「surface analysis method」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a transmission electron microscope having an analysis system with high adaptability, which has an incident image surface and an incident pupil surface and can perform one or more kinds of analysis methods as an analysis method for electrons passing through samples.例文帳に追加

入射像面および入射瞳面を有し、試料を通過した電子の分析方法として１種類またはそれ以上の種類の分析方法を実施可能とする、適応性の高い分析系を備える透過電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

METHOD OF ETCHING SILICON WAFER SURFACE OXIDE FILM, METAL CONTAMINATION ANALYSIS METHOD OF SILICON WAFER WITH OXIDE FILM, AND METHOD OF MANUFACTURING SILICON WAFER WITH OXIDE FILM例文帳に追加

シリコンウェーハ表面酸化膜のエッチング方法、酸化膜付きシリコンウェーハの金属汚染分析方法、および酸化膜付きシリコンウェーハの製造方法 - 特許庁

The presence of the organic contamination is evaluated by dyeing the principal surface of the glass substrate and using an optical surface analysis method.例文帳に追加

そしてこの有機コンタミネーションの有無の評価は、前記ガラス基板主表面を染色処理し、光学式表面分析法を用いて行う。 - 特許庁

By this sample analysis method, even if the observation surface of the sample is not coated with the conductive film, the occurrence of an abnormal analysis results associated with the charge of the sample can be avoided.例文帳に追加

この分析方法によれば、導電膜を試料の観察面にコーティングしなくても、試料の帯電に伴う異常な分析結果の発生を回避することができる。 - 特許庁

To provide a deformation analysis method and a deformation analysis device under the consideration of a phenomenon in which a polishing member surface is scraped off due to dressing under polishing.例文帳に追加

研磨中のドレッシングによる研磨部材表面が削り取られる現象を考慮することのできる変形解析方法および変形解析装置を提供する。 - 特許庁

In a method for forming a semiconductor substrate for analysis (standard semiconductor wafer for analysis), an Si-OH group is formed by hydrophilic treatment on the surface of a silicon substrate.例文帳に追加

分析用半導体基板（分析用標準半導体ウエーハ）の形成方法において、まずシリコン基板の表面に親水性処理によりSi-OH基を形成する。 - 特許庁

To provide a method of strongly immobilizing peptide to a surface plasmon resonance measuring device and allowing strict analysis.例文帳に追加

表面プラズモン共鳴測定装置にペプチドを強固に固定化し、厳密な解析を可能とする方法を提供すること。 - 特許庁

METHOD FOR OPTICALLY MEASURING THICKNESS OR OPTICAL CHARACTERISTIC VALUE OF FILM AND OPTICAL SURFACE ANALYSIS APPARATUS例文帳に追加

膜の厚さ若しくは膜の光学的な特性値を光学的に測定する方法、および光学的表面解析装置 - 特許庁

To accurately calculate the tire performance including generation force distribution in the tire ground surface while suppressing an increase in computation time in a tire analysis using a numeric analysis method including the finite element method (FEM).例文帳に追加

有限要素法（ＦＥＭ）等の数値解析手法によるタイヤの解析において、計算時間の増加を抑えつつ、タイヤ接地面内の発生力分布等のタイヤ性能を精度良く算出する。 - 特許庁

To provide a method for immobilization, analysis and recovery advantageous for a biosubstance, and a surface plasmon sensor capable of making the best use of a merit of the method.例文帳に追加

生体物質の有利な固定化、解析、回収方法と、この方法の利点を活かした表面プラズモン共鳴センサーを提供する。 - 特許庁

To provide an analysis element chip for surface plasmon resonance fluorescence analysis which is capable of providing an accurate incident angle of a light beam on a predetermined surface of a prism in which an electric field for exciting a fluorescent material contained in a specimen becomes the maximum, and to provide a surface plasmon resonance fluorescence analysis device for analyzing a specimen by using the analysis element chip, and a surface plasmon resonance fluorescence analysis method.例文帳に追加

検体に含まれる蛍光物質を励起させるための電場が最も大きくなるようなプリズムの所定の面への光線の入射角を精度よく求めることを可能とする表面プラズモン共鳴蛍光分析用の分析素子チップ、この分析素子チップを用いて検体の分析を行う表面プラズモン共鳴蛍光分析装置、及び表面プラズモン共鳴蛍光分析方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

