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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > surface analysis methodに関連した英語例文

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surface analysis methodの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 269



例文

To provide a surface analysis method, for detecting even an adhering substance which adheres to the surface of an analysis object sample nonuniformly or in a trace amount, and thereby cannot be detected conventionally, because the adhering substance is lower than the lowest limit to be detected.例文帳に追加

本発明は、分析対象試料表面に不均一もしくは微量な状態で付着し、従来、検出下限以下で検出できなかったような付着物質であっても、検出可能とする表面分析方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a surface plasmon resonance fluorescence analyzer and surface plasmon resonance fluorescence analysis method capable of restricting dispersion in degrees of birefringence for each prism from giving influence to a measurement result, and also attaining reduction in analysis time and device size.例文帳に追加

プリズム毎の複屈折の度合いのばらつきの測定結果への影響を抑制すると共に、分析時間の短縮及び装置の小型化を図ることができる表面プラズモン共鳴蛍光分析装置、及び表面プラズモン共鳴蛍光分析方法を提供する。 - 特許庁

In the measuring process, using a glow discharge light emission analysis method, concentration distribution of a component element in the depth direction from the surface of the sample S is measured.例文帳に追加

測定工程では、グロー放電発光分析法を用いて、試料Sの表面からの深さ方向における成分元素の濃度分布を測定する。 - 特許庁

To provide an inspection device which requires only a little time for analysis and is capable of efficiently inspecting a wide-range structure surface, and an inspection method using the same.例文帳に追加

分析に要する時間がわずかで、効率的に広範囲の構造物表面の検査が可能な検査装置及びそれを用いた検査方法を提供する。 - 特許庁

例文

The inclusion 3 can be analyzed by manufacturing the sample 1 for analysis by the manufacturing method, cutting it, and observing the cut surface by a microscope.例文帳に追加

本発明の製造方法により分析用サンプル(1)を製造し、切断し、切断面を顕微鏡により観察することにより、介在物(3)を分析できる。 - 特許庁


例文

To provide an inspection device which allows for efficient inspection over a wide range of structure surface in a short analysis time, and an inspection method using the same.例文帳に追加

分析に要する時間がわずかで、効率的に広範囲の構造物表面の検査が可能な検査装置及びそれを用いた検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a model geometry analysis method for accurately finding a curvature of a surface element even if the number of elements for a shell model is low.例文帳に追加

シェルモデルの要素数が少ない場合でも、面要素の曲率を正確に求めることを可能としたモデル形状の分析方法を提供する。 - 特許庁

To enhance the running stability of a vehicle by presuming accurately the road surface friction coefficient in precision in a short time without using a method of frequency analysis.例文帳に追加

周波数解析の手法を用いることなく、正確にかつ短時間で路面摩擦係数を精度良く推定して、車両の走行安全性を向上させる。 - 特許庁

To provide a structure analysis method of a film containing Ga, As, and at least, one type of element being different from Ga and As, and that of its surface oxide film.例文帳に追加

GaとAsと少なくとも1種類の、GaおよびAsとは異なる元素とを含む膜およびその表面酸化膜の構造解析方法。 - 特許庁

例文

To provide an analysis method for closely observing adsorption/desorption properties of an adsorptive compound contained in a liquid onto a metal surface.例文帳に追加

液体中に含まれる吸着性化合物の金属表面に対する吸着・脱離特性を詳細に観察できる分析方法を提供する。 - 特許庁

例文

The simulation method and program are suitably used, for example, in analysis of a gas reaction of catalyst on a crystal surface by molecular dynamics.例文帳に追加

本シミュレーション方法及びプログラムは、例えば触媒などの結晶表面上のガス反応を分子動力学法で解析する際に好適に利用される。 - 特許庁

To provide a three-dimensional collision analysis method that, in conducting the numerical analysis of the high velocity collision phenomenon of a deformed body using a computer, can accurately grasp the shock wave passing through a contact surface to prevent the occurrence of numerical instability on the contact surface, so that the shape of the contact surface can be correctly obtained.例文帳に追加

変形物体の高速衝突現象をコンピュータにより数値解析する際、接触面を通過する衝撃波を精度よく捉えて接触面での数値不安定性の発生を防ぎ、接触面の形状を正しく求めることができる3次元動的衝突解析方法を提供する。 - 特許庁

