「testing method」に関連した英語例文の一覧と使い方(70ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a semiconductor circuit testing tool provided with a testing electrode formed with precise shape and tip diameter and a manufacturing method thereof.例文帳に追加

形状及び先端径が精度良く形成された検査電極を備えた半導体回路検査治具及びその製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a module for testing that does not damage an electrode pad of a semiconductor device and restrains test costs, and to provide a testing method of the semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の電極パッドへの損傷を与えず、且つ、試験コストを抑える試験用モジュール及び半導体装置の試験方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a testing device and a testing method capable of properly evaluating cleanliness of lubrication oil for an internal combustion engine at a piston under a crown in a laboratory.例文帳に追加

実験室で内燃機関用潤滑油のピストンアンダークラウンでの清浄性を適正に評価することができる試験装置および試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test system and a method of testing a semiconductor device reliably finding a failure caused by a measurement system before testing the semiconductor device.例文帳に追加

半導体デバイスを試験する前に測定系起因の故障を確実に発見する半導体試験システム及び半導体デバイスの試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for testing a semiconductor capable of testing by applying a substantially constant temperature stress to all semiconductor devices.例文帳に追加

全ての半導体デバイスに対し、ほぼ一定の温度ストレスをかけて試験をすることができる半導体の試験方法及び装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a lead wire and a method for measuring and testing apparatuses and capable of safely testing opening and closing characteristics of circuit breakers without the occurrence of troubles.例文帳に追加

トラブルの発生なく安全に遮断器開閉特性試験などを行うことができる機器測定試験リード線および機器測定試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a strain control type super-high cycle fatigue testing method and a fatigue testing apparatus therefor, which can carry out a super-high cycle fatigue test for a short period of time.例文帳に追加

超高サイクル疲労試験を短時間で実施することができるひずみ制御型超高サイクル疲労試験方法および疲労試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a detection method capable of easily detecting the yield point of a solid material, which can not be calculated by a conventional method, by a tensile testing method using a weight type control method based on a viewpoint different from a conventional tensile testing method.例文帳に追加

従来の引張試験方法とは異なる観点に基づいた重り式制御法を用いた引張試験方法により、従来方法では求めることができなかった固体材料の降伏点を容易に検出できる検出法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing method for egg capable of judging the deterioration of the lamp of a light source and precisely executing the internal test of an egg, and a testing device for egg used for the execution of this method.例文帳に追加

光源のランプの劣化の有無を判断し、精度良く卵の内部検査を実施することができる検卵方法及びその実施に使用する検卵装置を提供する。 - 特許庁

To prevent deterioration of measurement accuracy, even when testing an analog-digital converting circuit with a tester for exclusive use for logic, concerning an integrated circuit, a tester for the integrated circuit, a testing method for the integrated circuit, a program of the testing method for the integrated circuit, and a recording medium having recorded the program for the testing method of the integrated circuit.例文帳に追加

本発明は、集積回路、集積回路の試験装置、集積回路の試験方法、集積回路の試験方法のプログラム及び集積回路の試験方法のプログラムを記録した記録媒体に関し、ロジック専用の試験装置でアナログディジタル変換回路を試験する場合でも、測定精度の劣化を防止することができるようにする。 - 特許庁

To provide an eddy current testing method and an eddy current testing apparatus, capable of executing accurate eddy current testing, even if the shape of a rolling material has ununiformity caused by rolling or magnetism irregularities caused by processing deformation are generated.例文帳に追加

圧延材に圧延による形状の不均一があったり、加工歪による磁気ムラが発生したりしても精度よく渦流探傷がなし得る渦流探傷方法および渦流探傷装置を提供する。 - 特許庁

To provide an integrated circuit testing method and an integrated circuit testing circuit allowing easy control and requiring less hardware for isolating a scan block in testing on an integrated circuit in which the scanning block and a non-scanning block are mixed.例文帳に追加

スキャンブロックと非スキャンブロックが混在する集積回路のテストにおいて、スキャンブロックをアイソレーションするために、制御が容易でかつハードウェア量の少ない集積回路のテスト方法およびテスト回路を提供する。 - 特許庁

To provide an abrasion testing method and abrasion testing apparatus for accurately evaluating the abrasion characteristic of an actual material by testing the abrasion of a specimen in a state close to an actual abrasion state.例文帳に追加

