「surface analysis method」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

TOOL FOR SURFACE ENHANCED VIBRATION SPECTROSCOPIC ANALYSIS, AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

表面増強振動分光分析用治具およびその製造方法 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR SOLID OXIDE FUEL CELL SURFACE ANALYSIS例文帳に追加

固体酸化物燃料電池の表面分析のためのシステム及び方法 - 特許庁

To provide a method for analysis, especially, automatic analysis of ultratrace impurity metal on a silicon wafer surface.例文帳に追加

シリコンウェハ表面の超微量不純物金属の分析、特に自動分析の方法を提供する。 - 特許庁

FORMING METHOD AND FORMING DEVICE OF ELASTIC-BODY BROKEN-OUT SURFACE, AND ANALYSIS METHOD OF ELASTIC BODY例文帳に追加

弾性体破断面の形成方法及び形成装置、弾性体の分析方法 - 特許庁

A thermal analysis part 16 applies thermal analysis based on numerical analysis such as a finite element method, a finite difference method or a finite volume method to the surface element model generated by the surface element model generation part 15.例文帳に追加

熱解析部１６は、面要素モデル生成部１５によって生成された面要素モデルに対して、有限要素法、有限差分法、あるいは有限体積法などの数値解析による熱解析を行う。 - 特許庁

METHOD FOR ANALYZING SURFACE-MODIFIED SUBSTRATE, SUBSTRATE FOR ANALYSIS, METHOD FOR PRODUCING SURFACE-MODIFIED SUBSTRATE AND SURFACE-MODIFIED SUBSTRATE例文帳に追加

表面修飾基板の解析方法、解析用基板及び表面修飾基板の製造方法、並びに表面修飾基板 - 特許庁

In this analysis method, the liquid sample is dropped onto a clean base material surface, and surface analysis of the base material surface after being dried is performed.例文帳に追加

本発明よる分析方法は、液体試料を清浄な基材面に滴下して、乾燥させた後の基材面を表面分析することにより達成される。 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING EXTREMELY SMALL MULTIPLE PROBE AND SURFACE CHARACTERISTIC ANALYSIS APPARATUS例文帳に追加

極微小多探針プローブの製造方法及び表面特性解析装置 - 特許庁

ANALYSIS METHOD FOR RAPIDLY IDENTIFYING SURFACE ANTIGEN DEVELOPING IN CELL例文帳に追加

細胞に発現する表面抗原を迅速に同定するための分析方法 - 特許庁

SURFACE PLASMON RESONANCE SENSOR CHIP AND ANALYSIS METHOD OF SAMPLE USING IT例文帳に追加

表面プラズモン共鳴センサチップ及びそれを用いた試料の分析方法 - 特許庁

MEASURING METHOD OF RATE COEFFICIENT OF DESORPTION IN SURFACE PLASMON RESONANCE ANALYSIS例文帳に追加

表面プラズモン共鳴分析における離脱速度係数の測定方法 - 特許庁

SURFACE-STRENGTHENED TOOL FOR VIBRATION SPECTRAL ANALYSIS, ITS MANUFACTURING METHOD, SURFACE-STRENGTHENED TOOL FOR RAMAN SCATTERING SPECTRAL ANALYSIS, AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

表面増強振動分光分析用治具並びにその製造方法及び表面増強ラマン散乱分光分析用治具並びにその製造方法 - 特許庁

MEASURING METHOD OF RATE COEFFICIENT OF REACTION IN SURFACE PLASMON RESONANCE ANALYSIS例文帳に追加

表面プラズモン共鳴分析における反応速度係数の測定方法 - 特許庁

METHOD FOR COMPREHENSIVE ANALYSIS OF PROTEASE ACTIVITY USING SURFACE PLASMON RESONANCE例文帳に追加

表面プラズモン共鳴を用いたプロテアーゼ活性の網羅的な解析方法 - 特許庁

To provide a method for in-situ analysis of the surface of the solid in a liquid.例文帳に追加

液体中の固体表面をその場分析する方法を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR PREPARING SAMPLE FOR ANALYZING POLE SURFACE LAYER PART IN ELECTRON BEAM MICRO-ANALYSIS例文帳に追加

電子線マイクロアナリシスにおける極表層部分析用試料作製方法 - 特許庁

ERYTHROCYTE SURFACE POTENTIAL MEASURING METHOD BY ELECTROPHORETIC ANALYSIS, AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

