「scan method」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

METHOD AND DEVICE FOR BROADCASTING SCAN PATTERN BY SCAN-BASED INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

スキャンベースの集積回路でスキャンパターンをブロードキャストする方法および装置 - 特許庁

GLASS SUBSTRATE, AND PROXIMITY SCAN EXPOSURE APPARATUS, AND PROXIMITY SCAN EXPOSURE METHOD例文帳に追加

ガラス基板および近接スキャン露光装置並びに近接スキャン露光方法 - 特許庁

LOGIC DEVICE AND METHOD FOR SUPPORTING SCAN TEST例文帳に追加

走査試験をサポートする論理装置と方法 - 特許庁

SCAN REPRODUCTION CONTROL DEVICE, METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

スキャン再生制御装置、方法及びプログラム - 特許庁

METHOD OF SPECIFYING FAILURE POSITION IN SCAN CHAIN例文帳に追加

スキャンチェーンにおける故障位置特定方法 - 特許庁

BEAM SCANNING METHOD FOR ON-VEHICLE SCAN TYPE RADER例文帳に追加

車載用スキャン式レーダのビーム走査方法 - 特許庁

METHOD OF SPECIFYING FAULT POSITION IN SCAN CHAIN例文帳に追加

スキャンチェーンにおける故障位置特定方法 - 特許庁

METHOD OF SETTING SCAN PARAMETER OF SHUTTLE MODE HELICAL SCAN AND X-RAY CT APPARATUS例文帳に追加

シャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法およびＸ線ＣＴ装置 - 特許庁

FLIP-FLOP CIRCUIT FOR SCAN TEST, LOGIC MACRO, SCAN TEST CIRCUIT AND LAYOUT METHOD THEREOF例文帳に追加

スキャンテスト用フリップフロップ回路、論理マクロ、スキャンテスト回路及びそのレイアウト方法 - 特許庁

SCAN TEST CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR DEVICE EQUIPPED WITH THE SAME AND SCAN TESTING METHOD THEREFOR例文帳に追加

スキャンテスト回路およびそれを備えた半導体装置ならびにスキャンテスト方法 - 特許庁

X-RAY CT SCAN SYSTEM AND CONTROL METHOD例文帳に追加

Ｘ線ＣＴスキャンシステム及び制御方法 - 特許庁

To provide a scan base ATPG (automatic test pattern generation) test circuit and test method, and a scan chain reconfiguration method.例文帳に追加

スキャンベースＡＴＰＧテスト回路、テスト方法及びスキャンチェーン再配置方法を提供する。 - 特許庁

SCAN FLIPFLOP CIRCUIT DEVICE, AND CONTROL METHOD例文帳に追加

スキャンフリップフロップ回路装置および制御方法 - 特許庁

IMAGE FORMING APPARATUS AND SCAN DATA PROCESSING METHOD例文帳に追加

画像形成装置およびスキャンデータ処理方法 - 特許庁

C-SCAN ULTRASONIC FLAW DETECTION METHOD AND APPARATUS例文帳に追加

Ｃスキャン超音波探傷方法および装置 - 特許庁

IMAGE PROCESSING APPARATUS AND SCAN DATA DISTRIBUTING METHOD例文帳に追加

画像処理装置及びスキャンデータ配信方法 - 特許庁

ANALYTICAL METHOD FOR SCAN TROUBLE AND TESTING DEVICE例文帳に追加

スキャン障害解析方法および試験装置 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR SCAN-TO-PRINT ARCHITECTURE例文帳に追加

スキャン−プリント用アーキテクチャのシステム及び方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR BOUNDARY SCAN TEST例文帳に追加

バウンダリスキャンテスト方法及びバウンダリスキャンテスト装置 - 特許庁

INFORMATION PROCESSING APPARATUS AND CHANNEL SCAN METHOD THEREOF例文帳に追加

情報処理装置及びそのチャネルスキャン方法 - 特許庁

SCAN CONVERTER AND CONVERTING METHOD AND RADAR DEVICE例文帳に追加

スキャンコンバータ、レーダ装置、及びスキャンコンバート方法 - 特許庁

PROGRESSIVE SCAN CONVERSION METHOD, PROGRAM AND APPARATUS例文帳に追加

プログレッシブ走査変換方法、プログラムおよび装置 - 特許庁

MULTIPLE SCAN CHAIN CIRCUIT WITH PIN SHARING, ITS TEST METHOD, AND SCAN VECTOR LOADING METHOD例文帳に追加

ピン共有を用いた多重スキャンチェーン回路及びテスト方法並びにスキャンベクトルローディング方法 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD OF DESIGNING SCAN CHAIN例文帳に追加

集積回路およびスキャンチェーンの設計方法 - 特許庁

To provide a scan drive circuit and a scan driving method for an active matrix liquid crystal display.例文帳に追加

