「testing method」に関連した英語例文の一覧と使い方(84ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a stress-testing circuit and a stress-testing method for quickly and easily executing the stress test of a transistor switch in a semiconductor integrated circuit for selecting a multiple-value analog gradation voltage by a plurality of transistor switches for outputting.例文帳に追加

多値のアナログ階調電圧を複数のトランジスタスイッチで選択して出力する半導体集積回路において、トランジスタスイッチのストレス試験を短時間且つ容易に実施できるストレス試験回路及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing a semiconductor device, by which a precise test corresponding to an actual using state can be performed to an accelerated semiconductor device, even if using a testing device of slow operation which is used conventionally.例文帳に追加

従来から使用していた動作速度の遅いテスト装置を用いても高速化された半導体装置に対して実際の使用状態に即した正確なテストを行うことができる半導体装置のテスト方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a built-in self-testing circuit and testing method capable of adjusting a period of time from sending a read operation signal to storage elements in a semiconductor integrated circuit till storing data outputted from the storage elements in a register.例文帳に追加

半導体集積回路内の記憶素子に読み出し動作の信号が送られてから、記憶素子から出力されたデータがレジスタに格納されるまでの時間を調整可能な組み込み自己試験回路及び試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a glare testing apparatus which can digitize and grasp the generation situation and the degree of improvement of the glare difficulty of a subject (a patient) by directly measuring the rate of the glare (the dazzle), and a glare testing method.例文帳に追加

グレア（眩しさ）の度合を直接的に測定することによって、被検者（患者）のグレア障害の発生状況やその改善度を数値化して把握することのできるグレア検査装置及びグレア検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing apparatus and a testing method for accurately determining the quality, even if a thin plate material member as a concave-convex member has a processed shape, and a concave-convex shaped surface.例文帳に追加

この発明は、薄板材状部材に形状加工を施して表面が凹凸状に形成された凹凸状部材であっても、正確に良否を判定することのできる検査装置及び検査方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a media converter, a loop testing method and a loop testing program with which transmission normality can be confirmed in two ways in a loop test using the media converter for converting media between different transmission media.例文帳に追加

異なる伝送媒体間の媒体変換を行うメディアコンバータを用いたループ試験の際に、双方向にて伝送正常性を確認させることが可能なメディアコンバータ、ループ試験方法及びループ試験プログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a compression/shear test method and its testing device capable of testing a performance test of compression deformation and/or shear deformation of a large-size sample piece without using large-scale equipment or a device.例文帳に追加

大型の供試体の圧縮変形及び／または剪断変形の性能試験を大掛かりな設備や装置を用いることなく試験することが出来る圧縮・剪断試験試験方法及びその試験装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a testing device and a test method capable of testing various semiconductor integrated circuit having different characteristics, and coping with diversification of an analog characteristic test by fulfillment of generation function of DAC data or the like.例文帳に追加

特性の異なる種々の半導体集積回路の試験を可能にすると共に、ＤＡＣデータの発生機能の充実化を図るなど、アナログ特性試験の多様化に対応できる試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide an information acquiring method and device for quickly and precisely testing identification information by satisfactorily evading radio waves from a transmitter mounted on an adjacent vehicle at the time of testing identification information.例文帳に追加

識別情報を検査するときに、隣接する車両に搭載されている送信装置からの電波を良好に回避し、短時間で精度良く識別情報を検査できる情報取得方法及び情報取得装置を得る。 - 特許庁

To provide a degrading acceleration testing device and a degrading acceleration testing method for photoreceptors for electronic photography that allow control, as desired, of a voltage applied to an electrifying means and the concentration of a discharge product independently of each other in a degrading test.例文帳に追加

劣化試験時の帯電手段への印加電圧と放電生成物の濃度とを独立して任意に制御することが可能な電子写真用感光体の劣化加速試験装置及び劣化加速試験方法を提供する。 - 特許庁

To efficiently capture FBM (a fail bit map) information for indicating physical position information of failure in a testing device and an testing method, especially in the failure analysis, for a RAM inside an LSI chip, such as a CPU and a DSP.例文帳に追加

ＣＰＵやＤＳＰ等のＬＳＩ内部におけるＲＡＭ用の試験装置及び試験方法に関し、特に障害解析において故障の物理位置情報を表すＦＢＭ情報（フェイルビットマップ）の取得を効率良く行うこと。 - 特許庁

