「testing method」に関連した英語例文の一覧と使い方(86ページ目) - Weblio英語例文検索

The allergic disease testing method with the level of expression of the genes in peripheral blood mononuclear cell as an index and a compound screening method for treating the disease are provided.例文帳に追加

末梢血単核球における該遺伝子の発現レベルを指標とする、アレルギー性疾患の検査方法、および該疾患の治療のための化合物のスクリーニング方法を提供する。 - 特許庁

A method for testing an allergic disease using the expression level of TRAIL gene in peripheral monocytes as an index and a method for screening a compound for treating the disease, are provided.例文帳に追加

末梢血単核球におけるTRAIL遺伝子の発現レベルを指標とする、アレルギー性疾患の検査方法、および該疾患の治療のための化合物のスクリーニング方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing an application program for inquiring of a client-server type data base system and a recording medium where the program for implementing the method has been recorded.例文帳に追加

クライアント・サーバ型のデータベース・システムへの問合わせを行うアプリケーション・プログラムをテストする方法及びこの方法を実現するためのプログラムを記録した記録媒体を提供すること。 - 特許庁

To provide a ground strength indicating method for facilitating an analysis of a result of survey, particularly of soil texture, after conducting the survey of ground strength by a penetration testing machine, and to provide an apparatus for use in the method.例文帳に追加

貫入試験機により地盤強度を調査した後、その調査結果、特に土質の分析を容易にした地盤強度表示方法およびその装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an ultrahigh temperature thermal expansion testing device capable of simultaneously measuring a thermal expansion test by a contact method using a bar-shaped test piece and a thermal expansion test by a non-contact method.例文帳に追加

棒状試験片を用いた接触法による熱膨張試験と非接触法による熱膨張試験とを同時に計測できる超高温熱膨張試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and apparatus for controlling recording on an optical recording medium capable of determining higher recording power even a little in a range in which favorable recording is possible, and to provide a method for testing.例文帳に追加

良好な記録が可能な範囲で少しでも高い記録パワーを決定することができる光記録媒体の記録制御方法、記録制御装置、及び検査方法の提供。 - 特許庁

To provide a method for lowering risk that a chip having the potential of becoming a defective product is transferred to the subsequent steps in a method of manufacturing semiconductor device and a semiconductor device testing apparatus.例文帳に追加

半導体装置の製造方法と半導体試験装置において、潜在的に不良になる可能性のあるチップを後の工程に出す危険性を低減する方法の提供。 - 特許庁

To provide a method for testing the presence of microorganism in a gaseous environment comprising hydrogen peroxide, and to provide a cassette containing an agar growth medium that is adapted for execution in the method.例文帳に追加

過酸化水素を含有する気体環境中の微生物の存在の試験方法、並びに本方法において実施されるように適合された寒天生育培地を有するカセットの提供。 - 特許庁

CONTACTOR FOR SEMICONDUCTOR DEVICE, TESTER USING CONTACTOR FOR SEMICONDUCTOR DEVICE, TESTING METHOD USING CONTACTOR FOR SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR CLEANING CONTACTOR FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置用コンタクタ及び半導体装置用コンタクタを用いた試験装置及び半導体装置用コンタクタを用いた試験方法及び半導体装置用コンタクタのクリーニング方法 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device and its correcting method which can correct dispersion of measurement data between sites (sockets) conducting simultaneous measurement and devices and its correcting method.例文帳に追加

本発明は、同時測定をおこなうサイト（ソケット）間及び装置間の測定データのバラツキを補正して高精度測定ができる半導体試験装置とその補正方法を提供する。 - 特許庁

A method for testing a semiconductor device comprises steps of contacting a probe needle 2 with the pad, wafer testing of an IC, and constituting the needle 2 of a tungsten alloy in which one or more metals selected from a group containing Y, La and Ce is added unit 0.1 to 1.0 wt.%.例文帳に追加

プローブ針２をパッドに接触させてＩＣのウエハテストを行なうに際し、プローブ針２をＹ，Ｌａ，Ｃｅを含むグループから選ばれた１つまたは２つ以上の金属を０.１〜１.０重量％添加したタングステン合金で構成する。 - 特許庁

