「testing method」に関連した英語例文の一覧と使い方(75ページ目) - Weblio英語例文検索

METHOD AND APPARATUS FOR OBTAINING COMBINING INFORMATION FROM SPEECH SIGNALS FOR ADAPTIVE INTERACTION IN TEACHING AND TESTING例文帳に追加

教育及び試験における適応対話の音声信号から複合情報を得る方法及び装置 - 特許庁

CONTACT GUIDING MEMBER, PROBE CARD AND SEMICONDUCTOR DEVICE TEST DEVICE, AND METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

接触子案内部材、プローブカード及び半導体装置試験装置、並びに半導体装置の試験方法 - 特許庁

The method for testing calcification according to a third aspect comprises a step of measuring the concentration of soluble Klotho and the like.例文帳に追加

第３の態様に係る石灰化検査方法は、可溶化Klothoの濃度等を測定する工程を含む。 - 特許庁

ESD RESISTANCE EVALUATION METHOD FOR ELECTRONIC ELEMENT, ESD RESISTANCE TESTING DEVICE AND ESD RESISTANCE EVALUATION DEVICE例文帳に追加

電子素子のＥＳＤ耐性評価方法、ＥＳＤ耐性試験装置並びにＥＳＤ耐性評価装置 - 特許庁

To provide an engine testing method and device capable of performing control with excellent responsiveness and robustness.例文帳に追加

応答性とロバスト性の高い制御を行うことのできるエンジン試験方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a display panel and a display panel testing method capable of simply evaluating electrical characteristics.例文帳に追加

簡易に電気的特性を評価できる表示パネルおよび表示パネル検査方法を提供すること。 - 特許庁

CONFIRMATION METHOD FOR DEFICIENCY MANAGEMENT AREA INFORMATION OF OPTICAL DISK AT THE TIME OF INITIALIZATION TO BE VERIFIED AND TESTING DEVICE THEREFOR例文帳に追加

検証する初期化時の光ディスクの欠陥管理領域情報の確認方法及びテスト装置 - 特許庁

WATER-WASHABLE WATER-BASED PENETRANT FOR PENETRATION FLAW DETECTION TEST AND PENETRATION FLAW DETECTION TESTING METHOD USING PENETRANT例文帳に追加

浸透探傷試験用水洗性水ベース浸透液及び該浸透液を用いる浸透探傷試験方法 - 特許庁

REFERENCE KIT FOR DIAGNOSTIC TEST AND KIT FOR TESTING NUCLEIC ACID HYBRIDIZATION, AND METHOD FOR PRODUCING THE KITS例文帳に追加

診断検定用対照キットおよび核酸ハイブリッド形成検定用キット並びにそれらの製造方法 - 特許庁

To provide a controlling method and an apparatus for a probe-tip sanding of a semiconductor-element testing apparatus.例文帳に追加

半導体素子テスト装置のプローブチップサンディング制御方法及びサンディング制御装置を提供するにある。 - 特許庁

DYNAMIC CHARACTERISTICS MEASURING METHOD BASED ON IN SITU DETERMINATION OF CONTACT SURFACE OF OPTICAL INDENTOR AND ITS TESTING APPARATUS例文帳に追加

光学式圧子接触面のその場定量に基づく力学特性計測法及びその試験装置 - 特許庁

To provide a test circuit and a test method for accurately and quickly testing an ADC circuit.例文帳に追加

正確で迅速にＡＤＣ回路のテストを行うことができるテスト回路及びテスト方法を提供する。 - 特許庁

QUALITY TESTING METHOD, MANUFACTURING METHOD AND MANUFACTURING APPARATUS FOR TESTPIECE USED FOR ANALYZING BIOLOGICAL MATTER, AND METHOD USING ABOVE TESTPIECE FOR ANALYZING BIOLOGICAL MATTER例文帳に追加

生体関連物質解析用試験片の品質検査方法、製造方法および製造装置ならびに該試験片を用いた生体関連物質の解析方法 - 特許庁

The method includes a step for generating deficiency management information, as testing information, generated after performing the initialization which is not verified on an empty testing disk in which no data are recorded and a step for confirming the testing information by using reference testing information about the initialization which is not verified to provide the test result.例文帳に追加

