| 意味 | 例文 |
testing methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 5388件
METHOD AND DEVICE FOR TESTING CIRCUIT, AND STORAGE MEDIUM HAVING STORED PROGRAM FOR IMPLEMENTING IT THEREON例文帳に追加
回路試験方法及び回路試験装置並びにそれを実現するためのプログラムが記憶された記録媒体 - 特許庁
BEARING RING WITH ARTIFICIAL DEFECT, ROLLER BEARING WITH AN ARTIFICIAL DEFECT, AND LIFETIME TESTING METHOD FOR ROLLER BEARING例文帳に追加
人工欠陥付軌道輪及び人工欠陥付転がり軸受と転がり軸受の寿命試験方法 - 特許庁
To provide a method and an apparatus for removing and/or preventing surface contamination of a probe for testing a semiconductor wafer.例文帳に追加
半導体ウエハーのテスト用プローブの表面の汚染の除去や防止の方法と装置を提供する。 - 特許庁
TESTING METHOD RELATED TO IMPREGNATION OR PENETRATION PROPERTIES OF ELECTRIC INSULATING RESIN COMPOSITION AND ITS TEST PIECE例文帳に追加
電気絶縁用樹脂組成物の含浸性または浸透性に関する試験方法およびその試験片 - 特許庁
To provide a high-speed and highly accurate power supply voltage variation testing apparatus, a method, and a computer program.例文帳に追加
高速かつ高精度な電源電圧変動検証装置、方法や及びコンピュータプログラムを提供する。 - 特許庁
SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE, DIAGNOSIS PROGRAM FOR THE SAME, AND DIAGNOSIS METHOD FOR THE SAME例文帳に追加
半導体試験装置、半導体試験装置の診断プログラムおよび半導体試験装置の診断方法 - 特許庁
To provide a method and device for product-acceptance testing that are simple and safe, and have high consistency.例文帳に追加
単純かつ安全で、より一貫性の高い製品受容試験方法および装置を提供する。 - 特許庁
To provide a hardness testing method which can acquire detailed material characteristics, and a hardness tester.例文帳に追加
詳細な材料特性を取得することのできる硬さ試験方法及び硬さ試験機を提供する。 - 特許庁
COMMAND TRANSMISSION CONTROL DEVICE, INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, SOUND REPRODUCTION EVALUATION SYSTEM, AND TESTING METHOD OF SOUND REPRODUCTION DEVICE例文帳に追加
コマンド送信制御装置、集積回路装置、音再生評価システム及び音再生装置のテスト方法 - 特許庁
METHOD, SYSTEM AND PROGRAM FOR TESTING CONDUCTIVITY IN ETHERNET, AND RECORD MEDIUM例文帳に追加
イーサネットワークにおける導通性試験方法、導通性試験システム、導通性試験プログラムおよび記録媒体 - 特許庁
MOUNTING RELIABILITY EVALUATION TESTING APPARATUS FOR PRINTED-CIRCUIT BOARD ELEMENT AND METHOD THEREOF, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加
プリント回路板素子の実装信頼性評価試験装置およびその試験方法ならびに記録媒体 - 特許庁
OPTICAL PICKUP DEVICE, ELECTRONIC DEVICE HAVING THE OPTICAL PICKUP DEVICE MOUNTED THEREON, AND DEVICE AND METHOD FOR TESTING THE OPTICAL PICKUP DEVICE例文帳に追加
光ピックアップ装置、それを搭載する電子機器、光ピックアップ装置の検査装置および検査方法 - 特許庁
METHOD FOR EVALUATING WEATHER RESISTANCE OF METALLIC MATERIAL, METALLIC MATERIAL, AND APPARATUS FOR TESTING CORROSION ACCELERATION OF METALLIC MATERIAL例文帳に追加
金属材料の耐候性評価方法、金属材料及び金属材料の腐食促進試験装置 - 特許庁
To provide a nondestructive testing method which can determine an elastic modulus over the entire surface of an article.例文帳に追加
物品の表面全体にまたがって弾性率を判定可能な非破壊試験方法を提供する - 特許庁
METHOD OF TESTING ACTIVITY OF POTENTIALLY ACTIVE SUBSTANCE TO INHIBIT ENZYMATIC ACTIVITY OF PHOSPHOLIPASE A2例文帳に追加
ホスホリパーゼA2の酵素活性を阻害するのに有効である可能性がある物質の活性の試験方法 - 特許庁
To provide a method and a system for testing a plurality of filter rules in a computer system.例文帳に追加
コンピュータ・システム内の複数のフィルタ規則を試験するための方法およびシステムを提供すること。 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING LIQUEFACTION AND DYNAMIC PROPERTY OF GROUND IN SITU BY UTILIZING BOREHOLE例文帳に追加
