「surface analysis method」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

A surface of the copper tube 1 has a film composed of a carbon compound having carbon content at the surface calculated on the basis of the intensity of C-Kα ray, of 1% or more in wavelength analysis of C-Kα ray by an Electron Probe Micro Analyzer method.例文帳に追加

銅管１の表面には、Ｅｌｅｃｔｒｏｎ Ｐｒｏｂｅ Ｍｉｃｒｏ Ａｎａｌｙｚｅｒ分析法のＣ−Ｋα線の波長分析において、Ｃ−Ｋα線の強度より算出した表面のカーボン量が、１％以上である炭素化合物からなる皮膜が形成されている。 - 特許庁

A delay analysis method includes: a step of extracting, from a storage device, a delay value of a reconfiguration path used for controlling change in the circuit surface of a dynamic reconfigurable device; and a step of calculating the delay value of a data path in the circuit surface in consideration of the delay value of the reconfiguration path.例文帳に追加

遅延解析方法は、動的再構成デバイスの回路面の変更を制御するための再構成パスにおける遅延値を記憶装置から抽出するステップと、再構成パスの遅延値を考慮して回路面におけるデータパスの遅延値を算出するステップとを具備する。 - 特許庁

To provide a method for analyzing the structural response of an object having an outer surface comprising a plurality of surface portions, for example, structural and warpage analysis of an injection molded part having thin walls, while holding at least some of advantages of a shell element for a thin wall structure.例文帳に追加

薄壁構造のためのシェル要素の利点の少なくともいくつかを保持しながら、複数の表面部分を含む外部表面を有する物体の構造応答を解析する、例えば、薄い壁を有する注入成形部分の構造的及びそり解析する、方法を提供する。 - 特許庁

The particulate fixing method which fixes the particulates for analysis comprises, after dispersing the particulates on a surface of non-cured resin applied on a substrate, embedding the particulates into the resin while leaving a part of the particulates in their surface, and subsequently curing the resin.例文帳に追加

分析のために微粒子を固定する微粒子固定方法であって、基材上に塗布された未硬化樹脂の表面に微粒子を分散させた後、微粒子の表面の一部を残して微粒子を樹脂中に埋め込み、次いで樹脂を硬化させることを特徴とする微粒子固定方法。 - 特許庁

To provide a probe coupling substrate and its manufacturing method, capable of easily analyzing probes, as well as minimizing loss in sampling inspection, to enable quick and inexpensively detection and quantitative analysis of a target matter, when using various surface analyses, and to provide a method for quantitatively analyzing the target matter in a specimen quickly and inexpensively.例文帳に追加

各種表面分析法を用いた場合に、プローブの分析を問題なく行なえ、抜き取り検査でのロスが最小限であり、標的物質の検出や定量を迅速かつ安価に行なえるプローブ結合基板及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

The method for analysis includes: performing removal or inactivation processing on various products (by-products) produced on a decomposition (or etching) surface as a first process and making the surface hydrophobic rapidly with an HF gas thereafter at need; and thereby scanning the hydrophobic silicon wafer surface with drops of water with extremely high reproducibility and efficiency to collect and analyze decomposed matter on the surface.例文帳に追加

本発明に係る分析方法は、第１工程である分解（又はエッチング）表面に生じる種々の生成物（副生物）を除去又は不活性化処理を行い、かつその後必要であれば表面を速やかにＨＦガスで疎水性化することで、極めて再現よく効率的に、疎水性シリコンウェハ表面を水滴でスキャンして表面の分解物を回収して分析する。 - 特許庁

According to this surface roughness evaluating method of a component for an image forming device, a cross- section curve defined by JIS B0601 is found on the surface condition of the component to perform multiple resolution analysis on positional data rows in a surface roughness direction at equally spaced positions on the cross-section curve, and the state of the surface roughness is evaluated at least based on the result.例文帳に追加

画像形成装置用部品の表面の状態についてＪＩＳ Ｂ０６０１に定める断面曲線を求め、その断面曲線上の等間隔位置における表面粗さ方向の位置データー列の多重解像度解析を行い、少なくともその結果に基づいて表面粗さの状態を評価することを特徴とする画像形成装置用部品の表面粗さ評価方法。 - 特許庁