This method of sampling slag for analysis is characterized in that the slag sampler is immersed in molten slag and pulled up within 10 seconds and solidified deposit slag is peeled off, and the smooth surface is fast cooled and used as an analysis surface.例文帳に追加

また、分析用スラグ採取方法は、該スラグサンプラを溶融スラグに浸漬して、１０秒以内に引き上げ、付着した凝固スラグを剥離して、急冷された平滑面を分析面として供することを特徴とする。 - 特許庁

To provide an analysis method capable of carrying out typing a plurality of surface antigens at once which develop in a cell, finding unknown surface antigens, and checking development patterns of known surface antigens.例文帳に追加

細胞に発現する複数の表面抗原を一挙にタイピングし、未知の表面抗原を見出し、既知の表面抗原の発現パターンを調べるための分析方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a measurement method and an analysis method of a sample surface and a measuring device and an analytical device of the sample surface, capable of acquiring accurately information of the sample surface by a device having a simple structure.例文帳に追加

簡易な構成の装置によって正確に試料表面の情報を得ることができる試料表面の測定方法及び分析方法並びに試料表面の測定装置及び分析装置を提供する。 - 特許庁

Analysis simulation is performed by a finite element method (FEM) according to a predetermined analysis program to acquire data of tire axle force, tire shape and tire surface vibration (step ST6).例文帳に追加

予め定められた解析プログラムに従って、有限要素法（ＦＥＭ）により、解析シミュレーションを行い、タイヤ車軸力、タイヤ形状、及びタイヤ表面振動のデータを取得する（ステップＳＴ６）。 - 特許庁

To provide a method for the quantitative analysis of a very small amount of an element in the surface of an aluminum foil by glow discharge emission analysis, capable of performing the quantitative analysis of a very small amount of a metal element present in the surface of the aluminum foil easily and accurately, and capable of being employed in process control in an aluminum foil manufacturing process.例文帳に追加

容易にしかも正確にアルミ箔表面に存在する微量金属元素を定量することができ、これによってアルミ箔の製造工程における工程管理で採用できるグロー放電発光分析によるアルミ箔表面の微量元素分析法を提供する。 - 特許庁

An analysis unit uses the image data obtained by scanning the board to inspect the height of the surface to be inspected by a phase shift method.例文帳に追加

解析ユニットは、基板を走査して得られた画像データを利用して、位相シフト法により被検査面の高さを検査する。 - 特許庁

DEVELOPMENT OF HIGHLY SENSITIVE FLUORESCENCE ANALYSIS METHOD BY DIRECT IRRADIATION WITH EXCITATION LIGHT TO SURFACE FUNCTIONAL PARTICLE OBTAINED BY CONDENSING SAMPLE MATERIAL例文帳に追加

試料物質を濃縮した表面機能性粒子への励起光の直接照射による高感度蛍光分析法の開発 - 特許庁

DATA PROCESSING AND MANAGEMENT EQUIPMENT AND METHOD FOR DATA INSPECTION/ANALYSIS OF PARTICLE IN SURFACE PROCESSING TREATMENT DEVICE OR FILM FORMING TREATMENT DEVICE例文帳に追加

表面加工処理装置又は成膜処理装置の異物検査・解析のためのデータ処理及び管理装置及び方法 - 特許庁

This thermal analysis method has a process of acquiring virtual temperature as the temperature of a contact surface section with a contacted object of the longitudinal shape object.例文帳に追加

長手形状物体の、被接触物体との接触面部の温度として仮想温度を取得する工程を有する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a semiconductor device which method contains composition distribution analysis of a vapor deposition film stuck on an inner surface of a contact hole having an aperture of deep submicron order.例文帳に追加

ディープサブミクロンオーダーの口径のコンタクトホールの内面に付着した蒸着膜の組成分布分析を含む半導体装置の製造方法。 - 特許庁

To provide a forming method and forming device of an elastic-body break surface for rapidly and surely forming a desired broken-out surface suitable for analysis on an elastic body serving as a testing object, without requiring worker skills, and to provide an analysis method of the elastic body.例文帳に追加

作業者の熟練を必要とせずに、試験対象となる弾性体に対して分析に適した所望の破断面を迅速かつ確実に形成することができる、弾性体破断面の形成方法及び形成装置、弾性体の分析方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and a device for fluorescent X-ray analysis for making an analysis by setting accurately, to a detector, the position of a sample comprising a substrate with a smooth surface and a dotted measured object stuck to the surface.例文帳に追加