電気泳動解析による赤血球表面電位測定方法及びその装置 - 特許庁

METHOD OF DISPLAYING FACE ANALYSIS DATA IN SURFACE ANALYZER USING ELECTRON BEAM例文帳に追加

電子線を用いた表面分析装置における面分析データ表示方法 - 特許庁

To provide a measuring method which enables an accurate surface analysis in a depth direction.例文帳に追加

深さ方向の表面分析が正確にできる測定方法を提供する。 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR ULTRAHIGH-SENSITIVE ANALYSIS OF GAS GENERATED FROM SAMPLE SURFACE例文帳に追加

試料表面から発生するガスの超高感度分析システムおよび方法 - 特許庁

As a surface analysis method, an XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy) analysis method or the like is enumerated, and when being used together with an ICP-AES (Inductively Coupled Plasma-Atomic Emission Spectroscopy) analysis, a result which is unmeasurable in the ICP-AES analysis can be supplemented.例文帳に追加

表面分析方法としては、ＸＰＳ分析法等が挙げられ、ＩＣＰ−ＡＥＳ分析と併用すれば、ＩＣＰ−ＡＥＳ分析では測定不可能だった結果を補足することも出来る。 - 特許庁

OBSERVATION/ANALYSIS METHOD FOR SAMPLE SURFACE BY OBLIQUE EMISSION PROTON BEAM INDUCED CHARACTERISTIC X- RAY ANALYSIS AND APPARATUS THEREFOR例文帳に追加

斜出射プロトンビーム誘起特性Ｘ線分析による試料表面の観察・分析方法およびそのための装置 - 特許庁

QUANTITATIVE ANALYSIS METHOD FOR SURFACE THICKENED CARBON AMOUNT OF TITANIUM PLATE AND QUALITY MANAGEMENT METHOD FOR TITANIUM PRODUCT例文帳に追加

チタン板の表面濃化炭素量の定量分析方法およびチタン製品の品質管理方法 - 特許庁

SILICON ELIMINATION METHOD FOR SILICON WAFER SURFACE, LIQUID SAMPLE EXTRACTION METHOD FOR REGION UNDER SURFACE LAYER OF SILICON WAFER, AND ANALYSIS METHOD FOR METAL IMPURITY IN THE REGION例文帳に追加

シリコンウェーハ表面の珪素脱離方法、シリコンウェーハ表層下領域の液体サンプル採取方法及びその金属不純物分析方法 - 特許庁

TOOL FOR ANALYZING SURFACE OF PLATE-LIKE BODY, AND METAL ANALYSIS METHOD USING THE SAME例文帳に追加

板状体表面の分析用治具及びそれを使用した金属分析方法 - 特許庁

METHOD OF SEARCHING LARGE-SCALE ILLEGAL WASTE DISPOSAL FIELD BY HEAT CAPACITY ANALYSIS OF GROUND SURFACE例文帳に追加

地面の熱容量分析による大規模な不法廃棄物投棄現場の探索方法 - 特許庁

ANALYSIS METHOD OF PROPAGATION FACE OF MULTIPLE ROUND SURFACE ACOUSTIC WAVE ELEMENT AND ELEMENT OF THE SAME例文帳に追加

多重周回弾性表面波素子の伝搬面の分析方法及びその素子 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR IMPROVING SIMULATING BEAM-TO-SURFACE CONTACT IN FINITE ELEMENT ANALYSIS例文帳に追加

有限要素解析法におけるビーム−面接触をシミュレートする改善方法およびシステム - 特許庁

BIOSENSOR CHIP, PRODUCTION METHOD THEREFOR AND SENSOR FOR SURFACE PLASMON RESONANCE ANALYSIS例文帳に追加

バイオセンサー用チップおよびその製造方法並びに表面プラズモン共鳴分析用センサー - 特許庁

The composition in the surface is measured by the X-ray photoelectron spectral analysis method.例文帳に追加

また、これら表面の成分組成はＸ線光電子分光分析法で計測する。 - 特許庁

STANDARD SAMPLE FOR ADJUSTING LIGHT AXIS OF SURFACE ANALYSIS AND LIGHT AXIS ADJUSTMENT METHOD USING THE SAME例文帳に追加

表面分析の光軸調整用標準試料とそれを用いた光軸調整法 - 特許庁

ANALYSIS METHOD AND APPARATUS FOR SAMPLE UTILIZING SURFACE PLASMON RESONANCE, AND SURFACE PLASMON RESONANCE SENSOR CHIP例文帳に追加

