「testing method」に関連した英語例文の一覧と使い方(58ページ目) - Weblio英語例文検索

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TESTING DEVICE AND METHOD FOR OPERATING TEST RESULT THEREOF例文帳に追加

半導体集積回路試験装置及びその試験結果操作方法 - 特許庁

TESTING METHOD AND DEVICE FOR ABSORPTION CHARACTERISTIC OF BODY FLUID ABSORBENT ARTICLE例文帳に追加

体液吸収性物品の吸収特性の試験方法および装置 - 特許庁

METHOD FOR TESTING HARDWARE CIRCUIT BLOCK DESCRIBED IN HARDWARE DESCRIPTION LANGUAGE例文帳に追加

ハードウエア記述言語が記述したハードウエア回路ブロックをテストする方法 - 特許庁

METHOD FOR AUTOMATICALLY CALIBRATING DETECTION LEVEL IN MEASURING PART OF SHUTTER TESTING MACHINE例文帳に追加

シャッタ試験機の測定部における検出レベルの自動校正方法 - 特許庁

IN-PLANE SHEARING TESTING METHOD FOR RUBBERY ELASTIC LAMINATE AND IN-PLANE SHEARING TEST EQUIPMENT例文帳に追加

ゴム状弾性積層体の面内剪断試験方法及びその装置 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR REDUNDANCY CALCULATION, AND MEMORY TESTING DEVICE例文帳に追加

リダンダンシ演算装置及びリダンダンシ演算方法並びにメモリ試験装置 - 特許庁

APPARATUS, SYSTEM AND METHOD FOR TESTING LIGHT BEAM PATH例文帳に追加

光線路試験装置、光線路試験システム及び光線路試験方法 - 特許庁

IN-SERVICE TESTING METHOD AND DETERMINATION DEVICE FOR DETERMINING EXISTENCE/ABSENCE OF TEST LIGHT CUTOFF FILTER例文帳に追加

インサービス試験方法および試験光遮断フィルタ有無判定装置 - 特許庁

METHOD FOR TESTING FUNCTION OF MEMORY CELL OF INTEGRATED MEMORY AND INTEGRATED MEMORY例文帳に追加

集積メモリのメモリセルの機能をテストする方法および集積メモリ - 特許庁

To provide a contact structure and method of burn-in testing after packaging.例文帳に追加

実装後のバーンイン試験の接触構造及び方法を提供する。 - 特許庁

RADIATION SOLID STATE DETECTOR AND METHOD FOR TESTING SAME例文帳に追加

放射線固体検出器および放射線固体検出器の試験方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT, INTEGRATED CIRCUIT AND INTEGRATED CIRCUIT TEST SYSTEM例文帳に追加

集積回路のテスト方法、集積回路および集積回路テストシステム - 特許庁

LIFETIME PREDICTION TEST METHOD OF POLYMER MEMBRANE, TESTING DEVICE, AND TEST PROGRAM例文帳に追加

高分子膜の寿命予測試験方法、試験装置および試験プログラム - 特許庁

METHOD, SYSTEM AND DEVICE FOR TESTING RADIO BASE STATION DEVICE例文帳に追加

無線基地局装置の試験方法および試験システム並びに試験装置 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING EXPANSION FATIGUE OF CLOTH例文帳に追加

布帛の伸縮疲労試験装置および布帛の伸縮疲労試験方法 - 特許庁

TEST PIECE FOR SENSITIVITY CALIBRATION OF ULTRASONIC TESTING, AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

超音波探傷試験の感度校正用試験片とその製造方法 - 特許庁

INTER-NODE TESTING METHOD FOR COMMUNICATION NETWORK AND NODE DEVICE USED THEREFOR例文帳に追加

通信ネットワークのノード間試験方法及びそれに用いるノード装置 - 特許庁

POSITION CORRECTING METHOD AND DEVICE, AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TESTING DEVICE例文帳に追加

位置補正方法及び装置並びに半導体集積回路試験装置 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING COMPONENT BUILT IN CIRCUIT BOARD例文帳に追加

回路基板に組み込まれた部品を検査するための装置及び方法 - 特許庁

PREPARATION METHOD AND PREPARATION SYSTEM FOR TESTING BOVINE SPONGIFORM ENCEPHALOPATHY例文帳に追加

牛海綿状脳症の検査前処理方法及び検査前処理システム - 特許庁

METHOD, APPARATUS AND PROBE FOR TESTING CIRCUIT BOARD例文帳に追加

回路基板検査方法およびその装置ならびに回路基板検査プローブ - 特許庁

FLUIDITY TESTING DEVICE FOR SEDIMENT, AND FLUIDITY TEST METHOD FOR SEDIMENT例文帳に追加

土砂の流動性試験装置および土砂の流動性試験方法 - 特許庁

DEVICE, PROGRAM, METHOD AND SYSTEM FOR TESTING SOFTWARE例文帳に追加

ソフトウェアテスト装置、ソフトウェアテストプログラム、ソフトウェアテスト方法及びソフトウェアテストシステム - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND METHOD FOR DETECTING OFF CAPACITY ABNORMALITY OF RELAY例文帳に追加