平滑な表面を有する基板とその表面に付着した点状の被測定物とからなる試料を、検出器に対し十分正確に位置設定して分析を行える蛍光Ｘ線分析方法および装置を提供する。 - 特許庁

To provide an etching apparatus used in sample preparation for more accurately carrying out a substrate surface analysis, and an apparatus and a method for evaluating a substrate surface using it.例文帳に追加

基板表面分析をより正確に行うための試料作製用エッチング装置、およびこれを用いた基板表面評価装置と基板表面評価方法を提供する。 - 特許庁

The method manufactures part of the electrochemical analysis inspection strip and includes a step for forming a metal substrate having the upper surface, on the surface of an electrical insulating substrate.例文帳に追加

電気化学式検査ストリップの一部を製造するための方法であって、電気絶縁基板の表面に、上面を有する金属基板を形成するステップを含む。 - 特許庁

To provide an analysis method of functional group on the surface of a molded product, capable of precisely analyzing the kind, the distribution state and the density of the functional group on the surface of the molded product.例文帳に追加

成形品表面における官能基の種類、その分布状態と密度について、精度良く分析できる、成形品表面の官能基分析方法を提供する。 - 特許庁

To provide an antistatic method that causes less contamination of a surface of a sample in an ion beam analysis method for analyzing a sample in its depth direction while removing the surface of the sample by radiating a primary ion beam onto the surface of the sample.例文帳に追加

試料表面に一次イオンビームを照射して試料表面を除去しつつ、試料の深さ方向の分析を行うイオンビーム分析方法において、試料表面の汚染が少ない帯電防止方法を提供する。 - 特許庁

REACTION CELL, BIOCHEMICAL AND/OR IMMUNOLOGICAL AUTOMATIC ANALYSIS APPARATUS EMPLOYING THE SAME, AND METHOD FOR REFORMING SURFACE OF INNER WALL OF THE SAME例文帳に追加

反応セル、これらを備えた生化学的及び／又は免疫学的自動分析装置、並びに反応セルの内壁部表面改質方法 - 特許庁

To provide a method and apparatus for magnetic structure analysis for sorting an element and an atom layer in the uppermost surface 2-3 atom layer.例文帳に追加

最表面２〜３原子層における元素と原子層とを選別した磁気構造解析を行う方法とその装置を提供する。 - 特許庁

To obtain samples from surface array spots having analytes by the automated sampling system and a method of analysis using an electronic spray.例文帳に追加

エレクトロスプレーを基にした自動サンプリングシステムおよび分析方法によって、被分析物を有する表面アレイスポットから試料を得る。 - 特許庁

To provide a surface data generation method for easily generating outer surface data representing a state of a surface of a construct model after simulation, from analysis data according to a shape of a component, a surface data generator, and a program.例文帳に追加

部品の形状に則した解析データから、シミュレーション後の構造体モデルの表面の状態を表す外表面データを容易に生成する表面データ生成方法、表面データ生成装置およびプログラムを提供する。 - 特許庁

To realize a qualitative analysis method by a surface analyzing machinery capable of performing highly accurate qualitative analysis even if the shift between the peak energy position of a spectrum and the energy position of a transition beam is generated.例文帳に追加

スペクトルのピークのエネルギー位置と遷移線のエネルギー位置のずれが発生している場合でも、高精度の定性分析ができるようにした表面分析機器による定性分析方法を提供する。 - 特許庁

In the method, a text structure including information on surface layer case and deep layer case is obtained with performances of a morpheme analysis, paragraph analysis, vocabulary processing, case frame processing, attribute adding, etc., to the natural text inputted by a user.例文帳に追加

ユーザから入力された自然文を形態素解析、文節解析、語彙処理、格フレーム処理、属性付与等を行って表層格、深層格の情報を含む文構造を取得する。 - 特許庁

To provide an unequally divided montage face analysis method by surface analysis equipment so that an efficient analysis measurement can be made by collectively measuring a part without a height difference, and performing measurement while thinly dividing only a part with a height difference for a sample with the height difference for only a specific part within the analysis range.例文帳に追加

分析範囲のうち特定部分だけに高低差がある試料に対して、高低差がない部分は一括して測定し、高低差がある部分だけ細密に分割して測定し、効率のよい分析測定が行えるようにした表面分析機器による非等分割モンタージュ面分析法を提供する。 - 特許庁

