| 意味 | 例文 |
scan methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 936件
ELECTROCARDIOGRAPHIC-SYNCHRONOUS SCAN METHOD AND X-RAY COMPUTED TOMOGRAPHY APPARATUS例文帳に追加
心電同期スキャン方法及びX線コンピュータ断層撮影装置 - 特許庁
MANUFACTURING DEVICE AND METHOD FOR ROTOR, POLYGON SCANNER AND LASER SCAN UNIT例文帳に追加
回転子の製造装置及び方法、ポリゴンスキャナユニット、レーザスキャンユニット - 特許庁
METHOD FOR LINKING SCAN DOCUMENT TO VIDEO, INFORMATION SYSTEM AND ITS PRODUCT例文帳に追加
スキャン・ドキュメントをビデオにリンクする方法、情報システム、及び製品 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR DETECTION OF DEFECT IN MULTI- CHANNEL SCAN DRIVER例文帳に追加
マルチチャネルスキャンドライバにおける欠陥を検出する装置及び方法 - 特許庁
To provide a method for optimally function a step scan interferometer.例文帳に追加
ステップ走査干渉計を、最適に機能させる方法を提供する。 - 特許庁
SEMICONDUCTOR CIRCUIT DEVICE AND SCAN TEST METHOD CONCERNING SEMICONDUCTOR CIRCUIT例文帳に追加
半導体回路装置及び半導体回路に関するスキャンテスト方法 - 特許庁
METHOD FOR ELECTRONIC SCAN INVERSION, CIRCUIT DEVICE, AND CAMERA例文帳に追加
電子式スキャン反転を行うための方法、回路装置およびカメラ - 特許庁
SCAN ELECTRON MICROSCOPE DEVICE AND IMAGE OBTAINING METHOD USING THE SAME例文帳に追加
走査電子顕微鏡装置及びそれを用いた画像取得方法 - 特許庁
METHOD FOR DETERMINING SCAN CIRCUIT CONNECTION SEQUENCE OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
半導体集積回路のスキャン回路接続順序決定方法 - 特許庁
IMAGE PROCESSING APPARATUS AND METHOD FOR CONVERSION BETWEEN IMAGE DATA OF RASTER SCAN ORDER AND IMAGE DATA OF BLOCK SCAN ORDER例文帳に追加
ラスタスキャン順序の画像データとブロックスキャン順序の画像データとの間の変換のための画像処理装置及び方法 - 特許庁
ANTENNA FOR TAG COMMUNICATION, TAG COMMUNICATION DEVICE, TAG COMMUNICATION SYSTEM, SCAN ADJUSTING METHOD OF TAG COMMUNICATION DEVICE, AND SCAN ADJUSTMENT PROGRAM例文帳に追加
タグ通信用アンテナ、タグ通信装置、タグ通信システム、タグ通信装置のスキャン調整方法、およびスキャン調整プログラム - 特許庁
To provide a scan test method capable of readily performing scan test between chips at actual operation timing of each chip.例文帳に追加
各チップの実動作タイミングでチップ間のスキャンテストを簡単に行うことができるスキャンテスト方法を提供すること。 - 特許庁
To provide a logic circuit design method for adjusting a clock skew occurred between scan FFs constituting a scan path.例文帳に追加
スキャンパスを構成するスキャンFF間に発生するクロックスキューを調整するための論理回路設計方法を提供する。 - 特許庁
To reduce the measuring error by disturbance in an interference measuring method by a fringe scan method.例文帳に追加
フリンジスキャン法による干渉計測法において、外乱による測定誤差を低減させる。 - 特許庁
LSI, TEST PATTERN CREATING METHOD FOR TESTING SCAN PATH, LSI INSPECTION METHOD AND MULTICHIP MODULE例文帳に追加
LSI、スキャンパステスト用テストパターン生成方法、LSI検査方法およびマルチチップモジュール - 特許庁
OPTICAL SCANNER, IMAGE FORMATION DEVICE, METHOD FOR CORRECTING OPTICAL SCAN AND METHOD FOR FORMING IMAGE例文帳に追加
光走査装置及び画像形成装置、光走査補正方法、並びに画像形成方法 - 特許庁
