「testing method」に関連した英語例文の一覧と使い方(56ページ目) - Weblio英語例文検索

SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS AND SEMICONDUCTOR TEST METHOD USING THE SAME例文帳に追加

半導体試験装置およびこれを用いた半導体試験方法 - 特許庁

ROLLER USED FOR BRAKE/SPEED TESTING MACHINE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

ブレーキ／速度テスト用試験機に使用するローラ及びその製造方法 - 特許庁

ARRAY TESTING DEVICE, METHOD OF MEASURING SUBSTRATE ONE LOCATION POSITION OF THE ARRAY TESTING DEVICE, AND METHOD OF MEASURING SPECIFIC POSITION COORDINATE IMAGED BY CAMERA ASSEMBLY例文帳に追加

アレイテスト装置と、該アレイテスト装置の基板一地点位置測定方法と、カメラアセンブリーに撮像された特定位置座標測定方法 - 特許庁

CULTURE MEDIUM, TOOL AND METHOD FOR TESTING MICROORGANISM例文帳に追加

微生物検査用培地、微生物検査具および微生物数検査方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体試験装置及び半導体集積回路の試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体試験装置および半導体集積回路の試験方法 - 特許庁

EXTERNAL TEST CIRCUIT FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

半導体集積回路の外付けテスト回路及びそのテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路、及び半導体集積回路のテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE, AND DATA PROCESSING SYSTEM例文帳に追加

半導体装置、半導体装置の試験方法、及びデータ処理システム。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路および半導体集積回路のテスト方法 - 特許庁

IC TESTING APPARATUS AND TIMING ADJUSTING METHOD FOR OUTPUT SIGNAL THEREFROM例文帳に追加

ＩＣ試験装置及びその出力信号のタイミング調整方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, SEMICONDUCTOR PACKAGE, AND METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置、半導体パッケージ及び半導体装置の試験方法 - 特許庁

TEMPERATURE DETECTION CIRCUIT, ITS TESTING METHOD, AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

温度検出回路およびその試験方法、並びに半導体装置 - 特許庁

METHOD OF TESTING CORRELATION BETWEEN SOCKETS OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TESTER例文帳に追加

半導体集積回路試験装置のソケット間相関試験方法 - 特許庁

EVENT TYPE SEMICONDUCTOR TEST DEVICE AND EVENT TYPE SEMICONDUCTOR TESTING METHOD例文帳に追加

イベント型半導体テスト装置およびイベント型半導体テスト方法 - 特許庁

To provide a method for testing a steroid responsiveness.例文帳に追加

本発明は、ステロイド応答性の検査方法の提供を課題とする。 - 特許庁

METHOD FOR TESTING ADHESION STRENGTH OF LOCK BOLT AND GROUT AND TEST PIECE THEREOF例文帳に追加

ロックボルトとグラウトの付着強度試験方法およびその供試体 - 特許庁

SEMICONDUCTOR LASER MODULE TESTING APPARATUS AND METHOD THEREFOR例文帳に追加

半導体レーザモジュール試験装置および半導体レーザモジュール試験方法 - 特許庁

CLEANING METHOD, CLEANING PLATE, AND SEMICONDUCTOR WAFER TESTING APPARATUS例文帳に追加

クリーニング方法及びクリーニングプレート並びに半導体ウエハ試験装置 - 特許庁

NONDESTRUCTIVE TESTING METHOD OF CORROSION DEGREE OF REBAR IN CONCRETE STRUCTURE例文帳に追加

コンクリート構造物内の鉄筋腐食程度の非破壊検査方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, SEMICONDUCTOR DEVICE MODULE AND TESTING METHOD OF THEM例文帳に追加

半導体装置、半導体装置モジュールおよびこれらの試験方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING CARBON TETRACHLORIDE-LIKE TOXICITY THAT CHEMICAL SUBSTANCE HAS例文帳に追加

化学物質が有する四塩化炭素様の毒性の検定方法 - 特許庁

COMPOSITE SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND ITS CONNECTION TESTING METHOD例文帳に追加

複合半導体集積回路装置、及びその接続試験方法 - 特許庁

THIN FILM ADHESIVE STRENGTH MEASURING METHOD USING MICROSCRATCH TESTING MACHINE例文帳に追加

マイクロスクラッチ試験機を使用した薄膜付着強度測定方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING CROSSOVER VOLTAGE OF DEFERENTIAL SIGNAL例文帳に追加

差分信号の交差電圧をテストするための装置及びその方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR MEASURING HUMIDITY DISTRIBUTION, AND ENVIRONMENT TESTING DEVICE例文帳に追加

