 31f, and a test start button 52a is pushed to start the test.例文帳に追加

そして、入出力装置を操作して試験条件欄３１ａ，３１ｂ，３１ｅ，３１ｆに入力されている試験条件を変更し、試験開始ボタン５２ａを押圧して試験を開始する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device taking may chip numbers capable of parallel test simultaneously during a wafer test while suppressing the area increase of chips being a test object.例文帳に追加

試験対象となるチップの面積増加を抑制しつつ、ウェハテスト時において同時に並列試験可能なチップ数を多くとれる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

The ATM transmission testing device to which the test request is sent generates an ATM cell for transmission test corresponding to the test mode of the test request and transmits the ATM cell to the opposite node.例文帳に追加

試験要求が出されたＡＴＭ伝送試験装置は、試験要求の試験モードに応じた伝送試験用ＡＴＭセルを生成し、対向するノードに送信する。 - 特許庁

To provide a vehicle testing device applicable to a composite test of a brake test and a speed test of a vehicle and capable of stopping the rotation of drive rollers even when carrying out the brake test.例文帳に追加

車両のブレーキテストとスピードテストの複合試験に適用できて、ブレーキテスト時にも駆動ローラの回転の停止を可能にした車両試験装置を提供する。 - 特許庁

The system test specification generation device includes software 1, a specification analysis part 2, a system test specification database 3, a system test specification setting part 4, and a system test specification output part 5.例文帳に追加

システムテスト仕様生成装置は、ソフトウェア１と、仕様分析部２と、システムテスト仕様データベース３と、システムテスト仕様設定部４と、システムテスト仕様出力部５で構成される。 - 特許庁

SOFTWARE TEST ITEM SELECTING DEVICE, SOFTWARE TEST ITEM SELECTING PROGRAM, RECORDING MEDIUM IN WHICH SOFTWARE TEST ITEM SELECTING PROGRAM IS STORED, AND SOFTWARE TEST ITEM SELECTING METHOD例文帳に追加

ソフトウェア試験項目選択装置、ソフトウェア試験項目選択プログラム、ソフトウェア試験項目選択プログラムが格納された記憶媒体およびソフトウェア試験項目選択方法 - 特許庁

To provide an illumination device that can suitably be used as an illumination device with which a test device for a liquid crystal display panel is provided and to provide the test device employing the illumination device.例文帳に追加

液晶表示パネルの試験装置が備える照明装置として好適に用いることができる照明装置およびそれを用いた試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test device and a test method which can test a margin in power supply voltage and also a timing margin in a clock with an easy structure in the test device and the test method.例文帳に追加

本発明は、試験装置及び試験方法に関し、例えばコンピュータのメモリボードの試験に適用して、簡易な構成により電源電圧に対するマージン、動作基準信号に対するタイミングマージンをも試験することができるようにする。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TEST DEVICE, AND STORAGE MEDIUM WITH PROGRAM STORED IN IT例文帳に追加

半導体試験装置及びプログラムを記憶した記憶媒体 - 特許庁

AUXILIARY DEVICE AND METHOD FOR VISUAL TEST OF PRISM例文帳に追加

プリズム外観検査用補助具、及びプリズム外観検査方法 - 特許庁

TEST METHOD AND TESTING DEVICE OF RUBBER ELASTICITY CHARACTERISTIC MATERIAL例文帳に追加

ゴム弾性特性材料の試験方法および試験装置 - 特許庁

DRAIN INFILTRATION ENVIRONMENTAL SIMULATION DEVICE OF RECIPROCATION WEAR TEST APPARATUS例文帳に追加

往復動摩耗試験装置のドレン浸入環境模擬装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR INFERRING TEST TIME OF INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

集積回路装置のテスト時間推定方法及び装置 - 特許庁

SURVEILLANCE TEST DEVICE AND STORAGE MEDIUM STORED WITH PROGRAM例文帳に追加

サーベイランス試験装置およびプログラムを記憶した記憶媒体 - 特許庁

To simply carry out a leak test operation of a device.例文帳に追加

装置のリーク検査作業を簡単に行なえるようにする。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR RADIOLUCENCE TEST FOR PLANT INSTALLATION例文帳に追加

