「pattern method」に関連した英語例文の一覧と使い方(23ページ目) - Weblio英語例文検索

DEFECTIVE PATTERN CORRECTING APPARATUS AND DEFECTIVE PATTERN CORRECTING METHOD例文帳に追加

パターン欠陥修正装置およびパターン欠陥修正方法 - 特許庁

RUGGED PATTERN FORMING METHOD AND RUGGED PATTERN MANUFACTURING DEVICE例文帳に追加

凹凸パターンの形成方法及び凹凸パターンの製造装置 - 特許庁

TEST PATTERN MANAGEMENT DEVICE, TEST PATTERN MANAGEMENT METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

テストパターン管理装置及びテストパターン管理方法及びプログラム - 特許庁

METHOD OF FORMING SEED PATTERN FOR PLATING AND CONDUCTIVE FILM PATTERN例文帳に追加

メッキ用シードパターン及び導電膜パターンの形成方法 - 特許庁

SIMULATION METHOD FOR PATTERN LINE WIDTH AND SIMULATOR FOR PATTERN LINE WIDTH例文帳に追加

パターン線幅シミュレーション方法およびパターン線幅シミュレータ - 特許庁

FILM FOR FORMING RESIST PATTERN AND RESIST PATTERN FORMING METHOD例文帳に追加

レジストパターン形成用膜およびレジストパターンの形成方法 - 特許庁

STRUCTURE OF WIRING PATTERN AND FORMING METHOD OF THE WIRING PATTERN例文帳に追加

配線パターンの構造及び配線パターンの形成方法 - 特許庁

ORGANOMOLECULAR FILM, ORGANOMOLECULAR FILM PATTERN, AND METHOD FOR PRODUCING THE PATTERN例文帳に追加

有機分子膜、有機分子膜パターン及びその製造方法 - 特許庁

PATTERN DEFECT CORRECTION METHOD AND PATTERN DEFECT CORRECTION DEVICE例文帳に追加

パターン欠陥修正方法およびパターン欠陥修正装置 - 特許庁

PATTERN FORMING METHOD AND PATTERN FORMING EQUIPMENT USING IT例文帳に追加

パターン形成方法及びそれを用いたパターン形成装置 - 特許庁

LAYOUT PATTERN CORRECTION DEVICE, LAYOUT PATTERN CORRECTION METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

レイアウトパターン補正装置、レイアウトパターン補正方法、及びプログラム - 特許庁

PATTERN MANUFACTURING METHOD, PATTERN SUBSTRATE AND FIELD EFFECT TRANSISTOR例文帳に追加

パターン製造方法、パターン基板および電界効果型トランジスタ - 特許庁

METHOD FOR FORMING PATTERN IN LUMBER, PATTERN-IMPARTED LUMBER例文帳に追加

木材の模様形成方法および模様が付与された木材 - 特許庁

PATTERN LAYER DATA GENERATION METHOD AND PATTERN LAYER DATA GENERATION DEVICE例文帳に追加

パターンレイヤーデータ生成方法、及びパターンレイヤーデータ生成装置 - 特許庁

APPARATUS FOR CHECKING DRAWING OF EXPOSURE PATTERN AND METHOD OF CHECKING DRAWING OF EXPOSURE PATTERN例文帳に追加

露光パターン検図装置及び露光パターン検図方法 - 特許庁

PATTERN FORMING MATERIAL AND PATTERN FORMING METHOD USING SAME例文帳に追加

パタン形成材料およびこれを用いたパタン形成方法 - 特許庁

CIRCUIT PATTERN FORMING METHOD AND CIRCUIT PATTERN SUBSTRATE FOR ETCHING例文帳に追加

回路パターンの形成方法及びエッチング用回路パターン基板 - 特許庁

METALLIC PATTERN FORMATION METHOD AND METALLIC PATTERN FORMING DEVICE例文帳に追加

金属パターンの形成方法及び金属パターンの形成装置 - 特許庁

PATTERN SHAPE EVALUATION METHOD AND PATTERN SHAPE EVALUATION DEVICE例文帳に追加

パターン形状評価方法及びパターン形状評価装置 - 特許庁

PROCESSING SOLUTION FOR FORMING RESIST PATTERN AND RESIST PATTERN FORMING METHOD例文帳に追加

レジストパターン形成用処理液及びレジストパターン形成方法 - 特許庁

COMPOSITION FOR RESIST PATTERN MICROFABRICATION, AND METHOD FOR FORMING RESIST PATTERN例文帳に追加

レジストパターン微細化組成物及びレジストパターン形成方法 - 特許庁

CIRCUIT PATTERN INSPECTION DEVICE AND METHOD OF INSPECTING CIRCUIT PATTERN THEREOF例文帳に追加

回路パターン検査装置及びその回路パターン検査方法 - 特許庁

PATTERN INSPECTION METHOD AND PATTERN INSPECTION DEVICE AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

パターン検査方法及びパターン検査装置及び記録媒体 - 特許庁

METHOD OF FORMING PATTERN, PATTERN FORMED BY METHOD OF FORMING PATTERN, MOLD, PROCESSING APPARATUS AND PROCESSING METHOD例文帳に追加

