「testing method」に関連した英語例文の一覧と使い方(73ページ目) - Weblio英語例文検索

To facilitate maintenance and management of constituting components of an apparatus 9 for testing the breakdown voltage of an ambient temperature contraction insulator, to reduce the cost of the apparatus 9 by improving the method for testing the breakdown voltage.例文帳に追加

耐圧試験方法を改良する事により、耐圧試験装置９のコスト低減と、この耐圧試験装置９の構成部品の保守・管理の容易化とを図る。 - 特許庁

To provide a method for testing an operation of a communication apparatus capable of testing from an external interface of the communication apparatus whether or not the operation of the communication apparatus is stopped or not.例文帳に追加

通信機器の動作が停止しているか否かを、通信機器の外部インタフェースから試験することが可能な通信機器の動作試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device and a testing method capable of outstandingly reducing labor required for preparation of a test signal applied to a plurality of kinds of ECUs.例文帳に追加

複数種類のＥＣＵに印加する試験用信号の作成に要する手間を大幅に低減することができる試験装置および試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing arrangement and testing method for semiconductor device capable of easily conducting strength evaluation of electromagnetic sensitivity of an LSI simple body against an electric wave.例文帳に追加

電波に対するＬＳＩ単体の電磁感受性の強度評価を容易に行うことができる半導体装置の試験装置および試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor-testing device that can use a reference comparator having a simple structure and can reduce costs, and to provide a method for calibrating the semiconductor-testing device.例文帳に追加

簡易な構造を有する基準コンパレータを使用することができ、コスト低減が可能な半導体試験装置およびそのキャリブレーション方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a tire testing device and a tire testing method capable of efficiently performing evaluation (generation amount evaluation, recovery evaluation) of a flat spot of a tire with high precision.例文帳に追加

タイヤのフラットスポットの評価(発生量評価、回復評価)を効率よく、高精度に行うことができるタイヤ試験装置及びタイヤ試験方法を提供する。 - 特許庁

CONNECTION TESTING APPARATUS FOR COMMUNICATION DEVICE, CONNECTION TEST SOFTWARE, COMPUTER READABLE STORAGE MEDIUM WITH THE SOFTWARE STORED THEREON, CONNECTION TESTING METHOD AND CONNECTION TEST COMPUTER SYSTEM例文帳に追加

通信装置の接続試験装置、接続試験ソフトウエア、該ソフトウエアを格納したコンピュータ読み取り可能な記憶媒体、接続試験方法及び接続試験コンピュータシステム - 特許庁

To provide a semiconductor testing device and a semiconductor testing method for quickly and efficiently selecting a semiconductor device and restraining the cost increase for the selection.例文帳に追加

半導体装置の選別を短時間に効率よく行うことができ、選別に要するコストを抑えることができる半導体試験装置および方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method for testing semiconductor devices, which suppresses an increase in the time required for simultaneously testing multiple semiconductor devices on a semiconductor wafer by using a probe card.例文帳に追加

半導体装置の試験方法について、プローブカードを使用して半導体ウエーハ上の複数の半導体装置を同時に試験する時間の増加を抑制すること。 - 特許庁

To provide a method of preventive maintenance for semiconductor testing apparatus allowing maintenance before the occurrence of any trouble, and a semiconductor testing apparatus having a preventive maintenance function.例文帳に追加

本発明は、不具合が発生する前に保守ができる半導体試験装置の予防保守方法と、その予防保守機能を有する半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a modem testing system and modem testing method to be used to measure intercommunication between a plurality of modems and a plurality of central office equipment.例文帳に追加

本発明は、複数のモデムと複数の中央オフィス設備との間の相互通信を測定するために用いられるモデムテストシステム及びモデムテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing method of a display device, which is capable of accurately predicting a lifetime of a pixel in a short time, a display device, a testing instrument of the display device, and an electronic apparatus.例文帳に追加

短期間で、画素の寿命を正確に予測することの可能な表示装置の検査方法、表示装置、表示装置の検査装置及び電子機器を提供する。 - 特許庁

To provide a static load testing method for conducting a test by applying load in only one direction, testing changes of load in a pulling-up process, and grasping properties of the ground by a simple method to conduct research on an accurate N value and geological features.例文帳に追加