ボーリング孔を利用した原位置での地盤の液状化および動的特性試験方法および試験装置 - 特許庁
To provide a testing device and a method for a semiconductor integrated circuit having high practicality and versatility.例文帳に追加
より実用的且つ汎用性の高い半導体集積回路のテスト装置および方法を提供する。 - 特許庁
To provide a mobile communication method for easily testing the normality of communication with simple constitution.例文帳に追加
本発明は、簡単な構成で容易に通信の正常性を試験する移動通信方法を提供する。 - 特許庁
To provide a test circuit, an integrated circuit and a testing method capable of easily preparing a test pattern.例文帳に追加
テストパターン作成の容易化等を実現できるテスト回路、集積回路、テスト方法を提供すること。 - 特許庁
CORROSION RESISTANCE EVALUATION METHOD FOR METAL MATERIAL, METAL MATERIAL, AND CORROSION ACCELERATING TESTING DEVICE FOR METAL MATERIAL例文帳に追加
金属材料の耐食性評価方法、金属材料及び金属材料の腐食促進試験装置 - 特許庁
COMPRESSION/DECOMPRESSION METHOD FOR PATTERN DATA FOR SEMICONDUCTOR-TESTING APPARATUS AND TEST PATTERN- COMPRESSING/EXPANDING APPARATUS例文帳に追加
半導体試験装置用パタ—ンデ—タのコンプレッション・デコンプレッション方法及びテストパタ—ン圧縮・伸張装置 - 特許庁
To provide an IC tester and a testing method of the IC tester capable of shortening the test time.例文帳に追加
テスト時間を短縮できるICテスタ及びICテスタの試験方法を実現することを目的にする。 - 特許庁
Disclosed are the method and system for use in testing and calibration of electronic imaging and traditional photographic equipment.例文帳に追加
電子的および伝統的写真装置のテストおよびキャリブレートにおける使用のためのシステム及び方法。 - 特許庁
To provide an improved substrate test device for testing a substrate having a large area, and a method.例文帳に追加
大面積を有する基板の試験をさらに改良した基板の試験装置及び方法を提供する。 - 特許庁
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TESTING DEVICE, CALIBRATION METHOD FOR IT, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加
半導体集積回路試験装置、半導体集積回路試験装置の校正方法及び記録媒体 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING HEAVY LOAD IN ENCRYPTION SYSTEM AND RECORDING MEDIUM STORING HEAVY LOAD TEST PROGRAM例文帳に追加
暗号化システムにおける高負荷試験方法及び装置と高負荷試験プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁
To provide measuring method and system for testing a plurality of electron devices on a large-scale substrate.例文帳に追加
大面積基板上の複数の電子デバイスをテストするための測定方法及び装置が記載される。 - 特許庁
To provide an elevator device and a testing method for confirming the operation of an emergency stop device easily.例文帳に追加
非常止め装置の動作確認が容易に行えるエレベーター装置及び試験方法等を提供する。 - 特許庁
To provide a light stability testing method capable of keeping a designated temperature to make an accurate test.例文帳に追加
所定温度を維持し、正確な試験を行うことのできる光安定性試験方法を提供する。 - 特許庁
ULTRASONIC PROBE, ULTRASONIC TESTING DEVICE HAVING THE SAME, AND ULTRASONIC TEST METHOD USING THE SAME例文帳に追加
超音波探触子並びにこれを有する超音波試験装置及びこれを用いた超音波試験方法 - 特許庁
ELECTRO-ACOUSTIC TRANSDUCER, ELECTRONIC DEVICE, WATERPROOF COVER, AND METHOD FOR TESTING VENTILATION OF ELECTRO-ACOUSTIC TRANSDUCER例文帳に追加
電気音響変換装置、電子機器、及び防水カバー、並びに、電気音響変換装置の通気試験方法 - 特許庁
To provide a load testing device and a load test method capable of shortening the time required for a load test.例文帳に追加
荷重試験に要する時間を短縮できる荷重試験装置および荷重試験方法を提供する。 - 特許庁
To provide a system and method for testing an investigating substance with use of an ultrasonic beam.例文帳に追加
