例文 (4件) |
analogue techniqueの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 4件
An analogue charge amplifier 58 is constituted by integrated bipolar technique and the reader circuit 48 of the amplifier is embodied by a BICMOS process being a system of digital technique, preferably, current mode logic(CML) technique.例文帳に追加
本発明では、アナログ電荷増幅器58が、集積バイポーラ技術で構成され、増幅器の読出し回路48はデジタル技術、好適には電流モード論理(CML)技術の形式であるBICMOSプロセスで具現化される。 - 特許庁
To efficiently and certainly enhance the precision of a result obtained by analogue-digital conversion (AD conversion) in a technique for optically detecting the sample passed through a flow channel.例文帳に追加
流路内を通流する試料を光学的に検出する技術において、効率的かつ確実に、アナログ−デジタル変換(AD変換)した結果の精度を高くする技術を提供すること。 - 特許庁
To provide a technique of a simple circuit constitution for generating analogue test signals optimized for each LSI to be tested without complicating the circuit constitution of a performance board when a plurality of the LSI to be tested are simultaneously tested.例文帳に追加
複数個の被試験LSIを同時に試験する際に、パフォーマンス・ボードの回路構成を複雑化させることなく、被試験LSIごとに最適化されたアナログ試験信号を簡単な回路構成で生成する技術の提供。 - 特許庁
In a technique for testing a semiconductor device 1 provided with a memory circuit block 28, the self-diagnosis circuit 34, and other circuit blocks (a logic circuit block 20, an analogue circuit block 24 and the like), at least supply of a power source voltage and an electric signal to the memory circuit block 28 and the self-diagnosis circuit 34 is controlled independently of supply of them to other circuit blocks.例文帳に追加
メモリ回路ブロック28と自己診断回路34、及びその他の回路ブロック(ロジック回路ブロック20、アナログ回路ブロック24等)を備えた半導体装置1をテストする手法において、各回路ブロックへの電源電圧及び電気信号の供給に関し、少なくともメモリ回路ブロック28と自己診断回路34に対する供給と、その他の回路ブロックに対する供給とを個別に制御する。 - 特許庁
例文 (4件) |
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