「testing method」に関連した英語例文の一覧と使い方(81ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a step testing method and its device capable of shortening measurement time without lowering reliability and accuracy.例文帳に追加

信頼性や精度を落とすことなく、測定時間を短縮することができるステップテスト方法及びその装置を提供する。 - 特許庁

To accurately sort a nondefective product and a defective product in a method for probe-testing a semiconductor device formed on a semiconductor substrate.例文帳に追加

半導体基板上に形成した半導体装置のプローブテスト方法に関し、良品と不良品とを正確に選別する。 - 特許庁

To provide a can lid testing method which enables the easy inspection of a distribution status of a sealing compound applied to the can lid.例文帳に追加

缶蓋に塗布されているシーリングコンパウンドの分布状態を容易に検査することが可能な缶蓋検査方法を提供する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR POSITION DETECTION, SINGLE AXIS ROBOT WITH THE DEVICE, SURFACE MOUNTING DEVICE, PART TESTING DEVICE AND SCARA-TYPE ROBOT例文帳に追加

位置検出方法、位置検出装置および同装置を備えた単軸ロボット、表面実装機、部品試験装置、スカラ型ロボット - 特許庁

TESTING AND TUNING METHOD OF AUTOMATIC SPEECH RECOGNITION SYSTEM USING SYNTHETIC INPUT GENERATED FROM ACOUSTIC MODEL OF SPEECH RECOGNITION SYSTEM例文帳に追加

音声認識システムの音響モデルから生成された合成入力を用いた自動音声認識システムのテストおよび調整 - 特許庁

To provide a method for forming sub-pools used for testing the presence of a specific agent in one set of fluid samples.例文帳に追加

１組の流体サンプル中の特定の剤の存在について試験するのに使用するためのサブプールの形成方法の提供。 - 特許庁

METHOD OF MEASURING VOLTAGE POTENTIOMETRIC PRECISION IN A VOLTAGE MEASUREMENT DEVICE, VOLTAGE MEASUREMENT DEVICE OF ELECTRIC POWER APPARATUS, TESTING DEVICE AND CONNECTOR DEVICE例文帳に追加

電圧測定装置における電圧分圧精度を測定する方法、電力機器の電圧測定装置、試験装置、コネクタ装置 - 特許庁

To provide a temperature testing device and a temperature adjustment method therefor, capable of performing a temperature test inexpensively and efficiently.例文帳に追加

低コストで効率的に温度試験を実施することができる温度試験装置およびその温度調整方法を提供する。 - 特許庁

In this compression fatigue testing method, the non-contact state of an indenter and a sample is provided one or more times during measurement.例文帳に追加

測定中に圧子と試料が非接触である状態を１回以上設けることを特徴とする圧縮疲労試験方法。 - 特許庁

To provide a test handler and a semiconductor element test method, capable of testing a semiconductor element under a high temperature environment and a low temperature environment.例文帳に追加

半導体素子を高温環境及び低温環境でテストできるテストハンドラー及び半導体素子テスト方法を提供する。 - 特許庁

MATERIAL TESTER, JIG SET FOR TENSILE TEST USED THEREIN AND MATERIAL TESTING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

材料試験機、材料試験機に用いる引張試験用治具セット、及び材料試験機を用いて実行する材料試験方法 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit and its testing method and device capable of accomplishing an effective test of the integrated circuit and generating a scan design involving less entanglement of the wiring.例文帳に追加

半導体集積回路の効果的なテストを実現し、且つ、配線の錯綜の少ないスキャンデザインを提供する。 - 特許庁

To provide a test circuit and test method for differential data driver, capable of precisely testing a differential signal, using a simple configuration.例文帳に追加

簡素な構成で精度良く差動信号のテストが可能な差動型データドライバのテスト回路及びテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing method for easily securing the recording/reproduction quality of magnetic disk device in a low-temperature environment.例文帳に追加

低温環境下における磁気ディスク装置の記録再生品質を簡易に確保することができる試験方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a shaker and a method of testing suitable for various applications, including those presenting adverse test environments.例文帳に追加

有害な試験環境をもたらす用途を含む、様々な用途のために適した加振機及び試験方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a corrosion resistance testing method for a copper-based member with which the corrosion resistance of a copper-based member can be tested promptly.例文帳に追加

