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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > measuring methodの意味・解説 > measuring methodに関連した英語例文

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measuring methodの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 28065



例文

ABRASION RESISTANCE MEASURING METHOD OF PACKING SOFT FILM AND ITS MEASURING DEVICE例文帳に追加

包装用軟質フイルムの耐摩耗度測定方法とその測定装置 - 特許庁

INSTALLATION POSITION INFORMATION MEASURING SYSTEM AND INSTALLATION POSITION INFORMATION MEASURING METHOD例文帳に追加

設置位置情報測定システム、及び設置位置情報測定方式 - 特許庁

TIRE FOR MEASURING TIRE INTERNAL TEMPERATURE AND METHOD FOR MEASURING TIRE INTERNAL TEMPERATURE例文帳に追加

タイヤ内部温度測定用タイヤ及びタイヤ内部温度測定方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD OF MEASURING TIRE BALANCE BY FORCE VARIATION MEASURING MACHINE例文帳に追加

フォースバリエーション測定機でタイヤのバランスを測定する装置と方法 - 特許庁

例文

ELECTROMAGNETIC INTERFERING WAVE MEASURING DEVICE AND ELECTROMAGNETIC INTERFERING WAVE MEASURING METHOD例文帳に追加

電磁妨害波測定装置および電磁妨害波測定方法 - 特許庁


例文

PARTICLE DIAMETER DISTRIBUTION MEASURING DEVICE AND PARTICLE DIAMETER DISTRIBUTION MEASURING METHOD例文帳に追加

粒子径分布の測定装置および粒子径分布の測定方法 - 特許庁

PLANE DEFLECTION MEASURING TOOL FOR FLANGE OF HUB UNIT AND PLANE DEFLECTION MEASURING METHOD例文帳に追加

ハブユニットのフランジ面振れ測定治具及び面振れ測定方法 - 特許庁

TAIL CLEARANCE AUTOMATIC MEASURING SYSTEM AND TAIL CLEARANCE AUTOMATIC MEASURING METHOD例文帳に追加

テールクリアランス自動計測システムおよびテールクリアランス自動計測方法 - 特許庁

CONTACT FORCE MEASURING METHOD AND CONTACT FORCE MEASURING APPARATUS OF PANTOGRAPH例文帳に追加

パンタグラフの接触力測定方法及び接触力測定装置 - 特許庁

例文

METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING PULSE PRESSURE AT TWO ADJACENT MEASURING POINTS例文帳に追加

