「testing method」に関連した英語例文の一覧と使い方(77ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a corrosion testing method for evaluating corrosion on the back of the upper deck of a vessel ballast tank.例文帳に追加

船舶のバラストタンクの上甲板裏の腐食を評価する腐食試験方法を提案することを目的とする。 - 特許庁

To provide a method for testing an embedded analog core in an integrated circuit chip having a microprocessor core and a memory core.例文帳に追加

マイクロプロセッサコアとメモリコアを有する集積回路チップ内の埋込みアナログコアをテストする方法を提供する。 - 特許庁

In this testing method, the surfactant solution A is used as the solution in which the composite test piece 3 is immersed.例文帳に追加

かかる方法によれば、複合試験片３を浸漬させる溶液として、界面活性剤溶液Ａを用いる。 - 特許庁

POLISHING DEVICE, CIRCUIT BOARD TESTING DEVICE PROVIDED WITH ABRASIVE, AND CIRCUIT BOARD MANUFACTURING METHOD PROVIDED WITH POLISHING STEP例文帳に追加

研磨装置、研磨材を備えた回路基板試験装置、及び研磨工程を備えた回路基板製造方法 - 特許庁

To provide a method for testing a semiconductor circuit that can inexpensively and accurately perform test using a logic tester.例文帳に追加

ロジックテスタを用いて安価で正確なテストを行うことができる半導体回路のテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for testing a wafer which can improve test efficiency.例文帳に追加

検査効率を向上させることができることができるウェハの検査装置及びウェハの検査方法を提供する。 - 特許庁

TEST SAMPLE MOUNTING DEVICE, BENDING TESTING APPARATUS, BENDING TEST METHOD, BENDING TEST PROGRAM, AND TEST SAMPLE例文帳に追加

試験試料装着装置、曲げ強さ試験装置、曲げ強さ試験方法、曲げ強さ試験プログラム及び試験試料 - 特許庁

TESTING DEVICE FOR SEMICONDUCTOR, AND DEVICE AND METHOD FOR REGULATING TIMING THEREFOR例文帳に追加

半導体試験装置、半導体試験装置のタイミング調整装置および半導体試験装置のタイミング調整方法 - 特許庁

To provide a testing handler capable of shortening the length of a soaking chamber and a preheating/precooling time therefor, and an operation method therefor.例文帳に追加

ソークチャンバーの長さ及び予熱／予冷時間を短縮し得るテストハンドラー及びその作動方法を提供する。 - 特許庁

METHOD OF TESTING PLASMA REACTOR MULTI-FREQUENCY IMPEDENCE MATCHING NETWORK NETWORK AND MULTI-FREQUENCY DYNAMIC DUMMY LOAD例文帳に追加

プラズマリアクタ用多周波数インピーダンス整合回路網を試験する為の方法および多周波数ダイナミックダミー負荷 - 特許庁

To provide a safety testing method for a hollow fiber membrane module of a hollow fiber membrane filter device.例文帳に追加

中空糸膜ろ過装置の中空糸膜モジュールの安全性試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

AUDIO PLAYBACK DEVICE TEST SYSTEM, INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, AUDIO PLAYBACK EVALUATION SYSTEM, AND TESTING METHOD FOR AUDIO PLAYBACK DEVICE例文帳に追加

音声再生装置テストシステム、集積回路装置、音声再生評価システム、音声再生装置のテスト方法 - 特許庁

To provide a device and a method for testing friction for properly and reliably performing evaluation.例文帳に追加

適正且つ信頼性の高い評価を行えるようにした摩擦試験装置および摩擦試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and a device for highly reliably testing an electronic device having source synchronizing signal output.例文帳に追加

源同期信号出力を有する電子デバイスの高信頼性試験のための方法および装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test method capable of efficiently carrying out a work for testing required before shipping sheet-like lens products.例文帳に追加