To provide a drip-testing method which can surely and clearly grasp a galvanizing condition for restraining the development of galvanized drip in an arbitary galvanized product to the minimum before galvanizing operation, and a test piece used for this testing.例文帳に追加

任意のめっき品のめっきタレの発生を最小限に抑制するめっき条件をめっき操業前に正確にかつ明瞭に把握することができるめっきタレ試験方法、およびそれに用いる試験片を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device for semiconductor device capable of maintaining the temperature of a probe card with a simple structure via a probe needle during a lot standby and preventing the probe needle from being easily damaged at that time, and to provide a testing method of semiconductor device.例文帳に追加

簡単な構造でロット待機中にプローブ針を介してプローブカードの温度を保持することができ、そのときプローブ針を損傷しにくい、半導体素子の試験装置および半導体素子の試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a portable telephone set terminal that can mount an external connection port for evaluating and testing an acoustic signal of the portable telephone set terminal with a more efficient method and to provide a peripheral circuit for acoustically testing the mobile phone terminal.例文帳に追加

携帯電話機端末の音響評価試験用の外部接続ポートをより効率的な方法で搭載可能とした携帯電話機端末、およびその携帯電話機端末の音響試験用周辺回路を実現する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus and a semiconductor testing method capable of bringing all measurement terminals into contact with the terminal of a semiconductor device with a uniform contact pressure and capable of achieving reliable contact.例文帳に追加

本発明は、全ての測定端子を均一な接触圧で半導体装置の端子に接触させることができ、確実なコンタクトをとることのできる半導体試験装置及び半導体試験方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

In the case a carrier leakage can be suppressed under a certain condition, this method for adjusting and testing the DBM circuit which can suppress the carrier leakage and eliminate testing even though an LO input level and a power supply voltage fluctuate.例文帳に追加

そして、ある条件下でキャリアリークの抑圧が可能であれば、LO入力レベル、電源電圧が変動してもキャリアリークが抑圧が可能であり、検査が省略可能であることを特徴とするDBM回路の調整及び検査手法。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for testing semiconductor integrated circuits capable of easily tracking down, at low cost and in a short time, the causes of malfunction which occurs in a wave-shaping part provided for the apparatus for testing the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路試験装置が備える波形整形部において生ずる不具合の原因究明を短時間で容易に且つ低コストで行うことができる半導体集積回路試験装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of testing a lifetime for obtaining precise reliability evaluation, while also considering changes in the material characteristics, under temperature environment to be exposed to in testing for a structure, such as a wiring board, having organic members.例文帳に追加

有機部材を具備する配線基板などの構造体について、試験時に晒される温度環境下での材料特性の変化をも考慮しつつ、高精度の信頼性評価を得ることのできる寿命試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a strength testing machine of a net material capable of accurately measuring the strength of the net material, which is provided on the surface of a slope or the like under tension in order to protect the slope or the like, according to actual working situations, and a strength testing method using it.例文帳に追加

斜面等の擁護のために斜面等の表面に張設される網体の強度を実際の使用状況に則して的確に測定することのできる網体の強度試験装置及び強度試験方法を得ること。 - 特許庁

To provide a socket testing method and a socket testing tool for testing an IC package by mounting the IC package having grid-shaped terminals at the lower surface of a package body, capable of easily testing the location of terminals of a socket, and capable of confirming actual contacting state of the terminals of the socket with the terminals of the IC package.例文帳に追加

パッケージ本体の下面に端子がグリッド状に設けられたＩＣパッケージが装着され、前記ＩＣパッケージの試験を行うソケットの検査方法およびその検査方法に使用される検査ツールに関し、ソケットの端子の位置の検査が簡単で、しかもソケットの端子、ＩＣパッケージの端子との実際の接触状態が確認できるソケットの検査方法及びソケットの検査ツールを提供することを課題とする。 - 特許庁

A method of determining offset between a center of the substrate and a center of concavity of chuck comprises the steps of: offering a testing substrate smaller than the concavity in size; measuring a location of alignment mark of the testing substrate while the testing substrate exists inside the concavity; and determining the offset between a center of the testing substrate and the center of the concavity from the location of the alignment mark.例文帳に追加

基板の中心とチャックの凹所の中心との間のオフセットを決定するための方法には、寸法が凹所の寸法より小さい試験基板を凹所に提供するステップと、試験基板が凹所内に存在している間に、試験基板のアライメント・マークの位置を測定するステップと、アライメント・マークの位置から試験基板の中心と凹所の中心との間のオフセットを決定するステップが含まれている。 - 特許庁

