patternを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 50000件
WIRING PATTERN INSPECTING APPARATUS AND WIRING PATTERN INSPECTING METHOD例文帳に追加
配線パターン検査装置及び配線パターン検査方法 - 特許庁
The design device arranges the outer serif pattern and the inner serif pattern separately from the circuit pattern.例文帳に追加
設計装置は、アウターセリフパターン，インナーセリフパターンを回路パターンと分離して配置した。 - 特許庁
CODE PATTERN IMAGE DATA GENERATION DEVICE AND MEDIUM WITH CODE PATTERN例文帳に追加
コードパターン画像データ生成装置、コードパターン付媒体 - 特許庁
METHOD FOR FORMING RESIST PATTERN AND RESIST PATTERN FORMING APPARATUS例文帳に追加
レジストパターン形成方法およびレジストパターン形成装置 - 特許庁
RESIN COMPOSITION FOR FORMING PATTERN AND PATTERN FORMING PROCESS例文帳に追加
パターン形成用樹脂組成物及びパターン形成方法 - 特許庁
METHOD FOR FORMING SOLDER PATTERN AND MULTIPLE-PATTERN CIRCUIT BOARD例文帳に追加
はんだパターン形成方法及び多面取り回路基板 - 特許庁
PRINTING PATTERN FORMING COMPONENT AND METHOD FOR FORMING PATTERN例文帳に追加
印刷パターン形成部品及びそのパターン形成方法 - 特許庁
PATTERN FORMATION SYSTEM, PATTERN FORMATION METHOD AND ELECTRONIC APPARATUS例文帳に追加
パターン形成システム、パターン形成方法および電子機器 - 特許庁
CIRCUIT PATTERN FORMING METHOD AND CIRCUIT PATTERN FORMING DEVICE例文帳に追加
回路パターン形成方法および回路パターン形成装置 - 特許庁
MASK PATTERN VERIFICATION METHOD, MASK PATTERN GENERATION METHOD, PATTERN DATA PROCESSOR, AND PROGRAM例文帳に追加
マスクパターン検証方法、マスクパターン作成方法、パターンデータ処理装置、およびプログラム - 特許庁
CIRCUIT PATTERN DETECTOR, CIRCUIT PATTERN DETECTING METHOD AND CIRCUIT PATTERN INSPECTING METHOD例文帳に追加
回路パターン検出装置、回路パターン検出方法および回路パターン検査方法 - 特許庁
METHOD FOR CREATING EVALUATION PATTERN, PROGRAM FOR CREATING EVALUATION PATTERN, AND PATTERN VERIFICATION METHOD例文帳に追加
評価パターン作成方法、評価パターン作成プログラムおよびパターン検証方法 - 特許庁
METHOD FOR FORMING CONDUCTION PATTERN AND CONDUCTION PATTERN HOLDING SHEET例文帳に追加
導電パターンの形成方法と導電パターン所持シート - 特許庁
The weaving of the two-color thin strips 2 using the weaving yarn 4 is performed so to form a pattern M such as a checkered pattern, rectangular pattern or sagittal pattern.例文帳に追加
二色ひご２を織り糸４にて織って、市松模様、長方形、矢絣等の模様Ｍを形成する。 - 特許庁
To provide a pattern recognition device, a pattern recognition program and a pattern recognition method, for enabling high-accuracy pattern recognition.例文帳に追加
パターン認識を高精度に行うパターン認識装置、パターン認識プログラム、パターン認識方法を提供する。 - 特許庁
The pattern forming apparatus has the pattern forming material.例文帳に追加
該パターン形成材料を備えたパターン形成装置である。 - 特許庁
EMBROIDERY STRUCTURE IN EMBROIDERY PATTERN例文帳に追加
刺繍柄の刺繍構造 - 特許庁
The actual pattern and the reference pattern are moved so that the actual pattern and the reference pattern match (ST18, ST19).例文帳に追加
実際パターンと基準パターンが一致するように、実際パターンや基準パターンを移動させる（ＳＴ１８、１９）。 - 特許庁
PATTERN DIMENSION MEASUREMENT METHOD AND PATTERN DIMENSION MEASUREMENT DEVICE例文帳に追加
パターン寸法測定方法及びパターン寸法測定装置 - 特許庁
LINE GROUP PATTERN RECOGNIZING METHOD例文帳に追加
線群パターン認識方法 - 特許庁
MANUFACTURING METHOD OF HOLLOW PATTERN例文帳に追加
中空模型製造方法 - 特許庁
DOOR WITH PATTERN LIGHT EMITTING FUNCTION例文帳に追加
パターン発光機能付き戸 - 特許庁
PATTERN EVALUATION METHOD, PATTERN ALIGNMENT METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加
パターン評価方法、パターン位置合わせ方法およびプログラム - 特許庁