表面プラズモン共鳴を利用した試料の分析方法及び分析装置、並びに表面プラズモン共鳴センサチップ - 特許庁

SPUTTERING SURFACE FLATNESS EVALUATION METHOD AND RESOLUTION EVALUATION METHOD IN GLOW DISCHARGE EMISSION SPECTRAL ANALYSIS例文帳に追加

グロー放電発光分光分析におけるスパッタ面の平坦性の評価方法及び深さ分解能の評価方法 - 特許庁

PRODUCTION METHOD OF SUBSTRATE FOR SURFACE ENHANCED RAMAN SPECTROSCOPIC ANALYSIS, MANUFACTURING METHOD OF MICRO-TAS, AND THE MICRO-TAS例文帳に追加

表面増強ラマン分光分析用基板の作成方法、マイクロＴＡＳの製造方法、及び、マイクロＴＡＳ - 特許庁

To provide a surface analysis pretreatment method which enables surface analysis pretreatments on specific minute defects present in glass highly reliably and easily to be performed.例文帳に追加

ガラスの内部に存在する特定の微小欠陥の表面分析前処理を、確度が高く、かつ容易に実施できる表面分析前処理方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and apparatus for treating a sample for surface analysis by applying treatment to the sample for surface analysis, before analyzing the surface of the sample, to remove carbon compounds remaining on the surface of the sample.例文帳に追加

表面分析用試料を表面分析する前に処理を加え、表面に残留する炭素化合物を除去することにより、表面分析用試料の処理方法および処理装置を提供する。 - 特許庁

LIQUID SAMPLE CELL, UPPER SURFACE IRRADIATION TYPE X-RAY ANALYSIS METHOD USING IT, AND APPARATUS THEREFOR例文帳に追加

液体試料セルおよびこれを用いた上面照射型Ｘ線分析方法および装置 - 特許庁

To provide a system and a method for a solid oxide fuel cell (SOFC) surface analysis.例文帳に追加

固体酸化物燃料電池（ＳＯＦＣ）表面の分析用のシステム及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for spark discharge atomic emission spectrometric analysis for maximizing a measurement region as an analysis point configured on a surface of a sample, implementing a component analysis of a sample according to a multiple-analysis logic, and improving the accuracy of the component analysis and a speed of an analysis process.例文帳に追加

本発明は、試料面上に設定される分析点である測定領域の最大化を図り、多回分析ロジックに従った試料の成分分析を行い、成分分析の高精度化、分析処理の高速化を実現したスパーク放電発光分光分析方法に関する。 - 特許庁

To provide a mounted type lens for reverse surface analysis of a semiconductor device, and a reverse surface analysis method such that a substrate integrated type SIL formed on a reverse surface of a semiconductor substrate can be made large in effective radius.例文帳に追加

半導体基板裏面に形成された基板一体型ＳＩＬの実効半径を大きくすることが可能な裏面解析用搭載型レンズ又は裏面解析方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a tire analysis system and a tire analysis method for measuring change in the surface distortion of a tire using an inexpensive imaging apparatus.例文帳に追加

安価な撮像装置を用いてタイヤ表面歪みの変化を測定できるタイヤ解析システムおよびタイヤ解析方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a glow discharge emission spectroscopic analysis device and an analysis method which can easily and accurately analyze the inner surface of a cylindrical sample.例文帳に追加

円筒形試料の内面の分析を簡単かつ正確に行えるグロー放電発光分光分析装置および分析方法を提供する。 - 特許庁

DEVICE SENSITIVITY EVALUATION METHOD OF SURFACE PLASMON RESONANCE MEASURING DEVICE, AND PERFORMANCE EVALUATION METHOD OF FLOW CELL FOR SAMPLE ANALYSIS例文帳に追加

表面プラズモン共鳴測定装置の装置感度評価方法及びその試料分析用フローセルの性能評価方法 - 特許庁

To provide a surface analysis method and a surface analysis apparatus capable of detecting components of a surface to be measured based on the intensity of the reflected light from the surface to be measured with high accuracy, though using small computational complexity.例文帳に追加

被測定面からの反射光の強度に基づいて同被測定表面の成分を少ない演算量でありながら高い精度で検出できるようにする表面分析方法、及び表面分析装置を提供する。 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR PERFORMING COLOR ANALYSIS OF TONER IMAGE ON IMAGE SUPPORT SURFACE USING SPECTROPHOTOMETER例文帳に追加

分光光度計によって画像支持面上のトナー画像のカラー解析を行うためのシステム及び方法 - 特許庁