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SURFACE LAYER ANALYSIS METHOD OF SILICON WAFER例文帳に追加
シリコンウェーハの表層分析方法 - 特許庁
REAR SURFACE TREATMENT METHOD, REAR SURFACE ANALYSIS METHOD, AND REAR SURFACE TREATMENT APPARATUS例文帳に追加
裏面処理方法、裏面解析方法及び裏面処理装置 - 特許庁
ANTISTATIC METHOD IN SURFACE ANALYSIS例文帳に追加
表面分析における帯電防止法 - 特許庁
PRETREATMENT METHOD FOR SURFACE ANALYSIS SAMPLE例文帳に追加
表面分析試料の前処理方法 - 特許庁
SURFACE ANALYSIS METHOD OF SEMICONDUCTOR SUBSTRATE例文帳に追加
半導体基板の表面分析方法 - 特許庁
SURFACE CHARACTERISTIC ANALYSIS APPARATUS, SURFACE CHARACTERISTIC ANALYSIS METHOD, AND PROBE UNIT例文帳に追加
表面特性解析装置、表面特性解析方法およびプローブユニット - 特許庁
UNEQUALLY DIVIDED MONTAGE FACE ANALYSIS METHOD BY SURFACE ANALYSIS EQUIPMENT例文帳に追加
表面分析機器による非等分割モンタージュ面分析法 - 特許庁
PARTIAL ANALYSIS METHOD FOR SURFACE LAYER OF SILICON WAFER例文帳に追加
シリコンウェーハ表層の部分分析方法 - 特許庁
SURFACE LAYER ANALYSIS METHOD OF QUARTZ GLASS PRODUCT例文帳に追加
石英ガラス製品の表層分析方法 - 特許庁
MOUNTED TYPE LENS FOR REVERSE SURFACE ANALYSIS OF SEMICONDUCTOR DEVICE, AND REVERSE SURFACE ANALYSIS METHOD例文帳に追加
半導体装置の裏面解析用搭載式レンズ及び裏面解析方法 - 特許庁
SPECTROSCOPY SYSTEM AND METHOD FOR SURFACE ANALYSIS例文帳に追加
表面分析用分光装置と分析方法 - 特許庁
ANALYTICAL MEASUREMENT METHOD WITH SURFACE ANALYSIS EQUIPMENT例文帳に追加
表面分析装置による分析測定方法 - 特許庁
X-RAY ANALYSIS DEVICE, X-RAY ANALYSIS METHOD AND SURFACE INSPECTION DEVICE例文帳に追加
X線分析装置、X線分析方法、及び表面検査装置 - 特許庁
SURFACE PLASMON RESONANCE FLUORESCENCE ANALYSIS APPARATUS AND SURFACE PLASMON RESONANCE FLUORESCENCE ANALYSIS METHOD例文帳に追加
表面プラズモン共鳴蛍光分析装置及び表面プラズモン共鳴蛍光分析方法 - 特許庁
LIVING TISSUE SURFACE ANALYZER, LIVING TISSUE SURFACE ANALYSIS PROGRAM, AND LIVING TISSUE SURFACE ANALYSIS METHOD例文帳に追加
生体組織表面解析装置、生体組織表面解析プログラム、および生体組織表面解析方法 - 特許庁
MEASUREMENT METHOD AND ANALYSIS METHOD OF SAMPLE SURFACE, AND MEASURING DEVICE AND ANALYSIS DEVICE OF SAMPLE SURFACE例文帳に追加
試料表面の測定方法及び分析方法並びに試料表面の測定装置及び分析装置 - 特許庁
QUANTITATIVE ANALYSIS, METHOD FOR FIBER-SURFACE ADHERED SUBSTANCE例文帳に追加
繊維表面付着物質の定量分析方法 - 特許庁
OXIDIZABILITY ANALYSIS METHOD AND DEVICE OF METAL SURFACE例文帳に追加
金属表面の酸化性解析方法および装置 - 特許庁
POWDER SAMPLE MOLDING JIG FOR SURFACE ANALYSIS, AND POWDER SAMPLE MOLDING METHOD FOR SURFACE ANALYSIS例文帳に追加
表面分析用粉末試料成形治具および表面分析用粉末試料成形方法 - 特許庁
NEUTRAL PARTICLE BEAM FORMATION DEVICE, SURFACE ANALYSIS DEVICE, NEUTRAL PARTICLE BEAM FORMATION METHOD, AND SURFACE ANALYSIS METHOD例文帳に追加
中性粒子ビーム形成装置、表面分析装置、中性粒子ビーム形成方法、および表面分析方法 - 特許庁
SURFACE ANALYSIS METHOD AND SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY例文帳に追加
表面分析方法および二次イオン質量分析法 - 特許庁
ANALYSIS METHOD FOR CURVED SURFACE MODEL GEOMETRY IN NUMERICAL ANALYSIS USING FINITE ELEMENT例文帳に追加
有限要素を用いた数値解析における曲面モデル形状の分析方法 - 特許庁
METHOD FOR QUANTITATIVE ANALYSIS OF VERY SMALL AMOUNT OF ELEMENT IN SURFACE OF ALUMINUM FOIL BY GLOW DISCHARGE EMISSION ANALYSIS例文帳に追加
グロー放電発光分析によるアルミ箔表面の微量元素分析法 - 特許庁
STANDARD SAMPLE FOR SURFACE ANALYSIS AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
表面分析用標準試料及びその製造方法 - 特許庁
ANALYSIS METHOD FOR SPHERICAL SURFACE WAVE ELEMENT WITH ANISOTROPY例文帳に追加
異方性を有する球状表面波素子の解析方法 - 特許庁
SURFACE PROPERTY MEASURING APPARATUS, AND METHOD AND PROGRAM FOR SURFACE PROPERTY ANALYSIS例文帳に追加
表面性状測定装置並びに表面性状解析方法及びプログラム - 特許庁
GAS CLUSTER ION BEAM GUN, SURFACE ANALYSIS DEVICE AND SURFACE ANALYTICAL METHOD例文帳に追加
GCIB(ガスクラスターイオンビーム)銃、表面分析装置および表面分析方法 - 特許庁
METHOD FOR QUANTITATIVE ANALYSIS OF SURFACE LUBRICANT ON MAGNETIC RECORDING MEDIUM例文帳に追加
磁気記録媒体の表面潤滑剤の定量分析方法 - 特許庁
METHOD OF QUANTITATIVE ANALYSIS FOR LUBRICANT ON SURFACE OF MAGNETIC RECORDING MEDIUM例文帳に追加
磁気記録媒体表面の潤滑剤の定量分析方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR QUANTITATIVE ANALYSIS OF SURFACE FUNCTIONAL GROUP OF CARBON BLACK例文帳に追加
カーボンブラックの表面官能基の定量分析方法及び装置 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR PERFORMING SURFACE ANALYSIS ON SAMPLE例文帳に追加
サンプルの表面分析を行う方法及びこれを実施する装置 - 特許庁
ANALYZING METHOD OF SUBSTANCE TO BE EXAMINED BY SURFACE PLASMON RESONANCE ANALYSIS例文帳に追加
表面プラズモン共鳴分析による被験物質の解析方法 - 特許庁
SURFACE ANALYSIS METHOD OF INSULATION MATERIAL WITH ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加
原子間力顕微鏡による絶縁材料の表面分析方法 - 特許庁
SURFACE ANALYSIS METHOD OF MATERIAL IN ARBITRARY SHAPE BY ELECTRONIC PROBE MICROANALYZER例文帳に追加
電子プローブマイクロアナライザによる任意形状試料の面分析法 - 特許庁
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