「testing method」に関連した英語例文の一覧と使い方(59ページ目) - Weblio英語例文検索

PRODUCING METHOD AND MACHINE FOR TEST DATA, AND WIRING TESTING MACHINE例文帳に追加

検査データの作製方法及び検査データ作製機並びに布線検査機 - 特許庁

MOUNTING METHOD OF TERMINAL FITTING FOR FRETTING CORROSION TESTING EQUIPMENT AND FIXING TOOL例文帳に追加

フレッチング腐食試験装置の端子金具の取り付け方法と固定具 - 特許庁

To provide a method and a packet receiver for testing a network.例文帳に追加

ネットワークを検査するための方法およびパケット受信器を提供する。 - 特許庁

MEDIUM TEST AUXILIARY DEVICE FOR NETWORK TERMINATING DEVICE AND MEDIUM TESTING METHOD例文帳に追加

網終端装置用媒体試験補助装置及び媒体試験方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING MECHANICAL ENDURANCE OF SURFACE OF OPTICAL DISK例文帳に追加

光ディスク表面の機械的耐久性検査装置及び検査方法 - 特許庁

To provide a method for testing graphics cards.例文帳に追加

本発明はグラフィックスカードのテスト方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING LUBRICATION PROPERTY OF EMULSION ROLLING OIL例文帳に追加

エマルション圧延油の潤滑性試験装置および潤滑性試験方法 - 特許庁

TESTING SOCKET, TEST METHOD USING THE SAME AND MEMBER TO BE TESTED例文帳に追加

テスト用ソケット、このテスト用ソケットを用いたテスト方法、及び被テスト部材 - 特許庁

TIMING CALIBRATION CIRCUIT AND TIMING CALIBRATION METHOD OF SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体試験装置のタイミング校正回路及びタイミング校正方法 - 特許庁

OSCILLOSCOPE TESTING METHOD, OSCILLOSCOPE TEST SYSTEM, PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

オシロ装置試験方法、オシロ装置試験システム、プログラム、および記録媒体 - 特許庁

METHOD OF TESTING OXIDATION RESISTANCE LIFE OF FIBER GLASS SEPARATOR FOR LEAD STORAGE BATTERY例文帳に追加

鉛蓄電池用ガラス繊維セパレータの耐酸化寿命試験方法 - 特許庁

TEST APPARATUS FOR TESTING VIBRATION CHARACTERISTIC OF TIRE AND TEST METHOD USING THE TEST APPARATUS例文帳に追加

タイヤの振動特性の試験装置、及びそれを用いた試験方法 - 特許庁

TRANSFORMATION PLASTIC COEFFICIENT TESTING DEVICE AND TRANSFORMATION PLASTIC COEFFICIENT IDENTIFICATION METHOD例文帳に追加

変態塑性係数試験装置および変態塑性係数同定方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING SENSITVITY OF VITAMIN D PITHECOID TO ANTITUMOR ACTIVITY例文帳に追加

ビタミンＤ類縁体の抗腫瘍活性に対する感受性検査法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE例文帳に追加

半導体集積回路装置及び半導体記憶装置のテスト方法 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING CROSSMATCH TESTING CONTAINER WITH HUMAN ERYTHROCYTE SOLID-PHASED例文帳に追加

ヒト赤血球が固相化されたクロスマッチ試験用容器の製造方法 - 特許庁

ELECTRODE REACTION CHARACTERISTIC TESTING DEVICE AND ELECTRODE REACTION CHARACTERISTIC TEST METHOD例文帳に追加

電極反応特性試験装置及び電極反応特性試験方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR SHIELDING ELECTROMAGNETIC INTERFERENCE IN AUTOMATIC TESTING SYSTEM例文帳に追加

自動試験システム内において電磁干渉シールドする方法及び装置 - 特許庁

ATS GROUND EQUIPMENT AND METHOD FOR TESTING PERFORMANCE OF ATS GROUND EQUIPMENT例文帳に追加

ＡＴＳ地上装置、及びＡＴＳ地上装置の性能試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TEST CIRCUIT, SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE, AND SEMICONDUCTOR TESTING METHOD例文帳に追加

半導体試験回路、半導体記憶装置および半導体試験方法 - 特許庁

NOISE-WAVEFORM-ACCOMPANIED DRIVER INPUT GENERATING METHOD FOR SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体試験装置のノイズ波形を伴うドライバ入力発生方法 - 特許庁

METHOD FOR PREPROCESSING SEMICONDUCTOR TEST PROGRAM AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体試験用プログラムの前処理方法および半導体試験装置 - 特許庁

PROCESS TREATING DEVICE FOR WIRE HARNESS, AND CONDUCTION TESTING METHOD OF WIRE HARNESS例文帳に追加

ワイヤーハーネス用工程処理装置及びワイヤーハーネスの導通検査方法 - 特許庁

TACKINESS TESTING DEVICE FOR PREPREG AND TACKINESS TEST METHOD OF PREPREG例文帳に追加

プリプレグの粘着性試験装置およびプリプレグの粘着性試験方法 - 特許庁

TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND THE SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路の検査方法および半導体集積回路 - 特許庁

