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「scan method」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索


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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > scan methodの意味・解説 > scan methodに関連した英語例文

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scan methodの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 936



例文

RASTER SCAN METHOD例文帳に追加

ラスタースキャン方法 - 特許庁

SCAN PATH TESTING METHOD例文帳に追加

スキャンパステスト方法 - 特許庁

BACKGROUND SCAN METHOD例文帳に追加

バックグランドスキャン方法 - 特許庁

SCAN CONVERTER AND SCAN CONVERSION METHOD例文帳に追加

スキャンコンバ—タ及びスキャンコンバ—ト方法 - 特許庁

例文

SCAN PATH DESIGN METHOD例文帳に追加

スキャンパス設計方法 - 特許庁


例文

SCAN TESTING METHOD AND SCAN TESTING DEVICE例文帳に追加

スキャンテスト方法及びスキャンテスト装置 - 特許庁

SCAN TEST CIRCUIT AND SCAN TEST METHOD例文帳に追加

スキャンテスト回路およびスキャンテスト方法 - 特許庁

SCAN TEST METHOD AND SCAN TEST CIRCUIT例文帳に追加

スキャンテスト方法およびスキャンテスト回路 - 特許庁

BOUNDARY SCAN TEST METHOD例文帳に追加

バウンダリ・スキャン・テスト方法 - 特許庁

例文

SCAN TEST CIRCUIT, SCAN TEST CONTROL METHOD例文帳に追加

スキャンテスト回路、及びスキャンテスト制御方法 - 特許庁

例文

SCAN CONVERTING CIRCUIT AND SCAN CONVERTING METHOD例文帳に追加

スキャンコンバート回路およびスキャンコンバート方法 - 特許庁

SCAN EXPOSURE APPARATUS AND SCAN EXPOSURE METHOD例文帳に追加

スキャン露光装置およびスキャン露光方法 - 特許庁

SCAN CONVERTING APPARATUS AND SCAN CONVERTING METHOD例文帳に追加

走査変換装置及び走査変換方法 - 特許庁

BOUNDARY SCAN VISUALIZATION METHOD例文帳に追加

バウンダリスキャン可視化方法 - 特許庁

METHOD FOR DESIGNING BOUNDARY SCAN例文帳に追加

バウンダリスキャン設計方法 - 特許庁

SCAN TEST CONTROL METHOD AND SCAN TEST CIRCUIT例文帳に追加

スキャンテスト制御方法、及びスキャンテスト回路 - 特許庁

SCAN CONVERTER, RADAR DEVICE, AND SCAN CONVERTING METHOD例文帳に追加

スキャンコンバータ、レーダ装置及びスキャンコンバート方法 - 特許庁

KEY SCAN CIRCUIT, ELECTRONIC APPARATUS, AND KEY SCAN METHOD例文帳に追加

キースキャン回路、電子機器及びキースキャン方法 - 特許庁

SCAN CHAIN DESIGN SYSTEM AND SCAN CHAIN DESIGNING METHOD例文帳に追加

スキャンチェイン設計システム及びその設計方法 - 特許庁

MULTI-SCAN DEVICE AND MULTI-SCAN METHOD FOR PLASMA DISPLAY PANEL例文帳に追加

プラズマディスプレイパネルのマルチスキャン装置及び方法 - 特許庁

SCAN CONTROL METHOD, SCAN CONTROL CIRCUIT AND DEVICE例文帳に追加

スキャン制御方法、スキャン制御回路及び装置 - 特許庁

RECONNECTION METHOD OF SCAN LINE例文帳に追加

スキャンラインの再接続方法 - 特許庁

SCAN TEST CIRCUIT AND METHOD例文帳に追加

スキャンテスト回路および方法 - 特許庁

SCAN TEST METHOD, INTEGRATED CIRCUIT AND SCAN TEST CIRCUIT例文帳に追加

スキャンテスト方法、集積回路及びスキャンテスト回路 - 特許庁

SCAN PROJECTION ALIGNER AND SCAN PROJECTION EXPOSURE METHOD, AND METHOD FOR MANUFACTURING DEVICE例文帳に追加

スキャン露光装置及び方法並びにデバイスの製造方法 - 特許庁

SCAN CONTROL METHOD AND DEVICE例文帳に追加

スキャン制御方法及び装置 - 特許庁

METHOD FOR KEY SCAN AND ITS CIRCUIT例文帳に追加