To provide a capillary type testing piece of a simple structure which detects accurately gas leakage and liquid leakage from a tested body, using a silica capillary tube of an existing product free from blinding or capable of detecting blinding, and also to provide a testing method using the same, and a blinding detecting method.例文帳に追加

目詰まりのない又は目詰まりを容易に検出できる既製品のシリカキャピラリーチューブを用いて被試験体からのガス漏れや液体漏れを正確に検出できる簡便構造のキャピラリー型試験片とこれを用いた試験方法及びこの目詰まり検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor tester device for testing electronic devices with a fine electrode structure to be tested by keeping a good electric contact, and to provide a contact substrate for testing the semiconductor device, and a test method for the semiconductor device, the semiconductor device, and its manufacturing method.例文帳に追加

微細な電極構造を有する被試験電子部品の試験を良好な電気接触を保持して行うことが可能な半導体試験装置、半導体装置試験用コンタクト基板、半導体装置の試験方法及び半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for screening an agent for controlling calcification to which relates signal transduction common to the calcification of hard tissue and/or blood vessel; an agent for controlling calcification; a method for testing bone calcification, blood vessel calcification and the pathological progress of a disease associated with these calcifications; and a kit for testing them.例文帳に追加

硬組織および／または血管の石灰化に共通するシグナル伝達が関連する、石灰化調節剤のスクリーニング方法、石灰化調節剤、ならびに骨の石灰化、血管石灰化およびそれに伴う疾患の病態進展を検査する方法およびその検査キットを提供する。 - 特許庁

To provide a testing method for stress relaxation characteristics, which specifically shows the reliability of a terminal to be used in electrical or electronic equipment which is mounted on a mobile body represented by vehicles such as an automobile, an electric car and a locomotive, and to provide a rolled sheet material which satisfies stress relaxation characteristics according to the testing method.例文帳に追加

自動車、電車や機関車などの車両に代表される移動体に搭載される電気・電子機器に使用される端子の信頼性を具現する応力緩和特性試験方法と、その試験方法による応力緩和特性を満足する圧延板材を提供する。 - 特許庁

This trace element testing and analyzing method and a trace element testing and analyzing pretreatment device for the trace amount of element in the product or material has the pretreatment method for conducting the microwave irradiation and the ultrasonic treatment concurrently for dissolution, after the various solid product or materials are immersed into a solvent.例文帳に追加

本発明は、様々の固体製品または材料を溶媒に浸した後、マイクロウエーブ照射と超音波処理を同時に行い、溶解される前処理方法を有することを特徴とする製品または材料中の微量元素試験方法及び微量元素試験分析前処理装置。 - 特許庁

To provide a tensile testing method for evaluating the adhesion strength of a coating film to an article to be coated and reducing the evaluation irregularity due to a person for performing evaluation work to perform stable evaluation, and a compact tensile strength measuring instrument used for the tensile testing method and excellent in lightweight properties, portability and operability.例文帳に追加

被塗装物に対する塗装膜の付着力を評価するための引張試験方法及び引張強度測定器であって、コンパクト且つ軽量であり携帯性や操作性に優れ、評価作業を行う者による評価のばらつきが少なく安定した評価を行えるものを提案する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device, its testing method and design method with which it can be decided whether or not the semiconductor device is defective or a test mode controller is defective, when the test result of the semiconductor device fails and by which testing time can be shortened and the yield be improved.例文帳に追加

半導体装置のテストが不合格の場合、半導体装置の故障なのか、テストモード制御装置が故障であったのかを判別することができ、またテスト時間の短縮と歩留りの向上を図ることができる半導体装置、そのテスト方法および設計方法を提供する。 - 特許庁

To provide a scratch strength testing device and a method thereof for carrying out a scratch test while continuously varying a load at a high speed.例文帳に追加

高速で連続的に荷重を変化させながらスクラッチ試験を行うことが可能なスクラッチ強度試験装置及び方法を提供する。 - 特許庁

Thus, a method of this kind leads to preventive maintenance and, as the case may be, to an improvement of the software tool implemented in a testing instrument of this kind.例文帳に追加

したがって、この種の方法によって予防保全、場合によってはさらに、この種のテスト機器で実施されるソフトウェアツールが改善される。 - 特許庁

To provide a method for testing the surface-characteristics of a member, such as the anti-offset properties, fixation performance, etc., of a fixation member to a low-energy fixation-type toner.例文帳に追加

