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scan methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 936件
SCAN PATH TESTING METHOD例文帳に追加
スキャンパステスト方法 - 特許庁
BACKGROUND SCAN METHOD例文帳に追加
バックグランドスキャン方法 - 特許庁
SCAN CONVERTER AND SCAN CONVERSION METHOD例文帳に追加
スキャンコンバ—タ及びスキャンコンバ—ト方法 - 特許庁
SCAN CONVERTING CIRCUIT AND SCAN CONVERTING METHOD例文帳に追加
スキャンコンバート回路およびスキャンコンバート方法 - 特許庁
SCAN CONVERTING APPARATUS AND SCAN CONVERTING METHOD例文帳に追加
走査変換装置及び走査変換方法 - 特許庁
BOUNDARY SCAN VISUALIZATION METHOD例文帳に追加
バウンダリスキャン可視化方法 - 特許庁
SCAN CONVERTER, RADAR DEVICE, AND SCAN CONVERTING METHOD例文帳に追加
スキャンコンバータ、レーダ装置及びスキャンコンバート方法 - 特許庁
MULTI-SCAN DEVICE AND MULTI-SCAN METHOD FOR PLASMA DISPLAY PANEL例文帳に追加
プラズマディスプレイパネルのマルチスキャン装置及び方法 - 特許庁
SCAN CONTROL METHOD, SCAN CONTROL CIRCUIT AND DEVICE例文帳に追加
スキャン制御方法、スキャン制御回路及び装置 - 特許庁
RECONNECTION METHOD OF SCAN LINE例文帳に追加
スキャンラインの再接続方法 - 特許庁
SCAN TEST METHOD, INTEGRATED CIRCUIT AND SCAN TEST CIRCUIT例文帳に追加
スキャンテスト方法、集積回路及びスキャンテスト回路 - 特許庁
SCAN PROJECTION ALIGNER AND SCAN PROJECTION EXPOSURE METHOD, AND METHOD FOR MANUFACTURING DEVICE例文帳に追加
スキャン露光装置及び方法並びにデバイスの製造方法 - 特許庁
METHOD OF USING SCAN CHAIN AND BOUNDARY SCAN FOR POWER SAVING例文帳に追加
スキャンチェーン及びバウンダリスキャンを使用した節電方法 - 特許庁
THREE-DIMENSIONAL SCAN DATA CORRECTION SYSTEM, METHOD AND PROGRAM FOR CORRECTING THREE-DIMENSIONAL SCAN DATA例文帳に追加
3次元スキャンデータ補正システム、方法、及びプログラム - 特許庁
SCAN DATA PROCESSING SYSTEM, SERVER, SCAN DATA PROCESSING METHOD AND PROGRAM例文帳に追加
スキャンデータ処理システム、サーバ、スキャンデータ処理方法、プログラム - 特許庁
METHOD FOR CONSTRUCTING MULTI-SCAN JOB FILE, AND SCAN SYSTEM例文帳に追加
マルチスキャン・ジョブファイルを構築する方法、及び走査システム - 特許庁
METHOD OF CORRECTING SCAN EXPOSURE EQUIPMENT例文帳に追加
スキャン露光装置の補正方法 - 特許庁
SCAN-TYPE AD CONVERSION METHOD AND SCAN-TYPE AD CONVERSION SYSTEM例文帳に追加
スキャン型AD変換方法、スキャン型AD変換システム - 特許庁
SCAN FLIP-FLOP, SCAN PATH CIRCUIT AND DESIGN METHOD FOR THE SAME例文帳に追加
スキャンフリップフロップと、スキャンパス回路およびその設計方法 - 特許庁
BROADCAST RECEIVER, CHANNEL SCAN METHOD, AND CHANNEL SCAN PROGRAM例文帳に追加
放送受信装置、チャンネルスキャン方法及びチャンネルスキャンプログラム - 特許庁
SCAN FLIP-FLOP CIRCUIT AND SCAN TEST METHOD USING THE SAME例文帳に追加
スキャンフリップフロップ回路及びこれを用いたスキャンテスト方法 - 特許庁
SCAN CHAIN CIRCUIT, METHOD FOR CONSTRUCTING SCAN CHAIN, AND ITS PROGRAM例文帳に追加
スキャンチェーン回路、スキャンチェーン構築方法およびそのプログラム - 特許庁
SCAN CHAIN CIRCUIT, SCAN CHAIN CONSTRUCTION METHOD, AND TEST DEVICE例文帳に追加
スキャンチェーン回路、スキャンチェーン構築方法及び試験装置 - 特許庁
SCAN TYPE AD CONVERTING METHOD AND SCAN TYPE AD CONVERSION SYSTEM例文帳に追加
スキャンタイプAD変換方法、スキャンタイプAD変換システム - 特許庁
SCAN FLIP-FLOP CIRCUIT, SCAN TEST CIRCUIT, AND CONTROL METHOD THEREOF例文帳に追加
スキャンフリップフロップ回路、スキャンテスト回路及びその制御方法 - 特許庁
MASK, PROXIMITY SCAN EXPOSURE DEVICE, AND PROXIMITY SCAN EXPOSURE METHOD例文帳に追加
マスク、近接スキャン露光装置及び近接スキャン露光方法 - 特許庁
METHOD FOR DESIGNING SCAN TEST CIRCUIT FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, SCAN TEST CIRCUIT AND SCAN TEST METHOD例文帳に追加
半導体集積回路のスキャンテスト回路の設計方法、スキャンテスト回路、およびスキャンテスト方法 - 特許庁
SCAN TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体デバイスのスキャンテスト方式 - 特許庁
METHOD FOR PRESERVING SCAN DATA IN PC例文帳に追加
スキャンデータのPCへの保存方法 - 特許庁
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