試験体の摩耗を実際の摩耗状態に近い状態で試験することによって実際の材料の摩耗特性を正確に評価することができる摩耗試験方法及び摩耗試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a scratchability testing machine for floor material easily measuring and evaluating the scratchability of a floor material under a condition similar to the actual using state of the floor material with good reproducibility, and a testing device and testing method using it.例文帳に追加

床材の傷付き性を、床材の実際の使用状況と類似した条件で容易に再現性よく測定・評価できる床材用傷付き性試験機、及びこれを用いた試験装置、試験方法の提供。 - 特許庁

By the coating film testing method, the defect of the coating film caused by a coating material thereof can be more easily discovered, and the testing can be performed more rapidly than SST (salt water spray testing).例文帳に追加

このような塗膜検査方法によれば、その蛍光を検査することによりその塗料による塗膜の欠陥をより容易に発見することができ、ＳＳＴ検査（塩水噴霧試験）より速く検査することができる。 - 特許庁

To provide a subscriber circuit testing device, subscriber circuit testing system, subscriber circuit testing method and subscriber circuit testing program which enable a test of an off-hook detection function and a test for the normality of a voice path to be applied to a subscriber circuit as a series of processing.例文帳に追加

加入者回路に対して、オフフック検出機能の試験と音声パスの正常性の試験を一連の処理として行うことのできる加入者回路試験装置、加入者回路試験システム、加入者回路試験方法および加入者回路試験プログラムを提供する。 - 特許庁

This method is concerned with a method for testing integrated circuits with a plurality of clock systems and integrated circuits on which testing is easy, and the method includes a step to insert a multiplexed scanning flip-flop into an integrated circuit.例文帳に追加

本発明は、複数のクロックシステムを持つ集積回路をテストするための方法、およびテストが容易な集積回路に関するが、この方法は、マルチプレクスド走査フリップ−フロップを集積回路に挿入するステップを含むむ。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for testing the function of a fine structure element.例文帳に追加

微細構造素子の機能を試験するための方法及び装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a test unit and a test method enabling accurate examination of phenomena during testing.例文帳に追加

試験中の現象を的確に検証できる試験装置および試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing a secondary battery by which the secondary battery can be tested safely at low cost.例文帳に追加

安全かつ低コストで二次電池を検査できる二次電池の検査方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a system, an apparatus and a method for testing about a high-speed data transmission error.例文帳に追加

高速データ伝送エラーに関して試験するためのシステム、装置、及び方法を提供する。 - 特許庁

There is disclosed a circuit board and a method for testing elements mounted inside the circuit board.例文帳に追加

回路基板及び前記回路基板の内部に実装された素子のテスト方法が開始される。 - 特許庁

To provide a method for testing a material defect in a shaped polycrystalline silicon body without any destruction.例文帳に追加

多結晶シリコン成形体の材料欠陥を破壊なしに試験する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of and an apparatus for easily testing fuel oil of a diesel engine for ships.例文帳に追加

舶用ディーゼルエンジンの燃料油を簡便に試験できる方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a system and a method for testing which reduce a production test time for semiconductor devices.例文帳に追加

半導体装置の生産試験時間を低減する試験システム及び方法を提供する。 - 特許庁

SOUND REPRODUCTION CONTROL APPARATUS, INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, SOUND REPRODUCTION EVALUATION SYSTEM AND TESTING METHOD OF SOUND REPRODUCTION DEVICE例文帳に追加

音再生制御装置、集積回路装置、音再生評価システム、音再生装置のテスト方法 - 特許庁

To provide an eddy current test system (5) and method for testing a constituting part (12).例文帳に追加

構成部品（１２）を検査するための渦電流探傷検査システム（５）及び方法を提供する。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING CHARACTERISTICS OF THERMAL RESISTANCE FLOWMETER例文帳に追加

熱抵抗体流量計の特性試験方法および熱抵抗体流量計の特性試験装置 - 特許庁

AUTOMOTIVE DOOR LOCK ASSEMBLY AND METHOD FOR TESTING AS TO WHETHER DOOR LOCK ASSEMBLY IS PROPERLY OPERATED例文帳に追加

自動車のドアロックアッセンブリ及びドアロックアッセンブリが適切に動作しているかを試験する方法 - 特許庁

To provide a method and device for testing memory for shortening an erase test of non-volatile memory.例文帳に追加

