「testing method」に関連した英語例文の一覧と使い方(66ページ目) - Weblio英語例文検索

CONTROL TESTING SYSTEM FOR PRINTER, CONTROL METHOD THEREFOR AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

プリンタ装置の調整試験システムおよびその制御方法ならびにその記録媒体 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR AUTOMATICALLY TESTING EXCHANGE AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

交換機の自動試験装置および交換機の自動試験方法、並びに記録媒体 - 特許庁

SYSTEM FOR TESTING OPTICAL DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING OPTICAL DEVICE USING SAME例文帳に追加

光学デバイスの試験装置とその試験装置を用いた光学デバイスの製造方法 - 特許庁

To provide a method of testing the power supply of a computer without using any measurement equipment.例文帳に追加

計測器を使用しないでコンピュータの電源試験を行う方法を提供する。 - 特許庁

DATA PROCESSOR AND METHOD FOR TESTING STABILITY OF MEMORY CELL IN MEMORY DEVICE例文帳に追加

メモリ・デバイス内のメモリ・セルの安定性をテストするためのデータ処理装置および方法 - 特許庁

To provide a new nucleic acid and a method, etc., for testing canceration using the nucleic acid.例文帳に追加

新規な核酸及び該核酸を用いた癌化検定方法等を提供する。 - 特許庁

CONTROLLING METHOD AND APPARATUS FOR PROBE-TIP SANDING OF SEMICONDUCTOR-ELEMENT TESTING APPARATUS例文帳に追加

半導体素子テスト装置のプローブチップサンディング制御方法及びサンディング制御装置 - 特許庁

TAPE FOR AMMONIA LEAKAGE TEST USING THIN THICKNESS STACKING TAPE, AND LEAKAGE TESTING METHOD例文帳に追加

薄厚積重テープを用いたアンモニア漏れ試験用テープ及び漏れ試験方法 - 特許庁

METHOD OF TESTING FOR PRESENCE OF MICROORGANISM IN GASEOUS ENVIRONMENT CONTAINING HYDROGEN PEROXIDE例文帳に追加

過酸化水素を含有する気体環境中の微生物の存在の試験方法 - 特許庁

INSPECTION PROBE OF SEMICONDUCTOR DEVICE, AND MANUFACTURING METHOD FOR THE TESTING PROBE OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の検査プローブ及び半導体装置の検査プローブの製造方法 - 特許庁

CMIP PROTOCOL TEST AUTOMATING DEVICE AND CMIP PROTOCOL TESTING METHOD例文帳に追加

ＣＭＩＰプロトコル試験自動化装置及びそれに用いるＣＭＩＰプロトコル試験方法 - 特許庁

ON-CHIP MODULE, AND SYSTEM AND METHOD FOR TESTING INTERCONNECTION BETWEEN ON-CHIP MODULES例文帳に追加

オンチップモジュ—ルおよびオンチップモジュ—ル間の相互接続をテストするシステムおよび方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING AND CALCULATING PROTOCOL DATA UNIT RANGE APPLIED TO WINDOW-BASED POLLING例文帳に追加

ウィンドウベースポーリングに適用されるプロトコルデータユニット範囲の試験および計算の方法 - 特許庁

TESTING DEVICE OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND TEST METHOD OF THE SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路の試験装置および半導体集積回路の試験方法 - 特許庁