キースキャンの方法とその回路 - 特許庁

DESIGN METHOD FOR SCAN TEST CIRCUIT例文帳に追加

スキャンテスト回路の設計方法 - 特許庁

METHOD OF USING SCAN CHAIN AND BOUNDARY SCAN FOR POWER SAVING例文帳に追加

スキャンチェーン及びバウンダリスキャンを使用した節電方法 - 特許庁

THREE-DIMENSIONAL SCAN DATA CORRECTION SYSTEM, METHOD AND PROGRAM FOR CORRECTING THREE-DIMENSIONAL SCAN DATA例文帳に追加

3次元スキャンデータ補正システム、方法、及びプログラム - 特許庁

SCAN TEST CIRCUIT AND SCAN TEST METHOD USED FOR IT例文帳に追加

スキャン試験回路及びそれに用いるスキャン試験方式 - 特許庁

SCAN TEST CIRCUIT AND METHOD OF DESIGNING SCAN TEST CIRCUIT例文帳に追加

スキャンテスト回路およびスキャンテスト回路の設計方法 - 特許庁

SCAN DATA PROCESSING SYSTEM, SERVER, SCAN DATA PROCESSING METHOD AND PROGRAM例文帳に追加

スキャンデータ処理システム、サーバ、スキャンデータ処理方法、プログラム - 特許庁

METHOD FOR CONSTRUCTING MULTI-SCAN JOB FILE, AND SCAN SYSTEM例文帳に追加

マルチスキャン・ジョブファイルを構築する方法、及び走査システム - 特許庁

METHOD OF CORRECTING SCAN EXPOSURE EQUIPMENT例文帳に追加

スキャン露光装置の補正方法 - 特許庁

SCAN-TYPE AD CONVERSION METHOD AND SCAN-TYPE AD CONVERSION SYSTEM例文帳に追加

スキャン型AD変換方法、スキャン型AD変換システム - 特許庁

SCAN FLIP-FLOP, SCAN PATH CIRCUIT AND DESIGN METHOD FOR THE SAME例文帳に追加

スキャンフリップフロップと、スキャンパス回路およびその設計方法 - 特許庁

BROADCAST RECEIVER, CHANNEL SCAN METHOD, AND CHANNEL SCAN PROGRAM例文帳に追加

放送受信装置、チャンネルスキャン方法及びチャンネルスキャンプログラム - 特許庁

SCAN FLIP-FLOP CIRCUIT AND SCAN TEST METHOD USING THE SAME例文帳に追加

スキャンフリップフロップ回路及びこれを用いたスキャンテスト方法 - 特許庁

SCAN CHAIN CIRCUIT, METHOD FOR CONSTRUCTING SCAN CHAIN, AND ITS PROGRAM例文帳に追加

スキャンチェーン回路、スキャンチェーン構築方法およびそのプログラム - 特許庁

SCAN CHAIN CIRCUIT, SCAN CHAIN CONSTRUCTION METHOD, AND TEST DEVICE例文帳に追加

スキャンチェーン回路、スキャンチェーン構築方法及び試験装置 - 特許庁

SCAN TYPE AD CONVERTING METHOD AND SCAN TYPE AD CONVERSION SYSTEM例文帳に追加

スキャンタイプAD変換方法、スキャンタイプAD変換システム - 特許庁

LASER SCAN IMAGE FORMING METHOD AND LASER SCAN IMAGE DEVICE例文帳に追加

レーザ走査画像形成方法及びレーザ走査画像装置 - 特許庁

SCAN FLIP-FLOP CIRCUIT, SCAN TEST CIRCUIT, AND CONTROL METHOD THEREOF例文帳に追加

スキャンフリップフロップ回路、スキャンテスト回路及びその制御方法 - 特許庁

MASK, PROXIMITY SCAN EXPOSURE DEVICE, AND PROXIMITY SCAN EXPOSURE METHOD例文帳に追加

マスク、近接スキャン露光装置及び近接スキャン露光方法 - 特許庁

METHOD FOR DESIGNING SCAN TEST CIRCUIT FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, SCAN TEST CIRCUIT AND SCAN TEST METHOD例文帳に追加

半導体集積回路のスキャンテスト回路の設計方法、スキャンテスト回路、およびスキャンテスト方法 - 特許庁

SCAN TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体デバイスのスキャンテスト方式 - 特許庁

CONICAL SCAN TRACKING METHOD AND DEVICE例文帳に追加

コニカルスキャン追尾方法及び装置 - 特許庁

METHOD FOR PRESERVING SCAN DATA IN PC例文帳に追加

スキャンデータのPCへの保存方法 - 特許庁

例文

SCAN CIRCUIT, AND ITS DESIGN METHOD例文帳に追加

スキャン回路及びその設計方法 - 特許庁




  
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