載荷荷重を一方向のみに付加して試験するとともに、引き上げ過程の荷重変化をも試験し、簡素な方法で地盤の性状を把握し正確なＮ値、地質の調査を可能にする。 - 特許庁

To provide a testing method for a semiconductor device, in which the setup time and the loading time can be measured irrespective of a skew accuracy among the pins of an LSI tester, and to provide a loading board suitable for the testing method.例文帳に追加

ＬＳＩテスタのピン間スキュー精度によらずセットアップ時間、ホールド時間の測定を可能とした半導体デバイスの試験方法及びこの試験方法に好適なロードボードを提供する。 - 特許庁

To provide a testing method and a testing means for simultaneous, simple reference by accurately grasping the position of each mast by a highly reliable method in the process of the installation safety test of the mast.例文帳に追加

マストの設置安全性試験の過程において信頼性の高い手法で各マストの位置を正確に把握し、同時に簡単に参照することができるような試験方法及び手段を提案する。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display (LCD) panel which simplifies its testing and manufacturing by eliminating a short-circuit bar and a short-circuit bar removing step corresponding thereto, and a manufacturing method and a testing method thereof.例文帳に追加

短絡バー、それと対応する短絡バー除去工程を削除することで工程を単純化することができる液晶表示パネルとその製造方法及びその検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing the clarithromycin resistance of Helicobacter pylori with a non-invasive testing method by utilizing a feces specimen which can be simply collected regularly without accompanying patients' pain.例文帳に追加

患者の苦痛を伴うことなく、日常的に簡便に採取が可能な糞便検体を利用し、非侵襲的検査法によりヘリコバクター・ピロリ菌のクラリスロマイシン耐性を判定する検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide an IC tester, an IC testing method and a production method of semiconductors which can shorten the testing time by improving the flow of the control in the certification test of the operation voltages of ICs.例文帳に追加

ＩＣの動作電圧検定試験における制御の流れを改善し、テスト時間の短縮が図れるＩＣ試験装置及びＩＣ試験方法、半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing method capable of quickly and surely setting a control voltage so as to be within the power range of target value of an RF device and a semiconductor testing device using this method.例文帳に追加

本発明は、ＲＦデバイスの目標値のパワー範囲となるように、制御電圧を早く確実に設定できる半導体試験方法及びその試験方法を用いた半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing method and testing device of precisely and efficiently performing a test even to a board having patterns aligned with high density, and a manufacturing method of electro-optical device.例文帳に追加

高密度に配列されたパターンを有する基板に対しても高精度且つ効率的に検査を行うことのできる検査方法及び検査装置並びに電気光学装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING CORROSIVE ENVIRONMENT OF MOBILE BODY, ITS DESIGN METHOD, CORROSION TESTING METHOD FOR MOBILE BODY MATERIAL, ITS SELECTING METHOD, SURFACE TREATED STEEL PLATE, AND ANTI-CORROSIVE STEEL MATERIAL例文帳に追加

移動体の腐食環境計測方法、その設計方法、移動体材料の腐食試験方法およびその選定方法、ならびに表面処理鋼板および耐食鋼材 - 特許庁

Article 57 (1) A person who carries on the business of product testing at its testing laboratory located in Japan may apply to the competent minister to have the testing laboratory accredited for each division of the testing method as specified in the Ordinance of the competent ministry (hereinafter simply referred to as the "Division of the Testing Method") pursuant to the provisions of the Ordinance of the competent ministry. In this case, the procedures necessary to be taken for the Accreditation shall be specified in the Ordinance of the competent ministry. 例文帳に追加

第五十七条　国内にある試験所において製品試験の事業を行う者は、その試験所について、主務省令で定める試験方法の区分（以下単に「試験方法の区分」という。）ごとに、主務省令で定めるところにより、主務大臣に申請して、登録を受けることができる。この場合において、登録に関して必要な手続は、主務省令で定める。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

