「testing method」に関連した英語例文の一覧と使い方(61ページ目) - Weblio英語例文検索

METHOD FOR TESTING RELIABILITY IN SEMICONDUCTOR LIGHT-EMITTING ELEMENT FOR EXTERNAL RESONATOR-TYPE LASER例文帳に追加

外部共振器型レーザ用半導体発光素子の信頼性試験方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR SIMULTANEOUSLY TESTING SEMICONCUDOTR DEVICE OR SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加

半導体デバイスまたは半導体ウェハ一括のテスト装置及びテスト方法 - 特許庁

METHOD AND CIRCUIT FOR TESTING STABILIZED POWER SOURCE IN INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

集積回路中の安定化電源を試験するための方法および回路 - 特許庁

GAS COMPRESSOR, INTAKE PORT COVER, AND AIRTIGHTNESS TESTING METHOD FOR GAS COMPRESSOR例文帳に追加

気体圧縮機、吸入ポートカバー、および気体圧縮機の気密試験方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING MASTER LOGIC UNIT IN DATA PROCESSOR例文帳に追加

デ—タ処理装置内のマスタ—論理ユニットを試験するための装置および方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING SHORT CIRCUIT OF CONNECTING END IN SEMICONDUCTOR ELECTRONIC DEVICE例文帳に追加

半導体電子デバイスの接続端の短絡検査方法及びその装置 - 特許庁

TESTING STRUCTURE FOR INTERCONNECTION DEFECTS DETECTION AND INTERCONNECTION DEFECTS DETECTION METHOD例文帳に追加

配線不良検出用試験構造体及び配線不良検出方法 - 特許庁

FATIGUE TESTING DEVICE AND METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の疲労試験装置および半導体装置の疲労試験方法 - 特許庁

DIGITAL MODULATOR, DIGITAL MODULATING METHOD, DIGITAL TRANSCEIVER SYSTEM, AND TESTING APPARATUS例文帳に追加

デジタル変調器、デジタル変調方法、デジタル送受信システム、及び試験装置 - 特許庁

AUTOMATIC DISK CLAMPING METHOD FOR SPIN STAND FOR TESTING MAGNETIC HEAD AND DISK例文帳に追加

磁気ヘッド及びディスク試験用スピンスタンドのための自動化ディスククランピング方法 - 特許庁

DATA OUTPUT COMPRESSION CIRCUIT FOR TESTING CELL IN BANK AND ITS METHOD例文帳に追加

バンク内のセルをテストするためのデータ出力コンプレス回路及びその方法 - 特許庁

This testing method is performed by using the defoaming performance measuring device 100.例文帳に追加

本検査方法は、消泡性能測定装置１００を用いて行なう。 - 特許庁

SERIAL COMMUNICATION APPARATUS, TEST DEVICE THEREOF AND METHOD FOR TESTING SERIAL COMMUNICATION APPARATUS例文帳に追加

シリアル通信装置、その試験装置及びシリアル通信装置の試験方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE, TEST PROGRAM, AND SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE例文帳に追加

半導体記憶装置の試験方法、試験プログラム及び半導体記憶装置 - 特許庁

VERTICAL LOADING TESTING METHOD FOR GROUND FOR UTILIZING FOUNDATION OF EXISTING STRUCTURE例文帳に追加

既存構造物の基礎を利用するための地盤の鉛直載荷試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND TESTING METHOD FOR INPUT CHARACTERISTICS USING THE SAME例文帳に追加

半導体集積回路及びそれに用いる入力特性試験方法 - 特許庁

METHOD AND PROGRAM FOR TESTING RADIO COMMUNICATION QUALITY OF INFORMATION PROCESSOR例文帳に追加

情報処理装置の無線通信品質を試験する方法およびプログラム - 特許庁

POWER SOURCE UNIT AND DEVICE AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

電源ユニット、半導体デバイス試験装置、及び半導体デバイス試験方法 - 特許庁

JIG AND TOOL FOR TESTING SEMICONDUCTOR, SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM, AND SEMICONDUCTOR TEST METHOD例文帳に追加

半導体試験治工具、半導体試験システム、及び半導体試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR CRYSTAL DEFECT TESTING METHOD AND EQUIPMENT THEREOF, AND SEMICONDUCTOR DEVICE MANUFACTURING METHOD USING THE SEMICONDUCTOR CRYSTAL DEFECT TESTING EQUIPMENT例文帳に追加

半導体結晶欠陥検査方法、半導体結晶欠陥検査装置、及びその半導体結晶欠陥検査装置を用いた半導体装置の製造方法 - 特許庁

CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE, AND SEMICONDUCTOR CHIP例文帳に追加

半導体装置の試験用回路および試験方法並びに半導体チップ - 特許庁

METHOD FOR TESTING LOQUAT CANKER( A-STRAIN FUNGUS ) RESISTANCE USING DNA MARKER例文帳に追加

ＤＮＡマーカーを用いたビワがんしゅ病（Ａ系統菌）抵抗性検定法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, TESTING METHOD THEREOF AND PROBE CARD例文帳に追加

