| 意味 | 例文 |
scan methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 936件
MOBILE TERMINAL, AND RADIO SIGNAL SCAN EXECUTION METHOD例文帳に追加
移動端末及び無線信号スキャン実行方法 - 特許庁
SCAN DATA CAPTURING DEVICE, CORRECTION DATA GENERATOR, SCAN DATA CAPTURING METHOD, CORRECTION DATA GENERATION METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加
スキャンデータ取込装置、補正データ生成装置、スキャンデータ取込方法、補正データ生成方法及びプログラム - 特許庁
SCAN PATH LAYOUT METHOD AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
スキャンパスレイアウト方法及び半導体集積回路 - 特許庁
SCAN CHAIN CONNECTION METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
半導体集積回路のスキャンチェーン接続方法 - 特許庁
METHOD FOR DESIGNING INTEGRATED CIRCUIT HAVING SCAN FUNCTION例文帳に追加
スキャン機能を有する集積回路の設計方法 - 特許庁
METHOD FOR RECONSTITUTING CONTINUOUS SCAN ON BAR CODE例文帳に追加
バ—コ—ドの連続した走査を再構成する方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR SETTING SCAN TIME OF MOTION CONTROLLER例文帳に追加
モーションコントローラのスキャンタイム設定方法及び装置 - 特許庁
SIGNAL PROCESSING METHOD OF SCAN TYPE FM-CW RADAR例文帳に追加
スキャン式FM−CWレーダの信号処理方法 - 特許庁
FRINGE SCAN INTERFERENCE PATTERN MEASUREMENT METHOD, AND INTERFEROMETER例文帳に追加
フリンジスキャン干渉縞計測方法および干渉計 - 特許庁
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND SCAN TEST CIRCUIT DESIGN METHOD例文帳に追加
半導体集積回路、スキャンテスト回路設計方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND SCAN LINE DIAGNOSTIC METHOD例文帳に追加
半導体集積回路およびスキャンライン診断方法 - 特許庁
To provide a scan design circuit and a scan design method capable of suppressing increase of an area of a scan design circuit to a required minimum.例文帳に追加
スキャン設計回路面積増加を必要最小限に抑えることの可能なスキャン設計回路及び方法を提供する。 - 特許庁
SCAN TEST CIRCUIT, TEST CIRCUIT GENERATION METHOD AND TEST PATTERN GENERATION METHOD例文帳に追加
スキャンテスト回路、テスト回路生成方法およびテストパタン生成方法 - 特許庁
SCANNER, SCAN METHOD AND NON-CONTACT TYPE MEASURING DEVICE例文帳に追加
走査装置、走査方法および非接触型測定装置 - 特許庁
ULTRASONIC DIAGNOSTIC EQUIPMENT AND METHOD OF FORMING SCAN LINE DATA例文帳に追加
超音波診断装置及びスキャンラインデータ形成方法 - 特許庁
SCAN CHAIN FORMATION METHOD, PROGRAM AND DESIGN SUPPORT DEVICE例文帳に追加
スキャンチェーン形成方法、プログラム及び設計支援装置 - 特許庁
CHANNEL SCAN SYSTEM IN WIRELESS NETWORK AND METHOD THEREOF例文帳に追加
無線ネットワークにおけるチャンネルスキャンシステムおよびその方法 - 特許庁
BAND WIDTH MATCHING METHOD FOR SCAN ARCHITECTURE IN INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
集積回路のスキャンアーキテクチャ用帯域整合方法 - 特許庁
CHARGED PARTICLE BEAM SCAN METHOD, AND CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE例文帳に追加
荷電粒子線走査方法及び荷電粒子線装置 - 特許庁
KEY INPUT DEVICE, IMAGE PROCESSOR AND KEY SCAN METHOD例文帳に追加
キー入力装置、画像処理装置及びキースキャン方法 - 特許庁
PROBE TIP EVALUATION METHOD FOR SCAN TYPE PROBE MICROSCOPE例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡の探針先端評価方法 - 特許庁
