| 意味 | 例文 |
testing methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 5388件
To provide a testing material and a testing method capable of executing the objective evaluation in a short time with a simple operation without using a special instrument for testing the inadaptation of dentures.例文帳に追加
特別の機材を必要とすることなく簡単な操作で、短時間で客観的に評価することが可能な、義歯不適合を検査するための検査材および検査方法を提供すること。 - 特許庁
METHOD FOR TESTING ANTIMICROBIAL ACTIVITY, MEDICINE AGAINST ANTIMICROBIAL HELICOBACTER PYLORI, METHOD FOR PREVENTING OCCURRENCE OF HELICOBACTER PYLORI AND METHOD FOR USING PLUM EXTRACT例文帳に追加
抗菌力試験法および抗耐性ピロリ菌薬、ピロリ菌の発生を予防する方法ならびに梅抽出物の使用方法 - 特許庁
PRETREATMENT METHOD AND AIRTIGHTNESS TESTING METHOD FOR FUEL REFORMING APPARATUS, OPERATION PRETREATMENT METHOD FOR FUEL CELL POWER GENERATION SYSTEM例文帳に追加
燃料改質装置の前処理方法および気密試験方法、並びに燃料電池発電システムの運転前処理方法 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR CREATING AND TESTING PRE-FORMULATION, AND SYSTEM THEREFOR例文帳に追加
事前処方物を作製および試験するための装置および方法ならびにそのためのシステム - 特許庁
METHOD OF EVALUATING AND TESTING POLARITY INVERTING ABILITY OF HIGH-VOLTAGE INSULATED EQUIPMENT FOR DC POWER TRANSMISSION例文帳に追加
直流送電用高電圧絶縁機器の極性反転性能評価試験方法 - 特許庁
PORTABLE TWIST TESTER AND ELASTIC CONSTANT/TWISTING STRENGTH TESTING METHOD例文帳に追加
携帯型ねじり試験器及びねじりを利用した弾性定数、ねじり強度試験方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE, USE THEREOF, AND METHOD OF TESTING THE SAME例文帳に追加
半導体装置および半導体装置の使用方法ならびに半導体装置の試験方法 - 特許庁
SYSTEM AND METHOD USING TARGETED VARIANT INPUT FOR TESTING DATA FORMAT例文帳に追加
ターゲットとされるバリアント入力を使用して、データフォーマットをテストするためのシステムおよび方法 - 特許庁
To provide a semiconductor wafer having self-shielding capability, and to provide a testing method of the wafer.例文帳に追加
自己遮蔽機能を有する半導体ウェーハおよびそれのテスト方法を提供する。 - 特許庁
ELECTRIC-POWER CAPACITY SETTING METHOD, POWER SUPPLY DEVICE, AND POWER SUPPLY DEVICE FOR SEMICONDUCTOR-DEVICE TESTING DEVICE例文帳に追加
電力容量設定方法、電源装置、半導体デバイス試験装置用電源装置 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR TESTING OF BONDING STRENGTH OF STRAND CONNECTION PART IN SMALL ELECTRIC COMPONENT例文帳に追加
小型電気部品におけるストランド接続部の接着強度試験装置及び方法 - 特許庁
To provide a method for testing cytotoxicity, by using a new established fish cell line.例文帳に追加
新規な魚類株化細胞を用いた細胞毒性試験方法を提供すること。 - 特許庁
To provide a method for testing a hardware circuit block described in a hardware description language.例文帳に追加
ハードウエア記述言語が記述したハードウエア回路ブロックをテストする方法の提供。 - 特許庁
POLYELECTROLYTE FUEL CELL AND TESTING METHOD THEREOF例文帳に追加
高分子電解質型燃料電池の試験方法、および高分子電解質型燃料電池 - 特許庁
To provide a method 200 and a system 300 of testing an overspeed protection system of a turbomachine.例文帳に追加
ターボ機械の過速度防止システムの試験方法(200)及びシステム(300)を提供する。 - 特許庁
TESTING APPARATUS AND METHOD FOR EVALUATING EFFECTS OF SCALE DEPOSITION PREVENTION例文帳に追加
スケール付着防止効果評価用試験装置及びスケール付着防止効果を評価する方法 - 特許庁