To provide a pretreating method for metal analysis and its device capable of preventing recontamination such as re-oxidation of the surface of a sample in a sputtering process, and thus providing a correct analyzed value always even when the sputtering is repeated.例文帳に追加

スパッタリングの過程で生ずる再酸化などの試料表面の再汚染を防止し、それによりスパッタリングを繰り返しても常に正しい分析値を与えることのできる金属分析の予備処理方法および装置を提供する。 - 特許庁

To provide a column having a fixing phase with a very large surface area as a hollow capillary column provided in a separation analysis field such as liquid chromatograph and electric chromatography and the manufacturing method of the column.例文帳に追加

液体クロマトグラフィー及び電気クロマトグラフィーなど、分離分析分野に供する中空キャピラリーカラムとして、非常に大きな表面積を有する固定相を持つカラムを提供すると共に、そのカラムの製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a total reflection fluorescent X-ray analysis method and a device for use in the same, which detect or quantitatively analyze a metal contaminant element on the surface of a silicon wafer at high sensitivity and which can accurately obtain the positional information thereof.例文帳に追加

シリコンウエハ表面の金属汚染物元素を高感度で検出あるいは定量分析し、その位置情報を正確に得ることができる全反射蛍光Ｘ線分析方法及びそのために使用する装置を提供する。 - 特許庁

When analyzing the rolling bearing by the spark emission spectrophotometric method and evaluating its rolling lifetime, an analysis position by the spark emission spectrophotometric method is set in the range of ±10% in terms of a parent metal diameter in the radius direction of a parent metal round rod from an orbit surface of the bearing.例文帳に追加

転がり軸受をスパーク発光分光分析法により分析して、その転がり寿命を評価するに際して、スパーク発光分光分析法による分析の位置を軸受の軌道面から母材丸棒の径方向に母材直径換算で±１０％の範囲内とする。 - 特許庁

To provide a method for improving precision in estimation of electric characteristics by creating an RSF(Response Surface Function) without depending on the unit structure of a wiring structure to be evaluated or increasing the number of items of data for acquisition, when a variation analysis method using the RSF is applied for evaluating the electric characteristics of the wiring structure.例文帳に追加

RSFを用いたばらつき解析手法を、配線構造の電気特性評価に適用する際に、評価対象となる配線構造の単位構成に依存せず、またデータ取得点数を増加させる事無くRSFを作成し、電気特性の予測精度の改善方法を提案する。 - 特許庁

In the of secondary ion for mass analysis method insulating material, a Pt-Pd alloy thin film that is a conductive continuous film is formed on the surface of a sample that is the insulating material, the sample with the Pt-Pd alloy thin film is irradiated with a primary ion beam and an electron beam, and the secondary ions generated from the sample are extracted and are subjected to mass analysis.例文帳に追加

本発明の絶縁物の二次イオン質量分析方法は、絶縁物である試料の表面に導電性の連続膜であるＰｔ−Ｐｄ合金薄膜を成膜し、このＰｔ−Ｐｄ合金薄膜付き試料に一次イオンビーム及び電子ビームを照射し、この試料から発生する二次イオンを引き出し、質量分析する。 - 特許庁

To provide a creation method of a solid phase for biochemical analysis and an apparatus for biochemical analysis can solidify accurately a biochemical material such as an antigen or an antibody, suppress nonspecific adsorption of a material to be reacted specifically to a solid phase surface, and obtain a high signal/noise ratio even when a blocking process is eliminated.例文帳に追加

抗原又は抗体等の生化学物質を精度良く固相化させることが出来、なお且つ、固相表面に対して特異的に反応させる物質の非特異的な吸着を抑制し、ブロッキング工程を省略しても高いシグナル／ノイズ比が得られる生化学分析用固相の作成方法及び生化学分析容器具を提供する。 - 特許庁

The hemoglobin measurement system for measuring stabilized hemoglobin A1c using an electrophoresis method includes a micro device having a migration path having an inner surface immobilization-coated with a cationic functional group and buffer liquid previously filled into its inside, an analysis section for storing the micro device, a power supply section connected to the analysis section, and a detection section for detecting a material to be measured in the analysis section.例文帳に追加

