「testing method」に関連した英語例文の一覧と使い方(90ページ目) - Weblio英語例文検索

ARTICLE RECOGNITION METHOD AND ITS SYSTEM, SURFACE MOUNTING MACHINE EQUIPPED WITH THE SYSTEM, COMPONENT-TESTING ARRANGEMENT, DISPENSER, MOUNTED SUBSTRATE INSPECTION DEVICE AND PRINTED BOARD INSPECTION DEVICE例文帳に追加

物品認識方法及び同装置、並びに同装置を備えた表面実装機、同部品試験装置、同ディスペンサ、同実装基板検査装置及び同印刷基板検査装置 - 特許庁

To provide a method and a device for simultaneously testing a sample for the presence, absence, and/or amounts of one or more in a plurality of selected analytes.例文帳に追加

複数の選択された分析物の１つ以上の存在、非存在、および／または量について、サンプルを同時に試験するための方法およびデバイスを提供する。 - 特許庁

To provide a device and method for testing a vehicle passing through a tunnel capable of performing simulation of tunnel-passing by using a launching means provided with a pair of rotary role.例文帳に追加

一対の回転ロールを備えた発射手段を用いて、トンネル走行の模擬実験を正確に行うことを可能とするトンネル走行実験装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for rating the sensitizing potential of a testing specimen more easily and in high accuracy using cultured cells easy to handle and available stably.例文帳に追加

取扱いが容易であり安定して入手可能な培養細胞を用いて、被検物質の感作性をより簡便に且つ精度良く評価できる方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and device for testing semiconductor capable of reducing the test pattern storage media cost and the communication cost in the transmission of a test pattern and shortening the time of a test pattern.例文帳に追加

テストパターン記憶メディアコストおよびテストパターン伝送時の通信コストの軽減、テストパターンの時間短縮を図ることができる半導体試験方法および装置を得る。 - 特許庁

To provide a method for testing a collision of a vehicle which can further simulate by data at the time of the collision of real vehicles by using an MDB(moving deformable barrier).例文帳に追加

ＭＤＢ（ムービング・デフォーマブル・バリア）を用いた上で実車同士の衝突時のデータにより一層近似させることができる車両衝突試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a file system managing apparatus and a method for managing a file system which can perform testing processing of a storing apparatus more efficiently and activate a navigation apparatus quickly.例文帳に追加

記憶装置の検査処理を効率化してナビゲーション装置を高速に起動することが可能な「ファイルシステム管理装置及びファイルシステム管理方法」を提供すること。 - 特許庁

To provide a testing method of a polymer electrode type fuel cell for comprehending a deteriorating phenomenon of a polymer electrolyte generated during an operation of the fuel cell, and securing performance of the fuel cell.例文帳に追加

燃料電池運転時の高分子電解質の劣化現象を事前に把握して燃料電池の性能を保証するための燃料電池の試験方法を提供する。 - 特許庁

The method for impact response testing comprises the step of elastically telescopically mounting an impact hammer 4 to a cylindrical body 5 via a compression spring in a direction of an axial center of the body 5 (directions of arrows A, B).例文帳に追加

筒状の本体５に圧縮バネ１０を介して打撃ハンマー４を当該本体５の軸心方向（矢印Ａ、Ｂ方向）に弾性的に進退自在に取り付ける。 - 特許庁

This testing method of ASIC (application specific integrated circuit 100 executes a test routine 128 in an incorporated memory 120 or an external memory by using an incorporated processor 110 in the ASIC.例文帳に追加

ＡＳＩＣ（１００）のテスト方法であって、ＡＳＩＣ内の組込みプロセッサ（１１０）を用いて、組込みメモリ（１２０）または外部メモリ中のテストルーチン（１２８）を実行する。 - 特許庁

To provide a fish sauce having a reduced unpleasant odor such as a fishy smell or a fermented odor without deteriorating an aroma or a testing component unique to the fish soy and a method for producing the same.例文帳に追加

魚醤油独特の香気や旨味成分は損なわずに、生臭さや発酵臭などの不快な臭みを低減した魚醤油及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for reflectrometric testing of an optical transmission line gF from an optical transmission and reception device TRx, and also to provide an optical device and an optical transmission and reception device therefor.例文帳に追加

光送受信装置ＴＲｘから光伝送路ｇＦの反射試験を行う方法、ならびに、そのための光装置および光送受信装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device and for testing flexibility capable of readily and quickly changing the width of the back and forth movement of a part of an object to be tested, and to provide a method for the device.例文帳に追加

容易かつ迅速に被試験物の一部の往復移動の幅を変化させることが可能な耐屈曲性試験装置および耐屈曲性試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a welding crack testing method in laser welding where an I type beveling is used, a root gap can be narrowly set, further, the root gap can be controlled to high precision, and the proper evaluation of welding cracks in laser welding is made possible.例文帳に追加