To provide a scan drive circuit which enables high picture quality to be compatible with low power consumption, a display device, an electro- optical and a scan driving method using the scan drive circuit.例文帳に追加
高画質化と低消費電力化とを両立させる走査駆動回路、これを用いた表示装置、電気光学装置及び走査駆動方法を提供する。 - 特許庁
To provide a method for designing an integrated circuit having a logical circuit with a scan circuit without creating a hard macro library of a scan flip-flop constituting a scan circuit.例文帳に追加
スキャン回路を構成するスキャンフリップフロップのハードマクロライブラリを生成することなく、スキャン回路付きの論理回路を有する集積回路を設計する方法を提供する。 - 特許庁
CHANNEL SCAN EXECUTION METHOD AND RECEPTION TERMINAL DEVICE FOR CATV SYSTEM例文帳に追加
チャンネルスキャン実行方法、及び、CATVシステムの受信端末装置 - 特許庁
SHUTTER MODULE FOR USE IN IMAGE SENSOR EMPLOYING LINE SCAN SYSTEM AND METHOD FOR CONTROLLING SHUTTER例文帳に追加
ラインスキャン方式のイメージセンサシャッタモジュール及びそのシャッタ制御方法 - 特許庁
ANGLE OF INCIDENCE DETERMINING METHOD, AND SCAN NEAR- FIELD OPTICAL MICROSCOPE例文帳に追加
入射角度決定方法及び走査型近接場光学顕微鏡 - 特許庁
SCAN PATH METHOD BY REDUNDANT FAILURE VERIFICATION AND INTEGRATED LOGIC CIRCUIT例文帳に追加
冗長故障検証によるスキャンパス方法及び集積論理回路 - 特許庁
METHOD FOR CONTROLLING SEARCH OPERATION AND VIDEO RECORDER BY HELICAL-SCAN PROCESS例文帳に追加
サーチ動作を制御する方法およびヘリカルスキャンプロセスによるビデオレコーダ - 特許庁
SCAN EXPOSING METHOD, SCANNING ALIGNER, LASER APPARATUS, AND ELEMENT MANUFACTURE例文帳に追加
走査露光方法、走査型露光装置、レーザ装置、および素子製造方法 - 特許庁
PROGRESSIVE SCAN CONVERTING DEVICE, ITS METHOD, AND TELEVISION例文帳に追加
順次走査変換装置と順次走査変換方法及びテレビジョン装置 - 特許庁
MAGNETIC TAPE PLAYBACK APPARATUS OF HELICAL-SCAN SYSTEM AND MAGNETIC TAPE PLAYBACK METHOD例文帳に追加
ヘリカルスキャン方式の磁気テープ再生装置及び磁気テープ再生方法 - 特許庁
METHOD AND SYSTEM FOR RASTER OUTPUT SCAN CONTROL IN ELECTROPHOTOGRAPHIC SYSTEM例文帳に追加
電子写真システムにおけるラスタ出力走査制御方法及びシステム - 特許庁
METHOD FOR SCANNING REGION-OF-INTEREST (ROI)-SCAN WITH HIGH TEMPORAL RESOLUTION例文帳に追加
高時間分解能による関心領域(ROI)走査のための方法 - 特許庁
To provide a scan test method for reducing the number of test patterns (the number of clocks), memory capacity and a processing period of time required for a scan test.例文帳に追加
スキャンテストに必要なテストパタン数(クロック数)、メモリ容量及び処理時間を削減可能なスキャンテスト方法を提供する。 - 特許庁
To provide a method for measuring scan optical system light quantity for inspecting optical abnormalities of scan optical system easily and precisely.例文帳に追加
走査光学系の光学異常を容易且つ高精度に検査するための走査光学系光量測定方法を提供する。 - 特許庁
To provide a design method for a scan test circuit allowing the inspection of a critical path of a semiconductor integrated circuit by a scan test.例文帳に追加
スキャンテストによって半導体集積回路のクリティカルパスの検査を可能にするスキャンテスト回路の設計方法を提供する。 - 特許庁