SUCCESSIVELY TRANSPORTING TYPE REACTION VESSEL, METHOD FOR PRODUCING SUCCESSIVELY TRANSPORTING TYPE REACTION VESSEL, AND TESTING METHOD BY USING SUCCESSIVELY TRANSPORTING TYPE REACTION VESSEL例文帳に追加

逐次移送式反応槽、逐次移送式反応槽の製造方法及び逐次移送式反応槽を用いた試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING SAME, AND METHOD FOR FORMING TEST PATTERN例文帳に追加

半導体集積回路装置および半導体集積回路装置の検査回路および検査方法および検査パターンの生成方法 - 特許庁

TESTING METHOD OF IMAGE DISPLAY PANEL MEMBER, IMAGE DISPLAY PANEL MEMBER, IMAGE DISPLAY PANEL, DRIVE METHOD OF THE IMAGE DISPLAY PANEL, AND IMAGE DISPLAY例文帳に追加

画像表示パネル部材のテスト方法、画像表示パネル部材、画像表示パネル、画像表示パネルの駆動方法、画像表示装置 - 特許庁

MAGNET ASSEMBLY, INSTRUMENT FOR MEASURING MAGNETIC LEAKAGE FLUX BY USING THE MAGNET ASSEMBLY, METHOD FOR MEASURING MAGNETIC LEAKAGE FLUX, AND TESTING METHOD例文帳に追加

磁石構成体、並びにこの磁石構成体を用いた漏洩磁束測定装置、漏洩磁束測定方法及び検査方法 - 特許庁

ANISOTROPIC CONDUCTIVE SHEET AND ITS MANUFACTURING METHOD, ADAPTER DEVICE AND ITS MANUFACTURING METHOD AS WELL AS ELECTRICAL TESTING DEVICE OF CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

異方導電性シートおよびその製造方法、アダプター装置およびその製造方法並びに回路装置の電気的検査装置 - 特許庁

SOFTWARE TESTING SYSTEM AND SOFTWARE TESTING METHOD, AND COMPUTER-READABLE PROGRAM RECORDING MEDIUM WITH PROGRAM FOR REALIZING THE SAME METHOD BY COMPUTER RECORDED THEREON, AND PROGRAM FOR REALIZING THE SAME METHOD BY COMPUTER例文帳に追加

ソフトウェア試験システム及びソフトウェア試験方法及びソフトウェア試験方法を計算機で実現するためのプログラムを記録した計算機で読み取り可能なプログラム記録媒体及びソフトウェア試験方法を計算機で実現するためのプログラム - 特許庁

To provide an ultrasonic flaw detection method and an apparatus, having a high S/N ratio and capable of detecting micro defects at a surface layer part of a material to be inspected having a coarse surface, such as a slab via immersion testing (full immersion testing, partial immersion testing, and a water-column ultrasonic method).例文帳に追加

水浸法（全没水浸法、局部水浸法、水柱超音波法）を用いて、スラブのように表面が粗い検査材の表層部にある微小欠陥を高いＳ／Ｎで探傷することが可能な超音波探傷方法および装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide the testing method of a semiconductor integrated circuit which can more easily and accurately test an integrated circuit on a semiconductor wafer, while eliminating post-processes, etc. after testing as well as a testing substrate, and to provide a semiconductor integrated circuit that is used in the method.例文帳に追加

テスティング基板はもとより、検査後の後処理等も不要としながら、より簡易且つ的確に半導体ウエハ上の集積回路を検査することのできる半導体集積回路の検査方法およびその方法の実施に使用される半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

To provide an ultrasonic flaw detection method and a device therefor, capable of detecting with a high S/N ratio, micro defects at a surface layer part of a material to be inspected having a coarse surface like a slab, by using immersion testing (full immersion testing, partial immersion testing, and a water-column ultrasonic method).例文帳に追加

