例文 (4件) |
test vector fileの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 4件
This method comprises forming only the change portion from the previous pattern vector into a file, paying attention to a test pattern used for a semiconductor test every pattern vector, to compress the test pattern file.例文帳に追加
半導体の試験に使用するテストパターンファイルをパターンベクタ毎に着目し、前のパターンベクタからの変更分のみをファイル化してテストパターンファイルの圧縮を行う。 - 特許庁
This device is provided with a compression means for forming only the change portion from the previous pattern, while paying attention to a test pattern file used for a semiconductor test every pattern vector, to compress the test pattern file, and a memory means for storing the test pattern file compressed by the compression means.例文帳に追加
また、半導体の試験に使用するテストパターンファイルをパターンベクタ毎に着目し、前のパターンベクタからの変更分のみをファイル化して上記テストパターンファイルの圧縮を行う圧縮手段と、該圧縮手段で圧縮されたテストパターンファイルを記憶する記憶手段とを備える。 - 特許庁
In a test vector formation support part 13, a test cycle time, a delay time of an input signal value and an expected value checking time are extracted from a pseudo peripheral circuit model, and a file for specifying extraction timing of test data is formed based thereon.例文帳に追加
テストベクタ作成支援部13において、疑似周辺回路モデルから、テストサイクル時間、入力信号値の遅延時間及び期待値照合時間を抽出しこれらをもとにテスト用データの抽出タイミングを指定するファイルを生成する。 - 特許庁
Log data at the performance of a manual operation are read from a log file 110, and continuous log data in which an input signal value and an output signal value are neither changed are identified, and integrated into one test vector.例文帳に追加
ログファイル110からマニュアル操作した際のログデータを読み込み、入力信号値と出力信号値とが共に変化していない連続したログデータを識別して1個のテストベクタに統合する。 - 特許庁
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