湿度分布の測定方法、測定装置及び環境試験装置 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR GRASPING EXTREMELY FINE FIBER AND EXTREMELY FINE FIBER TESTING EQUIPMENT例文帳に追加

極細繊維把持装置、把持方法および極細繊維試験装置 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF SPECIMEN FOR ORGANISM-RELATED SUBSTANCE, AND TESTING DEVICE例文帳に追加

生体関連物質用試験片の製造方法、及び試験装置 - 特許庁

NONVOLATILE MEMORY DEVICE EQUIPPED WITH BUFFER FOR TEST AND TESTING METHOD THEREOF例文帳に追加

テスト用バッファを備えた不揮発性メモリ装置及びそのテスト方法 - 特許庁

METHOD FOR MANAGING MEMORY RESOURCE IN DATA NETWORK TESTING DEVICE例文帳に追加

データ・ネットワーク試験装置におけるメモリ資源を管理するための方法 - 特許庁

ELECTROOPTICAL APPARATUS, TESTING METHOD AND DRIVING DEVICE FOR THE SAME AND ELECTRONIC APPARATUS例文帳に追加

電気光学装置、その駆動方法、駆動装置および電子機器 - 特許庁

METHOD OF EVALUATING AND TESTING ABRASION RESISTANCE OF SPECTACLE LENS AND APPARATUS FOR THE SAME例文帳に追加

眼鏡レンズの耐擦傷性評価試験方法およびその装置 - 特許庁

STEEL PIPE FOR OIL WELL HAVING EXCELLENT COLLAPSE STRENGTH, AND TESTING METHOD THEREOF例文帳に追加

コラプス強度に優れた油井用鋼管およびその判断方法 - 特許庁

NON-POLYVINYL CHLORIDE DECORATIVE SHEET GOOD IN LAPPING APTITUDE AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

ラッピング適性良好な非塩ビ化粧シート及びその試験方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR HOLDING EXTREMELY FINE FIBER, AND EXTREMELY FINE FIBER TESTING APPARATUS例文帳に追加

極細繊維把持装置、把持方法および極細繊維試験装置 - 特許庁

METHOD FOR EVALUATING SCUFFING PROPERTY OF PRESS DIE, AND ITS TESTING APPARATUS例文帳に追加

プレス金型の型かじり性評価方法およびその試験装置 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING ELECTRIC TRACE WITH USE OF PHOTOELECTRIC EFFECT例文帳に追加

光電効果を用いて電気トレースをテストする装置および方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED DEVICE AND METHOD OF TESTING THE SAME例文帳に追加

半導体集積装置及び半導体集積装置のテスト方法 - 特許庁

RECORDING AND REPRODUCING HEAD TESTING METHOD, ITS DEVICE AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

記録再生ヘッド検査方法及びその装置並びに記録媒体 - 特許庁

To provide a testing system and testing method which is capable of testing with a constant accuracy regardless of its process capabilities, and also to provide a method of manufacturing an electronic device using these.例文帳に追加

プロセスの能力に関わらず，ある一定の精度を保った状態で検査可能な検査システム，検査方法，及びこれらを用いた電子装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a device for testing a semiconductor integrated circuit (IC) capable of testing the IC simply and quickly without developing a specific outer testing device for testing a digital circuit of the IC, and to provide a method of manufacturing the IC using the testing device.例文帳に追加

半導体集積回路のディジタル回路の試験を、特別な外部試験機を開発することなしに、簡単に、しかも迅速に実行できる半導体集積回路の試験装置と、それを使用する半導体集積回路の製造方法を提案する。 - 特許庁

WOUND MORBID STATE TESTING METHOD AND METHOD OF CONFIRMING CURING EFFECT OF WOUND REMEDY例文帳に追加

創傷の病態の検査方法および創傷治療剤の治療効果の確認方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, ITS BURN-IN TESTING METHOD, ITS MANUFACTURING METHOD, BURN-IN TEST CONTROL CIRCUIT例文帳に追加

半導体装置及びそのバーンインテスト方法、製造方法並びにバーンインテスト制御回路 - 特許庁

CUTTING PROPERTY EVALUATION METHOD, LIFETIME EVALUATION METHOD OF ROTARY BLADE, AND CUTTING PROPERTY TESTING MACHINE例文帳に追加

切断性評価方法及び回転刃の寿命評価方法並びに切断性試験機 - 特許庁

METHOD OF TESTING INSULATION PROPERTY OF WAFER-LEVEL CSP, AND TEG PATTERN USED IN THE METHOD例文帳に追加

ウエハレベルＣＳＰにおける絶縁性テスト方法及びこれに用いるＴＥＧパターン - 特許庁