PATTERN DEFECT INSPECTION DEVICE AND PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加
パターン欠陥検査装置、及び、パターン欠陥検査方法 - 特許庁
INSPECTION METHOD OF EXPOSURE PATTERN AND RETICLE FOR PATTERN EXPOSURE例文帳に追加
露光パターンの検査方法及びパターン露光用レチクル - 特許庁
MASK PATTERN PROCESSING APPARATUS, MASK PATTERN PROCESSING METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加
マスクパターン処理装置、マスクパターン処理方法、およびプログラム - 特許庁
OPTICAL CATION CROSSLINKING PATTERN POLYMER例文帳に追加
光カチオン架橋型ポリマー - 特許庁
PATTERN INSPECTION METHOD, PATTERN INSPECTION DEVICE, METHOD FOR MANUFACTURING PHOTOMASK, AND PATTERN TRANSFER METHOD例文帳に追加
パターン検査方法、パターン検査装置、フォトマスク製造方法、およびパターン転写方法 - 特許庁
The two most basic searches are/pattern and ?pattern. 例文帳に追加
もっとも基本的な二つの検索は/パターンと?パターンです。 - Gentoo Linux
If string is null, matches of pattern are deleted and the / following pattern may be omitted. 例文帳に追加
string が空の場合には pattern にマッチした部分は削除されます。 またこの場合には、pattern の後に続く / は省略可能です。 - JM
DUAL PHOTOMASK EQUIPPED WITH BINARY PATTERN AND PHASE SHIFT PATTERN例文帳に追加
バイナリパタ—ン及び位相シフトパタ—ンを備えたデュアルフォトマスク - 特許庁
PATTERN FLAW INSPECTION DEVICE AND PATTERN FLAW INSPECTION METHOD例文帳に追加
パターン欠陥検査装置及びパターン欠陥検査方法 - 特許庁
INSPECTION DEVICE FOR APERTURE PATTERN例文帳に追加
開口パターンの検査装置 - 特許庁
CONDUCTIVE PATTERN GENERATION METHOD例文帳に追加
導電パターン生成方法 - 特許庁
PATTERN FLAW INSPECTION METHOD, AND PATTERN FLAW INSPECTING DEVICE例文帳に追加
パターン欠陥検査方法、及びパターン欠陥検査装置 - 特許庁
At least one pattern part among the plurality of pattern parts is different from other pattern parts.例文帳に追加
複数のパターン部のうちの少なくとも一のパターン部は別のパターン部と異なる。 - 特許庁
LAYOUT PATTERN DATA CORRECTION SYSTEM例文帳に追加
レイアウトパターンデータ補正装置 - 特許庁
MAGNETIC PATTERN RECOGNIZING DEVICE AND MAGNETIC PATTERN RECOGNIZING METHOD例文帳に追加
磁気パターン認識装置および磁気パターン認識方法 - 特許庁
LUMINESCENCE PATTERN READER AND LUMINESCENCE PATTERN READING METHOD例文帳に追加
発光パターン読取装置および発光パターン読取方法 - 特許庁
ACTION PATTERN FORMATION DEVICE, ACTION PATTERN FORMATION METHOD, AND ACTION PATTERN FORMATION PROGRAM例文帳に追加
行動パターン生成装置、行動パターン生成方法、及び行動パターン生成プログラム - 特許庁
| 本サービスで使用している「Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス」はWikipediaの日本語文を独立行政法人情報通信研究機構が英訳したものを、Creative Comons Attribution-Share-Alike License 3.0による利用許諾のもと使用しております。詳細はhttp://creativecommons.org/licenses/by-sa/3.0/ および http://alaginrc.nict.go.jp/WikiCorpus/ をご覧下さい。 |
| Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved. |
| この対訳コーパスは独立行政法人情報通信研究機構の研究成果であり、Creative Commons Attribution-Share Alike 3.0 Unportedでライセンスされています。 |
| Copyright 2001-2010 Gentoo Foundation, Inc. The contents of this document are licensed under the Creative Commons - Attribution / Share Alike license. |
| Copyright (c) 2001 Robert Kiesling. Copyright (c) 2002, 2003 David Merrill. The contents of this document are licensed under the GNU Free Documentation License. Copyright (C) 1999 JM Project All rights reserved. |
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
検索履歴を保存できる！
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