銅系部材の耐孔食性を迅速に試験することができる銅系部材の耐食性試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide an improved parallel channel bit error rate tester and a method for testing communication networks or the like which use the tester.例文帳に追加

改善された並列チャネルビット誤り率テスタ、並びに、それを用いて通信ネットワーク等をテストするための方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing hormone action of a substance, capable of simply and rapidly determining the action with excellent reliability and sensitivity at a low cost.例文帳に追加

物質のホルモン作用に関し、信頼性、感度に優れ、簡単で廉価かつ迅速に判断可能な方法を提供する。 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT HAVING ANALOG CIRCUIT WITHIN AND ITS TESTING APPARATUS AND METHOD例文帳に追加

アナログ回路内蔵集積回路のテスト装置及びアナログ回路内蔵集積回路並びにアナログ回路内蔵集積回路のテスト方法 - 特許庁

The method for detecting the target nucleic acid includes a step of testing whether the cleaning step is carried out normally or not.例文帳に追加

洗浄工程が正常に行われたかどうかを検査する工程を具備する標的核酸の検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for diagnosing devices via a remote testing device which is connectable to devices to be diagnosed via a communication network.例文帳に追加

通信ネットワークを介して被診断装置に接続可能な遠隔試験装置を介して装置を診断する方法を提供する。 - 特許庁

ONE-SHOT PULSE GENERATING APPARATUS PROVIDED WITH CIRCUIT FOR TEST AND METHOD FOR TESTING ONE-SHOT PULSE GENERATING APPARATUS USING CIRCUIT FOR TEST例文帳に追加

テスト用回路を備えたワンショットパルス発生装置及びそのテスト用回路を使用したワンショットパルス発生装置のテスト方法 - 特許庁

MOBILE INTERNET MEASURING DEVICE WITH BASE STATION EMULATING FUNCTION, AND UL SYNCHRONIZATION ACQUISITION AND TERMINAL TESTING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

基地局エミュレーティング機能を有する携帯インターネット計測器及びこれを利用したＵＬ同期取得及び端末のテスト方法 - 特許庁

To disclose a system, structure and method for performing scan-based testing of electronic circuits by generating a test clock for scan chains.例文帳に追加

スキャンチェーンのテストクロックを生成して電子回路のスキャンベースのテストを実施するためのシステム、構造、及び方法が開示される。 - 特許庁

To provide a method for testing the perfectness of the artery line clamp and vein line clamp of an apparatus having a blood tube set.例文帳に追加

血液チューブ系セットを有する装置の動脈ラインクランプと静脈ラインクランプとの完全性を試験する方法を提供する。 - 特許庁

CARTRIDGE FOR MONITORING FUNCTION OF DEVICE FOR TESTING BLOOD PLATELET ACTION, METHOD FOR FUNCTION MONITORING, AND USE OF TEST FLUID例文帳に追加

血小板の働きを検査する装置の機能をモニタするためのカートリッジ、機能をモニタする方法および検査流体の使用 - 特許庁

To provide a semiconductor device, a testing method thereof and a semiconductor chip which is capable of independently inspecting the semiconductor chip.例文帳に追加

半導体チップを単独で検査することができる半導体装置およびその検査方法および半導体チップを提供する。 - 特許庁

To provide a testing method capable of measuring the filling strength of catalyst particles (2) as their deformability and the dispersibility of the particle sizes.例文帳に追加

触媒粒子(2)の変形性、その粒子径の分散性として充填強度を測定しうる試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test circuit and method for reducing time and cost of testing a schmitt trigger buffer.例文帳に追加

シュミットトリガバッファのテストを短時間で行うことができ、テストコストを削減することができるテスト回路およびテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing a water reservoir level detecting apparatus, whereby performance tests can be conducted without removal of electrode rods.例文帳に追加

電極棒を取り外すことなく動作試験を行うことのできる貯水槽水位検出装置の試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of testing for the presence of microorganisms in a hydrogen peroxide-containing gaseous environment and a kit including a cassette.例文帳に追加

過酸化水素を含有する気体環境における微生物の存在を試験する方法、およびカセット含むキットの提供。 - 特許庁

To provide a method for testing animals, chemicals and humans about an infectious agent bearing a transmissible spongiform encephalopathy (TSE).例文帳に追加

