patternを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 50000件
PATTERN DEFECT ANALYSIS EQUIPMENT, PATTERN DEFECT ANALYSIS METHOD, AND PATTERN DEFECT ANALYSIS PROGRAM例文帳に追加
パターン欠陥解析装置、パターン欠陥解析方法およびパターン欠陥解析プログラム - 特許庁
MASK PATTERN VERIFICATION METHOD AND MASK PATTERN PREPARING METHOD例文帳に追加
マスクパターン検証方法およびマスクパターン作成方法 - 特許庁
PATTERN INSPECTION METHOD, EXPOSURE MASK, AND PATTERN INSPECTION PROGRAM例文帳に追加
パターン検査方法、露光用マスク、およびパターン検査プログラム - 特許庁
PATTERN FORMING SUBSTRATE AND METHOD FOR MANUFACTURING PATTERN FORMING SUBSTRATE例文帳に追加
パターン形成基板及びパターン形成基板製造方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING ELECTRODE PATTERN例文帳に追加
電極パターン検査方法 - 特許庁
DETERMINING METHOD OF RETICLE PATTERN例文帳に追加
レチクルパターンの決定方法 - 特許庁
VEIN PATTERN ACQUISITION DEVICE例文帳に追加
静脈パターン取得デバイス - 特許庁
With this setup, a test chip pattern is set equal in pattern density to a main chip pattern.例文帳に追加
これによって、テストチップのパターン密度を本チップのパターン密度と同等にする。 - 特許庁
PATTERN DEFECT INSPECTION APPARATUS AND PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加
パターン欠陥検査装置およびパターン欠陥検査方法 - 特許庁
A test pattern generator 24 reads a test pattern out of a test pattern storage 25 and prints out the pattern by using an output device.例文帳に追加
テストパターン発生装置24がテストパターン記憶装置25からパターンを読み出し、出力装置に印刷する。 - 特許庁
PATTERN INSPECTION METHOD AND PATTERN INSPECTION REGION DEFINING PROGRAM例文帳に追加
パターン検査方法及びパターン検査領域規定プログラム - 特許庁
GENERATING METHOD FOR PATTERN DATA, AND PATTERN DATA GENERATING PROGRAM例文帳に追加
パタンデータの作成方法およびパタンデータ作成プログラム - 特許庁
MASK, RESIST PATTERN, AND METHOD OF FORMING RESIST PATTERN例文帳に追加
マスク及びレジストパターン並びにレジストパターンの形成方法 - 特許庁
SCALE PATTERN FORMING METHOD, SCALE PATTERN FORMING DEVICE, AND SCALE例文帳に追加
スケールパターン形成方法、スケールパターン形成装置、スケール - 特許庁
BIT PATTERN MAGNETIC RECORDING MEDIUM例文帳に追加
ビットパターン磁気記録媒体 - 特許庁
PATTERN EDGE DETECTION METHOD例文帳に追加
パターン輪郭検出方法 - 特許庁
CONDUCTIVE PATTERN FORMING METHOD例文帳に追加
導電パターン形成方法 - 特許庁
METHOD FOR MENDING EMBROIDERY PATTERN例文帳に追加
刺繍柄の補修方法 - 特許庁
PROJECTION PATTERN FORMING METHOD例文帳に追加
突起パターンの形成方法 - 特許庁
PRODUCTION METHOD OF RESIST PATTERN例文帳に追加
レジストパターンの製造方法 - 特許庁
SYSTEM FOR CORRECTING MASK PATTERN AND METHOD FOR CORRECTING MASK PATTERN例文帳に追加
マスクパターンの補正システム及びマスクパターンの補正方法 - 特許庁
THIN FILM PATTERN PRINTING METHOD例文帳に追加
薄膜パターン印刷方法 - 特許庁
PSEUDO-RANDOM PATTERN GENERATOR例文帳に追加
擬似ランダムパターン発生装置 - 特許庁
METHOD FOR MANUFACTURING FINE PATTERN例文帳に追加
微細パタンの製造方法 - 特許庁
PATTERN DEFECT INSPECTION DEVICE AND PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加
パターン欠陥検査装置およびパターン欠陥検査方法 - 特許庁
METHOD FOR MANUFACTURING RESIST PATTERN例文帳に追加
レジストパターンの製造方法 - 特許庁
LAY OUT PATTERN VERIFICATION METHOD例文帳に追加
レイアウトパターン検証方法 - 特許庁
PATTERN-CORRECTION SUPPORTING METHOD AND PATTERN-CORRECTION SUPPORTING PROGRAM例文帳に追加
パターン補正支援方法およびパターン補正支援プログラム - 特許庁
IRREGULAR PATTERN INSPECTING APPARATUS AND IRREGULAR PATTERN INSPECTION METHOD例文帳に追加
凹凸パターン検査装置及び凹凸パターン検査方法 - 特許庁
FIXED PATTERN NOISE ELIMINATOR例文帳に追加
固定パターンノイズ除去装置 - 特許庁
PSEUDO RANDOM PATTERN TRANSMITTER例文帳に追加
擬似ランダムパターン送信装置 - 特許庁
EXPOSURE MASK, PATTERN FORMING DEVICE AND PATTERN FORMING METHOD例文帳に追加
露光用マスク、パターン形成装置及びパターン形成方法 - 特許庁
PATTERN DRAWING APPARATUS, METHOD FOR DRAWING PATTERN, AND INSPECTION APPARATUS例文帳に追加
パターン描画装置、パターン描画方法、および検査装置 - 特許庁
CONDUCTIVE FILM PATTERN AND METHOD OF FORMING CONDUCTIVE FILM PATTERN例文帳に追加
導電膜パターン及び導電膜パターンの形成方法 - 特許庁
METHOD FOR FORMING CONDUCTIVE FILM PATTERN AND CONDUCTIVE FILM PATTERN例文帳に追加
導電膜パターン形成方法、及び導電膜パターン - 特許庁
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