Ozone gas treatment or ozone gas treatment and irradiation with ultraviolet rays are conducted in a treatment vessel, so as to prevent the contact of the surface of the sample with the atmosphere, and the cleaned state of the surface of the sample is evaluated through a nondestructive surface analysis method.例文帳に追加

オゾンガス処理、あるいはオゾンガス処理と紫外線照射は、表面分析用試料の表面が大気に触れないように、処理容器の中で行い、非破壊表面分析法により表面の清浄化の状態を評価する。 - 特許庁

According to the road surface roughness detection method, the road surface roughness can be detected based on the detection signal of the acceleration sensor 22 even when the frequency analysis (FFT) or the like is not performed.例文帳に追加

このような路面粗さの検出方法によれば、周波数分析(FFT)などを行わなくても、加速度センサ22の検出信号に基づいて路面粗さを検出することが可能となる。 - 特許庁

A plurality of extraction algorithms A-D different in the number of analysis parts set on an analysis surface of a sample, an initial position, an avoiding method when a defective part is present, and the like are previously stored in an extraction information storage part 22.例文帳に追加

試料の分析面上に設定する分析個所の数、初期的な位置、欠陥部が存在した場合の回避方法などが相違する複数の抽出アルゴリズムA〜Dを抽出情報記憶部22に記憶させておく。 - 特許庁

On a mesh generation method, which generates the polygon mesh for CAE analysis using a surface model that is created by CAD and describes surface form of a certain material with plural surfaces, a computer 1 generates point group data, which is distributed all over the surface, according to the surface model.例文帳に追加

CADにより作成され、ある部材の表面形状を複数のサーフェスで表現したサーフェスモデルを用いて、CAE解析用のポリゴンメッシュの生成するメッシュ生成方法において、コンピュータ1は、サーフェスモデルに基づいて、サーフェス上に点群が全体的に分布した点群データを生成する。 - 特許庁

To provide an analysis device operating a finite element method polar coordinate system wave propagation code calculating a surface acoustic wave propagation characteristic of an anisotropic single crystal so as to provide a spherical surface acoustic wave element and a spherical optical surface wave element.例文帳に追加

球状弾性表面波素子および球状光表面波素子の実現の為に、異方性単結晶の弾性表面波伝搬特性を計算する有限要素法極座標系波動伝搬コードを動作させる解析装置を提供する。 - 特許庁

To provide a biochemical substance detection method using surface enhanced Raman scattering for detecting presence or content of a biochemical substance contained in an analysis object.例文帳に追加

分析対象が含む生化学物質の存在または含量を検出するための表面増強ラマン散乱を利用した生化学物質検出方法を提供する - 特許庁

The method of manufacturing the micro array of the DNA analysis using the thickener is also effective in the case the probe molecule is fixed to the surface of the solid phase carrier by electrostatic coupling.例文帳に追加

なお、この増粘剤を用いるDNA分析用マイクロアレイの製法は、プローブ分子が固相担体表面に静電結合で固定される場合でも有効である。 - 特許庁

To ensure an analysis with high precision even in the case of a sample having a region low in flatness on an analyzing surface in an analyzing method accompanied by the incidence of a beam such as an X-ray reflectivity method or the like.例文帳に追加

X線反射率法等のビーム入射を伴う分析方法において、分析面に平坦度の低い領域を有する試料の場合でも、高精度で分析ができるようにする。 - 特許庁

A manufacturing method of the array, and also a method for almost simultaneously spotting many material prints which are the same or not the same on the surface of the substrate by using the array 1 are provided in order to perform analysis are provided.例文帳に追加

アレイの作製方法、および解析を行うために、同一または同一ではない多数の材料プリントをアレイ1を用いて基板の表面にほぼ同時にスポットする方法も提供する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a solid substrate for inhibiting a nonspecific adsorption, in particular a method for manufacturing a sensor substrate used for a surface plasmon resonance analysis and controlling the nonspecific adsorption.例文帳に追加

非特異吸着を抑制した固体基板の製造方法、特に、非特異吸着を制御した表面プラズモン共鳴分析などに使用するセンサー用基板の製造方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method of determining surface tension by observing the interface shape of a small amount of liquid placed on a solid sample that vibrates vertically and comparing the observed surface tension with surface tension calculated by numerical analysis, and to provide a measuring apparatus.例文帳に追加

