「sample inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

SAMPLE INSPECTION METHOD例文帳に追加

試料検査方法 - 特許庁

・Implementation of sample inspection.例文帳に追加

•サンプル検査を実施。 - 経済産業省

SAMPLE INSPECTION DEVICE AND SAMPLE INSPECTION METHOD例文帳に追加

試料検査装置及び試料検査方法 - 特許庁

SAMPLE INSPECTION METHOD AND SAMPLE INSPECTION DEVICE例文帳に追加

試料検査方法及び試料検査装置 - 特許庁

INSPECTION DEVICE OF SAMPLE例文帳に追加

試料の検査装置 - 特許庁

SAMPLE INSPECTION METHOD例文帳に追加

試料の検査方法 - 特許庁

INSPECTION SAMPLE HOUSING CASSETTE例文帳に追加

検体収納カセット - 特許庁

SAMPLE INSPECTION DEVICE AND SAMPLE INSPECTION METHOD例文帳に追加

試料検査装置、及び試料検査方法 - 特許庁

SAMPLE INSPECTION DEVICE, SAMPLE INSPECTION METHOD, AND SAMPLE INSPECTION SYSTEM例文帳に追加

試料検査装置及び試料検査方法並びに試料検査システム - 特許庁

MAGNETIC SAMPLE INSPECTION DEVICE例文帳に追加

磁気試料検査装置 - 特許庁

SAMPLE HOLDER, SAMPLE INSPECTION METHOD, SAMPLE INSPECTION DEVICE, AND SAMPLE INSPECTION SYSTEM例文帳に追加

試料保持体、試料検査方法及び試料検査装置並びに試料検査システム - 特許庁

INSPECTION DEVICE, SAMPLE, AND INSPECTION METHOD例文帳に追加

検査装置、サンプル、及び検査方法 - 特許庁

SAMPLE INSPECTION DEVICE, SAMPLE INSPECTION METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

試料検査装置、試料検査方法及びプログラム - 特許庁

STANDARD SAMPLE FOR INSPECTION例文帳に追加

検査用標準試料 - 特許庁

SAMPLE INSPECTION APPARATUS, SAMPLE INSPECTION METHOD AND PROGRAM例文帳に追加

試料検査装置、試料検査方法及びプログラム - 特許庁

SAMPLE INSPECTION DEVICE, SAMPLE INSPECTION METHOD AND PROGRAM例文帳に追加

試料検査装置、試料検査方法及びプログラム - 特許庁

BIOLOGICAL SAMPLE INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

生体試料検査装置 - 特許庁

SAMPLE INSPECTION METHOD AND INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