To provide a testing device and a test method capable of testing whether a prepreg does not slide and can be easily removed or not, when the surface of the sheet-shaped prepreg has proper tackiness and is stuck onto a die with an automatic laminating device.例文帳に追加

シート状のプリプレグの表面が適度な粘着性を有していて、自動積層装置で金型上に貼り付けられた際に、滑らず、かつ、容易に剥がせるものであるかどうかを、簡便に試験できる試験装置および試験方法を提供する。 - 特許庁

To prevent a tip part of the probe needle from being fused or broken by confirming a state of contact between a probe needle and a pad prior to an actual test and measurement, in a method of testing and measuring a semiconductor device and a device for testing and measuring the semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の試験測定方法及び半導体装置の試験測定装置に関し、実際の試験測定に先立ってプローブ針とパッドとの接触状態を確認して、プローブ針の先端部の溶断や破損を防止する。 - 特許庁

To provide a testing device for a semiconductor element and a testing method for the semiconductor element, capable of reducing the number of probes in a probe card by rotating the semiconductor element to carry out a probing test by twice measurements, and capable of reducing a manufacturing cost of the probe card.例文帳に追加

半導体素子を回転させて２回の測定でプロービングテストを行うことによりプローブカードのプローブの数を減らせるとともに、プローブカードの製作コストを低減する半導体素子の試験装置および半導体素子の試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing a semiconductor device capable of preventing lead-free solder from being attached to a contact terminal of a socket for test, when testing a semiconductor device having an external connection terminal soldered with lead-free solder by the socket for test.例文帳に追加

鉛フリー半田でめっきされた外部接続端子を有する半導体装置をテスト用ソケットにより検査する際に、テスト用ソケットの接触端子に鉛フリー半田が付着するのを防ぐことができる半導体装置の検査方法を得る。 - 特許庁

To provide an IC device-testing method and an IC device-testing system for inexpensively applying a laser beam different targets of a semiconductor IC device (DUT) to be inspected simultaneously in parallel, speedily successively without requiring any rematching in a microscope.例文帳に追加

検査対象の半導体ＩＣデバイス（ＤＵＴ）の互いに異なるターゲットを同時並行的にまたは高速逐次的に顕微鏡の再整合を要することなく低コストでレーザ光照射するＩＣデバイス試験方法・システムを提供する。 - 特許庁

To provide a reliability testing method for a part-packaged printed wiring board capable of surely testing and evaluating the reliability on the joint parts between parts and a printed wiring board in a comparatively short time for an actual part-packaged printed wiring board.例文帳に追加

実際の部品実装プリント配線板に対して、部品とプリント配線板の接合部との間の信頼性を、比較的短い時間にて、確実に試験・評価することを可能とする部品実装プリント配線板の信頼性試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus and method for testing a coupling, testing the performance of a coupling in accordance with use conditions (the amount of axial displacement, the amount of surface displacement, the number of revolutions, load torque, etc.) of actual equipment without the use of actual equipment or large scale test equipment.例文帳に追加

実機や大掛かりな試験設備を用いることなく、実機の使用条件（芯振れ量、面振れ量、回転数、負荷トルク、等）に合わせて、カップリングの性能を試験することができるカップリング試験装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To obtain a tray conveyance device capable of moving and stopping a testing tray at a comparatively high speed, capable of shortening the index time of the test, and capable of improving the reliability of the test, a testing device and a test method.例文帳に追加

試験用トレイを比較的高速で移動および停止させることが可能であり、試験のインデックスタイムの短縮を図ることができ、且つ試験の信頼性を向上させることができるトレイ搬送装置、試験装置および試験方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a leak testing method for a fully sealed rotating electric machine the testing time of which is shortened and the test accuracy is improved by forcibly circulating gas within the electric machine after mixed gas is pressurized and sealed in the electric machine.例文帳に追加

本発明の目的は、混合ガスを回転電機内に加圧封入後回転電機内のガスを強制的に循環させることにより試験時間が短縮し試験精度が向上する全閉型回転電機の漏洩試験方法を提供することにある。 - 特許庁

To provide a mounting reliability evaluation testing apparatus for printed-circuit board elements and a method thereof, which enable accelerated testing of service life which approximates the heating conditions of an actual semiconductor element, concerning the mounting reliability evaluation test of the printed-circuit board element.例文帳に追加