上下振動をする固体試料上に設置した小量の液体の界面形状を観測し、数値解析により求められる界面形状との比較により表面張力を決定する方法と測定装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

In a metal contamination analysis method of the silicon wafer with the oxide film, the oxide film on the silicon wafer surface is etched and removed by the method, and scanning is performed with a solution along the silicon wafer surface after removal of the oxide film, and then a metal component in the solution is analyzed.例文帳に追加

上記方法によりシリコンウェーハ表面の酸化膜をエッチングにより除去し、酸化膜除去後のシリコンウェーハ表面に溶液を走査させた後、該溶液中の金属成分を分析することを含む酸化膜付きシリコンウェーハの金属汚染分析方法。 - 特許庁

To provide an elemental analysis method by which a metal impurity element present locally on the surface of or inside a semiconductor substrate and the like can be detected and quantified in a practically feasible period of time, and to provide a manufacturing method of a semiconductor device which is implemented on an inline basis.例文帳に追加

半導体基板等の表面または内部において局所的に存在する金属不純物元素を現実的な時間内で検出、定量可能な元素分析方法を提供する。 - 特許庁

In this analyzing method and device, (2) chemical liquid is supplied in a form to surround a location on the surface to be analyzed at which the chemical liquid is to be collected after dissolution, and the chemical liquid after dissolution is collected at one location on the surface to be analyzed for analysis.例文帳に追加

溶解後の薬液を集めるべき被分析面上の個所を囲う形態で薬液供給を行って、溶解後の薬液を被分析面上の1個所に集めて分析を行う分析方法及び同装置。 - 特許庁

Since the hair shafts projecting from the skin surface are used as a specimen of the gene expression analysis, the hair condition evaluation method of the invention is noninvasive and becomes easily implementable.例文帳に追加

皮表に出た毛幹を遺伝子発現解析の試料として用いることから、本発明の毛髪状態評価法は非侵襲的であり且つ容易に実施可能なものとなる。 - 特許庁

To provide an efficient and highly accurate quantitative analysis method to a mixed liquid of nitric acid, phosphoric acid, and acetic acid and a mixed liquid containing an additive such as a surface active agent.例文帳に追加

硝酸とリン酸と酢酸とから成る混酸液や更に界面活性剤などの添加剤を含む混酸液に対する、効率的で且つ精度の高い定量分析方法を提供する。 - 特許庁

To provide a surface plasmon resonance sensor chip which enables analysis with high accuracy and produce various kinds of chip having a high degree of freedom for chip design, and a manufacturing method of a stamper.例文帳に追加

精度の高い分析ができ、かつチップ設計の自由度が高く様々な種類のチップが作製可能な表面プラズモン共鳴センサチップ及びそのスタンパの製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide an erythrocyte surface potential measuring method by electrophoretic analysis and a device therefor, capable of analyzing erythrocyte reversing a potential caused by aggregation onset on a blood cell membrane.例文帳に追加

血球膜において凝集発症に起因する電位を逆転させる赤血球を解析する電気泳動解析による赤血球表面電位測定方法及びその装置を提供する。 - 特許庁

To reduce electron rays to an embedding material in a surface analysis method by an EPMA(electronic probe microanalyzer) for a sample embedding material consisting of a sample that is embedded by the embedding material.例文帳に追加

包埋材に包埋された試料からなる試料包埋体に対するEPMAによる面分析法において、包埋材への電子線照射をできるだけ低減できるようにする。 - 特許庁

A surface analysis method of an insulation material with an atomic force microscope includes performing AFM measurement by suppressing charging of the insulation material due to static electricity under high humidity environment.例文帳に追加

高湿度環境下で絶縁材料の静電気による帯電を抑制してAFM測定を行う原子間力顕微鏡による絶縁材料の表面分析方法である。 - 特許庁

In a method for analyzing the surface layer of the silicon wafer, the analyzing surface of the silicon wafer is made close to and face the liquid surface of the silicon solution made of a mixed liquid of fluorine and nitric acid under normal temperatures so as to etch the surface layer section of the silicon wafer, and the etching liquid is collected for analysis.例文帳に追加

シリコンウェーハの分析面を、フッ酸と硝酸の混合液からなるシリコン溶解液の液面に、常温下で近接させて対面させることによってシリコンウェーハの表層部をエッチングし、そのエッチング液を回収して分析することを特徴とするシリコンウェーハの表層分析方法である。 - 特許庁

