「testing method」に関連した英語例文の一覧と使い方(64ページ目) - Weblio英語例文検索

COMPOSITION, METHOD, AND KIT FOR DETERMINATION OF THE PRESENCE OF MYCOPLASMA GENITALIUM IN TESTING SAMPLE例文帳に追加

試験サンプル中のＭｙｃｏｐｌａｓｍａｇｅｎｉｔａｌｉｕｍの存在を決定するための組成物、方法およびキット - 特許庁

To provide a detection method for Waardenburg anophthalmia syndrome by the genetic testing.例文帳に追加

遺伝子検査によるWaardenburg無眼球症候群の検出方法を提供すること。 - 特許庁

TEST RESERVATION SYSTEM AND METHOD INCORPORATED WITH AUTOMATIC TESTING DATE DECISION FUNCTION例文帳に追加

検査日時自動決定機能組み込み検査予約システム及び検査予約方法 - 特許庁

VAPOR-LIQUID TWO-PHASE FLOW SIMULATION TESTING DEVICE, AND VAPOR-LIQUID TWO-PHASE FLOW SIMULATION TEST METHOD例文帳に追加

気液二相流模擬試験装置および気液二相流模擬試験方法 - 特許庁

OPTICAL PULSE TESTER EVENT DETECTION METHOD AND DEVICE AND OPTICAL PULSE TESTING DEVICE例文帳に追加

光パルス試験器イベント検出方法及び装置並びに光パルス試験装置 - 特許庁

Austrian physician who developed a rotational method for testing the middle ear (1876-1936) 例文帳に追加

オーストリアの医者（1876年−1936年）で、中耳を検査する回転法を発展させた - 日本語WordNet

FATIGUE STRENGTH TESTING DEVICE AND FATIGUE STRENGTH TEST METHOD FOR BRAKE PISTON MADE OF RESIN例文帳に追加

樹脂製ブレーキピストンの疲労強度試験装置および疲労強度試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, METHOD OF TESTING PROBE CARD AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路、プローブカード及び半導体集積回路の試験方法 - 特許庁

METHOD AND CONSTITUTION FOR TESTING EMBEDDED ANALOG AND MIXED SIGNAL CORE OF SYSTEM ON CHIP例文帳に追加

システムオンチップの埋込アナログ・混成信号コアの試験方法及び試験構成 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING APPARATUS AND METHOD FOR TIMING CALIBRATION OF THE SAME例文帳に追加

半導体デバイス試験装置のタイミング校正方法・半導体デバイス試験装置 - 特許庁

FAILURE POSITION JUDGING METHOD FOR ELEVATOR BROADCASTING CIRCUIT AND ITS OPERATION TESTING DEVICE例文帳に追加

エレベータ放送回路の故障箇所判定方法およびその動作試験装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING ELECTRONIC DEVICE HAVING SOURCE SYNCHRONIZING SIGNAL OUTPUT例文帳に追加

源同期信号出力を有する電子デバイスを試験する方法および装置 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING D/A CONVERTING PART AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

ＤＡ変換部の試験装置、試験方法、及び半導体集積回路装置 - 特許庁

ANALYTICAL METHOD FOR SCAN TEST CIRCUIT, TESTING APPARATUS AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED-CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

スキャンテスト回路の解析方法、テスト装置、および半導体集積回路装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

半導体集積回路装置及び半導体集積回路装置の試験方法 - 特許庁

SCAN TEST CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR DEVICE EQUIPPED WITH THE SAME AND SCAN TESTING METHOD THEREFOR例文帳に追加

スキャンテスト回路およびそれを備えた半導体装置ならびにスキャンテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE TESTING METHOD, TEST CONTROL DEVICE, AND SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE例文帳に追加

半導体記憶装置のテスト方法、テスト制御装置および半導体記憶装置 - 特許庁

LINEARIZATION METHOD OF VARIABLE DELAY CIRCUIT, TIMING GENERATOR AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

可変遅延回路の線形化方法、タイミング発生器及び半導体試験装置 - 特許庁

a method of bulk ordering in which everything from planning to testing is part of the custom order 例文帳に追加

プラント輸出において,設計から試運転まで括して受注する方式 - EDR日英対訳辞書

METAL FATIGUE TESTING MACHINE AND METHOD USING THE SAME例文帳に追加

金属疲労試験機及び該金属疲労試験機を用いた金属疲労試験方法 - 特許庁

COMMUNICATION TESTING DEVICE WITH VIRTUALIZED INPUT/OUTPUT COMMUNICATION PORT AND ITS METHOD例文帳に追加

仮想化した入出力通信ポートを具備する通信試験装置および方法 - 特許庁

METHOD, SYSTEM, AND COMPUTER-READABLE CODE FOR TESTING FLASH MEMORY例文帳に追加

フラッシュメモリをテストするための方法、システム、および、コンピュータで読み取り可能なコード - 特許庁

To provide a test method and a test device testing a flash memory in a short time.例文帳に追加

フラッシュメモリを短時間に試験する試験方法と、試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a system, a device, and a method for dynamically testing an integrated circuit.例文帳に追加

集積回路をダイナミックにテストするシステム，デバイス，および方法を提供する。 - 特許庁

LIQUID CRYSTAL DISPLAY, CONNECTOR AND METHOD OF TESTING THE LIQUID CRYSTAL DISPLAY例文帳に追加

液晶表示装置、液晶表示装置のテスト用コネクタ、およびそのテスト方法 - 特許庁

TESTING SYSTEM AND TEST METHOD FOR MOBILE COMMUNICATION SYSTEM例文帳に追加

移動体通信システムの試験システムおよび移動体通信システムの試験方法 - 特許庁

To provide a fatigue testing device and a method capable of being implemented stably.例文帳に追加