半導体試験装置およびリレーのオフ容量異常検出方法 - 特許庁

COMPUTER SYSTEM AND PERIPHERAL DEVICE AND METHOD FOR TESTING PERIPHERAL DEVICE例文帳に追加

コンピュータシステムおよび周辺装置並びに周辺装置の試験方法 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR CALIBRATING AUTOMATIC CIRCUIT TESTING SYSTEM, AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加

自動回路試験システムを較正するシステム、方法、及びコンピュータプログラム - 特許庁

DEVICE FOR TESTING RULE FILE FOR LAYOUT VERIFICATION AND TEST METHOD AND TEST PROGRAM例文帳に追加

レイアウト検証用ルールファイルのテスト装置、テスト方法及びテストプログラム - 特許庁

SOLDER CREEP STRENGTH TESTING DEVICE AND SOLDER CREEP STRENGTH TEST METHOD例文帳に追加

はんだクリープ強度試験装置、およびはんだクリープ強度試験方法 - 特許庁

CHIP HOLDING MEANS FOR SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING UNIT AND TEST METHOD例文帳に追加

半導体デバイスの試験装置用のチップ保持手段及び試験方法 - 特許庁

To provide an improved method of developing and testing smart cards.例文帳に追加

スマートカードの開発及びテストを行う改良した技術を提供する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING OPTICAL SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

光半導体装置の試験方法および光半導体装置の試験装置 - 特許庁

SIGNAL GENERATOR, METHOD OF GENERATING SIGNAL, TESTING DEVICE, AND SEMICONDUCTOR CHIP例文帳に追加

信号発生器、信号発生方法、試験装置および半導体チップ - 特許庁

U LINK FOR COMMUNICATION LINE, MEASURING PLUG, AND COMMUNICATION LINE TESTING METHOD例文帳に追加

通信回線用Ｕリンク、測定プラグおよび通信回線試験方法 - 特許庁

To provide a test pulse generation method and a system for testing an electronic apparatus.例文帳に追加

電子装置試験用の試験パルス生成方法とシステムの提供。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING DRIVING SOURCE OUTPUT TRANSMISSION BODY FOR VEHICLE例文帳に追加

車両の駆動源出力伝達体の試験方法及び試験装置 - 特許庁

To provide an oscillator testing method and an oscillator that can test characteristics of a resonator itself of an actual machine.例文帳に追加

実機の共振器自体の特性を試験することができる。 - 特許庁

ULTRASONIC DIAGNOSING APPARATUS, AND METHOD FOR TESTING OPERATION OF ULTRASONIC PROBE例文帳に追加

超音波診断装置及び超音波探触子の動作の試験方法 - 特許庁

CONTROL-SYSTEM TESTING DEVICE AND METHOD FOR RENEWING FIELD EQUIPMENT USING THE SAME例文帳に追加

制御系試験装置、及び、これを用いたフィールド機器の更新方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING MEMORY FOR BINARIZATION CIRCUIT IN OCR DEVICE例文帳に追加

ＯＣＲ装置における２値化回路用メモリのテスト方法及び装置 - 特許庁

FATIGUE-TESTING APPARATUS AND METHOD OF RING FOR ENDLESS METAL BELT例文帳に追加

無端金属ベルト用リングの疲労試験装置および疲労試験方法 - 特許庁

To provide a method for testing the operation of an electronic unit by simulation.例文帳に追加

電子ユニットの動作をシミュレーションで試験する方法を提供する。 - 特許庁

TAB TAPE AND ELECTRIC-CHARACTERISTIC MEASURING AND TESTING METHOD THEREOF例文帳に追加

ＴＡＢテープおよびＴＡＢテープの電気的特性測定試験方法 - 特許庁

To provide a simple and comprehensive method for testing an LXR- binding ability.例文帳に追加

簡便でより網羅的なLXR結合能を試験する方法を見出すこと。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING GROUND LEAKAGE BREAKER BUILT IN ELECTRIC WORK DRUM例文帳に追加

電工ドラムに内蔵された漏電遮断器の試験方法および装置 - 特許庁

X-RAY INTERFERENCE MICROSCOPE AND METHOD FOR TESTING X-RAY REFLECTING MIRROR例文帳に追加

Ｘ線干渉顕微鏡およびＸ線反射鏡の検査方法 - 特許庁