To provide a micro detecting coil form for NMR spectral method including micro porous carrier material, having a first surface and a second surface positioned opposite to each other, a manufacturing method for the detecting coil form, and the use of the detecting coil form in NMR total analysis system for performing NMR spectrum analysis for liquid-phase compound.例文帳に追加

本発明は、正反対に位置する第1表面および第2表面を有するマクロ多孔質キャリア材料を含む、NMR分光法のための微小化検出コイル巻型、当該検出コイル巻型の製造方法、および液相の化合物をNMR分光分析するためのNMR全分析システムにおける該検出コイル巻型の使用に関するものである。 - 特許庁

Analysis for a solution is carried out using an inductively coupled plasma mass spectrograph in an evaluating method for evaluating water quality comprising a process for bringing the substrate into contact with evaluated water, a process for dissolving thereafter a surface of the substrate with the solution, and a process for recovering the solution to conduct analysis.例文帳に追加

基板を被評価水に接触させる工程、次いで該基板の表面を溶解液で溶解する工程、次いで上記溶解液を回収し、分析する工程からなる水質の評価方法において、溶解液の分析を誘導結合プラズマ質量分析装置で行う。 - 特許庁

To provide a glow discharge emission spectrophotometer and a method capable of accurate analysis, even when the thickness of a thin film is extremely thin relative to the sample having the thin film on a substrate, where the surface of the substrate or the thin film has a mirror-surface shape.例文帳に追加

基板の上に薄膜を有し、かつ基板や薄膜の表面が鏡面状の試料について、薄膜の厚さが極めて薄い場合であっても、正確に分析ができるグロー放電発光分光分析装置および方法を提供する。 - 特許庁

Then, a boundary surface in the analysis region Ω is divided into surface elements having a size according to a target frequency, and the boundary integral equation is solved by using a discretization method to calculate speed potential distribution on the boundary.例文帳に追加

次に、解析領域Ω内の境界面を、対象とする周波数に応じた大きさの面要素に分割して、離散化手法を用いて前記境界積分方程式を解くことにより境界上の速度ポテンシャル分布を算定する。 - 特許庁

To provide an analysis method for determining the amount of functional groups existing on the surface of carbon black, especially carboxyl groups, lactone groups and phenol hydroxyl groups with very low costs, great safety and ease depending on the aimed surface functional groups.例文帳に追加

カーボンブラックの表面上に存在する官能基、特に、カルボキシル基、ラクトン基、及びフェノール性水酸基の量を、その目的とする表面官能基に応じて極めて低コストで安全に、しかも簡単に定量する分析方法に関する。 - 特許庁

To provide a CAD system which remarkably improves the use value of a CG model or a CAD model and realizes efficient design/production processes, and a curved surface analysis device, a curved surface reproducing device, and a method and a program therefor.例文帳に追加

CGモデルあるいはCADモデルの利用価値を大幅に高めることができるとともに、設計・生産プロセスを効率化することができるCADシステム、曲面解析装置、曲面再生装置、その方法及びそのプログラムを提供する。 - 特許庁

In this method for diagnosing deterioration of concrete by irradiating the concrete surface with a near infrared ray and performing spectroscopic analysis of light reflected by the concrete surface, a deteriorated component is detected from a collected absorption spectrum by using a chemometrics procedure.例文帳に追加

コンクリート面に近赤外線を照射し、そのコンクリート面から反射される光を分光分析してコンクリートの劣化を診断する方法において、採取した吸収スペクトルをケモメトリックス手法を用いて劣化成分を検出するものである。 - 特許庁

The polysulfone-based microfiltration membrane containing polyvinylpyrrolidone has an abundance ratio of a nitrogen atom to a carbon atom (N/C) of 0.056 or higher measured by the ESCA (electron spectroscopy for chemical analysis) method in the surface.例文帳に追加

ESCA法で測定したポリビニルピロリドンを含有するポリスルホン系精密ろ過膜表面の窒素原子と炭素原子の存在比N/Cが0.056以上であるポリスルホン系精密ろ過膜。 - 特許庁

To provide an infrared microscopic FT-IR device and an analyzing method capable of performing qualitative/quantitative analysis, conveniently and accurately, on an organic material for the surface part of a high-density recording medium.例文帳に追加