水浸法（全没水浸法、局部水浸法、水柱超音波法）を用いて、スラブのように表面が粗い検査材の表層部にある微小欠陥を高いＳ／Ｎで探傷することが可能な超音波探傷方法および装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a method and a testing system capable of generating common test-condition data to a plurality of testing apparatuses, and generating the test-condition data in each apparatus by taking into consideration a difference in the performance of an apparatus in a short period of time, in the method for generating the test-condition data of the wafer visual testing apparatus.例文帳に追加

ウエーハ外観検査装置の検査条件データを生成する方法において、複数台の検査装置に対する共通の検査条件データを生成し、機差を考慮した装置毎の検査条件データを短時間で生成できる方法及び検査システムを提供する。 - 特許庁

To provide a method for confirming the operation of a crusher, a method for managing the accuracy of a pretreatment device for testing genes, and a sample analysis system, improving the reliability of the data of gene testing, by improving the reliability of crushing process as a pretreatment of gene testing.例文帳に追加

遺伝子検査の前処理である破砕処理の信頼性を向上させることにより遺伝子検査のデータの信頼性を高めることができる破砕装置の動作確認方法、遺伝子検査用前処理装置の精度管理方法及び試料分析システムを提供する。 - 特許庁

To provide a simple, sure and economical pumping testing method and a screw type water stop packer.例文帳に追加

簡便で確実かつ経済的な揚水試験方法及びスクリュー式止水パッカを提供すること。 - 特許庁

WATER-WASHABLE WATER-BASED PENETRANT FOR LIQUID PENETRANT TEST, AND LIQUID PENETRANT TESTING METHOD USING PENETRANT例文帳に追加

浸透探傷試験用水洗性水ベース浸透液及び該浸透液を用いる浸透探傷試験方法 - 特許庁

To provide a method of testing an electric fuse capable of shortening test time, and to provide an electric fuse circuit.例文帳に追加

テスト時間を短縮することのできる、電気ヒューズのテスト方法、及び電気ヒューズ回路を提供する。 - 特許庁

To provide a circuit block testing method in an integrated circuit capable of carrying out a test in a short time.例文帳に追加

短時間でテストを行うことができる集積回路における回路ブロック試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a fatigue testing method of rubber which enables the estimation of the fatigue life of rubber in a short time.例文帳に追加

ゴムの疲労寿命を短時間で予測することを可能にしたゴムの疲労試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide an analyte measurement device for testing blood glucose levels, and a method of operating the analyte measurement device.例文帳に追加

血液中の血糖値を試験するための検体測定装置およびその操作方法を提供する。 - 特許庁

To provide a system and method for testing integrated circuits under a variation in power supply voltage.例文帳に追加

電源電圧の変動下において集積回路を試験するための装置および方法を提供する。 - 特許庁

EXCITATION APPARATUS FOR DOWNWARD ELASTIC WAVE TEST AND DOWNWARD ELASTIC WAVE TESTING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

下向き式弾性波試験のための加振装置及びこれを用いた下向き式弾性波試験方法 - 特許庁

To provide an immunochromatographic testing method that enables a state of coloration by a reagent to be accurately measured.例文帳に追加

試薬による呈色状態を精度良く測定することができるイムノクロマトグラフ検査方法を得る。 - 特許庁

NONCONTACT SINGLE SIDE PROBE, AND APPARATUS AND METHOD FOR TESTING BREAKAGE OF WIRE AND SHORT CIRCUIT OF CONDUCTIVE LINE FOR USING THE SAME例文帳に追加

接触式シングルサイドプローブ及び、これを用いた導線の断線・短絡検査装置及びその方法 - 特許庁

CONFIRMATION METHOD FOR DEFICIENCY MANAGEMENT AREA INFORMATION OF OPTICAL DISK AT THE TIME OF INITIALIZATION WHICH IS NOT VERIFIED AND TESTING DEVICE THEREFOR例文帳に追加

検証しない初期化時の光ディスクの欠陥管理領域情報の確認方法及びテスト装置 - 特許庁

CONTROL CIRCUIT FOR DEVICE FOR OPENING AND CLOSING CONTACT, AND SYSTEM AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR CHIP USING THE SAME例文帳に追加

接点開閉装置の制御回路及びこれを用いた半導体チップテストシステム並びにテスト方法 - 特許庁