本発明は超音波ビームを使用して調査中の物質を検査するシステム及び方法を提供する。 - 特許庁
To provide a method and apparatus for testing a communication system using a frame alignment test signal.例文帳に追加
フレームの位置調整検査信号を用いて通信システムの検査方法及びその装置を提供する。 - 特許庁
To provide a method (100) for fabricating and testing an article having a thermal-spray coating.例文帳に追加
本発明は、その上に溶射皮膜を有する物品を製作しかつ検査する方法(100)を提供する。 - 特許庁
To provide a device for testing the liquid-pressure destruction of a mesh section in a propellant tank for a spacecraft, and to provide a method therefor.例文帳に追加
宇宙機用推薬タンク内部のメッシュ部の液圧破壊試験装置および試験方法を提供する。 - 特許庁
A method and a circuit for self-calibrating and testing QPSK transmitter/receiver integrated circuit are provided.例文帳に追加
QPSK送信器/受信器集積回路を自己校正、試験する方法及び回路が提供される。 - 特許庁
MATERIAL TESTING METHOD IN CORROSIVE ENVIRONMENT AND DETECTOR FOR MEASURING DISPLACEMENT OF SPECIMEN例文帳に追加
腐食環境中における材料試験方法および試験体の変位を測定するための検出器 - 特許庁
WIRELESS COMMUNICATIONS SYSTEM AND TEST METHOD THEREOF, AND ACCESS TERMINAL FOR TESTING THE WIRELESS COMMUNICATIONS SYSTEM例文帳に追加
無線通信システム、および、その診断方法、ならびに、無線通信システムの診断に用いる無線端末 - 特許庁
MEMORY DEVICE CONFIGURED TO DETECT FAILURE OF TEMPERATURE SENSOR THEREOF AND METHOD OF OPERATING AND TESTING THE SAME例文帳に追加
温度センサーの不良を感知するメモリ装置、これを用いたメモリ装置の動作方法及びテスト方法 - 特許庁
To provide a method for testing memory which utilizes a general memory test program independent of an internal memory configuration.例文帳に追加
メモリの内部構成に依存しない汎用的な試験プログラムによるメモリ試験方法を提供する。 - 特許庁
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT WAFER, SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT CHIP, AND METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT WAFER例文帳に追加
半導体集積回路ウエハ、半導体集積回路チップ及び半導体集積回路ウエハのテスト方法 - 特許庁
To provide a method of performing testing on a pair of images to identify stereo components in the images.例文帳に追加
イメージにおいてステレオ構成要素を識別するためのイメージの対をテストする方法を提供すること。 - 特許庁
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT WITH CIRCUIT FUNCTION OF SELF-DIAGONOSTIC TEST AND TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
自己診断テスト回路機能を備えた半導体集積回路および半導体集積回路のテスト方法 - 特許庁
COMBUSTION-TESTING APPARATUS AND METHOD OF COMBUSTIBLE GAS IN GAS PIPING HAVING BREATHER VALVE例文帳に追加
ブリーザバルブ付きガス配管内における可燃性ガスの燃焼試験装置およびその燃焼試験方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING ACTIVITY OF MATERIAL WHICH MAY BE EFFECTIVE IN INHIBITING ENZYME ACTIVITY OF PHOSPHOLIPASE A2例文帳に追加
ホスホリパーゼA2の酵素活性を阻害するのに有効である可能性がある物質の活性の試験方法 - 特許庁
To provide a semiconductor test system and test method capable of efficiently testing a semiconductor device with many pins.例文帳に追加
多数ピンの半導体装置を効率よくテストできる半導体テストシステム及びテスト方法を提供する。 - 特許庁
To provide a software testing method capable of embedding a probe in accordance with real-timeness and memory limitation.例文帳に追加
リアルタイム性やメモリ制限に応じてプローブの埋め込みができるソフトウェア試験方法を提供する。 - 特許庁
To provide a semiconductor device and a semiconductor device testing method, which can reduce test costs.例文帳に追加
試験コストの低減を実現できる半導体装置及び半導体装置の試験方法を提供する。 - 特許庁
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