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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > siウェハに関連した英語例文

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siウェハを含む例文一覧と使い方

該当件数 : 9



例文

Si wafers 2 are carried in a reaction furnace 14 while the wafers 2 are loaded in a wafer boat 3.例文帳に追加

Siウェハ2をウェハボート3に搭載した状態で反応炉14に搬送する。 - 特許庁

The wafers 2 are cooled in the load-lock chamber 1 filled up with the oxidizing gas atmosphere.例文帳に追加

酸化ガスの雰囲気で満たされたロードロック室1の中でSiウェハ2を冷却する。 - 特許庁

Then a gel film is obtained, by uniformly applying the hafnia sol solution to the surface of an Si wafer by the spinner method (500 rpm/5 seconds to 2,000 rpm/30 seconds).例文帳に追加

このゾル液をSiウェハにスピンナー法(500rpm/5秒→2000rpm/30秒)により均一に塗布してゲル膜を得る。 - 特許庁

After oxidization, the atmosphere in the furnace 14 is changed to an inert gas atmosphere and the wafers 2 are cooled to about 700°C.例文帳に追加

酸化処理の後に反応炉14の雰囲気を不活性ガスに置換してSiウェハを700℃程度まで冷却する。 - 特許庁

例文

The gel film is used for setting the temperature of the electric furnace, and the Si wafer is put directly in the furnace and baked in the furnace for 30 minutes.例文帳に追加

電気炉はゲル膜を設定温度としておき、Siウェハを直接投入して30分間保持して焼成する。 - 特許庁


例文

Then silicon oxide films are formed on the wafers 2 by introducing an oxidizing gas into the furnace 14 and raising the temperatures of the wafers 2 to the oxidizing temperature of Si.例文帳に追加

反応炉14に酸化ガスを導入してSiウェハ2を酸化温度に昇温することでシリコン酸化膜を作成する。 - 特許庁

Then the atmospheres in the furnace 14 and a load-lock chamber 1 are changed to oxidizing gas atmospheres and the wafers 2 are carried out from the furnace 14 to the load-lock chamber 1.例文帳に追加

反応炉14およびロードロック室1の雰囲気を酸化ガスとして反応炉14からロードロック室1にSiウェハ2を搬出する。 - 特許庁

Then the Si wafer, having the formed gel film, is put in an electric furnace and baked within the temperature range of 550-1,300°C by a quick heating method (at a temperature increase rate of 10°C/minute).例文帳に追加

ゲル膜を形成したSiウェハを電気炉に投入し、急速加熱法(昇温速度10℃/1分で昇温)により550℃-1300℃の温度範囲で焼成する。 - 特許庁

例文

To provide a method for forming 3C-SiC single crystal thin film of a single phase having less crystal defects on an Si wafer by making hetero epitaxial growth on the surface of an Si substrate.例文帳に追加

Si基板表面にヘテロエピタキシャル成長させることにより、Siウェハ上に結晶欠陥の少ない単相の3C-SiC単結晶薄膜を形成する方法を提供する。 - 特許庁

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