Testを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 39547件
This is an electrocardiogram test.例文帳に追加
心電図の検査です。 - 旅行・ビジネス英会話翻訳例文
DRIVE SIMULATION TEST APPARATUS例文帳に追加
運転模擬試験装置 - 特許庁
VEHICLE TEST COURSE ROAD SURFACE例文帳に追加
車両テストコース路面 - 特許庁
TEST PROGRAM DEVELOPMENT DEVICE例文帳に追加
テストプログラム開発装置 - 特許庁
LATERAL FLOW TEST STRIP例文帳に追加
ラテラルフロー用テストストリップ - 特許庁
TEST PATTERN GENERATING MEANS例文帳に追加
テストパターン発生手段 - 特許庁
PROGRAM TEST SUPPORT DEVICE, PROGRAM TEST SUPPORT METHOD, AND PROGRAM TEST SUPPORT PROGRAM例文帳に追加
プログラムテスト支援装置、プログラムテスト支援方法、プログラムテスト支援プログラム - 特許庁
TEST SPECIFICATION DESIGN METHOD FOR RANDOM VIBRATION TEST例文帳に追加
ランダム振動試験の試験仕様設計方法 - 特許庁
TEST METHOD AND TEST DEVICE FOR PLASMA DISPLAY PANEL例文帳に追加
プラズマディスプレイパネルの試験方法と試験装置 - 特許庁
SUBSCRIBER LINE TEST DEVICE AND TEST METHOD例文帳に追加
加入者回線試験装置および試験方法 - 特許庁
TEST DEVICE, TEST METHOD, PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加
テスト装置、テスト方法、プログラム及び記録媒体 - 特許庁
STATOR COIL INSULATION TEST DEVICE AND TEST METHOD例文帳に追加
ステータコイル絶縁試験装置および試験方法 - 特許庁
TEST DEVICE AND TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加
半導体メモリの試験装置及び試験方法 - 特許庁
TEST MODEL GENERATION APPARATUS AND TEST MODEL GENERATION METHOD例文帳に追加
テストモデル生成装置とテストモデル生成方法 - 特許庁
TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR MEMORY, AND TEST DEVICE例文帳に追加
半導体メモリの検査方法及び検査装置 - 特許庁
WATER PERMEABILITY TEST DEVICE AND WATER PERMEABILITY TEST METHOD例文帳に追加
透水試験装置および透水試験方法 - 特許庁
TEST SUPPORT SYSTEM, TEST SUPPORT METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加
テスト支援システム、テスト支援方法、及びプログラム - 特許庁
PERSONALITY TEST SYSTEM AND PERSONALITY TEST METHOD例文帳に追加
性格診断システムおよび性格診断方法 - 特許庁
TEST PATTERN GENERATOR FOR SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM例文帳に追加
半導体試験装置の試験パターン発生装置 - 特許庁
HEAT STORAGE TEST APPARATUS AND HEAT STORAGE TEST METHOD例文帳に追加
蓄熱試験装置および蓄熱試験方法 - 特許庁
BUILT-IN-TYPE SELF-TEST CIRCUIT AND TEST METHOD例文帳に追加
組み込み型自己テスト回路およびテスト方法 - 特許庁
TEST SUPPORT DEVICE, TEST SUPPORT METHOD AND PROGRAM例文帳に追加
テスト支援装置、テスト支援方法およびプログラム - 特許庁
TEST METHOD AND TEST DEVICE FOR SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加
半導体ウェーハのテスト方法及びテスト装置 - 特許庁
ELECTRON BEAM TEST SYSTEM AND ELECTRON BEAM TEST METHOD例文帳に追加
電子ビームテストシステム及び電子ビームテスト方法 - 特許庁
TEST METHOD AND TEST APPARATUS FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体装置のテスト方法及びテスト装置 - 特許庁
TEST CIRCUIT AND TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICES例文帳に追加
半導体装置のテスト回路及びテスト方法 - 特許庁
TEST SYSTEM AND TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR PACKAGE例文帳に追加
半導体パッケージのテストシステム及びテスト方法 - 特許庁
CLEANING DEVICE FOR LEAK TEST例文帳に追加
リークテスト用掃除装置 - 特許庁
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| Copyright (C) 1994- Nichigai Associates, Inc., All rights reserved. 「斎藤和英大辞典」斎藤秀三郎著、日外アソシエーツ辞書編集部編 |
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