電気泳動法を用いて安定型ヘモグロビンＡ１ｃを測定するためのヘモグロビン類の測定システムであって、内表面にカチオン性官能基が固定化され、かつ、予め内部に緩衝液が充填された泳動路を有するマイクロデバイスと、前記マイクロデバイスを収容する分析部と、前記分析部に接続された電源部と、前記分析部において測定対象物質を検出する検出部とを備えるヘモグロビン類の測定システム。 - 特許庁

To provide a quantum line-supported atomic force microscopic method and a quantum line-supported atomic force microscope capable of performing simultaneously shape observation and elemental analysis in the atomic level by using the atomic force microscope, analyzing the chemical state on the sample surface, and performing the elemental analysis or chemical state analysis with respect to a biosample with a resolution in the atomic level because of being operable even in liquid.例文帳に追加

原子間力顕微鏡を使って原子レベルでの形状観察と元素分析とを同時に行うことができ、さらには試料表面の化学状態を分析することが可能となり、また、液体中でも動作可能であるため生体試料に対する元素分析や化学状態分析を原子レベルの分解能で行うことが可能な量子線支援原子間力顕微法および量子線支援原子間力顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The method of evaluating the positive electrode active material includes a surface treatment process of dissolving the surface of a positive electrode active material whose component density changes from the surface into the inside into an acid solution and a computation process of analyzing elements in the acid solution into which the surface of the positive electrode active material is dissolved and computing the coverage from the results of analysis.例文帳に追加

この正極活物質の評価方法は、表面から内部に向かって構成する元素の濃度に変化がある正極活物質の表面を、酸溶液に溶解させる表面処理工程と、表面処理工程を行った後、正極活物質の表面を溶解させた酸溶液に対して元素分析を行い、測定結果から被覆率を算定する算定工程と、を備えるものである。 - 特許庁

A method for evaluation of the metal contamination in the semiconductor substrate includes a step of forming a roughened area on one surface out of both sides of the semiconductor substrate, a step of heating the semiconductor substrate after forming the roughened area on one surface and a step for analysis of a metal component in a solution after scanning the roughened area with the solution.例文帳に追加

半導体基板の表裏面の一方に粗面化領域を形成すること、上記粗面化領域形成後の半導体基板を加熱処理すること、および上記粗面化領域上に溶液を走査させた後、該溶液中の金属成分を分析すること、を含む半導体基板の金属汚染評価方法。 - 特許庁

The method for X-ray analysis of the sample includes directing of a beam of X-rays to impinge on an area of the periodic feature on the surface of the sample, and receiving the X-rays scattered from the surface in a reflection mode so as to detect a diffraction spectrum in the scattered X-rays as a function of the azimuth.例文帳に追加

試料をＸ線解析する方法は、試料の表面上の周期構造の領域に衝突するようにＸ線ビームを方向付け、方位角の関数として散乱Ｘ線の回折スペクトルを検出するように反射モードで表面から散乱したＸ線を受け取ることを含む。 - 特許庁

To provide an instrument and a method for surface shape measurement on a light-beam scanning basis which facilitate signal analysis, enable accurate shape measurement even if the influence of disturbance is large, and make the device small-sized and inexpensive.例文帳に追加

光ビーム走査式の表面形状の計測において、信号解析が容易で、外乱の影響が大きい場合にも正確な形状計測ができ、装置を小型かつ安価にしうる三次元形状の計測装置および計測方法を提供する。 - 特許庁

To provide a flow analyzing method, a flow analyzer and a flow analysis program of a resin molding capable of predicting a projection height of a secondary weld line projecting in a minute amount from the surface of a resin molding and evaluating its quality with high accuracy.例文帳に追加

樹脂成形品表面から微小量突出する２次ウエルドラインの突出高さを予測でき、高い精度の品質評価を可能にできる樹脂成形品の流動解析方法、流動解析装置及び流動解析プログラム等を提供する。 - 特許庁

The substrate inspection method includes a step of preparing the substrate provided at its main surface with the plurality of layers, a film forming step, a local etching step (S321), and an inspection step (S323) or a composition analysis step (S322).例文帳に追加