シート状レンズ製品の出荷前に必要な検査作業を効率よく行える検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test method and a testing device which tests a viscoelastic body by an optional initial strain.例文帳に追加

任意の初期歪みで粘弾性体の試験を行うことが可能な試験方法および試験装置を提供する。 - 特許庁

METHOD OF TESTING POWER TRANSMISSION APPARATUS OR POWER RECEIVING APPARATUS, POWER TRANSMISSION APPARATUS, POWER RECEIVING APPARATUS AND NON-CONTACT POWER TRANSMISSION SYSTEM例文帳に追加

送電装置または受電装置のテスト方法、送電装置、受電装置および無接点電力伝送システム - 特許庁

To provide a manufacturing method of a semiconductor device capable of further improving the operation efficiency of a testing device.例文帳に追加

試験装置の稼動効率をより向上させることのできる半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a system and a method of substrate inspection for testing mounting condition of an IC chip onto a substrate in a short time, based on objective criterion.例文帳に追加

基板へのＩＣチップの実装状態の検査を、客観的基準に基づいて短時間で実施する。 - 特許庁

STRUCTURE OF EAR PIECE IN SPEECH UNIT, PORTABLE TELEPHONE, AND METHOD AND DEVICE FOR TESTING WATERPROOF PERFORMANCE OF THE PORTABLE TELEPHONE例文帳に追加

通話装置における受話口の構造、携帯電話機、およびその防水性能試験方法並びに装置 - 特許庁

To provide a test terminal and a test method capable of easily testing a circuit or operation of a protection relay device.例文帳に追加

保護継電装置の回路や動作の試験を容易に実施できる試験端子と試験方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a measuring method for hysteresis circuit capable of accurately testing a hysteresis circuit in a short time.例文帳に追加

ヒステリシス回路を短時間で且つ高い精度でテストすることができるヒステリシス回路測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a calibration method for a semiconductor testing apparatus capable of obtaining handleability and high measuring accuracy.例文帳に追加

良い使い勝手が得られ、また高い測定精度が得られる半導体試験装置の校正方法を提供する。 - 特許庁

MOTHER PANEL FOR INFORMATION DISPLAY PANEL, ENERGIZATION TESTING METHOD FOR SAME, AND INFORMATION DISPLAY PANEL MANUFACTURED BY USING MOTHER PANEL例文帳に追加

情報表示パネルのマザーパネル、その通電検査方法およびマザーパネルを用いて作製した情報表示パネル - 特許庁

To provide a testing method for a semiconductor device capable of measuring noise quantity without directly observing inside noise.例文帳に追加

内部のノイズを直接観察しなくてもノイズ量を測定できる半導体装置の試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of testing tire wear which can accurately evaluate wear characteristics in actual driving.例文帳に追加

実走行での摩耗特性をより正確に評価することを可能にしたタイヤ摩耗試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide an anisotropic conductive sheet having high reliability over many times of testing, and its manufacturing method.例文帳に追加

多数回の試験に対する信頼性の高い異方導電性シート及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

BURST INTERVAL MEASURING DEVICE, BURST INTERVAL MEASUREMENT METHOD, DRIVE APPARATUS, SERVO PATTERN WRITING DEVICE, AND MAGNETIC TAPE TESTING APPARATUS例文帳に追加

バースト間隔測定装置、バースト間隔測定方法、ドライブ装置、サーボパターン書き込み装置および磁気テープ検査装置 - 特許庁

To provide a method of solving hybrid constraints concerning numeric values and character strings in testing of a software module.例文帳に追加

ソフトウェアモジュールの検査における、数値と文字列に関する混合された制約を解決する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a seat tester and a seat testing method for evaluating seat comfort objectively and quantitatively.例文帳に追加

座り心地を客観的かつ定量的に評価可能なシート試験装置および試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a tire testing device and method capable of quantitatively evaluating drain performance of a tire.例文帳に追加