To provide a tensile testing method for rubber/plastic enabling efficient and accurate measurement.例文帳に追加
効率的に正確な測定が可能なゴム・プラスチックの引張試験方法を提供する。 - 特許庁
COMPOSITION,KIT, AND METHOD FOR TESTING DISEASE ACCOMPANYING AGEING AND BLOOD VESSEL DISORDER例文帳に追加
老化、および血管障害を伴う疾患の検定のための組成物、キットおよび方法 - 特許庁
METHOD AND A GENERATING MODULE FOR DETERMINING FILTER MASK FOR RELEVANCE TESTING OF IDENTIFIERS例文帳に追加
識別子の関連性テスト用のフィルタマスクを決定するための方法及び作成モジュール - 特許庁
WEIGHT DROP TYPE PERFORMANCE TESTING MACHINE FOR FIBER REINFORCED PLASTIC PRODUCT AND REBOUND PERFORMANCE TEST METHOD THEREOF例文帳に追加
繊維強化プラスチック製品の落錘式性能試験機及び反発性能試験方法 - 特許庁
To provide a system and a method for compressing effectively a test data for testing a device to be tested (DUT).例文帳に追加
試験対象デバイス(DUT)をテストするためのテストデータをより効果的に圧縮する。 - 特許庁
To provide a highly reliable apparatus for electrical test and an electrical testing method.例文帳に追加
信頼性の高い電気的試験用装置及び電気的試験方法を提供すること。 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING FUNCTIONAL BLOCK FOR SPECIFIC APPLICATION EMBEDDED IN RECONFIGURABLE ARRAY例文帳に追加
リコンフィギャラブルアレイに埋め込まれた特定用途向け機能ブロックのテスト装置及びテスト方法 - 特許庁
MATERIAL TESTING APPARATUS AND SETTING METHOD FOR ORIGIN OF SENSOR OUTPUT THEREIN例文帳に追加
材料試験装置におけるセンサ出力の原点設定方法および材料試験装置 - 特許庁
SOCKET FOR TEST, ITS MANUFACTURE, TESTING METHOD USING SOCKET FOR TEST, AND MEMBER TO BE TESTED例文帳に追加
テスト用ソケット、その製造方法、テスト用ソケットを用いたテスト方法、及び被テスト部材 - 特許庁
To provide a labeled compound supply system suitable for an O-15 labeled gas-PET rapid testing method.例文帳に追加
O-15標識ガス-PET迅速検査法に適した標識化合物供給システムを提供する。 - 特許庁
To provide a software test method and program, reduced in testing time.例文帳に追加
テスト時間を短縮することができるソフトウェアのテスト方法及びプログラムを提供する。 - 特許庁
To provide a system and a method for testing broadcast video signals that are analog/digital converted or digital/analog converted during operation.例文帳に追加
A/D及びD/A変換された放送ビデオ信号の稼働中テストを行う。 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR TESTING POWER SUPPLY VARIATION OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND PROGRAM THEREOF例文帳に追加
半導体集積回路の電源変動検証装置及び方法並びにそのプログラム - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT USING WEIGHTED PSEUDO-RANDOM TEST PATTERN例文帳に追加
重み付けされた擬似ランダム試験パターンを用いた集積回路試験装置および試験方法 - 特許庁
METHOD AND TEST STAND FOR TESTING HYBRID DRIVE SYSTEM OR SUBCOMPONENT OF THE SAME例文帳に追加
ハイブリッド駆動システムまたはそのシステムのサブコンポーネントを試験するための方法および試験台 - 特許庁
WORD LINE DRIVING CIRCUIT, SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE INCLUDING THE SAME, AND METHOD FOR TESTING THE SAME例文帳に追加
ワードライン駆動回路及びこれを備える半導体メモリ装置並びにそのテスト方法 - 特許庁
To provide a method and apparatus for testing a plurality of sensor devices efficiently and sequentially.例文帳に追加
複数のセンサデバイスを連続的に効率よく試験する方法、装置を提供する。 - 特許庁
