「Test piece」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

The test piece C and the test piece D absorb gas at lower temperatures and much more than the test piece A and test piece B.例文帳に追加

試料Ｃと試料Ｄは、試料Ａや試料Ｂよりも低い温度で盛んにガスを吸収する。 - 特許庁

TEST PIECE ANALYSIS DEVICE例文帳に追加

試験片分析装置 - 特許庁

TEST PIECE SAMPLING METHOD例文帳に追加

試験片採取方法 - 特許庁

TEST PIECE MEASURING APPARATUS例文帳に追加

試験片測定装置 - 特許庁

TEST PIECE CLAMPING DEVICE例文帳に追加

試験片クランプ装置 - 特許庁

TEST PIECE PHOTOMETRIC DEVICE例文帳に追加

試験片測光装置 - 特許庁

TREATMENT DEVICE OF TEST PIECE例文帳に追加

試験片の処理装置 - 特許庁

TRANSFER APPARATUS FOR TEST PIECE例文帳に追加

試験片移送装置 - 特許庁

METHOD OF PREPARING TEST PIECE例文帳に追加

試験片の作成方法 - 特許庁

PASTING APPARATUS FOR TEST PIECE例文帳に追加

試験片の貼着装置 - 特許庁

TEST PIECE MANUFACTURING MACHINE例文帳に追加

テストピース作製機 - 特許庁

TEST PIECE CUTTING APPARATUS例文帳に追加

試験片切断装置 - 特許庁

TRANSMITTER FOR TEST PIECE例文帳に追加

テストピース用送信器 - 特許庁

IMMUNOLOGICAL TEST PIECE例文帳に追加

免疫学的検査片 - 特許庁

TEST PIECE HOLDING DEVICE例文帳に追加

試験片保持装置 - 特許庁

FRACTURE TOUGHNESS TEST PIECE例文帳に追加

破壊靭性試験片 - 特許庁

GRINDING DEVICE FOR TEST PIECE例文帳に追加

試験片の研削装置 - 特許庁

TEST PIECE INSPECTION METHOD, TEST PIECE SUPPORT BODY, AND TEST PIECE INSPECTION DEVICE AS WELL AS TEST PIECE INSPECTION SYSTEM例文帳に追加

試料検査方法、試料保持体、及び試料検査装置並びに試料検査システム - 特許庁

INSPECTION METHOD FOR TEST PIECE例文帳に追加

テストピ—スの検査方法 - 特許庁

TEST PIECE CONVEYING DEVICE例文帳に追加

試験片搬送装置 - 特許庁

TEST PIECE HOLDING APPARATUS例文帳に追加

試験片保持装置 - 特許庁

PRESERVATION METHOD FOR TEST PIECE例文帳に追加

試験片の保存方法 - 特許庁

TEST PIECE SUPPLYING DEVICE例文帳に追加

試験片供給装置 - 特許庁

TEST PIECE FOR ETCHING例文帳に追加

エッチングテストピース - 特許庁

TEST PIECE AND IMAGE INFORMATION READER FROM THIS TEST PIECE例文帳に追加

試験片およびこの試験片からの画像情報読取装置 - 特許庁

MANUFACTURING DEVICE FOR TEST PIECE, AND MANUFACTURING METHOD OF TEST PIECE例文帳に追加

試験片の製造装置及び試験片の製造方法 - 特許庁

TEST PIECE INFORMATION READING METHOD AND TEST PIECE例文帳に追加

試験片情報の読み取り方法及び試験片 - 特許庁

TEST PIECE PICKING DEVICE AND PICKING METHOD FOR TEST PIECE例文帳に追加

試験片切り出し装置及び試験片の切り出し方法 - 特許庁

TEST PIECE FOR CONCRETE STRENGTH TEST, AND FORM FOR MANUFACTURING TEST PIECE例文帳に追加

コンクリート強度試験用供試体及び供試体製造用型枠 - 特許庁

To perform a high-temperature compression test of a test piece by heating two surfaces of the test piece to different temperatures.例文帳に追加

供試体の２面を異なる温度に加熱して試験できるようにする。 - 特許庁

CHARGED-PARTICLE BEAM DEVICE, TEST PIECE HOLDING SYSTEM, METHOD FOR HOLDING TEST PIECE, AND METHOD FOR DETACHING TEST PIECE例文帳に追加

荷電粒子線装置，試料保持システム，試料の保持方法、および、試料の離脱方法 - 特許庁

TEST PIECE FOR CREATININE MEASUREMENT例文帳に追加

クレアチニン測定用試験片 - 特許庁

DRY TEST PIECE FOR CALCIUM MEASUREMENT例文帳に追加

カルシウム測定用乾式試験片 - 特許庁

BUTT WELDING DEFORMATION-EXPERIMENT TEST PIECE例文帳に追加

突合わせ溶接変形実験試験片 - 特許庁

SPACER FOR IRRADIATION TEST PIECE例文帳に追加

照射試験片用スペーサ - 特許庁

TEST PIECE FOR IMMUNOCHROMATOGRAPHY例文帳に追加

イムノクロマトグラフィー用試験片 - 特許庁

DEBURRING APPARATUS FOR RUBBER TEST PIECE例文帳に追加

ゴム試験片のバリ取り装置 - 特許庁

TEST PIECE FOR IMMUNOCHROMATOGRAPHY例文帳に追加

免疫クロマトグラフィー用試験片 - 特許庁

TEST PIECE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

テストピース、及びその製造方法 - 特許庁

MINUTE TEST PIECE POLISHING DEVICE例文帳に追加

微小試験片研磨装置 - 特許庁

TEST PIECE CUTOFF DEVICE FOR POUCH例文帳に追加

パウチの検査片切り取り装置 - 特許庁

RUBBER TEST PIECE BLANKING DEVICE例文帳に追加

ゴム試験片打抜き装置 - 特許庁

The particles of the test piece C and test piece D are scale-like and the specific surface area becomes very much larger than that of the test piece A and test piece B.例文帳に追加

試料Ｃと試料Ｄの粒子は、鱗片状であり、比表面積は、試料Ａや試料Ｂよりも非常に大きくなる。 - 特許庁

CLAMP APPARATUS OF IC TEST-PIECE例文帳に追加

ＩＣ供試体のクランプ装置 - 特許庁

TEST PIECE CENTERING DEVICE例文帳に追加

試験片センタリング装置 - 特許庁