半導体集積回路、プローブカードおよび半導体集積回路の試験方法 - 特許庁

DDR-SDRAM INTERFACE CIRCUIT, AND ITS TESTING METHOD AND SYSTEM例文帳に追加

ＤＤＲ−ＳＤＲＡＭインターフェース回路、その試験方法、およびその試験システム - 特許庁

SUBSTRATE HOLDING DEVICE, SUBSTRATE PROCESSING APPARATUS, SUBSTRATE TESTING DEVICE, AND SUBSTRATE HOLDING METHOD例文帳に追加

基板保持装置，基板処理装置，基板検査装置及び基板保持方法 - 特許庁

COMBINED SYSTEM, METHOD AND APPARATUS FOR WIRE-BONDING AND TESTING例文帳に追加

ワイヤのボンディングおよびテスティングのための組合せ形システム、方法および装置 - 特許庁

METHOD FOR TESTING AGENT FOR TREATING OR PREVENTING OSTEOPOROSIS OR RHEUMATIC ARTHRITIS例文帳に追加

骨粗鬆症もしくは関節リウマチの治療または予防剤の試験方法 - 特許庁

CALIBRATION METHOD FOR MULTIPLE COMPONENT FORCE DETECTOR PROVIDED IN ROLLING RESISTANCE TESTING MACHINE例文帳に追加

転がり抵抗試験機に備えられた多分力検出器の校正方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR DETECTING CHANGE POINT OF MEASURED SIGNAL, AND TESTING DEVICE例文帳に追加

被測定信号の変化点を検出する装置、方法および試験装置 - 特許庁

METHOD FOR TESTING CONGENITAL EYE DISEASE COMPRISING DETECTING MUTATION OF WFDC1例文帳に追加

ＷＦＤＣ１の変異を検出する先天性眼疾患の検査方法 - 特許庁

CALIBRATION METHOD OF MULTI-COMPONENT FORCE MEASUREMENT SPINDLE UNIT USED FOR TIRE TESTING MACHINE例文帳に追加

タイヤ試験機に用いられる多分力計測スピンドルユニットの校正方法 - 特許庁

METHOD FOR CONFIRMING AND TESTING SEALING PLATE BREAKAGE OF PRESSURE POWDER FIRE EXTINGUISHER AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

加圧式粉末消火器の封板破れ確認試験方法とその装置 - 特許庁

To provide an ultrasonic testing method capable of further clearly detecting a defect part by noncontact reflection method, and an ultrasonic testing device used therefor.例文帳に追加

非接触反射法でより明確に欠陥部を検出することの可能な超音波試験方法及びこれに用いる超音波試験装置を提供すること。 - 特許庁

AUTOMATIC TESTING DEVICE, AUTOMATICALLY TESTING METHOD AND COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM WITH CONTROL PROGRAM FOR AUTOMATIC TEST RECORDED THEREON例文帳に追加

自動テスト装置、自動テスト方法及び自動テスト用制御プログラムが記録されたコンピュータにより読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

To realizes a device and method for testing a memory capable of shortening a testing time of a memory to be tested.例文帳に追加

被試験メモリの試験時間を短縮することができるメモリ試験装置及びメモリ試験方法を実現することを目的にする。 - 特許庁

TESTING EQUIPMENT FOR ONBOARD ATC DEVICE AND TESTING METHOD FOR CONTINUITY BETWEEN ONBOARD ANTENNA AND RECEIVING PART IN ON-BOARD ATC DEVICE例文帳に追加

ＡＴＣ車上装置の試験装置、及びＡＴＣ車上装置における車上アンテナと受信部間の導通試験方法 - 特許庁

To provide a testing device and testing method capable of detecting vibration detector with a simple structure.例文帳に追加

簡単な構成で振動検出器を検定することが可能な検定装置および検定方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide an acceleration testing device and an acceleration testing method of software for efficiently executing the acceleration test of the software.例文帳に追加

ソフトウェアの加速試験を効率的に実行することのできるソフトウェアの加速試験装置及び加速試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing method and a semiconductor test system where pin resources in a semiconductor testing apparatus can be efficiently used.例文帳に追加

半導体試験装置のピンリソースを効率的に使用できる半導体試験方法および半導体試験システムを提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device which can reduce the testing cost, and a method of testing the semiconductor memory device.例文帳に追加

試験コストを低減することが可能な半導体記憶装置および半導体記憶装置の試験方法を提供することである。 - 特許庁

To avoid a large current from flowing through a specific probe pin by a simple mechanism, relating to a testing device and a testing method.例文帳に追加

試験装置及び試験方法に関し、簡単な機構により特定のプローブピンに大電流が流れることを回避する。 - 特許庁

To provide a testing device and a testing method which are utilized for an accommodation of an electronic component having a pressurizing housing with a conductor.例文帳に追加

加圧ハウジングが導電体を有した電子コンポーネントの収容に利用される試験装置と試験方法とを提供すること。 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR SEMICONDUCTOR TESTING AS WELL AS COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM STORING SEMICONDUCTOR TESTING AND PROCESSING PROGRAM例文帳に追加

半導体テスト装置、半導体テスト方法、および半導体テスト処理プログラムを記憶したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

IMAGE PROCESSING DEVICE, INFORMATION PROCESSING DEVICE, SOFTWARE OPERATION TESTING METHOD, SOFTWARE OPERATION TESTING PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM TO WHICH THE PROGRAM IS RECORDED例文帳に追加

画像処理装置、情報処理装置、ソフトウェア動作テスト方法、ソフトウェア動作テストプログラム、及びそのプログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

DISTRIBUTION GOODNESS-OF-FIT TESTING DEVICE, CONSUMABLE ITEM SUPPLY TIMING DETERMINATION DEVICE, IMAGE FORMATION APPARATUS, DISTRIBUTION GOODNESS-OF-FIT TESTING METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

分布適合度検定装置、消耗品補給タイミング判定装置、画像形成装置、分布適合度検定方法及びプログラム - 特許庁