プリント回路板素子の実装信頼性評価試験に関し、実際の半導体素子の発熱条件に近似した加速寿命試験を可能にする、プリント回路板素子の実装信頼性評価試験装置およびその試験方法を提供する。 - 特許庁

In this stain resistance testing method and a stain resistance testing machine, a staining substance is bonded to the surface of a sample by repeating dripping of a definite amount of a staining substance-containing liquid from an upper constant position and rinsing of the staining substance-containing liquid to evaluate dust.例文帳に追加

本発明の耐汚染性試験方法及び装置は、汚染物質含有液を上部の定位置から一定量の滴下と水洗を繰り返すことで試料表面に汚染物質を付着させるとした塵埃について評価する。 - 特許庁

To provide a load testing machine of a structure, capable of grasping the dynamic characteristics of the actual size structure of a building/civil-engineering structure, even if a jack drive device which does not have relatively large loading force is used, and to provide a load testing method which uses it.例文帳に追加

比較的大きな載荷力を有していないジャッキ駆動装置を用いても、建築および土木構造物の実大構造物の力学特性を把握することができる構造体の載荷試験装置および方法を提供すること。 - 特許庁

The manufacturing method of the product includes: a creation process for creating the product; a first test process for testing the product; and a second test process for testing a part of products that meet a standard in the first test process.例文帳に追加

製品の製造方法において、製品を作製する作製工程と、この製品を検査する第１の検査工程と、第１の検査工程において基準を満たした製品のうち、一部の製品について検査する第２の検査工程と、を設ける。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for dynamical friction testing of vulcanized rubber, preventing scattering of rubber powder cut away from a tested object, while inhibiting adherence of the rubber powder to the tested object or a surface of a testing road, to obtain test results with high accuracy.例文帳に追加

被試験体から削り取られたゴム粉の飛散を防止しながら、ゴム粉の被試験体や試験路面への付着を抑制して高精度の試験結果を得られるようにした加硫ゴムの動摩擦試験方法及びその装置を提供する。 - 特許庁

To provide a substrate testing device measuring and compensating a brightness through a detection compensation section without measuring the brightness of each panel, wherein the substrate is tested even without independent equipment through the detection compensation section integrated to the substrate without using substrate testing equipment for testing an organic light emitting display panel, and a method thereof.例文帳に追加

各パネルの輝度を測定することなく、感知補償部を通じて輝度の測定と補償がすべて行われ、有機電界発光表示パネルを検査する基板検査装備を用いることなく、基板に集積された感知補償部を通じて、独立した装備がなくても基板検査が可能な基板検査装置及び方法を提供する。 - 特許庁

Article 65 (1) A person who carries on the business of product testing at its testing laboratory located in a foreign country may apply to the competent minister to have the laboratory Accredited for each Division of the Testing Method pursuant to the provisions of the applicable Ordinance of the competent ministry. In this case, the procedures required to be taken for the Accreditation shall be specified in the Ordinance of the competent ministry. 例文帳に追加

第六十五条　外国にある試験所において製品試験の事業を行う者は、その試験所について、試験方法の区分ごとに、主務省令で定めるところにより、主務大臣に申請して、登録を受けることができる。この場合において、登録に関して必要な手続は、主務省令で定める。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

To provide a system and a method for testing IC, which can efficiently prepare a program required for a test.例文帳に追加

本発明の課題は、試験に必要なプログラムをより効率良く準備することが可能なＩＣ試験システム、及びＩＣ試験方法を提供することである。 - 特許庁

To provide a plug and a communication transmission/reception testing apparatus and method in which a communication transmission/reception test can be performed from a protector inside a building in a short time.例文帳に追加

ビル内保安器から通信発着信試験を短時間に行えるプラグ、通信発着信試験装置および通信発着信試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and an instrument for testing the load capacity of a ground anchor for being easily assembled and of forming the compact instrument.例文帳に追加

組立作業が容易で装置自体もコンパクトに形成することが可能なグラウンドアンカーの耐荷重試験方法及び装置を提供することを課題としている。 - 特許庁

To provide a test device capable of improving reaction efficiency while keeping the size of a microchannel as it is, and to provide a reaction apparatus and a method of testing reaction.例文帳に追加

