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Visual Inspection Systemの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 147件
VISUAL INSPECTION DEVICE, VISUAL INSPECTION PROGRAM AND VISUAL INSPECTION SYSTEM例文帳に追加
外観検査装置、外観検査プログラムおよび外観検査システム - 特許庁
VISUAL INSPECTION WORK MANAGEMENT SYSTEM例文帳に追加
目視検査作業管理システム - 特許庁
VISUAL INSPECTION APPARATUS, VISUAL INSPECTION SYSTEM, AND PROGRAM例文帳に追加
外観検査装置及び外観検査システム並びにプログラム - 特許庁
EVALUATION SYSTEM OF VISUAL INSPECTION APPARATUS例文帳に追加
視覚検査装置の評価システム - 特許庁
EVALUATION SYSTEM OF VISUAL SENSE INSPECTION DEVICE例文帳に追加
視覚検査装置の評価システム - 特許庁
VISUAL MACRO-INSPECTION DEVICE, SUBSTRATE INSPECTION SYSTEM, SUBSTRATE TREATMENT SYSTEM AND VISUAL MACRO-INSPECTION METHOD例文帳に追加
目視マクロ検査装置、基板検査システム、基板処理システム、目視マクロ検査方法 - 特許庁
VISUAL CONFIRMATION DEVICE AND INSPECTION SYSTEM例文帳に追加
目視確認装置および検査システム - 特許庁
MACRO LIGHTING SYSTEM FOR VISUAL INSPECTION APPARATUS, VISUAL INSPECTION APPARATUS, AND VISUAL INSPECTION METHOD OF GLASS SUBSTRATE例文帳に追加
目視検査装置用のマクロ照明装置、目視検査装置及びガラス基板の目視検査方法 - 特許庁
VISUAL INSPECTION SYSTEM FOR TABLET/CAPSULE例文帳に追加
錠剤・カプセル剤の外観検査装置 - 特許庁
VISUAL INSPECTION SUPPORTING SYSTEM FOR PRINTED CIRCUIT BOARD例文帳に追加
プリント回路板目視検査支援システム - 特許庁
VISUAL INSPECTION SUPPORT METHOD AND SYSTEM THEREOF例文帳に追加
外観検査支援方法およびシステム - 特許庁
REMOTE VISUAL INSPECTION SUPPORT SYSTEM, AND REMOTE VISUAL INSPECTION SUPPORT COMPUTER PROGRAM例文帳に追加
遠隔目視検査支援システムおよび遠隔目視検査支援コンピュータプログラム - 特許庁
VISUAL INSPECTION SYSTEM FOR SEMICONDUCTOR, VISUAL INSPECTION METHOD AND SEMICONDUCTOR MANUFACTURING APPARATUS例文帳に追加
半導体外観検査装置、外観検査方法及び半導体製造装置 - 特許庁
IMAGE PROCESSING SYSTEM AND VISUAL INSPECTION METHOD例文帳に追加
画像処理装置及び外観検査方法 - 特許庁
BOARD INSPECTION METHOD, AND INSPECTION RESULT CONFIRMATION SYSTEM OF AUTOMATIC VISUAL INSPECTION例文帳に追加
基板検査方法および自動外観検査の検査結果確認システム - 特許庁
VISUAL INSPECTION SYSTEM AND COMPUTER PROGRAM FOR OPERATING REVIEWING MACHINE OF VISUAL INSPECTION SYSTEM例文帳に追加
目視検査装置、および、当該目視検査装置のレビュー機を動作させるためのコンピュータープログラム - 特許庁
VISUAL INSPECTION/SELECTION METHOD OF PROCESSED PRODUCT, AND VISUAL INSPECTION/SELECTION SYSTEM OF PROCESSED PRODUCT例文帳に追加
加工製品の外観検査、選別方法および加工製品の外観検査、選別システム - 特許庁
VISUAL INSPECTION DEVICE, AND ULTRAVIOLET LIGHT LIGHTING SYSTEM例文帳に追加
外観検査装置及び紫外光照明装置 - 特許庁
SYSTEM AND APPARATUS FOR SUPPORTING VISUAL INSPECTION例文帳に追加
目視検査支援システムおよび目視検査支援装置 - 特許庁
A visual inspection system 3 performs visual inspection of individual semiconductor chips after a semiconductor device is formed.例文帳に追加
外観検査装置3により、半導体デバイスの形成後、個々の半導体チップの外観検査を行う。 - 特許庁
VISUAL INSPECTION SYSTEM OF PRINTED CIRCUIT BOARD, AND METHOD OF THE SAME例文帳に追加
印刷回路基板の外観検査システム及びその方法 - 特許庁
APPARATUS AND SYSTEM FOR VISUAL INSPECTION OF TRANSPARENT TUBE例文帳に追加
透明管体の外観検査装置及び外観検査システム - 特許庁