アクティブマトリクス液晶ディスプレイの走査駆動回路及び駆動方法の提供。 - 特許庁

SCAN OPERATION DISPLAY DEVICE AND METHOD, AND IMAGE FORMATION DEVICE WITH SCAN OPERATION DISPLAY DEVICE例文帳に追加

スキャン動作表示装置および方法、並びにこれを備える画像形成装置 - 特許庁

MICRO ELECTRIC MECHANICAL SYSTEM SCAN CONTROLLER WITH FIXED SCAN FREQUENCY AND METHOD OF CONTROL THEREOF例文帳に追加

固定スキャン周波数微小電子機械スキャン制御器、及び、その制御方法 - 特許庁

IMAGE PROCESSOR, SCAN DATA SPLIT TRANSMISSION METHOD, AND SCAN DATA SPLIT TRANSMISSION PROGRAM例文帳に追加

画像処理装置、スキャンデータ分割送信方法及びスキャンデータ分割送信プログラム - 特許庁

METHOD FOR RECOVERING FROM GROUNDING BOUNCE DURING BOUNDARY SCAN TEST AND BOUNDARY SCAN APPARATUS例文帳に追加

バウンダリ・スキャン・テスト中に接地バウンスから回復する方法及びバウンダリ・スキャン装置 - 特許庁

OPTICAL POWER-BALANCE ADJUSTMENT METHOD FOR LASER SCAN UNIT例文帳に追加

レーザ走査ユニットの光パワーバランス調整方法 - 特許庁

OPTICAL SCANNER AND METHOD FOR DIVIDING SCAN LANE例文帳に追加

光走査装置及び走査レーンの分割方法 - 特許庁

SCANNING FLIP-FLOP CIRCUIT, AND METHOD OF DESIGNING SCAN例文帳に追加

スキャンフリップフロップ回路およびスキャン設計方法 - 特許庁

PROCESSING METHOD OF DATA ACQUIRED FROM CT SCAN例文帳に追加

ＣＴスキャンから取得したデータの処理方法 - 特許庁

SCAN CONTROL METHOD AND X-RAY CT APPARATUS例文帳に追加

スキャン制御方法およびＸ線ＣＴ装置 - 特許庁

SCAN PATH DESIGN METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のスキャンパス設計方法 - 特許庁

AUDIO REPRODUCTION DEVICE AND INTRO SCAN REPRODUCTION METHOD例文帳に追加

オーディオ再生装置及びイントロスキャン再生方法 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM DEVICE FOR TWO-DIMENSIONAL SCAN TYPE RANGE SENSOR PROJECTOR SCAN AND RECORD MEDIUM WHERE TWO-DIMENSIONAL SCAN TYPE RANGE SENSOR PROJECTOR SCAN PROGRAM IS RECORDED例文帳に追加

２次元走査型レンジセンサ投光器走査方法及びシステム装置並びに２次元走査型レンジセンサ投光器走査プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

SCAN TEST DESIGN METHOD, SCAN TEST CIRCUIT, SCAN FLIP-FLOP CIRCUIT, CAD PROGRAM FOR SCAN TEST CIRCUIT INSERTION, LARGE-SCALE INTEGRATED CIRCUIT, AND MOBILE DIGITAL DEVICE例文帳に追加

スキャンテスト設計方法、スキャンテスト回路、スキャンフリップフロップ回路、スキャンテスト回路挿入用ＣＡＤプログラム、大規模集積回路及び携帯デジタル機器 - 特許庁

To provide a scan test circuit for a semiconductor integrated circuit capable of shortening a scan test time, and to provide a scan test circuit design method.例文帳に追加

スキャンテスト時間を短縮する半導体集積回路のスキャンテスト回路、スキャンテスト回路設計方法を提供する。 - 特許庁

SCANNING TYPE ALIGNER, SCAN TYPE ALIGNING METHOD AND DEVICE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

走査型露光装置、走査露光方法、及びデバイス製造方法。 - 特許庁

METHOD FOR FORMING SCAN CHAIN AND METHOD FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

スキャンチェーンの形成方法および集積回路の試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, SCAN TEST CIRCUIT DESIGN METHOD, SCAN TEST CIRCUIT DESIGN DEVICE例文帳に追加

半導体集積回路装置、スキャンテスト回路設計方法、スキャンテスト回路設計装置 - 特許庁

SCAN PATH CIRCUIT, GENERATION METHOD FOR SCAN PATH CIRCUIT AND RECORDING MEDIUM WITH RECORDED PROGRAM FOR IT例文帳に追加

スキャンパス回路、スキャンパス回路の生成方法、および、そのプログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

ULTRASONIC SCAN METHOD AND ULTRASONIC DIAGNOSTIC DEVICE例文帳に追加

超音波スキャン方法および超音波診断装置 - 特許庁

SCAN TEST CIRCUIT AND CREATION METHOD THEREFOR例文帳に追加

スキャンテスト回路、及びスキャンテスト回路の作成方法 - 特許庁