プラント設備の放射線透過試験装置および試験方法 - 特許庁

DEVICE PACKAGE AND METHODS FOR FABRICATION AND TEST THEREOF例文帳に追加

デバイスパッケージ、ならびにその製造方法および試験方法 - 特許庁

CIRCUIT SWITCHING DEVICE FOR CT PRIMARY TEST AND ITS SWITCHING METHOD例文帳に追加

ＣＴ１次試験用回路切替装置及び切替方法 - 特許庁

NONVOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND READ TEST METHOD例文帳に追加

不揮発性半導体記憶装置及び読み出しテスト方法 - 特許庁

DIAGNOSIS PROGRAM, SWITCH PROGRAM, TEST DEVICE, AND DIAGNOSIS METHOD例文帳に追加

診断プログラム、切替プログラム、試験装置、および診断方法 - 特許庁

VISCOELASTICITY MEASURING DEVICE, AND TEST METHOD OF VISCO-ELASTIC BODY例文帳に追加

粘弾性計測装置および粘弾性体の試験方法 - 特許庁

TEST DEVICE FOR COMMUNICATION AREA OF DSRC ROAD SIDE RADIO EQUIPMENT例文帳に追加

ＤＳＲＣ路側無線機の通信領域の試験装置 - 特許庁

TEST METHOD FOR TESTER OF SEMICONDUCTOR MEMORY AND ITS DEVICE例文帳に追加

半導体メモリ装置のテスタのテスト方法及びその装置 - 特許庁

TUBULAR BODY SEALING DEVICE, AND AIRTIGHT TEST METHOD OF WELD PART例文帳に追加

管体封止装置及び溶接部の気密試験方法 - 特許庁

To provide a test device for a semiconductor device which can test in a short time by increasing operation speed of trimming operation of a flash memory.例文帳に追加

フラッシュメモリのトリミング動作を高速化し、短時間に済ませることができる半導体デバイス試験装置を提案する。 - 特許庁

TEST METHOD FOR EVALUATING WEARING AND ABRASION AND HARDNESS OF POWDER AND ITS DEVICE例文帳に追加

粉体摩耗、硬さ評価試験方法およびその装置 - 特許庁

COMBINATION TEST DATA GENERATION DEVICE AND OPERATION METHOD THEREOF例文帳に追加

組み合わせ試験データ生成装置およびその動作方法 - 特許庁

RESISTANCE CHECK TEST PROGRAM AUTOMATIC GENERATING METHOD AND ITS DEVICE例文帳に追加

抵抗チエックテストプログラム自動生成方法及びその装置 - 特許庁

WATERTIGHT TESTING DEVICE AND WATERTIGHT TEST METHOD OF GLAZING CHANNEL例文帳に追加

グレージングチャンネルの水密試験装置及び水密試験方法 - 特許庁

GENERATING METHOD AND DEVICE OF MENU SELECTABLE TEST PROGRAM TOOL例文帳に追加

メニュー選択型試験プログラムツールの生成方法及び装置 - 特許庁

MULTILAYER PRINTED BOARD AND SEMICONDUCTOR TEST DEVICE USING MULTILAYER PRINTED BOARD例文帳に追加

多層プリント基板とそれを用いた半導体試験装置 - 特許庁

The test can thereafter be performed by a testing device 15.例文帳に追加

その後試験装置１５により試験を行うものである。 - 特許庁

METHOD FOR TESTING MAGNETIC HEAD ELEMENT, TESTING DEVICE, AND TEST PROGRAM例文帳に追加

磁気ヘッド素子の試験方法、試験装置、及び試験プログラム - 特許庁

To provide a semiconductor memory device and its test method.例文帳に追加

半導体メモリ装置及びそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

OIL SUPPLY DEVICE OF AUTOMATIC TEST APPARATUS FOR AUTOMATIC TRANSMISSION例文帳に追加

自動変速機用自動試験装置の油供給装置 - 特許庁