COMPOSITE PARTICLE WITH HIGH DISPERSIBILITY INHIBITING NONSPECIFIC ADSORPTION, COMPOSITE PARTICLE COLLOID, ANALYSIS REAGENT USING THE SAME, PARTICLE SURFACE MODIFICATION METHOD AND METHOD FOR MANUFACTURING COMPOSITE PARTICLE例文帳に追加

分散性が高く、非特異的吸着を防止した複合粒子、複合粒子コロイド、それを用いた分析試薬、粒子表面修飾方法、及び複合粒子の製造方法 - 特許庁

To provide a deterioration analysis method capable of analyzing a deterioration state of a polymer material, in particular, the deterioration state of a surface state in detail.例文帳に追加

高分子材料の劣化状態、特に表面状態の劣化状態について、詳細に解析できる劣化解析方法を提供する。 - 特許庁

STRUCTURE ANALYSIS METHOD OF FILM CONTAINING GA, AS, AND AT LEAST ONE TYPE OF ELEMENT BEING DIFFERENT FROM GA AND AS AND ITS SURFACE OXIDE FILM例文帳に追加

Ｇａと、Ａｓと、少なくとも１種類のＧａおよびＡｓとは異なる元素とを含む膜およびその表面酸化膜の構造解析方法 - 特許庁

By this analysis method, it is possible to obtain information on only a compound adsorbed onto a metal surface without influence from a liquid.例文帳に追加

この分析方法によれば、液体の影響を受けずに金属表面に吸着した化合物のみの情報を得ることが可能となる。 - 特許庁

To provide an extraction method of a sample piece for analysis capable of obtaining a clean peeling surface free from processing strain in the fine sample piece.例文帳に追加

微小な試料片において、加工歪のない清浄な剥離面を得ることができる分析用の試料片抽出方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for analyzing, for each layer, a multilayer film on the surface of a substrate by which the multilayer film on the surface of the substrate can be analyzed for each layer, and in particular to provide a method for analyzing each layer of the multilayer film on the surface of the substrate which is suitable for the analysis of impurities for each layer.例文帳に追加

基板表面多層膜を各層毎に分析することができる基板表面多層膜の層別分析方法、特に各層毎の不純物の分析に適した基板表面多層膜の層別分析方法を提案する。 - 特許庁

To provide an analytical method and device for analyzing progress of surface crack capable of taking the difference between crack progress characteristics in the depth direction and on the surface into consideration, in order to progress analysis for the surface crack of a structural member.例文帳に追加

構造部材の表面き裂の進展解析について、深さ方向と表面上でのき裂進展特性の違いを考慮することが可能な表面き裂の進展解析方法および装置を提供する。 - 特許庁

To quickly form an extremely thin conductive thin film on the surface of an insulator sample for a method of forming a conductive film onto a sample surface in an Auger analysis device.例文帳に追加

オージェ分析装置における試料表面への導電膜形成方法に関し、絶縁物試料表面に極薄い導電薄膜を短時間に形成させることを目的としている。 - 特許庁

To provide a local analysis method for locally analyzing a substrate surface with high sensitivity and high precision, particularly suitable for analyzing impurities on the substrate surface.例文帳に追加

基板表面局所を高感度かつ高精度で分析することができる基板表面の局所分析方法、特に基板表面不純物に適した局所分析方法を提案する。 - 特許庁

To provide a powder holder, measuring sample manufacturing method, and sample analysis method which can easily manufacture test samples, even for powder to achieve enhancement in the measuring efficiency, in the analysis requiring smoothness of sample surface.例文帳に追加

試料表面の平滑性が求められる分析において、粉体であっても容易に測定用試料を製造することができ、測定効率の向上を可能とする粉体ホルダ、測定用試料製造方法及び試料分析方法を提供すること。 - 特許庁

There are disclosed a method and an apparatus for forming a sample of an object, extracting the sample from the object and allowing the sample subjected to a microanalysis including a surface analysis and an electron transmittance analysis in a vacuum chamber.例文帳に追加

物体のサンプルを形成し、物体からサンプルを抽出し、真空チャンバーにおいて表面分析及び電子透過度分析を含むマイクロ分析をこのサンプルに受けさせるための方法及び装置が開示される。 - 特許庁