タイヤの排水性能を定量的に評価できるタイヤ試験装置およびタイヤ試験方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an effective and appropriate airtightness testing method for checking and evaluating the airtightness performance of a clean room as a whole.例文帳に追加

クリーンルーム全体の気密性能を確認し評価するための有効適切な気密試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of forming a semiconductor which allows skipping steps of repeatedly performing and halting etching and testing.例文帳に追加

エッチング、試験を繰り返し停止、実行する工程を省略可能とする半導体の形成方法の提供。 - 特許庁

To provide a method for testing mutagenicity of a molding that can not be dissolved or dispersed in a solvent.例文帳に追加

溶媒に溶解または分散させることのできない成形物の変異原性試験方法を提供する。 - 特許庁

ANTENNA FOR MEASURING ELECTROMAGNETIC NOISE, AND METHOD FOR MEASURING ELECTROMAGNETIC NOISE IN MANUFACTURING/TESTING PROCESS OF MAGNETIC DISK UNIT例文帳に追加

電磁ノイズ計測用アンテナおよび磁気ディスク装置の製造・検査工程における電磁ノイズの計測方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING INFLUENZA ENCEPHALOPATHY, MARKER CONSISTING OF PROTEIN EXPRESSED IN HUMAN CEREBROSPINAL FLUID, DIAGNOSTIC DRUG AND DIAGNOSTIC KIT例文帳に追加

インフルエンザ脳症の検査法、及び、ヒト髄液中に発現するタンパク質からなるマーカ、診断薬、診断キット - 特許庁

To provide a semiconductor testing method capable of simultaneously performing a function test and a power supply voltage test.例文帳に追加

ファンクションテストと電源電圧試験とを同時に行うことの可能な半導体装置方法を提供する。 - 特許庁

CALIBRATION APPARATUS, INK JET RECORDING APPARATUS, CALIBRATION METHOD, AND RECORDING MEDIUM WHEREIN TESTING IMAGES FOR CALIBRATION ARE RECORDED例文帳に追加

キャリブレーション装置、インクジェット記録装置、キャリブレーション方法およびキャリブレーション用テスト画像が記録された記録媒体 - 特許庁

To provide a hardness testing method and a program capable of quantitatively inspecting influence of an installation environment.例文帳に追加

設置環境の影響を定量的に検証することのできる硬さ試験方法及びプログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing whether colon bacillus with bacterial serotype of O157 exists in a sample or not.例文帳に追加

細菌性の血清型がＯ157である大腸菌が、試料中に存在するかを試験するための方法の提供。 - 特許庁

POWER SUPPLYING METHOD UPON TESTING IN SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND CAD SYSTEM FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路における試験時の電源供給方法および半導体集積回路用ＣＡＤシステム - 特許庁

TESTING METHOD FOR SUBSTANCE HAVING LATENT ACTIVITY IN LIPOLYSIS FIELD AND ITS APPLICATION MAINLY TO COSMETIC USAGE例文帳に追加

脂肪分解の分野において潜在的作用のある物質の試験方法及びその主に化粧用途への使用 - 特許庁

NONCONTACT SINGLE SIDE PROBE, AND APPARATUS AND METHOD FOR TESTING BREAKAGE OF WIRE AND SHORT CIRCUIT OF PATTERN ELECTRODE USING THE SAME例文帳に追加

非接触シングルサイドプローブ及び、これを用いたパターン電極の断線・短絡検査装置及びその方法 - 特許庁

METHOD AND CIRCUIT FOR TESTING SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE, SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE, AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体記憶装置のテスト方法、半導体記憶装置のテスト回路、半導体記憶装置及び半導体装置 - 特許庁

To provide a method for reclaiming a test substrate that has been used for testing a semiconductor manufacturing tool.例文帳に追加

半導体製造ツールをテストするために使用されたテスト基板が各々のテスト基板を再生利用すること。 - 特許庁