「testing method」に関連した英語例文の一覧と使い方(68ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a method for testing a material defect in a polysilicon molding without any destruction.例文帳に追加

多結晶シリコン成形体の材料欠陥を破壊なしに試験する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing the ability of visible-ray cytotoxicity expression of a tested substance, etc.例文帳に追加

被験物質の可視光細胞毒性発現能力の検定方法等を提供する。 - 特許庁

The method starts from scanning the surface of the magnetic recording medium by using a testing head possessing the heat sensitive element.例文帳に追加

磁気記録媒体表面を、感熱素子を有する検査ヘッドを用いて走査する。 - 特許庁

METHOD FOR EVALUATING INTEGRITY OF VIBRATION OF STEAM DRYER AND STEAM DRYER TESTING DEVICE例文帳に追加

蒸気乾燥器の振動健全性を評価する方法及び蒸気乾燥器の試験装置 - 特許庁

PICTURE PROCESSING METHOD AND DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

画像処理方法、画像処理装置およびそれらを用いた半導体デバイス試験装置 - 特許庁

GUIDE FOR PROBE CARD, PROBE CARD MOUNTING THE SAME, AND METHOD FOR TESTING ELECTRONIC CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

プローブカード用ガイド、これを装着したプローブカード及び電子回路デバイスの検査方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING DEVICE UNDER TEST, AND TOOL FOR CUTTING AND CONNECTING TRANSMISSION CABLE例文帳に追加

被試験機器テスト装置、被試験機器テスト方法及び通信ケーブル切断／接続治具 - 特許庁

DATA COMMUNICATION DEVICE, CENTRAL MANAGEMENT DEVICE, TESTING METHOD, REMOTE MANAGEMENT SYSTEM, AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加

データ通信装置、中央管理装置、テスト方法、遠隔管理システム及びコンピュータプログラム - 特許庁

SUBSTRATE FOR MANUFACTURING PROBE CARD, TESTING DEVICE, DEVICE, AND METHOD FOR THREE-DIMENSIONAL MOLDING例文帳に追加

プローブカード製造用基板、検査装置、３次元造形装置および３次元造形方法 - 特許庁

DEVICE FOR TESTING SOIL BEARING WITH FIXED BEAM IN CAISSON WORK ROOM, AND SOIL BEARING TEST METHOD例文帳に追加

ケーソン作業室における不動梁付き地耐力試験装置及び地耐力試験方法 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR TESTING COMPONENT IN COMPUTER SYSTEM USING FREQUENCY MARGIN例文帳に追加

周波数マージンを使用してコンピュータシステム内のコンポーネントをテストするシステムおよび方法 - 特許庁

HOLDING DEVICE FOR ELECTRONIC PART TEST, ELECTRONIC PART TESTING DEVICE AND ELECTRONIC PART TEST METHOD例文帳に追加

電子部品試験用保持装置、電子部品試験装置および電子部品試験方法 - 特許庁

SELF-SYNCHRONIZATION LOGIC CIRCUIT HAVING TEST CIRCUIT AND METHOD OF TESTING SELF-SYNCHRONIZATION LOGIC CIRCUIT例文帳に追加

テスト回路を有する自己同期型論理回路および自己同期型論理回路のテスト方法 - 特許庁

CONTROL TIMING TEST SYSTEM FOR ENCODER, AND CONTROL TIMING TESTING METHOD OF THE ENCODER例文帳に追加

エンコーダ装置の制御タイミング試験システム及びエンコーダ装置の制御タイミング試験方法 - 特許庁

TEST DEVICE OF SEMICONDUCTOR WAFER, TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR WAFER, AND PROBE CARD FOR SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加

半導体ウェハのテスト装置、半導体ウェハのテスト方法及び半導体ウェハ用プローブカード - 特許庁

PROBE CARD, SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TESTING DEVICE, AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TEST METHOD例文帳に追加

プローブカード、半導体集積回路試験装置、及び、半導体集積回路試験方法 - 特許庁

GRINDING TOOL OF CONTACT PIN FOR TESTING SEMICONDUCTOR IC AND TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR IC例文帳に追加

半導体ＩＣのテスト用コンタクトピンの研磨治具及び半導体ＩＣのテスト方法 - 特許庁

To provide a browser test system and a method for it capable of efficiently testing various browsers.例文帳に追加

種々のブラウザを効率的にテストできるブラウザテストシステム及び方法を提供すること。 - 特許庁

ENVIRONMENTAL TESTING APPARATUS CAPABLE OF CONTROLLING AMOUNT OF DEW CONDENSATION AND CONTROL METHOD OF AMOUNT OF DEW CONDENSATION例文帳に追加

結露量の制御可能な環境試験装置およびその結露量制御方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING TRAFFIC AND AUXILIARY CHANNEL IN WIRELESS DATA COMMUNICATION SYSTEM例文帳に追加

無線データ通信システムにおいてトラヒックおよび補助チャネルをテストする方法および装置 - 特許庁

SIGNAL PROCESSOR, FAULT TESTING DEVICE, SIGNAL PROCESSING SYSTEM, SIGNAL PROCESSING METHOD AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加

信号処理装置、欠陥検査装置、信号処理システム、信号処理方法、及び記憶媒体 - 特許庁

PROGRAM, APPARATUS AND METHOD FOR AUTOMATIC SOFTWARE TESTING例文帳に追加

ソフトウェアの自動試験プログラム、ソフトウェアの自動試験装置、およびソフトウェアの自動試験方法 - 特許庁

This invention relates to a method for testing constitution elements of a semiconductor memory.例文帳に追加