何のデータも記録されていない空テストディスク上に検証しない初期化を行った後に生成される欠陥管理情報をテスト情報として生成する段階及び、検証しない初期化についての基準テスト情報を使用して前記テスト情報を確認してテスト結果を提供する段階を含む。 - 特許庁

To provide a safety evaluation testing method and a testing device for the same, which can capture the total amount of gas that is generated in a power storage device while testing and carry out a component analysis while making unnecessary a high pressure durable and high volume testing container for storing the power storage device and carrying out a safety evaluation test.例文帳に追加

本発明は、蓄電デバイスを収容し、安全性評価試験を行なうために高耐圧かつ高容積な試験容器が不要でありながら、試験時に蓄電デバイスから発生したガスの全量を捕獲し、成分分析が可能な安全性評価試験方法およびその試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

The method tests for continuity, by fitting the second press fit connector 38 of a testing jig 39 mounted on a testing printed circuit board 40 to the first press fit connector 14 mounted on the board 20 and connecting the testing conductor pattern of the printed circuit board selectively to the respective output land of the testing jig.例文帳に追加

その検査方法は、検査用プリント回路板４０に実装された検査用治具３９の第２プレスフィットコネクタ３８をプリント回路板２０上に実装された第１プレスフィットコネクタ１４に嵌合させ、プリント回路板の検査用導体パターンを検査用治具の出力ランドの各々に選択的に接続して導通検査する。 - 特許庁

The testing method of the semiconductor integrated circuit device is so constituted that testing items of the semiconductor integrated circuit device (30) can be changed on the basis of testing result in the manufacturing steps of the semiconductor integrated circuit device by testing (20) the manufacturing process of the semiconductor integrated circuit device.例文帳に追加

半導体集積回路装置の試験方法であって、前記半導体集積回路装置の製造工程において検査を行い（２０）、該半導体集積回路装置の製造工程における検査結果に基づいて、該半導体集積回路装置の試験項目を可変にする（３０）ように構成する。 - 特許庁

To provide a satellite adjusting and testing system and method capable of dispensing with a number of times of preparation work and decomposing work for using a number of testing chambers, and dispensing with moving a satellite between the testing chambers by executing assemblage of the satellite and a lot of tests in a single testing chamber.例文帳に追加

衛星の組み立て及び多くの試験を単一の試験チャンバ内で実施することによって、多数の試験チャンバを使用する場合に必要な多数回の準備作業及び分解作業をなくし、衛星を試験チャンバ間で移動する必要をなくす、衛星調整−試験システム及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide an inverter testing device and an inverter testing method capable of easily measuring a current phase angle and/or a voltage phase angle with respect to a reference phase angle with an external measuring instrument, and testing an inverter satisfactorily.例文帳に追加

基準位相角に対する電流位相角及び／または電圧位相角を外部の計測器にて容易に計測することができ、インバータの試験を良好に行うことができるインバータ試験装置及びインバータ試験方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a clip tester for extremely improving reliability of verification by generating pseudo failure at timing corresponding to operation timing of a circuit to be tested, and to provide a clip testing device, a clip testing method and a clip testing program.例文帳に追加

被試験回路の動作タイミングに対応したタイミングで擬似故障を発生させることができ、もって、検証の信頼性を極めて向上させることができるクリップテスタ、クリップ試験装置、クリップ試験方法、およびクリップ試験プログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit-testing apparatus and a semiconductor integrated circuit-testing method for quickly and efficiently testing a semiconductor integrated circuit where analog and digital circuits are mixed, and hence for reducing costs required for the test.例文帳に追加

アナログ回路とディジタル回路とが混在する半導体集積回路を短時間で効率良く試験することができ、その結果として試験に要するコストを低減することができる半導体集積回路試験装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide a soil-filled column testing apparatus that can be easily and efficiently executed by using a continuous water passage system soil column and can improve reliability in the environmental recovery of contaminated soil and possibility investigation, and to provide a testing method using the soil-filled column testing apparatus.例文帳に追加

連続通水式の土壌カラムを用いて簡易かつ効率的に実施でき、汚染された土壌の環境修復・可能性調査の信頼性を高められる土壌充填カラム試験装置及びそれを用いる試験方法の提供。 - 特許庁

