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Testを含む例文一覧と使い方

該当件数 : 39547



例文

TEST DEVICE FOR ELECTRONIC PARTS例文帳に追加

電子部品試験装置 - 特許庁

TEST SPECIFICATION CREATION SYSTEM例文帳に追加

検査仕様生成システム - 特許庁

TEST PIECE SUPPLYING DEVICE例文帳に追加

試験片供給装置 - 特許庁

What is next test?例文帳に追加

次は何の検査ですか? - 旅行・ビジネス英会話翻訳例文

例文

The test results are in.例文帳に追加

検査結果が出ました。 - 旅行・ビジネス英会話翻訳例文


例文

To speedily test a semiconductor device to shorten the test time.例文帳に追加

半導体デバイスの試験時間を高速化する。 - 特許庁

PRESSURE TEST SUPPORT SYSTEM例文帳に追加

耐圧検査支援システム - 特許庁

PATTERN TEST APPARATUS, PATTERN TEST METHOD AND PROGRAM例文帳に追加

パターン検査装置、パターン検査方法及びプログラム - 特許庁

ROBOT GROUND TEST APPARATUS例文帳に追加

ロボット地上試験装置 - 特許庁

例文

TEST SIGNAL GENERATOR例文帳に追加

試験信号発生装置 - 特許庁

例文

This is the final test.例文帳に追加

これは最終試練だ - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

TEST PATTERN GENERATOR, TEST CIRCUIT TESTER, TEST PATTERN GENERATION METHOD, TEST CIRCUIT TESTING METHOD, TEST PATTERN GENERATION PROGRAM, TEST CIRCUIT TESTING PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

試験パターン生成装置、テスト回路試験装置、試験パターン生成方法、テスト回路試験方法、試験パターン生成プログラム、テスト回路試験プログラム、および記録媒体 - 特許庁

TEST PATTERN GENERATING SYSTEM, TEST PATTERN ANALYZING SYSTEM, TEST PATTERN GENERATION METHOD, TEST PATTERN ANALYTICAL METHOD, TEST PATTERN GENERATION PROGRAM, TEST PATTERN ANALYTICAL PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

テストパターン生成システム、テストパターン解析システム、テストパターン生成方法、テストパターン解析方法、テストパターン生成プログラム、テストパターン解析プログラム、および記録媒体 - 特許庁

OPERATION TEST APPARATUS, OPERATION TEST METHOD, AND OPERATION TEST INFORMATION PROCESSING PROGRAM例文帳に追加

動作試験装置、動作試験方法および動作試験情報処理プログラム - 特許庁

To provide a liver protecting test, immunity test, and safety test using antrodia camphorata.例文帳に追加

樟芝を用いた肝臓保護試験、免疫試験、安全性試験の提供。 - 特許庁

CHARACTERISTIC TEST METHOD OF SHEET OR MAT, CHARACTERISTIC TEST BODY AND CHARACTERISTIC TEST CLOTHING例文帳に追加

シート又はマットの特性試験方法、特性試験体及び特性試験着 - 特許庁

PROGRAM TEST MONITORING SYSTEM, PROGRAM TEST MONITORING METHOD AND PROGRAM TEST MONITORING PROGRAM例文帳に追加

プログラムテスト監視システム、プログラムテスト監視方法、および、プログラムテスト監視プログラム - 特許庁

VISUAL ACUITY TEST DEVICE AND VISUAL ACUITY TEST APPARATUS EQUIPPED WITH VISUAL ACUITY TEST DEVICE例文帳に追加

視力検査装置、及び該視力検査装置を備えた視力検査設備 - 特許庁

WEB APPLICATION TEST PROGRAM, WEB APPLICATION TEST APPARATUS AND WEB APPLICATION TEST METHOD例文帳に追加

Webアプリケーションテストプログラム、Webアプリケーションテスト装置およびWebアプリケーションテスト方法 - 特許庁

PROBE CARD, CHARACTERISTIC TEST DEVICE, CHARACTERISTIC TEST TECHNIQUE AND CHARACTERISTIC TEST PROGRAM例文帳に追加

プローブカード、特性検査装置、特性検査方法および特性検査プログラム - 特許庁

TEST PATTERN SELECTION APPARATUS, TEST PATTERN SELECTION MEANS, AND TEST PATTERN SELECTING PROGRAM例文帳に追加

テストパターン選択装置、テストパターン選択方法、及びテストパターン選択プログラム - 特許庁

To provide a memory test circuit in which a test employing an arbitrary test pattern is made possible.例文帳に追加