高密度記録媒体の表面部の有機材料について定性・定量分析を簡便・的確に行うことができる赤外顕微・FT−IR装置及び分析方法を提供する。 - 特許庁

To provide a membrane structural analysis method and its apparatus for accurately analyzing a particle/vacancy size distribution and evaluating surface interface geometry, even if the absolute quantity of particles and vacancies is small.例文帳に追加

粒子・空孔の絶対量が少ないときであっても、高精度で粒子・空孔サイズ分布を解析し、かつ表面界面形状を評価する膜構造解析方法とその装置を提供すること。 - 特許庁

Constituents bound to the sensor array are directly determined by measuring the mass increase on the surface, and data analysis of the method is performed using neutral network or statistics based pattern recognition techniques.例文帳に追加

センサーアレイに結合した成分をその表面上の質量の増加を測定することによって直接決定し、データ解析を神経回路網または統計学に基づいたパターン認識法を用いて行う。 - 特許庁

For example, for a calculation method by the two analysis spaces shown in this Figure, an electromagnetic field on a conversion surface S calculated in an internal analysis space (IAS) 20 of a small cell size is temporarily stored and given to an external analysis space (EAS) 30 of a large cell size, and in addition, a far field is calculated.例文帳に追加

例えば、この図に示す二つの解析空間による計算法の場合、セルサイズの小さい内部解析空間20(Internal Analysis Space:IAS)で計算した変換面S上での電磁界を一時保存し、セルサイズの大きい外部解析空間30(External Analysis Space:EAS)に与え、さらに遠方界を計算する。 - 特許庁

The anchor layer comprises, for example, a resin compsn. wherein surface energy γL obtained from a contact angle by analysis due to a geometric mean method based on an expansion Fowkes formula is 35-45 mN/m and the dispersion component γd of surface energy is 33-40 mN/m.例文帳に追加

前記アンカー層は、例えば、接触角から拡張Fowkes式に基づく幾何平均法による解析で得た表面エネルギーγL=35〜45mN/m、表面エネルギーの分散成分γd=33〜40mN/mを示す樹脂組成物からなる。 - 特許庁

To provide a surface measurement apparatus that improves the accuracy of measurement and enables two-dimensional measurement in a sample surface of the refractive index and thickness of a transparent thin film formed on a substrate, deflection of the substrate, step of the film, or the like, by enabling an optical interference method and polarization analysis method in one apparatus.例文帳に追加

光干渉法と偏光解析法を1台の装置において可能にすることによって、基板上に形成した透明な薄膜の屈折率と膜厚や、基板のたわみや膜の段差などを試料面内で2次元的に測定できるようにするとともに、測定精度を向上させた表面測定装置を提供する。 - 特許庁

The method comprises the steps of forming a coated film by supplying chemicals for forming an insulating film on a wafer while the wafer is held and rotated, carrying out surface analysis in noncontact of the wafer formed with the coating film without carrying out movement and heat treatment, and removing the coating film by rotating while supplying a solvent on the wafer determined to be a failure by the surface analysis.例文帳に追加

ウェハを保持し、これを回転させながら、ウェハ上に絶縁膜を形成するための薬液を供給して、塗布膜を形成し、塗布膜が形成されたウェハについて、移動および加熱処理を行うことなく非接触で表面検査を行い、表面検査により不良と判断されたウェハ上に、溶媒を供給しながら回転させることにより、塗布膜を除去する。 - 特許庁

To provide a method of finding an accurate relationship among a leaked surface acoustic wave velocity, a chemical composition ratio and a linear expansion coefficient required for evaluating TiO_2-SiO_2 glass, by an ultrasonic device for material characteristic analysis.例文帳に追加

超音波材料特性解析装置によりTiO_2-SiO_2ガラスを評価するために必要となる漏洩弾性表面波速度と化学組成比や線膨張係数との間の正確な関係を求める方法を与える。 - 特許庁

例文

To provide an analysis method of particles for analyzing even extremely fine metal and organic-family impurity particles that are less than 2 μm and exist on the surface of an object to be analyzed such as a semiconductor wafer.例文帳に追加

半導体ウエーハ等の被分析物の表面に存在する2μm未満の極めて微小な金属や有機系不純物パーティクルであっても分析することができるパーティクルの分析方法を提供する。 - 特許庁




  
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