基板検査方法は、主表面上に複数の層が形成された基板を準備する基板準備工程および成膜工程と、局所的なエッチング工程（Ｓ３２１）と、検査工程（Ｓ３２３）または組成分析工程（Ｓ３２２）とを備える。 - 特許庁

The visible light responsive type photocatalyst synthetic method comprises a step of sublimating or burning metal tungsten, and of synthesizing tungsten oxide particles having a crystal structure in which a peak intensity of (200) surface appears most strongly by an XRD analysis.例文帳に追加

金属タングステンを昇華または燃焼させ、ＸＲＤ分析によって（２００）面のピーク強度がもっとも強く出る結晶構造を有する酸化タングステン微粒子を合成することを特徴とする可視光応答型光触媒合成法。 - 特許庁

In the performance evaluation method of the electrode catalyst for the fuel battery with catalyst metal carried by a conductive carrier, oxygen atom absorption energy on the surface of the catalyst metal found from molecular simulation analysis is to be an index for the performance evaluation.例文帳に追加

導電性担体に触媒金属が担持された燃料電池用電極触媒の性能評価方法において、分子シミュレーション解析から得られる触媒金属表面における酸素原子吸着エネルギーを該性能評価の指標とする。 - 特許庁

Pressure is ended up with being applied to an area which is different from the area, to which the pressure is originally intent to apply, because the pressure is applied to the area approximated by a voxel method in a structural analysis problem, in which pressure is applied to a curved surface of the structure.例文帳に追加

構造物の曲面に圧力を負荷する構造解析の問題では，ＶＯＸＥＬにより近似した面積に圧力をかけるため，本来の圧力をかけたい面積と異なった面積に圧力をかけてしまうことになる。 - 特許庁

To provide a data generating method for generating numerical data for calculation capable of reducing the computational amount and memory amount required for the structural analysis by a finite element method from an analytic model based on the finite element method concerning an analytic model equipped with an attachment such as an electrode for restricting a vibration mode on a part of the surface of a structure.例文帳に追加

構造体の表面の一部に振動モードを拘束する電極等の付着物を設けた解析モデルに対して、有限要素法による解析モデルから有限要素法等の構造解析に必要となる計算量及びメモリ量を減らすことができる計算用数値データを生成するデータ生成方法を提供する。 - 特許庁

There provided are a fibrous substrate for binding a chromosome and having a region modified with a receptor on the surface, the substrate bound with a chromosome, a method for developing and stretching a chromosome from the substrate, an apparatus therefor, a method for the analysis and utilization of the developed and stretched chromosome, etc.例文帳に追加

本発明によれば、受容体にて修飾した領域を表面に有する染色体結合用線維状基体、染色体が結合した該基体、該基体からの染色体の展開・伸長方法およびそのための装置、展開・伸長された染色体の分析・利用方法等が提供される。 - 特許庁

To provide a method for forming a semiconductor substrate for analysis that can prevent the segregation of a metal element, can accurately and uniformly connect the metal element with a specific density onto a surface, and can improve the control property of the density of the metal element.例文帳に追加

金属元素の偏析を防止することができ、高い精度で所定密度の金属元素を表面に均一に結合させることができ、金属元素の密度の制御性を向上させることができる分析用半導体基板の形成方法を提供する。 - 特許庁

To provide an analysis method which enables the reflection of actual conditions such as the shape, surface conditions and physical characteristics of a stone material, without depending on an evaluator's subjectivity and experience, and which enables the relatively accurate evaluation of stability of a dry-masonry stone fence.例文帳に追加

評価者の主観や経験によらず、しかも、石材の形状、表面状況及び物理特性等といった実際の条件を反映させることが可能であり、比較的正確に空積み石垣の安定性を評価することができる解析方法を提供する。 - 特許庁

To provide a preparatory reducing furnace capable of certainly removing the oxidation film bonded and formed to the surface of a silicon sample at the time of analysis of a very small amount of oxygen contained in the silicon sample, and to provide a pretreatment method for the silicon sample using the same.例文帳に追加

