「testing method」に関連した英語例文の一覧と使い方(63ページ目) - Weblio英語例文検索

RATE-MATCH CALCULATING METHOD, RATE-MATCH CALCULATING APPARATUS, AND MOBILE TERMINAL TESTING APPARATUS例文帳に追加

レートマッチ演算方法、レートマッチ演算装置および移動体端末試験装置 - 特許庁

COVER FOR PREPARATION WORK IN SPACE ENVIRONMENT TESTING DEVICE, AND ITS INSTALLING METHOD例文帳に追加

宇宙環境試験装置における準備作業用カバー及びその設置方法 - 特許庁

METHOD FOR REDUCING FLAW WHEN TESTING SMD TYPE PASSIVE ELEMENT AND TEST SYSTEM例文帳に追加

ＳＭＤ型受動素子を試験する際の傷の減少方法及び試験システム - 特許庁

COMPONENT RECOGNITION DEVICE, COMPONENT RECOGNITION METHOD, SURFACE MOUNTING MACHINE AND COMPONENT TESTING DEVICE例文帳に追加

部品認識装置、部品認識方法、表面実装機および部品試験装置 - 特許庁

POWDER FLOW CHARACTERISTIC ESTIMATING METHOD, AND POWDER FLOW CHARACTERISTIC TESTING DEVICE例文帳に追加

粉体流動特性の推定方法及び粉体流動特性試験装置 - 特許庁

VECTOR SET GENERATION METHOD, TESTING SYSTEM, AND RECORDING MEDIUM FOR STORING TEST PROGRAM例文帳に追加

ベクトル・セット生成方法、試験システム及び試験プログラムを格納する記録媒体 - 特許庁

OIL RESISTANCE TEST METHOD OF RESIN MATERIAL OR RUBBER COMPOSITION, AND TESTING DEVICE THEREFOR例文帳に追加

樹脂材料またはゴム組成物の耐油性試験方法およびその試験装置 - 特許庁

RAID TEST SYSTEM, RAID TEST PROGRAM AND RAID TESTING METHOD例文帳に追加

ＲＡＩＤ試験システム、ＲＡＩＤ試験プログラム及びＲＡＩＤ試験方法 - 特許庁

To provide a method for testing a semiconductor device, which can reduce test costs.例文帳に追加

テストコストの低減を実現可能な半導体装置のテスト方法を提供する。 - 特許庁

TESTING METHOD AND DEVICE FOR PERFORMANCE EVALUATION FOR VEHICLE BY AUTOMATIC PRESSING OF OPERATION MEMBER例文帳に追加

操作部材の自動押圧による車輌の性能評価試験方法及び装置 - 特許庁

The method provided is for testing the integrity of a separation membrane using the colloidal dispersion liquid.例文帳に追加

また、コロイド分散液を用いた分離膜の完全性試験方法である。 - 特許庁

INSPECTION APPARATUS, TESTING METHOD, INSPECTION PROGRAM, AND COMPUTER READABLE MEDIUM例文帳に追加

検査装置、検査方法、検査プログラムおよびコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

TESTING METHOD FOR EVALUATING MATERIAL SEPARATION RESISTANCE OF HIGH LIQUIDITY CONCRETE例文帳に追加

高流動コンクリートの材料分離抵抗性を評価するための試験方法 - 特許庁

RING NETWORK SYSTEM, NODE DEVICE AND PROTECTION BAND TESTING METHOD FOR RING NETWORK SYSTEM例文帳に追加

リングネットワークシステム、ノード装置及びリングネットワークシステムのプロテクション帯域試験方法 - 特許庁

METHOD AND PRETREATMENT DEVICE FOR TESTING AND ANALYZING TRACE AMOUNT OF ELEMENT例文帳に追加

微量元素試験分析方法及び微量元素試験分析前処理装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT WITH BUILT-IN A/D AND D/A CONVERTER AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

ＡＤ・ＤＡコンバ—タ内蔵半導体集積回路およびそのテスト方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING FUNCTION OF TANK EXHAUST DEVICE AND TANK EXHAUST DEVICE FOR AUTOMOBILE例文帳に追加

タンク排気装置における機能の試験方法及び自動車のタンク排気装置 - 特許庁

RUBBER ABRASION TESTER, AND ABRASION TESTING METHOD OF RUBBER FOR TIRE TREAD USING IT例文帳に追加

ゴム摩耗試験機、および、それを用いたタイヤトレッド用ゴムの摩耗試験方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING JITTER, RECORDING MEDIUM, COMMUNICATION SYSTEM, AND TESTING APPARATUS例文帳に追加

