「electron microscope image」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

IMAGE DISPLAY DEVICE FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡用画像表示装置 - 特許庁

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE IMAGE OBSERVATION DEVICE例文帳に追加

透過電子顕微鏡像観察装置 - 特許庁

RETRIEVAL METHOD OF ELECTRON MICROSCOPE IMAGE例文帳に追加

電子顕微鏡画像の検索方法 - 特許庁

IMAGE DISPLAY METHOD OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡の像表示方法 - 特許庁

IMAGING DEVICE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE IMAGE例文帳に追加

透過電子顕微鏡像の撮像装置 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE AND IMAGE DISPLAYING METHOD例文帳に追加

電子顕微鏡および画像表示方法 - 特許庁

IMAGE FORMING METHOD AND ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

画像形成方法、及び電子顕微鏡 - 特許庁

REMOTE OBSERVATION SYSTEM FOR ELECTRON MICROSCOPE IMAGE例文帳に追加

電子顕微鏡像の遠隔観察システム - 特許庁

ELECTRON BEAM HOLOGRAM, METHOD OF PRODUCING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE IMAGE, AND TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子線ホログラム及び透過電子顕微鏡像の作製方法及び透過電子顕微鏡 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND IMAGE DISPLAY METHOD IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡、および走査電子顕微鏡における像表示方法 - 特許庁

DIFFERENTIAL CONTRAST ELECTRON MICROSCOPE AND METHOD OF DATA PROCESSING OF ELECTRON MICROSCOPE IMAGE例文帳に追加

差分コントラスト電子顕微鏡および電子顕微鏡像のデータ処理方法 - 特許庁

IMAGE RECORDING METHOD IN ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡における画像記録方法 - 特許庁

IMAGE DISPLAY DEVICE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡の画像表示装置 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE WITH CAMERA FOR IMAGE OBSERVATION例文帳に追加

像観察用カメラを備える電子顕微鏡 - 特許庁

IMAGE OBSERVATION METHOD AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

像観察方法および走査電子顕微鏡 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE, AND DIFFRACTION IMAGE OBSERVATION METHOD例文帳に追加

電子顕微鏡、および回折像観察方法 - 特許庁

ELECTRON BEAM IMAGE PICKUP UNIT AND ELECTRONIC MICROSCOPE例文帳に追加

電子線像撮像装置及び電子顕微鏡 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE AND THREE-DIMENSIONAL IMAGE CONSTRUCTION METHOD例文帳に追加

電子顕微鏡および３次元像構築方法 - 特許庁

ABSORPTION CURRENT IMAGE OBSERVATION APPARATUS IN ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡吸収電流像観察装置 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE AND THREE-DIMENSIONAL IMAGE CONSTRUCTION METHOD例文帳に追加

電子顕微鏡及び三次元像構築方法 - 特許庁

METHOD FOR ANALYSIS OF ELECTRON BEAM DIFFRACTION IMAGE AND TRANSMISSIVE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子線回折像の解析方法及び透過型電子顕微鏡 - 特許庁

FUNCTION FOR REGULATING AUTOMATICALLY IMAGE FOR ELECTRON MICROSCOPE OR THE LIKE例文帳に追加

電子顕微鏡等の自動画像調整機能 - 特許庁

OBSERVATION IMAGE ACQUIRING METHOD AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

観察画像取得方法、走査型電子顕微鏡 - 特許庁

SAMPLE IMAGE ACQUIRING METHOD AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

試料像取得方法及び走査電子顕微鏡 - 特許庁

IMAGE COMPENSATING APPARATUS IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡における画像補償装置 - 特許庁

IMAGE PROCESSING SYSTEM AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE SYSTEM例文帳に追加

画像処理システム、及び走査型電子顕微鏡装置 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE WITH MAGNETIC IMAGE FORMING ENERGY FILTER例文帳に追加

磁気形結像エネルギフィルタを有する電子顕微鏡 - 特許庁

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE HAVING SCAN IMAGE OBSERVATION FUNCTION例文帳に追加

走査像観察機能を有した透過電子顕微鏡 - 特許庁

METHOD FOR OBTAINING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE IMAGE AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE USER FOR THE SAME例文帳に追加

走査電子顕微鏡画像を得る方法及びこれに用いられる走査電子顕微鏡装置 - 特許庁

To smoothly switch between observation fields of an electron microscope image and an optical microscope image.例文帳に追加

電子顕微鏡画像、光学拡大観察画像の観察視野切り替えをスムーズに行う。 - 特許庁

3-DIMENSIONAL IMAGE BUILDING METHOD AND TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

３次元像構築方法および透過電子顕微鏡 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND IMAGE SIGNAL PROCESSING METHOD例文帳に追加

走査型電子顕微鏡および画像信号処理方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ITS IMAGE DISPLAY METHOD例文帳に追加

走査型電子顕微鏡およびその画像表示方法 - 特許庁

OBSERVING APPARATUS FOR SCANNING TRANSMISSION ELECTRON IMAGE OF ELECTRON MICROSCOPE MOUNTED WITH ENERGY FILTER例文帳に追加

エネルギーフィルタを備えた電子顕微鏡の走査透過電子像観察装置 - 特許庁

To enhance the image quality of an image photographed by scanning electron microscope.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡の撮像画像の画質を向上させる。 - 特許庁

To provide an electron beam hologram, a method of producing a transmission electron microscope image and an electron transmission microscope, capable of preventing the positional misalignment of the transmission electron microscope image from the electron beam hologram.例文帳に追加

電子線ホログラムと透過電子顕微鏡像との位置ずれを防止することができる電子線ホログラム及び透過電子顕微鏡像の作製方法及び透過電子顕微鏡を実現する。 - 特許庁

VISUAL INSPECTION DEVICE WITH SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND IMAGE FORMING METHOD USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡を備えた外観検査装置及び走査電子顕微鏡を用いた画像生成方法 - 特許庁

DETECTION METHOD OF IMAGE INTEGRATION TIMES OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡の画像積算回数検出方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS OF OBSERVING IMAGE IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡における像観察方法及び装置 - 特許庁

SCANNING IMAGE SIGNAL ACQUIRING METHOD AND SCAN TYPE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査像信号取得方法および走査電子顕微鏡 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE, ELECTRON BEAM HOLOGRAM FORMING METHOD, AND PHASE REPRODUCED IMAGE FORMING METHOD例文帳に追加

電子顕微鏡、電子線ホログラム作成方法及び位相再生画像作成方法 - 特許庁

APPEARANCE INSPECTION APPARATUS WITH SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND IMAGE DATA PROCESSING METHOD USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡を備えた外観検査装置及び走査電子顕微鏡を用いた画像データの処理方法 - 特許庁

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND IMAGE OBSERVATION METHOD USING IT例文帳に追加

透過型電子顕微鏡およびそれを用いた像観察方法 - 特許庁

AUTOMATIC IMAGE DRIFT CORRECTION SYSTEM FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡における画像ドリフト自動修正システム - 特許庁

MAGNETIC DOMAIN STRUCTURAL IMAGE ACQUISITION METHOD AND SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

磁区構造画像取得方法および走査透過電子顕微鏡 - 特許庁