試料検査方法及び検査装置 - 特許庁

INSPECTION METHOD OF SAMPLE, PROGRAM AND INSPECTION DEVICE OF SAMPLE例文帳に追加

試料検査方法、プログラム及び試料検査装置 - 特許庁

SAMPLE HOLDER AND SAMPLE INSPECTION DEVICE例文帳に追加

試料保持体及び試料検査装置 - 特許庁

SAMPLE RETAINER, SAMPLE INSPECTION METHOD AND SAMPLE INSPECTION DEVICE例文帳に追加

試料保持体及び試料検査方法並びに試料検査装置 - 特許庁

SAMPLE HOLDER, SAMPLE INSPECTION DEVICE, AND SAMPLE INSPECTION METHOD例文帳に追加

試料保持体及び試料検査装置並びに試料検査方法 - 特許庁

INSPECTION APPARATUS AND INSPECTION METHOD FOR SAMPLE例文帳に追加

試料の検査装置及び検査方法 - 特許庁

SAMPLE CHECKER AND INSPECTION SYSTEM例文帳に追加

サンプルチェッカ及び検査システム - 特許庁

SAMPLE INSPECTION DEVICE AND SAMPLE INSPECTING METHOD例文帳に追加

試料検査装置、及び、試料検査方法 - 特許庁

SAMPLE INSPECTION DEVICE AND METHOD例文帳に追加

サンプル検査装置及び方法 - 特許庁

SAMPLE HOLDER, SAMPLE INSPECTION DEVICE AND SAMPLE INSPECTING METHOD例文帳に追加

試料保持体、試料検査装置及び試料検査方法 - 特許庁

CASE FOR INSPECTION TOOL AND LIQUID SAMPLE INSPECTION TOOL例文帳に追加

検査具用ケース及び液体試料検査具 - 特許庁

SAMPLE SURFACE INSPECTION DEVICE AND INSPECTION METHOD例文帳に追加

試料表面検査装置及び検査方法 - 特許庁

DISPENSER, SAMPLE INSPECTION SYSTEM, DISPENSING METHOD, SAMPLE INSPECTION METHOD, DISPENSING PROGRAM, AND SAMPLE INSPECTION PROGRAM例文帳に追加

分注装置、検体検査システム、分注方法、検体検査方法、分注プログラム、検体検査プログラム - 特許庁

PREPARATION FOR INSPECTION OF LIQUID SAMPLE例文帳に追加

液状試料検査用プレパラート - 特許庁

INSPECTION SAMPLE EXAMINED RESULT DISPLAY METHOD例文帳に追加

検体検査結果表示方法 - 特許庁

ELECTRIC INSPECTION APPARATUS AND ELECTRIC INSPECTION METHOD FOR INSPECTION OF ELECTRIC INSPECTION SAMPLE例文帳に追加

電気被検体の検査のための電気検査装置並びに電気検査方法 - 特許庁

SIMULTANEOUS MULTI-ITEM MULTIPLE SAMPLE INSPECTION例文帳に追加

同時多項目多検体検査法 - 特許庁

SAMPLE INSPECTION AND/OR PROCESS DEVICE例文帳に追加

サンプル検査及び／又は処理装置 - 特許庁

INSPECTION DEVICE FOR SAMPLE, AND METHOD例文帳に追加

試料の検査装置および方法 - 特許庁

SURFACE FLAW INSPECTION DEVICE OF SAMPLE例文帳に追加

試料表面の欠陥検査装置 - 特許庁

To improve pattern inspection accuracy for an inspection sample.例文帳に追加

被検査試料のパターン検査の精度を高めること。 - 特許庁

INSPECTION METHOD AND INSPECTING APPARATUS FOR SAMPLE例文帳に追加

検体の検査方法及び検査装置 - 特許庁

SAMPLE INSPECTING DEVICE AND METHOD FOR CONTROLLING SAMPLE INSPECTION DEVICE例文帳に追加

試料検査装置及び試料検査装置の制御方法 - 特許庁

ELECTRIC INSPECTION APPARATUS AND ELECTRIC INSPECTION METHOD FOR INSPECTING ELECTRIC INSPECTION SAMPLE例文帳に追加

電気被検体の検査のための電気検査装置並びに電気検査方法 - 特許庁

To provide a sample holder, a sample inspection method, a sample inspection device, and a sample inspection system allowing sample inspection to be efficiently carried out by selecting a constituent in a sample, and allowing the sample inspection to be carried out well.例文帳に追加

試料中の構成物を選択して効率的に試料検査を行うことができるとともに、当該試料検査を良好に行うことのできる試料保持体、試料検査方法及び試料検査装置並びに試料検査システムを提供する。 - 特許庁

PATTERN INSPECTION DEVICE AND METHOD, AND INSPECTION OBJECT SAMPLE例文帳に追加

パターン検査装置、パターン検査方法、及び検査対象試料 - 特許庁

SAMPLE HOLDER, INSPECTION DEVICE AND INSPECTION METHOD USING IT例文帳に追加

試料ホルダとそれを用いた検査装置及び検査方法 - 特許庁

SAMPLE SURFACE INSPECTION APPARATUS AND METHOD例文帳に追加

試料表面の検査装置及び方法 - 特許庁