伝達性海綿状脳症（ＴＳＥ）を担う感染因子について動物、薬品、およびヒトを試験する方法を提供する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE TESTING ON/OF STATE OF ODT CIRCUIT DURING DATA READ MODE AND TEST METHOD OF STATE OF ODT CIRCUIT例文帳に追加

データ読出モードでＯＤＴ回路のオン／オフ状態をテストできる半導体メモリ装置及びＯＤＴ回路の状態テスト方法 - 特許庁

To provide a testing method for a semiconductor device whose measurement accuracy will not be lowered, even when the temperature fluctuates, while an IC chip is being measured.例文帳に追加

ＩＣチップを測定中に温度が変動しても測定精度が低下しない半導体装置の試験方法を提供する。 - 特許庁

SYSTEM, METHOD AND DEVICE FOR TESTING SIMPLE IP CONNECTION OF ATM LINE例文帳に追加

ＡＴＭ回線簡易ＩＰ接続試験システム、ＡＴＭ回線簡易ＩＰ接続試験方法、ＡＴＭ回線簡易ＩＰ接続試験装置 - 特許庁

A method for testing an allergic disorder using the expression level of a gene in a peripheral blood monocyte as an index is provided based on the discovery of gene defensin 1 exhibiting a different expression level between an allergic disorder patient and a healthy subject.例文帳に追加

アレルギー性疾患の患者と健常者との間で発現レベルに差が見られる遺伝子defensin 1を見出した。 - 特許庁

To provide a hardness testing instrument allowing calibration related to a load to be easily carried out; and a calibration method thereof.例文帳に追加

荷重に関する校正をより容易に行うことができる硬さ試験機及び硬さ試験機の校正方法を実現する。 - 特許庁

To provide a testing method to solve the problem of steam generator (SG) fouling due to the accumulation of corrosion products from a secondary system.例文帳に追加

二次システムからの腐食生成物の堆積による蒸気発生器（ＳＧ）の閉塞を解決する試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing a continuity between devices for searching a port number in which a communication is allowed/interrupted by a firewall unit.例文帳に追加

ファイアウォール装置により通信が許可／遮断されているポート番号を調査する装置間導通試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a display device, a testing method for the display device and a testing device for the display device, with which a wiring failure on a panel is detected correctly, while suppressing degradation in manufacturing yield.例文帳に追加

パネル上の配線不良を確実に検出でき、しかも、製造歩留まりの低下を抑制することが可能な表示装置、表示装置の検査方法、及び、表示装置の検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a seabed cone penetration testing machine capable of simplifying its configuration and reducing its weight and its testing method for reducing cost and time required by a seabed cone penetration test conducted in a very deep area of the sea.例文帳に追加

大水深域で実施されるコーン貫入試験において、構成の簡素化と軽量化を図ったコーン貫入試験機と、試験の実施にかかる費用と時間とを低減できる試験方法とを提案する。 - 特許庁

To provide a parts testing device and a parts testing method capable of shortening the rising time of a tester by achieving the shortening of the temperature rising or falling time in a test chamber and easy in maintenance.例文帳に追加

試験用チャンバ内における昇温または降温時間の短縮を図り、試験装置の立ち上がり時間を短くすることが可能であり、しかも、メンテナンスが容易な部品試験装置および試験方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method for testing a projection optical system and a testing device or the like by which the optical performance of a liquid-immersion type projection optical system wherein a liquid is arranged on the side of an image surface can be tested accurately and easily.例文帳に追加

像面側に液体が配置される液浸式の投影光学系の光学性能を精確且つ容易に検査することができる投影光学系の検査方法及び検査装置等を提供する。 - 特許庁

To provide a test method and a testing device of a semiconductor integrated circuit capable of testing the semiconductor integrated circuit without generating overshoot of a supply voltage, and to provide the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路の試験を、電源電圧のオーバーシュートを生じることなく行うことができる半導体集積回路の試験方法および試験装置、並びに、半導体集積回路の提供を図る。 - 特許庁

To provide a material testing machine capable of displaying temperature in a material test without preparing a reference voltage power supply and without performing complicated adjustment, and a measured temperature display method in the material testing machine.例文帳に追加

基準電圧電源を準備したり煩雑な調整を行うことなく、材料試験時の温度を表示することが可能な材料試験機および材料試験機における測定温度表示方法を提供する。 - 特許庁