シリコン試料中に含まれる微量酸素の分析に際して、前記シリコン試料の表面に付着形成されている酸化膜を確実に除去することができる予備還元炉およびこれを用いるシリコン試料の前処理方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a platinum electrode, capable of obtaining an enzyme electrode stable with respect to changes in passage of time and superior in analysis accuracy and reproducibility in which platinum is high close contact and the smoothness of a surface is high, and a method capable of inexpensively manufacturing the platinum electrode with proper productivity.例文帳に追加

白金の密着性が高く、経時的に安定であり、且つ表面の平滑性も高く、分析精度及び再現性に優れた酵素電極が得られる白金電極、並びに前記白金電極を安価に、生産性良く製造し得る方法を提供する。 - 特許庁

A wiring structure is formed, a background (temperature, current density) is solved by a finite element method, and a diffusion analysis is carried out by the use of an electron wind power proportional to a current density and diffusion coefficients (lattice, grain boundary, interface, surface) related to crystal structures, to obtain void density.例文帳に追加

配線の構造を作成し、背景場（温度、電流密度）を有限要素法で解き、電流密度に比例した電子風力と各結晶構造に関わる拡散係数（格子、粒界、界面、表面）を用いて拡散解析を行い、空孔濃度を求める。 - 特許庁

In the display method for two-dimensional physical analysis results, a physical quantity defined on the boundary is displayed with a three-dimensional graphics on the boundary surface prepared by expanding the boundary line discontinuously changing its material in a three-dimensional direction.例文帳に追加

２次元物理解析結果の表示方法において、材質が不連続に変化する境界線を３次元方向に引き伸ばして作成した境界面上に、該境界線上で定義される物理量を３次元グラフィックスで表示することを特徴とする表示方法。 - 特許庁

To provide a method and a device for evaluating a semiconductor wafer, which highly accurately evaluate the BMD (Bulk Micro Defect) density distribution by obtaining the BMD density over the entire surface of the semiconductor wafer in a short time period for impurity analysis of a silicon substrate.例文帳に追加

シリコン基板の不純物分析をするために、半導体ウェーハ全面のＢＭＤ密度を短時間で取得し、ＢＭＤ密度分布を高精度に評価することができる半導体ウェーハの評価方法及び半導体ウェーハの評価装置を提供する。 - 特許庁

Time series data of deflection amounts generated at a plurality of hit points D when the golf ball model 2A is hit at the plurality of hit points D set on a face surface 12 of the golf club head model 10A are obtained through simulation of collision analysis by a finite element method.例文帳に追加

ゴルフクラブヘッドモデル１０Ａのフェース面１２に設定した複数の打点Ｄでゴルフボールモデル２Ａを打撃したときに複数の打点Ｄのそれぞれにおいて生じるたわみ量の時系列データを有限要素法による衝突解析のシミュレーションによって求める。 - 特許庁

The method for inspection includes a step of irradiating an observation object of a rear surface of a sample 7 with an infrared laser beam 12 emitted from a laser beam source 1 and incident upon a diffraction lens 4 as a Bessel beam 13, detecting its reflected light 14 by a photodetector 11, and performing analysis.例文帳に追加

レーザ光源１から発せられた赤外レーザ光１２は、回折レンズ４に入射してベッセルビーム１３となり試料７の裏面の観察対象に照射され、その反射光１４は光検出器１１により検出されて、解析が行われる。 - 特許庁

In a mesh generating method for generating mesh data for a computer numerical analysis, the shape of the FEM mesh given as input data about a certain member is corrected and so on (steps 1 to 3) and the FEM mesh is moved toward the plate thickness of the member to generate a surface mesh representing a member surface with the mesh (step 4).例文帳に追加

コンピュータ数値解析用のメッシュデータを生成するメッシュ生成方法において、入力データとして与えられた、ある部材に関するＦＥＭメッシュの形状修正等を行った上で（ステップ１〜３）、そのＦＥＭメッシュを部材の板厚方向に移動させることにより、部材の表面をメッシュによって表現した表面メッシュを生成する（ステップ４）。 - 特許庁

This expression method of the light field data comprises: a process for acquiring a set of images of at least one object by a passive method on a virtual surface where a center of projection of an image acquisition device for acquiring the set of images exists; and a process for generating representative of the acquired set of images by using statistical analysis conversion based on parameter display including the virtual surface.例文帳に追加

