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electron diffraction intensityの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 3件
To provide an observation technology by a phase retrieval type electron microscope, making the intensity distribution of a parallel electron beam with a microscopic diameter in measuring a real image and an electron diffraction pattern bright and uniform.例文帳に追加
実像と電子回折像を測定する際の微小径かつ平行な電子線を、明るくかつ均一な強度分布にする位相回復方式の電子顕微鏡による観察技術を提供する。 - 特許庁
Normally, intensity distribution of an electron beam is not of a rectangular distribution that faithfully corresponds to (a) because of diffraction phenomenon, but has a distribution containing a specified widening as in (b).例文帳に追加
通常は、回折現象のため、電子線の強度分布は(a)に忠実に対応するような矩形分布とならず、(b)のように所定の広がりを持った分布となる。 - 特許庁
A portion where electrons reflected vertically from a sample 104 are formed is shielded by a shielding object 117, on a diffraction spot formed on a rear focal plane of an electron lens 111, and other reflected electron beams are detected by a detector 112, and its integration intensity is monitored by an input/output device 115, to thereby determine a foreign matter or a flaw.例文帳に追加
電子レンズ111の後焦点面に形成される回折スポットのうち、試料104から垂直に反射される電子が形成する部分を遮蔽物117で遮蔽し、その他の反射電子線を検出器112で検出し、その積分強度を入出力装置115でモニタすることにより異物や欠陥の判定を行う。 - 特許庁
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