To test and diagnose a storage device, more precisely to provide a testing/diagnosing method and a testing/diagnosing device for testing the storage device and performing diagnosis for specifying a repair location for the storage device which is determined as being a failure.例文帳に追加

本発明は、記憶装置の試験と診断とに関し、より詳細には記憶装置を試験し、不良と判定された記憶装置に対して修復箇所を特定する診断を行う試験・診断方法および試験・診断装置に関する。 - 特許庁

To provide a method and a tool for testing breakage strength for a gear tooth capable of carrying out a test efficiently using a general strength testing machine, and capable of conducting the stable test even when a testing gear is a helical gear.例文帳に追加

一般的な強度試験機を用いて効率良く試験を行え、また、試験歯車がはすば歯車であっても安定した試験が行える歯車の歯折れ強度試験方法と歯折れ強度試験治具を提供することを課題としている。 - 特許庁

To provide a testing method for an A/D converting circuit that conducts a test of a high-resolution (multi-bit) A/D converting circuit in a short time at a low cost, and the A/D converting circuit suitable to implementation of the testing method.例文帳に追加

高分解能（多ビット）Ａ／Ｄ変換回路の試験を短時間且つ低コストで実現するＡ／Ｄ変換回路の試験方法、及びその試験方法の実施に適したＡ／Ｄ変換回路の提供。 - 特許庁

To obtain a testing method of radar proper for a testing method for radar during mass production, by making target detection performance of an FM-CW radar, capable of inspecting easily and in a short time, and to provide its device at low cost.例文帳に追加

ＦＭ−ＣＷレーダのターゲット検出性能を安価な設備で容易かつ短時間で検査できるようにして、レーダの大量生産時の試験方式として好適なレーダ試験方法および装置を得ること。 - 特許庁

To provide a polynucleotide utilizable for genetic testing for obesity having high accuracy and to provide a method for detecting a genetic polymorphism, capable of carrying out genetic testing of obesity having high accuracy and to provide an oligonucleotide set used for the method.例文帳に追加

精度の高い肥満の遺伝子検査に利用できるポリヌクレオチド、精度の高い肥満の遺伝子検査を行うことができる遺伝子多型の検出方法、及びその方法に使用するオリゴヌクレオチドセットを提供する。 - 特許庁

This invention also refers to a method for providing electrical conductive vias passing through an electro-optical medium and a method for testing the front plane laminate.例文帳に追加

電気光学媒体を貫通する導電性バイアを設ける方法と、前面ラミネートを検査する方法とについても記載している。 - 特許庁

To provide a method and apparatus for centering a disk (50) on a spindle (11), a spinstand (1), and a method of testing with the spinstand.例文帳に追加

スピンドル（１１）上のディスク（５０）をセンタリングする方法及び装置、スピンスタンド（１）並びにスピンスタンドを用いた試験方法を提供する。 - 特許庁

A method for providing a conductive via which penetrates the electro-optical medium layer and a method for testing the front plane laminate are also described.例文帳に追加

電気光学媒体を貫通する導電性バイアを設ける方法と、前面ラミネートを検査する方法とについても記載している。 - 特許庁

SEPARATION TOOL OF BLOOD PLASMA OR SERUM, SAMPLING METHOD OF BLOOD PLASMA OR SERUM, SEPARATION METHOD OF BLOOD PLASMA OR SERUM, TESTING CARRIER, AND GLASS FIBER例文帳に追加

血漿又は血清分離具、血漿又は血清の採取方法、血漿又は血清分離方法、試験担体及びガラス繊維 - 特許庁

(i) The radioactive cesium concentration in dried or manufactured tea leaves measured according to the method described in the Testing Method Notification does not exceed 200 Bq/kg.例文帳に追加

① 荒茶又は製茶に含まれる放射性セシウム濃度を、試験法通知で示した方法により測定した結果、200Bq/kg 以下の場合 - 厚生労働省

To provide a method by which DMA information of an optical disk is confirmed at the time of initialization which is not verified, and a testing device for performing the method.例文帳に追加