本発明は、画像の集合を取得する画像取得装置の投射の中心が存在する仮想表面において受動的な方法で少なくとも１のオブジェクトの画像の集合を取得する過程と、前記仮想表面を含むパラメータ表示に基づいた統計的解析変換を用いて前記取得された画像の集合の代表を生成する過程とを有するライトフィールドデータの表現方法を提供する。 - 特許庁

To provide a measurement method usefully applied to the evaluation etc. of the degree of embrittlement of materials used for a power plant, a turbine, etc. based on the width or depth of intergranular corrosion grooves, and used for highly accurately measuring, by image analysis, the width or volume of a recessed part or projecting part existing on a body surface.例文帳に追加

発電プラントやタービン等に用いられる材料の脆化度を粒界腐食溝の幅や深さなどで評価する際等に適用して有用な、物体表面にある凹部或いは凸部の幅やその体積を高精度に画像解析で測定することができる測定方法を提供する。 - 特許庁

The analysis section 52 determines the intensity component and phase component of second reflected light generated on the surface or in the interior of the observation object 9 on the basis of an interference light image obtained by setting an optical path length difference to be each target value successively by the phase shift method and photographing by the photographing section 51.例文帳に追加

解析部５２は、位相シフト法により光路長差が各目標値に順次に設定されて撮像部５１により撮像された干渉光像に基づいて、観察対象物９の表面または内部で生じた第２反射光の強度成分および位相成分を求める。 - 特許庁

To provide a three-dimensional measuring method capable of precisely measuring a completed vehicle by use of an existing three-dimensional measuring device to perform a precise analysis by enabling the completed vehicle to be arranged on the surface plate of the existing three-dimensional measuring device in an origin matching state.例文帳に追加

既存の三次元測定装置の定盤上に完成車両を原点一致状態で配置させることを可能とすることで既存の三次元測定装置を利用して完成車両を高精度で測定し、高精度の解析を行うことができる三次元測定方法を提供すること。 - 特許庁

The method of analyzing electrodeposition coating performed by determining the deposited quantity of a coating film on the surface of a material 4 to be coated based on a prediction equation formed by inputting a current density obtained by potential analysis and at least one of a coating material temperature, a coating material characteristics and the characteristics of a material to be coated is provided.例文帳に追加

電位解析によって得られた電流密度と、塗料温度、塗料特性または被塗装物特性の少なくとも一つとを入力とした予測式に基づいて、被塗装物４の表面の塗膜析出量を求める電着塗装解析方法を提供する。 - 特許庁

The support for printed wiring board production consists of a rolling copper alloy foil containing 0.1 mass% or more of Mg wherein the concentration of Mg is 0.2 at% or more and the concentration of O is 10 at% or more in the surface layer when quantitative analysis is performed by sensitivity coefficient method of XPS.例文帳に追加

０．１質量％以上のＭｇを含有する圧延銅合金箔からなり、ＸＰＳの感度係数法による定量分析において、表層のＭｇ濃度が０．２ａｔ％以上、かつＯ濃度が１０ａｔ％以上であるプリント配線板製造用支持体である。 - 特許庁

According to the present sample analysis method, because a membrane 20 consisting of materials with optical absorptivity of laser beam L higher than the sample 10 is formed on one surface of the sample 10, absorptivity of laser beam L can be enhanced by irradiating laser beam L to the membrane 20.例文帳に追加

この試料分析方法によれば、レーザ光Ｌについての光吸収率が試料１０より高い材料からなる膜２０を試料１０の一表面に形成するため、その膜２０にレーザ光Ｌを照射することで、レーザ光Ｌの吸収率を高くすることができる。 - 特許庁

To provide an analysis method and an analyzer for calculating the composition and thickness of each layer in a sample by neither adjusting the sample, where a multilayer thin film is formed on the surface, nor using multilayer thin-film standard samples, even if the same element is include in a plurality of layers.例文帳に追加

多層薄膜が表面に形成された試料に対して、試料調整を行わず、同一元素が複数の層に含まれていても多層薄膜標準試料を用いず、試料の各層の組成と膜厚を算出する分析方法および装置を提供すること。 - 特許庁