「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索

TEST DEVICE AND TEST METHOD FOR DECODER例文帳に追加

復号装置のテスト装置およびテスト方法 - 特許庁

TEST HAMMER, AND LID MATERIAL DEVICE FOR TEST HAMMER例文帳に追加

テストハンマー及びテストハンマー用蓋材装置 - 特許庁

IC TEST DEVICE AND IC TEST METHOD例文帳に追加

ＩＣ試験装置およびＩＣ試験方法 - 特許庁

DRAG TEST METHOD AND TEST DEVICE THEREFOR例文帳に追加

引摺り試験方法およびその試験装置 - 特許庁

CLAMPING TEST DEVICE AND CLAMPING TEST METHOD例文帳に追加

クランプ試験装置およびクランプ試験方法 - 特許庁

RADIO BASE STATION DEVICE TEST SYSTEM AND DEVICE TEST SYSTEM例文帳に追加

無線基地局装置試験システムと装置試験システム - 特許庁

THUNDER RESISTANT PERFORMANCE TEST DEVICE例文帳に追加

耐雷性能試験装置 - 特許庁

LSI TEST CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

ＬＳＩのテスト回路装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY TEST DEVICE例文帳に追加

半導体メモリ試験装置 - 特許庁

DEVICE FOR GASKET EVALUATION TEST例文帳に追加

ガスケット評価試験装置 - 特許庁

COLD IMPACT TEST DEVICE例文帳に追加

冷熱衝撃試験装置 - 特許庁

TEST ITEM EXTRACTION DEVICE例文帳に追加

テスト項目抽出装置 - 特許庁

VEHICLE RUNNING TEST DEVICE例文帳に追加

車両走行試験装置 - 特許庁

BIOLOGICAL TEST DEVICE AND PROGRAM FOR BIOLOGICAL TEST DEVICE例文帳に追加

生体検査装置及び生体検査装置のプログラム - 特許庁

TEST DEVICE FOR SWITCHING DEVICE AND TEST METHOD OF THE SAME例文帳に追加

開閉装置の試験装置及びその試験方法 - 特許庁

DYNAMIC WIND TUNNEL TEST DEVICE例文帳に追加

動的風洞試験装置 - 特許庁

FRETTING CORROSION TEST DEVICE例文帳に追加

フレッチング腐食試験装置 - 特許庁

CCD TEST DEVICE SYSTEM例文帳に追加

ＣＣＤ試験装置システム - 特許庁

TEST DEVICE FOR ELECTRONIC CIRCUIT例文帳に追加

電子回路の試験装置 - 特許庁

TEST SAMPLE PREPARATION DEVICE例文帳に追加

試験試料調製装置 - 特許庁

VEHICLE BEHAVIOR TEST DEVICE例文帳に追加

車両挙動試験装置 - 特許庁

INSPECTION DEVICE OF TEST OBJECT例文帳に追加

被試験体の検査装置 - 特許庁

SIGNAL READOUT DEVICE AND TEST DEVICE例文帳に追加

信号読出装置及び試験装置 - 特許庁

LOADING DEVICE AND LOADING TEST DEVICE例文帳に追加

載荷装置および載荷試験装置 - 特許庁

TEST DEVICE, TEST CASE EVALUATING DEVICE AND TESTED RESULT ANALYTIC DEVICE例文帳に追加

テスト装置、テストケース評価装置、およびテスト結果解析装置 - 特許庁

POWER SUPPLY DEVICE FOR TEST DEVICE AND TEST DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

試験装置用の電源装置およびそれを用いた試験装置 - 特許庁

LEAK TEST DEVICE AND METHOD例文帳に追加

リークテスト装置及び方法 - 特許庁

SMOKE EXHAUSTION BEHAVIOR TEST DEVICE例文帳に追加

排煙挙動試験装置 - 特許庁

TEST DEVICE FOR SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加

半導体メモリ試験装置 - 特許庁

TESTING DEVICE FOR DROP IMPACT TEST例文帳に追加

落下衝撃試験装置 - 特許庁

TEST METHOD OF STORAGE DEVICE例文帳に追加

記憶装置の検査方法 - 特許庁

TEST DEVICE FOR COMMUNICATION EQUIPMENT例文帳に追加

通信装置の試験装置 - 特許庁

TEST DEVICE, TEST METHOD, AND CORRECTION VOLTAGE CALCULATION DEVICE例文帳に追加

テスト装置、テスト方法および補正電圧算出装置 - 特許庁

TEST LEAD AND MEASURING DEVICE例文帳に追加

テストリード及び測定装置 - 特許庁

L-TYPE TERMINAL TEST DEVICE例文帳に追加

Ｌ型端子の検査装置 - 特許庁

TEST DEVICE FOR SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE, AND TEST METHOD例文帳に追加

半導体記憶装置の試験装置及び試験方法 - 特許庁

RADIO BASE STATION TEST DEVICE例文帳に追加

無線基地局試験装置 - 特許庁

UNIVERSAL TYPE LINE TEST DEVICE例文帳に追加

ユニバーサル型回線試験器 - 特許庁

An impact test apparatus includes a control device 10 and a test device 20.例文帳に追加

制御装置１０と、試験装置２０とを備える。 - 特許庁

ABRASION TEST DEVICE FOR GEAR例文帳に追加

歯車の摩耗試験装置 - 特許庁

FLYING TEST ANALYSIS DEVICE例文帳に追加

飛しょう試験解析装置 - 特許庁

RUBBER TEST PIECE BLANKING DEVICE例文帳に追加

ゴム試験片打抜き装置 - 特許庁

TEST LIQUID QUANTITY MEASURING DEVICE例文帳に追加

試験液量計測装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE TEST EQUIPMENT AND SEMICONDUCTOR DEVICE TEST METHOD例文帳に追加

半導体デバイステスト装置及び半導体デバイステスト方法 - 特許庁

PROBE CARD AND TEST DEVICE例文帳に追加

プローブカード及び試験装置 - 特許庁