DEFECT RELEVANCE DISPLAYING APPARATUS, SUBSTRATE TESTING APPARATUS, AND DEFECT RELEVANCE DISPLAYING METHOD例文帳に追加

欠陥関連性表示装置、基板検査装置、および欠陥関連性表示方法 - 特許庁

TESTING METHOD OF FCS INSPECTION PROCESSING IN FLAG SYNCHRONIZING TRANSMISSION SYSTEM AND ITS SYSTEM例文帳に追加

フラグ同期伝送方式におけるＦＣＳ検査処理の試験方法及びそのシステム - 特許庁

TEST METHOD FOR ESTIMATING UNIT WATER AMOUNT OF CONCRETE AND TESTING MACHINE USING IT例文帳に追加

コンクリートの単位水量推定試験方法および同方法に用いる試験装置 - 特許庁

DELAY CIRCUIT, TESTING DEVICE, PROGRAM, SEMICONDUCTOR CHIP, INITIALIZATION METHOD, AND INITIALIZATION CIRCUIT例文帳に追加

遅延回路、試験装置、プログラム、半導体チップ、イニシャライズ方法、および、イニシャライズ回路 - 特許庁

P2P SYSTEM STABILIZATION TESTING METHOD USING PEER CONTROL TOOL AND PEER CONTROL TOOL例文帳に追加

ピア制御ツールを用いたＰ２Ｐシステム安定化試験方法およびピア制御ツール - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, TEST PATTERN GENERATING METHOD FOR IT, METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体集積回路装置のテストパターン作成方法、半導体集積回路装置、半導体集積回路装置のテスト方法、および、半導体集積回路試験装置 - 特許庁

WIRING PATTERN, PATTERN FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

配線パターン、半導体装置のテスト用パターンおよび半導体装置の製造方法 - 特許庁

CRITICAL VULCANIZATION DEGREE TESTING DEVICE FOR FOAMING IN RUBBER SAMPLE AND ITS METHOD FOR DETERMINING VULCANIZATION LIMIT例文帳に追加

ゴムサンプルの発泡限界加硫度試験装置およびその加硫限界特定方法 - 特許庁

SOIL POLLUTANT ELUTION TESTING METHOD AND SOIL POLLUTANT ELUTION PROMOTING APPARATUS例文帳に追加

土壌汚染物質溶出試験方法および土壌汚染物質溶出促進装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, DELAY TEST CIRCUIT, AND METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路、ディレイテスト回路、及び半導体集積回路のテスト方法 - 特許庁

CIRCUIT FOR SYNCHRONOUSLY EXCHANGING DATA IN BOTH DIRECTIONS AND ITS SCAN TESTING METHOD例文帳に追加

双方向データを同期的に交換するための回路およびその走査テスト方法 - 特許庁

In this fatigue testing method of applying a load repeatingly onto a testing body 1 of the semiconductor, an elastic sheet 2 is arranged to bring a face of the elastic sheet 2 into contact with the testing body 1, and the load is applied onto a face of the testing body in an opposite side of the elastic sheet.例文帳に追加

半導体装置の試験体１に荷重を繰り返し負荷する疲労試験方法であって、試験体１に弾性板２の面が接触するように弾性板を配置して、弾性板の反対側の試験体の面に荷重を負荷する。 - 特許庁

To provide a method of testing a semiconductor device which is capable of testing the electrical properties of the semiconductor device with high accuracy before an assembly process is carried out.例文帳に追加

アセンブリ工程より前に行なう電気的特性のテストを精度良く行なうことができる半導体素子のテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing a product character for effectively using testing data on a product, based on an identification number.例文帳に追加

識別番号に基づいて製品の検査データを有効活用することができる製品特性の検査方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a tire crack testing method which enables a reduction in facility cost while reproducing a crack that occurs in the market by testing indoors.例文帳に追加

市場で発生するクラックを室内試験で再現しながら、設備コストを低減することが可能なタイヤクラック試験方法を提供する。 - 特許庁

The automatic polishing method of the bedrock testing surface is so constituted that the bedrock testing surface is automatically polished with a polishing disc to form the finished surface.例文帳に追加

岩盤の試験面を研磨ディスクで自動的に研磨して仕上げ面を形成するようにした岩盤試験面の自動研磨方法とした。 - 特許庁

To readily and accurately provide a hepatitis C testing method capable of grasping the extent of advance of hepatitis C, and to provide a hepatitis C testing device.例文帳に追加

容易かつ正確にＣ型肝炎の進行度を把握できるＣ型肝炎検査方法およびＣ型肝炎検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide the ATS ground equipment capable of automatically and periodically testing the performance, and a performance testing method of the ATS ground equipment.例文帳に追加