微細流路のサイズは従来のままで反応効率を向上させることのできる試験デバイス、反応装置及び反応試験方法を得る。 - 特許庁

In a method for testing the real page number bits in a cache directory 304, a specification 306 of a cache is retrieved in order to test the real page number bits of the cache directory associated with the cache to be tested.例文帳に追加

テスト対象のキャッシュに関連付けられたキャッシュ・ディレクトリの実ページ番号ビットをテストするために、当該キャッシュの仕様が検索される。 - 特許庁

In accordance with the method of electron beam testing, the diameter of the electron beam is increased so that the beam is less focused, i.e., enlarged or "blurred", over a non-uniform electrode area.例文帳に追加

本発明の電子ビームテストは、不均一電極領域上で絞りが小さく、即ち、拡大又は「ぼかされる」ように、電子ビームの直径が増大される。 - 特許庁

To provide a salt damage testing method for an ventilating air filter unit, allowing objective salt damage test at any site in a short time, and to provide its device.例文帳に追加

任意の場所において短時間で客観的な塩害試験を行うことができる換気用エアフィルタユニットの塩害試験方法および装置を提供する。 - 特許庁

To provide an insulation test method capable of easily and mass productively testing insulation of a battery structure body with high reliability, and to provide a device therefor.例文帳に追加

電池構造体について信頼性の高い絶縁検査を容易、かつ量産的に実施できる絶縁検査方法、および絶縁検査装置の提供。 - 特許庁

To provide a braking force testing device and method capable of carrying out a braking force test without colliding with a cage or a balance weight.例文帳に追加

かごあるいは釣合錘を衝突させずに制動力試験を実行できるエレベータ用巻上機ブレーキの制動力試験装置および方法の提供。 - 特許庁

To provide a testing method of rolling-contact fatigue life for investigating the durability under foreign substance mixing lubrication while suppressing variation in test result.例文帳に追加

試験結果のばらつきを抑制しつつ、異物混入潤滑下における耐久性を調査することが可能な転動疲労寿命の試験方法を提供する。 - 特許庁

This invention describes a method to select the clock skewing for each die on the basis of functional testing with actual parametric limits imposed on target parameters.例文帳に追加

本発明は、対象パラメータに課される実際のパラメータ限界による機能テストに基づき、ダイごとにクロック・スキューイングを選択するための方法を説明する。 - 特許庁

In the high-speed test method of ICs, a test device main body 1 produces a pattern for testing and inputs it to a socket substrate 3 connected to the test device main body through connector.例文帳に追加

試験装置本体で試験のためのパターンを生成して，試験装置本体とコネクタを介して接続されたソケット基板に入力する。 - 特許庁

To provide a method for testing an electronic component, capable of also detecting a defect easily such as lacking adhesion and the like between layers in a multi-layered electrode.例文帳に追加

多層電極における層間の密着力不足などの不良をも容易に検出することができる電子部品の検査方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method and apparatus for testing an image detection array such as a CMOS imager which has detection circuits arranged in rows and columns.例文帳に追加

行及び列をなして配列された検出回路を有するＣＭＯＳイメージャ等の画像検出回路アレイをテストするための方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for testing a high frequency module for a stable inspection even if the height of the high frequency module varies.例文帳に追加

高周波用モジュールの高さがばらついた場合でも、安定した検査ができる高周波用モジュールのテスト装置及びテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a cavity testing method of concrete construct which can test a cavity for its presence and degree by boring only a single hole into the cavity.例文帳に追加

空洞に対し１カ所への穿孔でその空洞の有無と程度とを検査することの可能なコンクリート構造物の空洞検査方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a nondestructive testing method capable of properly and quickly deciding whether or not a welding is properly performed to obtain a required weld strength nondestructively.例文帳に追加

適正に溶接が行われて必要溶接強度が出ているかどうかを破壊することなく適正迅速に判定できる非破壊検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device and a test method of a semiconductor integrated circuit capable of facilitating control of a BOST device, and improving versatility.例文帳に追加

ＢＯＳＴ装置の制御の容易化を図ると共に、汎用性を向上することができる半導体集積回路の試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