隣接した二測定点における脈圧の測定方法とその装置 - 特許庁

例文

MEASURING METHOD OF FLOWABILITY OF FLUID AND MEASURING INSTRUMENT USED THEREIN例文帳に追加

流体流動性測定方法およびそれに用いる測定装置 - 特許庁

OXIDATION-REDUCTION POTENTIAL MEASURING METHOD AND OXIDATION-REDUCTION POTENTIAL MEASURING DEVICE例文帳に追加

酸化還元電位測定方法及び酸化還元電位測定装置 - 特許庁

FOOTSTEP MEASURING DEVICE FOR PASSENGER CONVEYOR AND BRAKING DISTANCE MEASURING METHOD例文帳に追加

乗客コンベアの踏段測定装置及び制動距離測定方法 - 特許庁

LEVEL-MEASURING DEVICE AND LEVEL-MEASURING METHOD FOR PULSE WIDTH MODULATION SIGNAL例文帳に追加

パルス幅変調信号のレベル測定装置およびレベル測定方法 - 特許庁

THREE-DIMENSIONAL SHAPE MEASURING APPARATUS, AND THREE-DIMENSIONAL SHAPE MEASURING METHOD例文帳に追加

三次元形状測定装置、及び三次元形状測定方法 - 特許庁

JOINT THICKNESS MEASURING JIG AND JOINT THICKNESS MEASURING METHOD USING JIG例文帳に追加

目地厚さ測定治具およびこれを用いた目地厚さ測定方法 - 特許庁

BATTERY PACK, BATTERY DETERIORATION MEASURING DEVICE, AND BATTERY DETERIORATION MEASURING METHOD例文帳に追加

電池パック、電池劣化測定装置及び電池劣化測定方法 - 特許庁

METHOD OF MEASURING DEVIATION AMOUNT OF STRUCTURE POSITION, AND ITS MEASURING AUXILIARY TOOL例文帳に追加

構造物位置の偏差量測定方法とその測定補助具 - 特許庁

JIG FOR MEASURING ROPE LENGTH, ROPE FIXTURE, AND METHOD FOR MEASURING ROPE LENGTH例文帳に追加

ロープ長さ測定治具、ロープ固定具及びロープ長さ測定方法 - 特許庁

THREE-DIMENSIONAL SHAPE MEASURING DEVICE AND THREE- DIMENSIONAL SHAPE MEASURING METHOD例文帳に追加

三次元形状測定装置および三次元形状測定方法 - 特許庁

To provide a crystal orientation measuring method for measuring highly accurately the crystal orientation of a monocrystal sample.例文帳に追加