任意のテストパタンによるテストが可能なメモリテスト回路を提供する。 - 特許庁

TURNING TEST DEVICE, TURNING TEST METHOD, TURNING TEST PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

旋回試験装置、旋回試験方法、旋回試験プログラム及び記録媒体 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM BY WHICH VIRTUAL TEST IS POSSIBLE, AND ITS SEMICONDUCTOR TEST METHOD例文帳に追加

仮想テストが可能な半導体テストシステム及びその半導体テスト方法 - 特許庁

STEAM TURBINE TEST FACILITY, LOW LOAD TEST METHOD, AND LOAD CUTOFF TEST METHOD例文帳に追加

蒸気タービン試験設備、低負荷試験方法、及び負荷遮断試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TEST DEVICE, SEMICONDUCTOR MEMORY TEST DEVICE, SEMICONDUCTOR MEMORY TEST METHOD例文帳に追加

半導体テスト装置、半導体メモリテスト装置および半導体メモリテスト方法 - 特許庁

Thereby, a next test thread can refer to the recorded test status test thread can refer to the recorded.例文帳に追加

従って,次のテストスレッドが記録されたテスト状態を参照できる。 - 特許庁

PROGRAM AND TEST APPARATUS例文帳に追加

プログラムおよび試験装置 - 特許庁

PRESERVATION METHOD FOR TEST PIECE例文帳に追加

試験片の保存方法 - 特許庁

POT-TYPE DYEING TEST MACHINE例文帳に追加

ポット式染色試験機 - 特許庁

Material test is executed by applying a test load to a test piece fixed to a material test machine.例文帳に追加

材料試験機10に装着した試験片に試験荷重を印加して材料試験を実行する。 - 特許庁

MAGNETIC STORAGE APPARATUS, HEAD TEST METHOD, HEAD TEST APPARATUS例文帳に追加

磁気記憶装置、ヘッド試験方法、ヘッド試験装置 - 特許庁

HEATING/COOLING TEST APPARATUS例文帳に追加

加熱冷却試験装置 - 特許庁

TEST SYSTEM FOR ELECTRONIC EQUIPMENT例文帳に追加

電子機器の試験システム - 特許庁

TEST DEVICE AND TEST METHOD OF ELECTRONIC PART SUBSTRATE例文帳に追加

電子部品基板の試験装置および試験方法 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT TEST SYSTEM例文帳に追加

集積回路試験システム - 特許庁

TEST PROGRESS MANAGEMENT SYSTEM例文帳に追加

テスト進捗管理方式 - 特許庁

TEST METHOD AND PROGRAM例文帳に追加

テスト方法およびプログラム - 特許庁

TEST PATTERN SELECTION DEVICE AND TEST PATTERN SELECTION METHOD例文帳に追加

テストパターン選別装置及びテストパターン選別方法 - 特許庁

VOLTAGE MARGIN TEST METHOD例文帳に追加

電圧マージン試験方法 - 特許庁

STRENGTH TEST DEVICE FOR BAG例文帳に追加

バッグの強度テスト装置 - 特許庁

TEST APPARATUS AND PROGRAM例文帳に追加

検査装置およびプログラム - 特許庁

WEB SERVICE TEST DEVICE, WEB SERVICE TEST METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

Webサービステスト装置、Webサービステスト方法、及びプログラム - 特許庁

TEST DEVICE, INFORMATION PROCESSING SYSTEM, AND TEST METHOD例文帳に追加

試験装置、情報処理システムおよび試験方法 - 特許庁

WIRELESS BASE STATION TEST DEVICE AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

無線基地局試験装置及びその試験方法 - 特許庁

MEMORY ADDRESS BUS TEST SYSTEM例文帳に追加

メモリアドレスバス試験方式 - 特許庁

A test light transmitter 1 emits test light.例文帳に追加

試験光送出器1は、試験光を出射する。 - 特許庁

TEST BAG FOR ELECTRONIC DEVICE例文帳に追加

電子機器用試験袋 - 特許庁

The test piece C and the test piece D absorb gas at lower temperatures and much more than the test piece A and test piece B.例文帳に追加

試料Cと試料Dは、試料Aや試料Bよりも低い温度で盛んにガスを吸収する。 - 特許庁

例文

TEST ITEM CREATION DEVICE, TEST ITEM CREATION SYSTEM, TEST ITEM CREATION METHOD AND TEST ITEM CREATION PROGRAM例文帳に追加

テスト項目生成装置、テスト項目生成システム、テスト項目生成方法、およびテスト項目生成プログラム - 特許庁




  
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