LIGHTING SYSTEM FOR VISUAL INSPECTION BY REFLECTED LIGHT AND TRANSMITTED LIGHT例文帳に追加
反射光及び透過光による目視検査用照明装置 - 特許庁
TRAFFIC VISUAL PERCEPTION CAPABILITY INSPECTION SYSTEM USING VIRTUAL REALITY TECHNOLOGY例文帳に追加
バーチャルリアリティ技術を用いた交通視知覚能力検査システム - 特許庁
METHOD AND SYSTEM FOR VISUAL INSPECTION OF CIRCUIT BOARD例文帳に追加
回路基板の外観検査方法及び回路基板の外観検査装置 - 特許庁
VISUAL INSPECTION METHOD, DEVICE THEREFOR, AND IMAGE PROCESSING EVALUATION SYSTEM例文帳に追加
外観検査方法及びその装置および画像処理評価システム - 特許庁
REFERENCE DATA PREPARATION DEVICE AND METHOD FOR VISUAL INSPECTION, AND VISUAL INSPECTION SYSTEM AND METHOD例文帳に追加
外観検査の基準データ作成装置、外観検査システム、外観検査の基準データ作成方法及び外観検査方法 - 特許庁
To provide a visual inspection system and a method of visual inspection reducing the size of a file for images to be stored.例文帳に追加
保存する画像のファイルサイズを小さく抑えることができる外観検査システム、外観検査方法を提供する。 - 特許庁
METHOD FOR CREATING DATA FOR SETTING INSPECTION WINDOW, AND SYSTEM FOR CREATING DATA FOR SETTING INSPECTION WINDOW IN SUBSTRATE VISUAL INSPECTION例文帳に追加
基板外観検査における検査ウィンドウの設定用データの作成方法および設定用データ作成システム - 特許庁
In the substrate holding mechanism of a visual inspection system, the substrate 2 is placed on a frame-shaped stage 3 to perform the macro-inspection for the visual inspection of the substrate and the micro-inspection for magnified observation.例文帳に追加
外観検査装置の基板保持機構は、枠状のステージ3に基板2を載置して、基板を目視観察するマクロ検査と拡大観察するミクロ検査とを行う。 - 特許庁
METHOD AND SYSTEM FOR VISUAL INSPECTION AND MANUFACTURE OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
外観検査方法および装置ならびに半導体装置の製造方法 - 特許庁
To provide a reference data preparation device for visual inspection, a visual inspection system, a reference data preparation method for the visual inspection, and a visual inspection method capable of preparing accurately and easily the reference data used for the visual inspection of a printed circuit board, using a CAD data.例文帳に追加
本発明は、プリント回路基板の外観検査に使用される基準データをCADデータを用いて正確かつ容易に作成可能な外観検査の基準データ作成装置、外観検査システム、外観検査の基準データ作成方法及び外観検査方法を提供する。 - 特許庁
To provide a visual inspection system and method of a printed circuit board capable of improving the inspection speed and inspection reliability.例文帳に追加
検査速度及び検査信頼性を向上できる印刷回路基板の外観検査システム及び方法を提供する。 - 特許庁
To obtain method and system for visual inspection which can deal with a plurality of types of inspection and can deal quickly with inspection for other items.例文帳に追加
複数種類の検査に対応でき、他の項目に対する検査にも迅速に対応できるようにすること。 - 特許庁
SYSTEM FOR SUPPORTING VISUAL INSPECTION, AND METHOD OF MANUFACTURING DISPLAY DEVICE USING THE METHOD例文帳に追加
目視検査支援システム及びこれを用いた表示デバイスの製造方法 - 特許庁
DEVICE, SYSTEM, AND METHOD FOR SUPPORTING VISUAL INSPECTION例文帳に追加
目視検査支援装置、目視検査支援システム並びに目視検査支援方法 - 特許庁
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