特に、安定して実施可能な疲労試験装置および方法を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus for automatically creating a control program and testing method plans that automatically creates testing method plans for testing whether an automatically created program meets actually required functional specifications.例文帳に追加

自動生成されたプログラムが実際に要求された機能仕様を満足しているか否かを試験するための試験方案を自動的に作成することができる制御プログラム及び試験方案自動作成装置を得る。 - 特許庁

To provide a telephone exchange testing device suitable for testing a telephone exchange function to be performed in response to an API, and to provide its method.例文帳に追加

ＡＰＩに従って行われる電話交換機能の試験に適した電話交換機試験装置およびその方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing gas passing through a governor, capable of testing the passing gas in a short period of time, when closing the governor.例文帳に追加

本発明は、整圧器閉切り時の越しガス検査を短時間で実施可能な整圧器の越しガス検査方法を提供することにある。 - 特許庁

To provide a battery testing device and a battery testing method capable of appropriately verifying behavior when a battery is broken.例文帳に追加

電池が破損した場合の振る舞いを適切に検証することが可能となる電池試験装置及び電池試験方法を提供する。 - 特許庁

To realize a semiconductor integrated circuit, a probe card, and a testing method of the semiconductor integrated circuit that can make the testing of the semiconductor integrated circuit performed at a low cost.例文帳に追加

試験を低コスト化できる半導体集積回路、プローブカードおよび半導体集積回路の試験方法を実現する。 - 特許庁

To provide a device for pull-out testing of an eyeless needle which can perform a pull out test of a plurality of eyeless needles within short time, and to provide a testing method of the same.例文帳に追加

複数のアイレス針の引抜き試験を短時間で行うことができるアイレス針の引抜試験装置と方法を提供する。 - 特許庁

To provide a memory testing device and a memory testing method which can simultaneously execute a plurality of memory tests only by simple address management.例文帳に追加

簡単なアドレス管理だけで複数個のメモリ試験を同時に実行できるメモリ試験装置およびメモリ試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a pinhole-testing device and a pinhole testing method capable of surely measuring the presence of a pinhole existing in a thin film.例文帳に追加

薄いフィルムに存在するピンホールの有無の測定を確実に行えるピンホール試験装置およびピンホール試験方法を提供する。 - 特許庁

SHOCK/VIBRATION TESTING METHOD AND DEVICE USED FOR THE SAME, AND MOUNTING MECHANISM OF VIBRATION SENSOR USED FOR SHOCK/VIBRATION-TESTING DEVICE例文帳に追加

衝撃・振動試験方法、該試験方法に用いる衝撃・振動試験装置、及び該装置等に用いる振動センサの取り付け機構 - 特許庁

To provide a system for testing a semiconductor device, capable of reflecting a result of a sample test to another test, and to provide a method of testing.例文帳に追加

サンプルテストの結果を他のテストに反映させることができる半導体装置のテストシステムおよびテスト方法に関するものである。 - 特許庁

To provide a semiconductor device preventing mismatch of impedance due to a contactor of a socket, its testing device, and a testing method using it.例文帳に追加

ソケットのコンタクタによるインピータンスのミスマッチを防ぐ半導体装置及びそのテスト装置及びそれを用いるテスト方法を得ることである。 - 特許庁

To provide a drop testing machine reduced in the error caused by a change in a drop posture, reduced in the irregularity of a drop impact speed and having high reliability, and a drop testing method.例文帳に追加

精密機器に使用する実装基板等の落下試験では、高度な繰り返し再現性と精度が求められている。 - 特許庁

To provide a semiconductor apparatus and its testing method for testing a circuit block (IP) at a high speed, using few external terminals.例文帳に追加

少ない外部端子を用いて高速に回路ブロック（ＩＰ）をテストすることができる半導体装置およびそのテスト方法を実現する。 - 特許庁

To provide a visceral fat obesity testing apparatus and method capable of simply and precisely testing the obesity degree by the visceral fat.例文帳に追加

簡易、且つ正確に内臓脂肪による肥満度合いを検査することができる内臓脂肪肥満検査装置及び方法を提供する。 - 特許庁

PRIMER SET AND PROBE FOR DETECTING POLYMORPHISM OF CYP2C8 GENE AND TESTING AGENT AND TESTING METHOD FOR THE METABOLIC ACTIVITY OF THE SAME例文帳に追加

ＣＹＰ２Ｃ８遺伝子の多型を検出するプライマーセット及びプローブ、並びに該酵素の代謝活性の検査薬及びその検査方法 - 特許庁

To provide a testing device and a testing method for evaluating the expansive properties of steel pipe, in an expansive type oil well, in a precisely and effective manner.例文帳に追加

拡管型油井における鋼管の拡管性を精度良く、また、効率良く評価する試験装置及び試験方法を提供する - 特許庁

To provide a device and method for testing immunity which reduces omission of fault detection at the time of testing EMC of the immunity.例文帳に追加

ＥＭＣイミュニティ試験時の不具合検出漏れを減少させ、且つ省力化が可能なイミュニティ試験装置及び試験方法の提供。 - 特許庁

To provide a delayed fault testing circuit and a method for the same for testing the delayed fault without decreasing detection rate of the delayed fault.例文帳に追加

本発明は、遅延故障検出率を低下させずに遅延故障試験する遅延故障試験回路及び方法を提供する。 - 特許庁