定着部材の低エネルギー定着型トナーに対する耐オフセット性、定着性能など、部材の表面特性の試験方法を提供する。 - 特許庁

To improve a testing method for evaluating difficulty of drilling work for a metal member (e.g. a roll shell of a suction roll for a paper machine) drill-worked by a drill.例文帳に追加

ドリルで孔あけ加工される金属部材（例えば抄紙機用サクションロールのロールシェル）のドリル加工の難易を評価する試験方法の改良。 - 特許庁

To suppress repeated measurement of a frequent path included in a program to be tested, and to avoid unnecessary overhead in a program testing method.例文帳に追加

プログラムのテスト方法において、テスト対象プログラムに含まれる頻出経路の繰り返しの計測を抑止し、無用なオーバーヘッドを回避する。 - 特許庁

To provide a press-fit pin connection testing method, capable of detecting all the press-fit pin press-fitting defective modes using only electrical test.例文帳に追加

電気検査のみにより全てのプレスフィットピン圧入不良モードを検出可能なプレスフィットピン接続検査方法を提供することである。 - 特許庁

To provide a testing method for dust prevention and its system capable of grasping dust prevention performance of a vehicle by considering the effect of running wind.例文帳に追加

走行風の影響を考慮して車両の防塵性能を把握することができる防塵試験方法及びその装置を提供する。 - 特許庁

EDDY CURRENT FLAW DETECTION SIGNAL EVALUATION DEVICE, AND EDDY CURRENT FLAW DETECTION TESTING DEVICE AND METHOD OF EVALUATING EDDY CURRENT FLAW DETECTION SIGNAL INCLUDING THE EDDY CURRENT FLAW DETECTION SIGNAL EVALUATION DEVICE例文帳に追加

渦電流探傷信号評価装置、当該装置を備えた渦電流探傷試験装置および渦電流探傷信号評価方法 - 特許庁

To provide a vibration characteristics testing device and a vibration characteristic test method suitable for investigating a characteristic of vibration damping by an elastic member.例文帳に追加

弾性部材による振動減衰特性を調べるのに好適な振動特性試験装置および振動特性試験方法を提供する - 特許庁

To provide an apparatus and a method for testing a stress-resistance of an out-door signboard, which are used to test the stress-resistance for the out-door signboard.例文帳に追加

野立看板に対してその耐力を検査するための野立看板耐力検査装置と野立看板耐力検査方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a corrosion resistance evaluation method for a metal material that simulates an actual environment, the metal material, and a device for testing corrosion acceleration of the metal material.例文帳に追加

実環境を模擬した金属材の耐食性評価方法と金属材、並びに金属材の腐食促進試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a scoring test device and a scoring test method capable of testing whether a screw scores in a vacuum environment.例文帳に追加

真空環境下において螺子がかじるかどうかの試験を行うことが可能なかじり試験装置及びかじり試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a whisker evaluating method capable of accelerating the occurrence and growth of whiskers to shorten an evaluation time, and testing equipment for evaluating the whiskers.例文帳に追加

ウィスカの発生及び成長を促進して評価時間を短縮できるウィスカ評価方法及びウィスカ評価用試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test method of a semiconductor device capable of testing an analog element highly accurately by using a digital tester having wide versatility.例文帳に追加

汎用性の高いデジタル用テスタを用いて高精度にアナログ素子の試験を行うことができる半導体装置の試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a multiaxial load testing device and method capable of carrying out an accurate load test in a multiaxial state.例文帳に追加

本発明は、多軸状態で精度のよい負荷試験を行うことができる多軸負荷試験装置及び方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

CONNECTION STRUCTURE OF HIGH-FREQUENCY DEVICE, HIGH- FREQUENCY MODULE USING THE SAME, AND TESTING METHOD OF HIGH-FREQUENCY DEVICE USING THE HIGH-FREQUENCY MODULE例文帳に追加

高周波デバイスの接続構造およびこれを用いた高周波モジュール並びにこの高周波モジュールを用いた高周波デバイスの検査方法 - 特許庁

To provide a testing method for CSP(chip-scale package), capable of avoiding the dislocation of solder to contact pins also facilitating the handling of the CSP.例文帳に追加

ハンドリングを容易に行なうことができるようにすると共に、半田のコンタクトピンへの転位を防止できるＣＳＰのテスト方法を提供する。 - 特許庁