SCAN PATH CIRCUIT, AND METHOD OF TESTING LOGIC CIRCUIT AND INTEGRATED CIRCUIT EQUIPPED WITH THE SAME例文帳に追加
スキャンパス回路およびそれを備える論理回路ならびに集積回路のテスト方法 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR TESTING AND EVALUATING MACHINE COMPONENT UNDER SIMULATED IN-SITU THERMAL OPERATING CONDITIONS例文帳に追加
模擬現場熱作動条件下で機械部品を試験及び評価する装置及び方法 - 特許庁
METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, AND APPARATUS FOR INSPECTING THE SAME例文帳に追加
半導体集積回路装置のテスト方法、および半導体集積回路装置の検査装置 - 特許庁
TOOL AND METHOD FOR TESTING WHICH SEX WILL BE BORN USING STEEL PENDULUM ROD例文帳に追加
鋼鉄製振り子棒による子供の男、女産み分け方発見検査器具及び方法 - 特許庁
REWRITING METHOD OF SUBSCRIBER IDENTITY MODULE FOR TESTING, MOBILE COMMUNICATION TERMINAL, AND CONTROL DEVICE例文帳に追加
試験用の加入者識別モジュールの書換方法、移動通信端末及び制御装置 - 特許庁
COLLIMATION DEVICE, RADIOLOGY APPARATUS, TEST KIT, AND METHOD OF TESTING RADIOLOGY APPARATUS例文帳に追加
コリメーション装置、放射線装置及び試験キット、並びに放射線装置を試験する方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR CHIP, PACKAGE FOR SEMICONDUCTOR DEVICE, PROBE CARD AND PACKAGE TESTING METHOD例文帳に追加
半導体チップおよび半導体装置用パッケ—ジ、並びに、プロ—ブカ—ドおよびパッケ—ジのテスト方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING DURABILITY OF METAL MATERIAL FOR LIVING BODY IN CELLULAR ENVIRONMENT, AND APPARATUS OF THE SAME例文帳に追加
細胞環境下での生体用金属材料の耐久性試験法とその装置 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR TESTING SOUNDNESS OF THERMOMETER FOR NUCLEAR REACTOR COOLING WATER例文帳に追加
原子炉冷却水用温度計の健全性試験装置および健全性試験方法 - 特許庁
CONTACT PROBE, ELECTRONIC CIRCUIT TESTING DEVICE USING IT, AND MANUFACTURING METHOD OF CONTACT PROBE例文帳に追加
コンタクトプローブ及びこれを用いた電子回路試験装置、並びにコンタクトプローブの製造方法 - 特許庁
GRADATION WIRING FOR DISPLAY DEVICE, DRIVER FOR LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE AND ITS STRESS TESTING METHOD例文帳に追加
表示器用階調配線、液晶表示器用ドライバ及びそのストレス試験方法 - 特許庁
REFERENCE HEAT SOURCE FOR ELECTROMAGNETIC WAVE TEST TO INFRARED RADIATION MEASURING DEVICE, AND METHOD FOR TESTING THEREOF例文帳に追加
赤外放射計測機器の電磁波試験用参照熱源及びその試験方法 - 特許庁
To provide a testing method for demonstrating the efficacy of a topically applied active ingredient.例文帳に追加
局所的に塗布された活性成分の効能を立証する試験法を提供する。 - 特許庁
To provide a testing method increased in the correlation with the actual adhesion release strength of actual cardboard.例文帳に追加
実際の板紙の接着剥離強度と相関の高い、試験方法を提供すること。 - 特許庁
To provide an improved circuit and a method for testing deterioration of a ferroelectric memory cell.例文帳に追加
強誘電体メモリセルの劣化をテストする改良した回路及び方法を提供する。 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR CALIBRATING VOLTAGE GENERATOR OF IC TESTING DEVICE例文帳に追加
IC試験装置における電圧発生器の校正方法・電圧発生器の校正装置 - 特許庁
METHOD OF CONTROLLING ELECTRIC POWER SOURCE FOR DEVICE IN SEMICONDUCTOR-TESTING DEVICE, AND ELECTRIC POWER SOURCE UNIT FOR DEVICE THEREIN例文帳に追加
半導体試験装置のデバイス用電源制御方法及びデバイス用電源装置 - 特許庁
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