パターンの形成方法、該パターンの形成方法によって形成されたパターン、モールド、加工装置及び加工方法 - 特許庁

METHOD FOR SETTING DESIGN MARGIN OF WAFER PATTERN, METHOD FOR SETTING PATTERN ACCURACY AND METHOD FOR SETTING DESIGN MARGIN OF MASK PATTERN例文帳に追加

ウェハパターンの設計マージン設定方法、パターン精度設定方法およびマスクパターンの設計マージン設定方法 - 特許庁

To provide a method of forming a mask pattern structure and a method of forming a fine pattern using the method of forming a mask pattern structure.例文帳に追加

マスクパターン構造物の形成方法とこれを利用した微細パターンの形成方法を提供する。 - 特許庁

PATTERN CORRECTION METHOD, PATTERN CORRECTION SYSTEM, PATTERN CORRECTION PROGRAM, METHOD FOR PRODUCING MASK AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

パターン補正方法、パターン補正システム、パターン補正プログラム、マスクの作成方法、および半導体装置の製造方法 - 特許庁

DESIGN PATTERN CORRECTING METHOD, MASK PATTERN FORMING METHOD, METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE, DESIGN PATTERN CORRECTION SYSTEM, AND DESIGN PATTERN CORRECTING PROGRAM例文帳に追加

設計パターン補正方法、マスクパターン作成方法、半導体装置の製造方法、設計パターン補正システム、及び設計パターン補正プログラム - 特許庁

METHOD FOR VERIFYING PATTERN DATA, METHOD FOR CREATING PATTERN DATA, METHOD FOR MANUFACTURING EXPOSURE MASK, AND PROGRAM例文帳に追加

パタンデータ検証方法、パタンデータ作成方法、露光用マスクの製造方法およびプログラム - 特許庁

METHOD OF VERIFYING PATTERN, METHOD OF FORMING PATTERN, METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE, AND PROGRAM例文帳に追加

パターンの検証方法、パターンの形成方法、半導体装置の製造方法及びプログラム - 特許庁

METHOD FOR FORMING RESIST PATTERN, METHOD FOR FORMING THIN-FILM PATTERN AND MANUFACTURING METHOD FOR MICRO-DEVICE例文帳に追加

レジストパターンの形成方法、薄膜パターンの形成方法及びマイクロデバイスの製造方法 - 特許庁

PATTERN MEASURING SYSTEM, PATTERN MEASURING METHOD, PROCESS MANAGING METHOD, AND EXPOSURE CONDITION RESOLUTION METHOD例文帳に追加

パターン計測システム、パターン計測方法、プロセス管理方法及び露光条件決定方法 - 特許庁

METHOD FOR PREPARING DRAWING PATTERN, METHOD FOR FORMING RESIST PATTERN AND METHOD FOR CONTROLLING EXPOSURE APPARATUS例文帳に追加

描画パターンの生成方法、レジストパターンの形成方法、及び露光装置の制御方法 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING METAL THIN FILM PATTERN例文帳に追加

金属薄膜パターンの製造方法 - 特許庁

OFFSET TEST PATTERN DEVICE AND METHOD例文帳に追加

オフセット・テスト・パターン装置および方法 - 特許庁

METHOD OF FORMING THIN FILM METAL PATTERN例文帳に追加

薄膜金属パターンの形成方法 - 特許庁

LENGTH MEASURING PATTERN AND LENGTH MEASURING METHOD例文帳に追加

測長パターンおよび測長方法 - 特許庁

PATTERN FORMING METHOD, MANUFACTURING METHOD OF LIQUID CRYSTAL DEVICE, AND PATTERN FORMING DEVICE例文帳に追加

パターン形成方法、液晶装置の製造方法及びパターン形成装置 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING PATTERN, DEVICE FOR MEASURING PATTERN, METHOD FOR MANUFACTURING PHOTOMASK, AND PROGRAM例文帳に追加

パタン計測方法、パタン計測装置、フォトマスクの製造方法およびプログラム - 特許庁

CHOPSTICK AND PATTERN FORMING METHOD OF CHOPSTICK例文帳に追加

箸および箸の模様形成方法。 - 特許庁

PATTERN TRANSFER DEVICE, IMPRINT DEVICE, PATTERN TRANSFER METHOD, AND ALIGNMENT METHOD例文帳に追加

パターン転写装置、インプリント装置、パターン転写方法および位置合わせ方法 - 特許庁

PATTERN EXPOSING METHOD AND ALIGNER DEVICE例文帳に追加

パターン露光方法および露光装置 - 特許庁

METHOD FOR FORMING FINE PARTICLE ARRAY PATTERN例文帳に追加

微粒子配列パターン形成方法 - 特許庁

METHOD OF WRITING PATTERN REPETITIONS OF IMAGE例文帳に追加

映像のパターン反復記述方法 - 特許庁

PATTERN INSPECTION APPARATUS, PATTERN INSPECTION METHOD, AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

パターン検査装置、パターン検査方法および半導体装置の製造方法 - 特許庁