To disclose a system, structure and method for performing scan-based testing of electronic circuits by generating a test clock for scan chains.例文帳に追加
スキャンチェーンのテストクロックを生成して電子回路のスキャンベースのテストを実施するためのシステム、構造、及び方法が開示される。 - 特許庁
SCAN TYPE ALIGNER, AND METHOD FOR MANUFACTURING DEVICE USING THE SAME例文帳に追加
走査型露光装置、その走査型露光装置を用いるデバイス製造方法 - 特許庁
To provide a scan-type AD conversion method, and to provide an AD conversion system.例文帳に追加
スキャン型のAD変換方法及びAD変換システムを提供する。 - 特許庁
ULTRASONIC SYSTEM AND METHOD FOR CONTROLLING STEERING ANGLE OF SCAN LINE例文帳に追加
スキャンラインのステアリング角度を制御するための超音波システム及び方法 - 特許庁
IMAGE FORMING DEVICE, METHOD AND PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM WHICH COMPUTER CAN SCAN例文帳に追加
画像形成装置、方法、プログラム及びコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁
ULTRASONIC DIAGNOSTIC SYSTEM AND METHOD FOR FORMING MULTIPLE RECEIVING SCAN LINE例文帳に追加
多重受信スキャンライン形成のための超音波診断装置及び方法 - 特許庁
IMAGE FORMING SYSTEM POSITIONING DEVICE AND METHOD IN LOW-SPEED SCAN AXIS例文帳に追加
低速スキャン軸における画像形成システムの位置合わせ装置及び方法 - 特許庁
SCAN DETECTOR OF X-RAY CT APPARATUS, AND SYSTEM AND OPERATION METHOD THEREOF例文帳に追加
X線CT装置のスキャン検出装置及びそのシステムと運行方法 - 特許庁
SYSTEM AND METHOD FOR CALCULATING LOFT SURFACE USING 3D SCAN DATA例文帳に追加
3次元スキャンデータを用いてロフトサーフィスを計算するためのシステム及び方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR OPTIMALLY PROCESSING N SORT QUERY IN MULTI-RANGE SCAN例文帳に追加
多重範囲スキャンでのNソートクエリを最適に処理する方法及び装置 - 特許庁
FLIP-FLOP WITH SCAN, SEMICONDUCTOR APPARATUS, AND MANUFACTURING METHOD FOR SEMICONDUCTOR APPARATUS例文帳に追加
スキャン付きフリップフロップ、半導体装置及び半導体装置の製造方法 - 特許庁
MEMS SCAN CONTROLLER FOR GENERATING CLOCK FREQUENCY, AND ITS CONTROL METHOD例文帳に追加
クロック周波数を生成するMEMSスキャンコントローラおよびその制御方法 - 特許庁
CELL WITH SCAN FUNCTION, TEST CIRCUIT FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND TEST METHOD例文帳に追加
スキャン機能付きセル、半導体集積回路のテスト回路及びテスト方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR ADAPTIVELY PERFORMING DEFECT SCAN ACCORDING TO CHANNEL CHARACTERISTICS例文帳に追加
チャンネル別特性による適応的ディフェクトスキャン処理方法及びその装置 - 特許庁
SCAN ELECTRODE DRIVING DEVICE OF AC PLASMA DISPLAY PANEL AND ITS DRIVING METHOD例文帳に追加
交流プラズマディスプレイパネルのスキャン電極駆動装置及びその駆動方法 - 特許庁
SCAN METHOD FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡における走査方法および走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁
To uniformize a film thickness distribution of a coating film formed by a scan coating method.例文帳に追加
スキャン塗布法で形成された塗布膜の膜厚分布を均一にする。 - 特許庁
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