性能試験が自動的、定期的に容易におこなえるＡＴＳ地上装置、及びＡＴＳ地上装置の性能試験方法を提供する。 - 特許庁

The testing method is constituted for changing the restraint, by making the test body holding means 4 stop in the middle of testing by the test body restraining control means 6.例文帳に追加

試験途中に試験体拘束制御手段６により試験体保持手段４を停止させ、拘束状態を変更する試験方法。 - 特許庁

To provide a hardness testing machine and a hardness testing method that can perform an automatic test independent from an error of an inclination and a flatness of a sample.例文帳に追加

試料の傾きや平面度の誤差に依存せず、自動試験を行うことのできる硬さ試験機及び硬さ試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor wafer testing method capable of testing whether each optical semiconductor device is normally operated or not, before completion.例文帳に追加

各光半導体装置が完成する前に正常動作するか否かを試験することが可能な、半導体ウェハの試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a DDR-SDRAM interface circuit in which the loop-back test can be more exactly performed, and its testing method and its testing system.例文帳に追加

ループバック試験をより正確に行うことが可能なＤＤＲ−ＳＤＲＡＭインターフェース回路、その試験方法、その試験システムを提供すること。 - 特許庁

To provide a testing method of an elevator load weighing device capable of easily testing an action of a load weighing switch without a special device.例文帳に追加

特別な装置を必要としなく、また、容易に秤スイッチの動作試験を行うことができるエレベータ秤装置の試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing method and a testing fixture capable of surely determining the occurrence status of a whisker even in a comparatively simple structure.例文帳に追加

比較的簡易な構造でありながら、確実にウイスカ発生状況の判定を行える試験方法及び試験用治具を提供すること。 - 特許庁

To provide a optical line testing system and a optical line testing method which can easily perform system modification by reducing modifying steps and confirming steps of software, when devices are added, and testing procedures are changed.例文帳に追加

従来の光線路試験システムにおいては、設備管理センタ５から指示された光線路試験の種別に応じて、システム内の各試験装置の動作順序と試験指示をコマンドで直接記述している。 - 特許庁

When the first testing device is connected to the system, this method includes the step of making the first testing device operatable with an interface(320) for the system, in which the first testing device can be connected to an object device to be tested.例文帳に追加

第１の試験装置がシステムに接続されていた場合、本方法は、第１の試験装置が試験対象デバイスに接続可能なシステムのインタフェース(320)と共に動作できるようにするステップを含む。 - 特許庁

To provide an evaluation method suitable for exhaustively testing a large number of testing substances in high cost-performance to find out a substance having an effect to impart a living body with moistness among the testing substances.例文帳に追加

被検査物質の中から生体に潤いを与える効果を有する物質を見出すため、コストパフォーマンスに優れ、また、多くの被検査物質を網羅的に試験するのに適した評価方法を提供する。 - 特許庁

To provide a device for testing a molded container which can save its installation space and a method for testing the molded container which can save a space necessary for testing the molded container.例文帳に追加

その設置スペースを小さなものとすることができる成形容器の検査装置、および成形容器の検査に必要なスペースを小さなものとすることができる成形容器の検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide an image quality correction processing apparatus and method, and a program thereof for reducing a time required for testing without degrading the quality of testing to the utmost extent in an image testing processing for manually correcting the correction of an automatically corrected image as required.例文帳に追加

自動補正された画像に対し必要に応じてその補正を手動で修正する画像検定処理において、検定の質を極力落とさず検定の所要時間を短縮する。 - 特許庁

To provide a program device, a program testing method and a program testing program capable of performing program testing with a programmable condition and prohibiting occurrence of a program error.例文帳に追加

本発明は、プログラマブルな条件でプログラム試験が行え、プログラムエラーの発生を未然に防ぐことができるプログラム装置、プログラム試験方法およびプログラム試験用プログラムを提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a pad for probe sensing for testing electrically the semiconductor device without attacking the device, a substrate having a semiconductor device, a method of testing the semiconductor device and a tester for testing the semiconductor device.例文帳に追加

半導体素子にアタックを加えなく素子を電気的にテストするためのプローブセンシング用パッド、半導体素子の搭載された基板、半導体素子検査方法及び半導体素子テスターを提供する。 - 特許庁