検証しない初期化時の光ディスクのDMA情報を確認する方法及びこれを行うためのテスト装置を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR REPAIRING AND ANALYZING DEFECTIVE MEMORY AND MEMORY-TESTING DEVICE WITH DEVICE FOR REPAIRING AND ANALYZING DEFECTIVE MEMORY TO WHICH THE ANALYSIS METHOD IS APPLIED例文帳に追加

メモリの不良救済解析方法及びこの解析方法を適用した不良救済解析器を搭載したメモリ試験装置 - 特許庁

METHOD FOR INSPECTING ON-SITE SURGE CURRENT DISCHARGE EXPERIMENT TO EQUIPOTENTIAL CONNECTION AND BASIC PILE GROUNDED PLATE, DISCHARGE TESTING DEVICE, AND DISCHARGE MONITORING METHOD例文帳に追加

等電位接続と基礎杭アース板への現場サージ電流放電実験検査方法及び放電試験装置並びに放電監視方法 - 特許庁

To provide a testing device which inspects reliability of a light emitting device in a state closer to that in the real usage environment, and surely, rapidly, and easily detect a failure article, and the testing method.例文帳に追加

実使用環境下により近い状態で発光装置の信頼性を検査し、より確実に不具合品を早く検出し易くする試験装置および試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing apparatus to perform DNA testing by a real-time PCR method by flowing a reaction solution containing nucleic acids through a flow channel and effective for reducing the deterioration such as fading of fluorescent label during the test.例文帳に追加

核酸を含む反応溶液を流路内に流しながらリアルタイムPCR法によりDNA検査を行う検査装置において、検査中の蛍光標識の退色などの劣化を低減させる。 - 特許庁

To provide a jig for testing durability of a joystick switch for a vehicle, capable of testing the durability of the joystick switch, by a method similar to an operation of the joystick switch by a person.例文帳に追加

人がジョイスティックスイッチを操作することと類似の方式により、ジョイスティックスイッチの耐久性能が試験できる車両用ジョイスティックスイッチ耐久試験用ジグを提供する。 - 特許庁

To provide a material testing machine that accurately measures a position of a bench mark using the entire area of a bench-mark profile, and a method for measuring a bench mark of a material testing machine.例文帳に追加

標線のプロファイルの全域を利用して標線の位置を正確に測定することが可能な材料試験機および材料試験機の標線測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a peel testing apparatus performing a 90° peel test with high precision at low cost and capable of corresponding, even for another peel test, including a new testing method which has not been developed thus far.例文帳に追加

９０度剥剥離試験を低コストで高精度に行うと共に、従来にない新たな試験方法を含むその他の剥離試験にも対応可能な剥離試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device and method for testing a model structure for testing, with a simple model, a physical phenomenon occurring when a mobile unit moves in the structure.例文帳に追加

構造物内を移動体が移動する際に発生する物理現象を簡単な模型によって試験することができる模型構造物の試験装置とその試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and a device for testing a disk defect, capable of testing the surface undulation of a disk, and improving accuracy of determining acceptability of the disk.例文帳に追加

ディスクの表面のうねりを検査することが可能で、ディスクの合否判定の精度を向上させることができるようなディスク欠陥検査方法および検査装置を提供することになる。 - 特許庁

To provide a method of testing a plasma reactor multi-frequency matching network capable of testing all active operation frequencies simultaneously, and provide a multi-frequency dynamic dummy load.例文帳に追加

同時にアクティブな全ての動作周波数に対して試験可能なプラズマリアクタ多周波数整合回路網を試験する為の方法および多周波数ダイナミックダミー負荷を提供すること。 - 特許庁

To provide a socket test device and its method capable of testing whether each contact of a socket used for testing a semiconductor device is in a good state or in a bad state.例文帳に追加

半導体デバイスをテストするために用いられるソケットのコンタクタの良好及び不良状態をテストすることができるソケットテスト装置及びその方法を提供するにある。 - 特許庁

To provide a PTC element hardly causing trouble such as a short circuit during on/off testing for testing overload use condition characteristics; and a method of manufacturing the same.例文帳に追加

過負荷の使用状態特性を試験するためのオンオフ試験時に、短絡などの不具合が発生するおそれが少ないＰＴＣ素子およびその製造方法を提供すること。 - 特許庁