This testing method utilizes an acoustic emission(AE) phenomenon.例文帳に追加

この試験法はアコースティック・エミッション（ＡＥ）現象を利用するものである。 - 特許庁

ONE-CHIP MICROCOMPUTER, AND OVERVOLTAGE IMPRESSION TESTING METHOD FOR ONE-CHIP MICROCOMPUTER例文帳に追加

ワンチップマイクロコンピュータ及びワンチップマイクロコンピュータの過電圧印加試験方法 - 特許庁

AIRTIGHTNESS TESTING METHOD OF HEAT EXCHANGER HAVING OIL COOLER BUILT IN RADIATOR TANK例文帳に追加

ラジエータタンク内にオイルクーラを内蔵した熱交換器の気密試験方法 - 特許庁

POWER LINE ARTIFICIAL GROUND FAULT TESTING SYSTEM AND METHOD例文帳に追加

配電線人工地絡試験装置および配電線人工地絡試験方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING SIGNAL, RECORDING MEDIUM, AND TESTING APPARATUS例文帳に追加

信号測定装置、信号測定方法、記録媒体、および試験装置 - 特許庁

EQUIPMENT AND METHOD FOR TESTING WIPING PERFORMANCE OF WIPER例文帳に追加

ワイパの払拭性能試験装置およびワイパの払拭性能試験方法 - 特許庁

INSPECTION TOOL AND METHOD FOR TESTING CHARGED STATE FOR LENS例文帳に追加

レンズ用帯電状態検査具及びレンズの帯電状態の検査方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING SHAPE FOR DIGITAL IMAGE READER例文帳に追加

デジタル画像読取装置用形状検査装置および形状検査方法 - 特許庁

To provide a microbiological testing chip, testing instrument and testing method to prevent the generation of stray light caused by the reflection of excitation light, thereby preventing the decrease in the received light quantity of fluorescent light.例文帳に追加

励起光の反射による迷光の発生を回避し、蛍光量の受光量の減少を回避する微生物検査チップ、検査装置、および検査方法。 - 特許庁

To provide a testing device for a D/A converter shortening a required time for a test even when the bits of the D/A converter are increased, and also to provide a testing method for the testing device.例文帳に追加

Ｄ／Ａコンバータが高ビット化しても、試験の所要時間を短縮することができるＤ／Ａコンバータの試験装置およびその試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a magnetic head slider testing device and a magnetic head slider testing method capable of efficiently and highly accurately positioning a row bar on a testing stage by a simple structure.例文帳に追加

効率よく、簡単な機構でかつ高い精度でロウバーを検査ステージに位置決めできる磁気ヘッドスライダ検査装置および磁気ヘッドスライダ検査方法を提供することにある。 - 特許庁

To provide a tire testing device and a tire testing method for testing uniformity upon generating a flat spot to a tire under environment close to that of an actual vehicle.例文帳に追加

実車に近い環境でフラットスポットをタイヤに生成した上でユニフォーミティの試験を行うことができるタイヤ試験装置およびタイヤ試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide an explosibility testing method for concrete of high strength capable of evaluating easily explosibility in a testing object of large actual scale, using a simple testing object.例文帳に追加

簡易な試験体を用いて、実大規模の試験体における爆裂性を容易に評価することが可能な、高強度コンクリートの爆裂性試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing system and a testing method, capable of testing a plurality of semiconductor devices stably in parallel, without causing the circuit size of the semiconductor devices to increase.例文帳に追加

半導体装置の回路規模を増大させることなく、複数の半導体装置を並行して安定に試験することが可能なテスト装置およびテスト方法を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE, SEMICONDUCTOR DEVICE CONSTITUTED TESTABLE USING THE METHOD, METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR MEMORY, AND THE SEMICONDUCTOR MEMORY CONSTITUTED TESTABLE USING THE METHOD例文帳に追加

半導体装置のテスト方法及び同方法を用いてテスト可能に構成した半導体装置、並びに半導体メモリのテスト方法及び同方法を用いてテスト可能に構成した半導体メモリ - 特許庁

CURRENT DETECTING METHOD FOR INVERTER, ITS CURRENT DETECTING CIRCUIT, ITS ABNORMALITY DETECTING METHOD, ABNORMALITY DETECTING CIRCUIT, DISPLAY DEVICE, INFORMATION PROCESSOR, TESTING METHOD, AND TESTING DEVICE例文帳に追加

インバータの電流検出方法、その電流検出回路、その異常検出方法、その異常検出回路、表示装置、情報処理装置、試験方法及び試験装置 - 特許庁

To provide a method of testing an A-D conversion circuit for testing a high-resolution (multi-bit) A-D conversion circuit in a short time and at low cost, and the A-D conversion circuit suitable for implementing the testing method.例文帳に追加

高分解能（多ビット）Ａ／Ｄ変換回路の試験を短時間且つ低コストで実現するＡ／Ｄ変換回路の試験方法、及びその試験方法の実施に適したＡ／Ｄ変換回路の提供。 - 特許庁

To provide a method for quickly testing the integrity of a porous material.例文帳に追加

迅速な多孔性材料の完全性試験の方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method and system for testing a prototype.例文帳に追加

プロトタイプの試験を行うための方法及びシステムを提供することである。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR CONTROLLING RECORDING ON OPTICAL RECORDING MEDIUM, AND APPARATUS FOR TESTING例文帳に追加

光記録媒体の記録制御方法、記録制御装置、及び検査装置 - 特許庁