ジッタ測定装置、ジッタ測定方法、記録媒体、通信システム、および試験装置 - 特許庁

SWEEP SYNCHRONIZATION TESTING DEVICE, AND METHOD OF SIMULATING OPTIMUM CONTROL SET VALUE THEREFOR例文帳に追加

掃引同調試験装置及びその最適制御設定値シミュレーション方法。 - 特許庁

METHOD FOR ACCELERATING DEPOLARIZATION OF POLARIZED BATTERY TO FACILITATE BATTERY TESTING例文帳に追加

分極したバッテリーの減極を加速させてバッテリー試験を容易にする方法 - 特許庁

DISK DRIVING DEVICE AND METHOD FOR TESTING FALL SENSOR IN DISK DRIVING DEVICE例文帳に追加

ディスク・ドライブ装置及びディスク・ドライブ装置において落下センサをテストする方法 - 特許庁

TRAY FOR ELECTRONIC PART SUBSTRATE, TESTING DEVICE AND TEST METHOD OF ELECTRONIC PART SUBSTRATE例文帳に追加

電子部品基板用トレイ、電子部品基板の試験装置および試験方法 - 特許庁

BIOCHEMICAL TREATMENT APPARATUS, AND METHOD AND APPARATUS FOR TESTING BIOCHEMICAL REACTION CARTRIDGE例文帳に追加

生化学反応カートリッジの検査方法および検査装置と生化学処理装置 - 特許庁

METHOD FOR GENERATING TEST STREAM TO SUPPORT VARIOUS STANDARDS AND TESTING LEVELS AND APPARATUS例文帳に追加

様々な標準やテストレベルを支援するテストストリームの作成方法及び装置 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR TESTING CIRCUIT BY USING SIGNATURE GENERATED OUTSIDE例文帳に追加

外部で生成したシグネチャを用いて回路を試験するためのシステム及び方法 - 特許庁

SERVER AND METHOD FOR TESTING CALL QUALITY, COMMUNICATION TERMINAL, AND PROGRAM例文帳に追加

通話品質試験用サーバ、通話品質試験方法、通信端末、およびプログラム - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT, RADIO FREQUENCY TECHNOLOGY STRUCTURE FOR TESTING WAFER AND METHOD例文帳に追加

集積回路およびウェーハを試験する無線周波数技術構造および方法 - 特許庁

PROBE CARD AND METHOD FOR TESTING WAFER ON WHICH A PLURALITY OF SEMICONDUCTOR DEVICE ARE FORMED例文帳に追加

プローブカード及び複数の半導体装置が形成されたウエハの試験方法 - 特許庁

VOICE GUIDANCE SYSTEM, VOICE GUIDANCE CONTROLLER, AND METHOD FOR TESTING VOICE GUIDANCE例文帳に追加

音声ガイダンスシステム、音声ガイダンス制御装置および音声ガイダンス試験方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR BURN-IN TESTING OF SEMICONDUCTOR DEVICE, AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置のバーイン試験方法、バーイン試験装置および半導体装置 - 特許庁

METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE, FOR CALIBRATING IC TESTER, AND CLEANING BOARD例文帳に追加

半導体デバイスの検査方法、ＩＣテスタの校正方法、及びクリーニング用ボード - 特許庁

METHOD, TEST CHAMBER AND TEST SETUP FOR LEAK TESTING OF CLOSED CONTAINERS例文帳に追加

閉じた容器の漏れ試験をする方法、そのための試験室、および試験構成 - 特許庁

TESTING METHOD FOR EVALUATING FORMABILITY OF EXTENSION FLANGE OF METALLIC PLATE IN PRESS FORMING OF SHEET METAL例文帳に追加

薄板プレス成形における金属板の伸びフランジ性評価試験方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING INFORMATION PROCESSOR AND STORAGE MEDIUM STORED WITH PROGRAM THEREOF例文帳に追加

情報処理装置の試験方法およびそのプログラムを記憶した記憶媒体 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE TESTER AND TESTING METHOD IN IT例文帳に追加

半導体デバイス試験装置および半導体デバイス試験装置における試験方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING BOND STRENGTH OF IC CHIP例文帳に追加

ＩＣチップの接合強度試験装置及びＩＣチップの接合強度試験方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING DISTRIBUTION LINE RELAY例文帳に追加

配電線継電器単体試験装置および配電線継電器単体試験方法 - 特許庁

To provide an analog-digital converting method and a device suitable for an automatic testing device.例文帳に追加

自動試験装置に適したアナログ・ディジタル変換方法および装置の提供 - 特許庁

METHOD FOR REFLECTROMETRIC TESTING OF OPTICAL TRANSMISSION LINE, OPTICAL DEVICE, AND OPTICAL TRANSMISSION AND RECEPTION DEVICE例文帳に追加

光伝送路の反射試験の方法、光装置、および光送受信装置 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF OPTICAL DEVICE AND TESTING DEVICE FOR DEFECTIVE DETERMINATION FOR THIS例文帳に追加

光学デバイスの製造方法およびこれに用いる欠陥判定用の検査具 - 特許庁

COMPONENT-RECOGNIZING METHOD, COMPONENT-RECOGNIZING DEVICE, SURFACE MOUNTING EQUIPMENT AND COMPONENT-TESTING EQUIPMENT例文帳に追加

部品認識方法、部品認識装置、表面実装機および部品試験装置 - 特許庁

TESTING DEVICE, DRIVER COMPARATOR CHIP, RESPONSE MEASURING DEVICE, AND CALIBRATION METHOD AND DEVICE例文帳に追加

試験装置、ドライバコンパレータチップ、応答測定装置、校正方法および校正装置 - 特許庁

SYSTEM FOR ANALYZING DEVICE TO BE TESTED AND METHOD FOR TESTING DEVICE TO BE TESTED例文帳に追加

被試験デバイスの分析のためのシステムおよび被試験デバイスをテストする方法 - 特許庁

MULTI-CHIP MODULE, SEMICONDUCTOR CHIP, AND METHOD OF TESTING INTERCHIP CONNECTION IN MULTI-CHIP MODULE例文帳に追加

マルチチップモジュール、半導体チップ及びマルチチップモジュールのチップ間接続テスト方法 - 特許庁