本発明は、半導体メモリー構成要素の試験のための方法に関するものである。 - 特許庁

WIRELESS COMMUNICATION SYSTEM, WIRELESS COMMUNICATION TESTING METHOD, AND WIRELESS COMMUNICATION TEST PROGRAM例文帳に追加

無線通信システム及び無線通信試験方法並びに無線通信システム試験プログラム - 特許庁

CREATION AND VERIFICATION METHOD OF SEQUENCE FILE OF AUTOMATIC ENGINE TESTING DEVICE USING ENGINE MODEL例文帳に追加

エンジンモデルを用いた自動エンジン試験装置のシーケンスファイルの作成および検証方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING A PLURALITY OF MIXED LOADED MEMORY SITE LOCATED ON COMPUTER CHIP AND INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

コンピュータチップ上にある複数のメモリ混載サイトを試験する方法及び集積回路 - 特許庁

METHOD FOR DECIDING PARAMETER FOR RADIO WAVE ENVIRONMENT IN RADIO TERMINAL TEST AND RADIO TERMINAL TESTING DEVICE例文帳に追加

無線端末試験における電波環境のパラメータ決定方法、無線端末試験装置 - 特許庁

METHOD OF CLEANING NEEDLE TIP OF PROBE CARD, WAFER-TESTING DEVICE OF SEMICONDUCTOR DEVICE, DATA RECORDING MEDIUM例文帳に追加

プローブカードの針先クリーニング方法，半導体装置のウエハ検査装置，データ記録媒体 - 特許庁

AIRCRAFT LANDING DEVICE HAVING SEVERAL ELECTROMECHANICAL ACTUATORS, AND TESTING METHOD THEREOF例文帳に追加

複数の電気機械式アクチュエータを含む飛行機用着陸装置およびその試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE, AND TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE例文帳に追加

半導体集積回路、半導体記憶装置及び半導体記憶装置のテスト方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING CAPABILITY OF IRREVERSIBLY INHIBITING ENZYME HAVING MEDICINE-METABOLIZING FUNCTION例文帳に追加

薬物代謝能力を有する酵素を不可逆的に阻害する能力を検定する方法 - 特許庁

ETHERNET (R) TRANSMISSION APPARATUS AND METHOD OF TESTING ITS LINE QUALITY MONITORING FUNCTION例文帳に追加

イーサネット（登録商標）伝送装置及びその回線品質監視機能の試験方法 - 特許庁

SPECIES-SPECIFIC ANTIGEN OF TRICHINELLA AND METHOD FOR TESTING INFECTION OF TRICHINELLA UTILIZING THE ANTIGEN例文帳に追加

旋毛虫の種特異的抗原、及び該抗原を利用した旋毛虫感染の検査法 - 特許庁

RADIO COMMUNICATION TERMINAL TESTING METHOD, RADIO COMMUNICATION TERMINAL TEST SYSTEM, AND RADIO COMMUNICATION TERMINAL例文帳に追加

無線通信端末試験方法、無線通信端末試験システム、および無線通信端末 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM AND TEST METHOD CAPABLE OF EFFICIENTLY TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE WITH MANY PINS例文帳に追加

多数ピンの半導体装置を効率よくテストできる半導体テストシステム及びテスト方法 - 特許庁

To provide a method for testing the effectiveness of ion implantation in a semiconductor wafer.例文帳に追加

半導体ウェハにおけるイオン注入の有効性をテストする方法を提供する。 - 特許庁

CONTROL DEVICE OF GAS TURBINE ENGINE, AND TESTING METHOD OF OVER SPEED PREVENTIVE FUNCTION PART OF GAS TURBINE ENGINE例文帳に追加

ガスタービンエンジンの制御装置およびガスタービンエンジンの過回転防止機能部の試験方法 - 特許庁

NONDEFECTIVE POLYSILICON MOLDING AND METHOD FOR TESTING POLYSILICON MOLDING WITHOUT CONTAMINATION NOR DESTRUCTION例文帳に追加

ポリシリコン成形体の汚染および破壊のない試験法および欠陥のないポリシリコン成形体 - 特許庁

The method for testing radioactive substances in foods will be provided separately.例文帳に追加

食品中の放射性物質の試験法については、別途通知することとしていること。 - 厚生労働省

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING A SUBSTRATE FOR DISPLAY, AND SUBSTRATE FOR THE DISPLAY AND THE DISPLAY例文帳に追加

表示装置の検査方法と検査装置及び表示装置用基板と表示装置 - 特許庁

The is a method and an apparatus for testing the function of a fine structure element.例文帳に追加

本発明は微細構造素子の機能を試験するための方法反び装置に関する。 - 特許庁

To provide a method and instrument for expediting a performance evaluation which uses bit error rate testing.例文帳に追加

ビット誤り率試験を使用する性能評価を促進する方法及び装置の提供 - 特許庁

METHOD FOR PRODUCING TEST PATTERN, INFORMATION PROCESSOR, INTEGRATED CIRCUIT TESTING SYSTEM, PROGRAM AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

テストパターン生成方法、情報処理装置、集積回路試験システム、プログラム、記録媒体 - 特許庁

METHOD FOR INSPECTING ALUMINUM-BASED INCLUSION IN HIGH-STRENGTH STEEL BY ULTRASONIC AXIAL LOADING FATIGUE TESTING例文帳に追加

超音波軸荷重疲労試験による高強度鋼中アルミナ系介在物の検査方法 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR TESTING OVERSPEED PREVENTION SYSTEM DURING TURBOMACHINE SHUTDOWN SEQUENCE例文帳に追加

ターボ機械運転停止シーケンスの間に過速度防止システムをテストするための方法及びシステム - 特許庁