単結晶試料の結晶方位を高精度に測定する。 - 特許庁

MEASURING METHOD, SWITCHING DEVICE AND MEASURING SYSTEM EQUIPPED WITH THE SWITCHING DEVICE例文帳に追加

測定方法、スイッチ装置、および、該スイッチ装置を備える測定システム - 特許庁

METHOD FOR MEASURING INK AMOUNT FOR PRINTER AND CONTROLLER FOR MEASURING THE INK AMOUNT例文帳に追加

印刷機のインキ量測定方法及びその測定制御装置 - 特許庁

COMBINATORIAL MEASURING/COUNTING DEVICE, AND COMBINATORIAL MEASURING/COUNTING METHOD例文帳に追加

組合せ計量計数装置および組合せ計量計数方法 - 特許庁

COMPONENT INTAKE MEASURING DEVICE AND COMPONENT INTAKE MEASURING METHOD例文帳に追加

成分摂取量測定装置及び成分摂取量測定方法 - 特許庁

FLOOR HEATING PERFORMANCE MEASURING METHOD AND FLOOR HEATING PERFORMANCE MEASURING DEVICE例文帳に追加

床暖房性能測定方法および床暖房性能測定装置 - 特許庁

MEASURING METHOD OF UNNECESSARY COMPONENT IN WHEEL SIX-COMPONENT MEASURING SYSTEM例文帳に追加

ホイール6分力測定システムにおける不要成分測定方法。 - 特許庁

MEASURING DISPLAY DEVICE WITH BIOSENSOR CONNECTED THERETO AND MEASURING DISPLAY METHOD例文帳に追加

バイオセンサが接続される計測表示器および計測表示方法 - 特許庁

MEASURING METHOD OF LABEL WITH RELEASE PAPER, MEASURING DEVICE THEREOF AND LABEL PRINTER例文帳に追加

剥離紙付きのラベル測定方法、その測定装置およびラベルプリンタ - 特許庁

INSTALLATION ACCURACY MEASURING DEVICE FOR GUIDE RAIL AND INSTALLATION ACCURACY MEASURING METHOD例文帳に追加

ガイドレールの据付精度測定装置及び据付精度測定方法 - 特許庁

NONCONTACT TYPE FREQUENCY MEASURING METHOD AND STRESS CHANGE MEASURING DEVICE例文帳に追加

非接触式振動数測定方法及び応力変化測定装置 - 特許庁

LINE VOLTAGE MEASURING DEVICE, LINE VOLTAGE MEASURING METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

線間電圧測定装置、線間電圧測定方法およびプログラム - 特許庁

TOOL MEASURING METHOD, AND MACHINE TOOL WITH TOOL MEASURING FUNCTION例文帳に追加

工具測定方法、及び工具測定機能を備えた工作機械 - 特許庁

METHOD OF MEASURING RECEPTOR BONDING ACTIVITY OF LIGAND, AND MEASURING REAGENT例文帳に追加

リガンドのレセプター結合活性の測定方法ならびに測定試薬 - 特許庁

ELECTROMAGNETIC FIELD MEASURING METHOD, MEASURING DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

電磁界測定方法および測定装置、ならびに半導体装置 - 特許庁

PRODUCT TRANSPORT CARRIAGE, ROBOT POSITION MEASURING SYSTEM AND ITS MEASURING METHOD例文帳に追加

製品搬送台車、ロボット位置計測システム及びその計測方法 - 特許庁

WAFER FLATNESS MEASURING DEVICE AND METHOD FOR MEASURING WAFER FLATNESS例文帳に追加

ウェーハ平坦度測定装置及びウェーハ平坦度を測定する方法 - 特許庁

LINEAR EXPANSION COEFFICIENT MEASURING APPARATUS AND LINEAR EXPANSION COEFFICIENT MEASURING METHOD例文帳に追加

線膨張係数測定装置及び線膨張係数測定方法 - 特許庁

DISPERSION INTERFEROMETER, AND METHOD OF MEASURING PHYSICAL QUANTITY OF MEASURING OBJECT例文帳に追加

ディスパーション干渉計及び被測定物の物理量の計測方法 - 特許庁

TEMPERATURE DISTRIBUTION MEASURING SYSTEM, TEMPERATURE DISTRIBUTION MEASURING DEVICE AND ITS METHOD例文帳に追加

温度分布計測システム、温度分布計測装置及びその方法 - 特許庁

MEASURING DEVICE OF RELATIVE POSITION OF SLITTER CIRCULAR SAW AND ITS MEASURING METHOD例文帳に追加

スリッター丸刃の相対位置の測定装置及びその測定方法 - 特許庁

GAS COMPONENT CONCENTRATION MEASURING DEVICE AND GAS COMPONENT CONCENTRATION MEASURING METHOD例文帳に追加

ガス成分濃度計測装置およびガス成分濃度計測方法 - 特許庁

OPTICAL ANISOTROPY MEASURING DEVICE AND OPTICAL ANISOTROPY MEASURING METHOD例文帳に追加

光学異方性測定装置および光学異方性測定方法 - 特許庁

FRICTION COEFFICIENT MEASURING METHOD AND MEASURING DEVICE OF FRICTION TRANSMISSION BELT例文帳に追加

摩擦伝動ベルトの摩擦係数測定方法および測定装置 - 特許庁

FLUORESCENCE DETECTOR, FLUORESCENCE MEASURING METHOD AND ENVIRONMENT MEASURING DEVICE例文帳に追加

蛍光検出装置、蛍光測定方法および環境測定装置 - 特許庁

IMMUNITY MEASUREMENT METHOD, IMMUNITY MEASURING APPARATUS, AND REAGENT FOR MEASURING IMMUNITY例文帳に追加

免疫測定方法、免疫測定装置、及び免疫測定用試薬 - 特許庁

ACTIVITY MEASURING METHOD FOR PHOTOCATALYST THIN FILM, AND ACTIVITY MEASURING FILM例文帳に追加

光触媒薄膜の活性測定方法及び活性測定フィルム - 特許庁

METHOD AND APPARATUS OF MEASURING MISREGISTRATION AND RETICLE FOR MEASURING MISREGISTRATION例文帳に追加

位置ずれ計測方法および装置、並びに位置ずれ計測用レチクル - 特許庁

GATE GENERATING CIRCUIT, SEMICONDUCTOR MEASURING INSTRUMENT, AND SEMICONDUCTOR MEASURING METHOD例文帳に追加

ゲート発生回路、半導体測定装置、及び半導体測定方法 - 特許庁

例文

SAMPLE MEASURING METHOD USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE AND SAMPLE MEASURING SYSTEM THEREFOR例文帳に追加

原子間力顕微鏡を用いた試料測定方法およびシステム - 特許庁




  
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