METHOD FOR CONTROLLING SCAN OF ELECTRON BEAM FOR VACUUM VAPOR DEPOSITION例文帳に追加
真空蒸着用電子ビームのスキャン制御方法 - 特許庁
PROGRESSIVE SCAN CONVERSION DEVICE AND METHOD例文帳に追加
順次走査変換装置及び順次走査変換方法 - 特許庁
LASER SCAN MICROSCOPE AND REFERENCE CORRECTION METHOD THEREFOR例文帳に追加
レーザー走査型顕微鏡およびその参照補正方法 - 特許庁
SCAN TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE, AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体装置のスキャンテスト方法および半導体装置 - 特許庁
SCAN PATH WIRING DESIGNING METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
半導体集積回路のスキャンパス配線設計方法 - 特許庁
METHOD FOR MANUFACTURING ARRAY-SHAPED METAL MOLD AND SCAN PROCESSING EQUIPMENT例文帳に追加
アレイ形状金型の製造方法、走査加工装置 - 特許庁
IMAGE SCAN PROCESSING SYSTEM, IMAGE SCAN PROCESSING METHOD, AND SELECTION METHOD OF MASTER FILE COMPOSED OF SCANNED IMAGE ENCODED DATA例文帳に追加
画像走査処理システム、画像走査処理方法、及び走査画像符号化データからなるマスタファイルの選択方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT HAVING SCAN TEST FUNCTION, AND SCAN TEST METHOD THEREFOR例文帳に追加
スキャンテスト機能を有する半導体集積回路及び半導体集積回路のスキャンテスト方法 - 特許庁
PROGRESSIVE SCAN SIGNAL CONVERSION CIRCUIT, PROGRESSIVE SCAN SIGNAL CONVERSION METHOD, AND TELEVISION RECEIVER例文帳に追加
プログレッシブ走査信号変換回路、プログレッシブ走査信号変換方法およびテレビジョン受像装置 - 特許庁
GATED CLOCK CELL, SCAN TEST CONTROL CIRCUIT, AND METHOD FOR DESIGNING RTL LEVEL OF SCAN TEST CONTROL CIRCUIT例文帳に追加
ゲーテッドクロックセル、スキャンテスト制御回路及びスキャンテスト制御回路のRTLレベルの設計方法 - 特許庁
SCAN DRIVING PART, LIGHT EMITTING DISPLAY USING SCAN DRIVING PART, AND METHOD OF DRIVING LIGHT EMITTING DISPLAY例文帳に追加
走査駆動部,走査駆動部を用いた発光表示装置および発光表示装置の駆動方法 - 特許庁
RECORDING MEDIUM WITH SCAN PASS CONSTRUCTING PROGRAM RECORDED THEREON, CONSTRUCTING METHOD OF SCAN PASS, AND ARITHMETIC PROCESSING SYSTEM WITH THIS SCAN PASS INTEGRATED THEREIN例文帳に追加
スキャン・パス構築用プログラムを記録した記録媒体とスキャン・パスの構築方法及びこのスキャン・パスを組み込んだ演算処理システム - 特許庁
SCAN STRUCTURE OF DISPLAY DEVICE, ITS DRIVING METHOD AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
ディスプレイデバイスのスキャン構造、その駆動方法、及びその製造方法 - 特許庁
MOTION ADAPTIVE SCAN CONVERTING APPARATUS AND METHOD FOR VIDEO SIGNAL例文帳に追加
映像信号の動き適応走査変換装置及び方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR COMPENSATING SCAN CHARGE OF DIGITAL DETECTOR例文帳に追加
ディジタル式検出器のスキャン電荷補償方法および装置 - 特許庁
VECTOR SCAN TRANSMISSION METHOD AND TRANSMISSION DEVICE USING THE SAME例文帳に追加
ベクタースキャン電送方法及びこれを用いた電送装置 - 特許庁
FLIP-FLOP CIRCUIT FOR SCAN PATH TEST AND SIMULATION METHOD THEREOF例文帳に追加
スキャンパステスト用のフリップフロップ回路およびシミュレーション方法 - 特許庁
| 意味 | 例文 |
| Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved. |
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|