不揮発性メモリの消去試験を短縮するメモリ試験方法及び装置を提案する。 - 特許庁

METHOD FOR GENERATING TEST SIGNAL FOR TESTING ACCURACY OF CINR MEASUREMENT OF SUBSCRIBER STATION THROUGH BASE STATION EMULATOR例文帳に追加

基地局エミュレータによる端末のＣＩＮＲ測定精度試験用テスト信号の生成方法 - 特許庁

AERODYNAMIC TESTING METHOD OF MOVING OBJECT MODEL, AND MOVING OBJECT MODEL FOR AERODYNAMIC TESTINGS例文帳に追加

移動体模型の空気力学的試験方法、及び空気力学的試験用移動体模型 - 特許庁

To provide a method for testing a rotor assembly and stator assembly that use magnet bearings before insulation.例文帳に追加

磁気軸受を用いたロータアセンブリおよびステータアセンブリを、絶縁前に試験する方法を提供する。 - 特許庁

MICROBIOLOGICAL TESTING APPARATUS, TEST AND CULTURE SYSTEM INCLUDING THE SAME AND METHOD FOR USING THE SAME例文帳に追加

微生物学的試験装置、それを含む試験および培養システム、ならびにそれを使用する方法 - 特許庁

To provide a method of testing a semiconductor device that ensures long-term reliability.例文帳に追加

長期信頼性を保障することができる半導体装置の試験方法を提供すること。 - 特許庁

IMAGE DISPLAY DEVICE, GAME MACHINE, IMAGE DATA TESTING METHOD, IMAGE DATA TEST PROGRAM AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加

画像表示装置、遊技機、画像データ検査方法、画像データ検査プログラム、および記録媒体 - 特許庁

PACKAGE HAVING BALL MINIMIZING CONTACT RESISTANCE, TESTING DEVICE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF例文帳に追加

コンタクト抵抗を最小化するボールを有するパッケージ及びテスト装置、並びにそのパッケージの製造方法 - 特許庁

IMITATION REFORMED GAS MANUFACTURING METHOD, ITS DEVICE, AND FUEL CELL TESTING DEVICE USING THIS例文帳に追加

模擬改質ガス製造方法およびその装置ならびにこれを用いた燃料電池試験装置 - 特許庁

RADIATION INTENSIFYING SCREEN, ITS MANUFACTURING METHOD, RADIATION RECEPTOR USING IT, AND RADIATION TESTING DEVICE例文帳に追加

放射線増感紙、その製造方法、それを用いた放射線レセプターおよび放射線検査装置 - 特許庁

MEASURING METHOD FOR TIRE UNIFORMITY AND TIRE UNIFORMITY TESTING APPARATUS FOR EXECUTING THE SAME例文帳に追加

タイヤユニフォミティーの測定方法及びその測定方法を実施するためのタイヤユニフォミティー試験装置。 - 特許庁

The method for testing compounds on their suppression of HCV replication uses the host cell.例文帳に追加

この宿主細胞を用いたＨＣＶ複製の抑制について化合物を試験する方法。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR VERIFYING INTEGRATED CIRCUIT DEVICE TEST FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

集積回路デバイスを試験するための集積回路デバイス試験を検証する方法及び装置 - 特許庁

This method for testing the dies uses a holding tray with a machining groove, having vacuum channels 26.例文帳に追加

減圧チャネル２６を有する機械加工溝付き保持トレイを用いたダイ試験方法である。 - 特許庁

BATTERY CHARGE/DISCHARGE TESTING METHOD FOR PORTABLE COMPUTER, PORTABLE COMPUTER, RECORDING MEDIUM AND PROGRAM例文帳に追加

携帯型コンピュータのバッテリ充放電試験方法、携帯型コンピュータ、記録媒体及びプログラム - 特許庁

DIGITAL CONTROL SYSTEM, DIGITAL CONTROL DEVICE, AND METHOD OF TESTING TRANSMISSION OF THE DIGITAL CONTROL SYSTEM例文帳に追加

デジタル制御システムおよびデジタル制御装置並びにデジタル制御システムの伝送試験方法 - 特許庁