Ｉ型開先とし、ルートギャップを小さく設定し、而もルートギャップを高精度に管理可能とし、レーザ溶接に於ける溶接割れの適正な評価を可能とする。 - 特許庁

To provide an ultrasonic flaw detection testing method capable of easily and accurately detecting the flaw of the heat influence part formed to the periphery of the boundary part in a welding place.例文帳に追加

容易かつ正確に溶接箇所における境界部周囲に形成される熱影響部の欠陥を検出可能な超音波探傷試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and device for simultaneously testing a sample for the presence, absence, and/or amounts of one or more of a plurality of selected analytes.例文帳に追加

本発明は、複数の選択された分析物の１つ以上の存在、非存在、および／または量について、サンプルを同時に試験するための方法およびデバイスに関する。 - 特許庁

To provide a swelling testing device and a swelling test method capable of measuring accurately an expansion coefficient even to a sample which is not only expandable but also deformable by moisture absorption.例文帳に追加

吸湿すると膨張するだけでなく変形し得る試料に対しても正確に膨張率を測定できる膨潤試験装置及び膨潤試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a steering column evaluation testing device and an evaluation test method capable of evaluating impact absorbing performance of a steering column simple body on which an air bag is mounted.例文帳に追加

エアバッグを装着したステアリングコラム単体での衝撃吸収性能を評価することができるステアリングコラム評価試験装置、および評価試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for testing the picture quality of a liquid crystal display which can measure at least any one of gray inversion and color shift.例文帳に追加

グレー反転現象及び色反転現象のうち少なくともいずれか一つを測定することができる液晶表示装置の画質検査装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus, a method and a program for testing a semiconductor wafer in which a defective article is not handled as a good article, and an yield can be improved.例文帳に追加

万が一にも不良品が良品として扱われず、且つ、収率を高めることのできる半導体ウェハの検査装置、検査方法、及び検査プログラムを提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for testing a main circuit phase detection which can easily judge a polarity confirmation and can prevent lead wires from being connected by mistake.例文帳に追加

極性確認が容易に判断できると共にリード線の誤接続を防止できる主回路検相試験装置および試験方法を提供することである。 - 特許庁

To provide a test method for testing a semiconductor integrated circuit device by using a tester where the number of terminals is smaller than the number of input terminals of the semiconductor integrated circuit device.例文帳に追加

半導体集積回路装置の入力端子数よりも少ない端子数のテスタを用いて半導体集積回路装置のテストを行うテスト方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a high strength copper alloy which has excellent workability and corrosion resistance, has ductility, causes no nickel allergic problem, and deals with a needle testing gauge, and to provide a method for producing the same.例文帳に追加

加工性、耐食性に優れ、延性を有し、ニッケルアレルギー問題のない、検針器対応の高強度銅合金およびその製造方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method of testing an active material mixture for positive electrode, by which presence of foreign metals in the active material mixture for positive electrode can be proved with ease and certainty.例文帳に追加

正極活物質合剤中の異種金属の有無を簡易かつ明確に判別することができる正極活物質合剤の検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for testing a semiconductor integrated circuit which is high in observability and capable of conveniently detecting the delay failure, the degeneration failure, etc.例文帳に追加

可観測性が高く、簡便に遅延故障や縮退故障等を検出することができる半導体集積回路の試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a durability testing method for a pneumatic tire by generating a tire deteriorated with time falsely in a short time and performing durability test based on this.例文帳に追加

経時劣化したタイヤを擬似的にかつ短時間で作りだし、これに基づいて耐久試験を行うようにした空気入りタイヤの耐久性試験方法を提供する。 - 特許庁

To obtain a circuit and method for testing a microcomputer capable of performing test operation free from the influence of the delay of an input signal by eliminating adjusting operation to be performed in debugging.例文帳に追加

デバッグ時に行う調整作業をなくし、入力信号の遅延に影響を受けないテスト動作を行えるマイクロコンピュータのテスト回路およびテスト方法を得る。 - 特許庁

A method of testing a braking device 31 in a drivetrain 10 of the vehicle V which includes at least one tractive element 23 coupled to a traction motor 22 is provided.例文帳に追加

トラクションモータ（２２）に連結された少なくとも１つの牽引要素（２３）を備える、車両（Ｖ）の駆動系（１０）内のブレーキ装置（３１）を検査する方法を提供する。 - 特許庁

The testing method uses the standard test specimen.例文帳に追加

水溶性樹脂及び水溶性抗菌剤を含む抗菌性水溶性樹脂層をプラスチックフィルムに形成してなる抗菌性試験用標準試験片およびそれを使用した試験方法である。 - 特許庁

To provide a can leakage testing method for detecting, with high accuracy and in a short period of time, a very small amount of leakage out of a can with contents hermetically sealed therein under a negative pressure.例文帳に追加

内容物が陰圧状態で密封されている缶詰の微小リークを高精度で短時間に検出できる缶詰のリーク試験方法を提供すること。 - 特許庁

The method further comprises the steps of calling a subroutine (S2), and calculating an air force to be applied to the test model at next testing position and a deflecting amount of a supporting unit at this position from the air force.例文帳に追加

そして、サブルーチンが呼び出され（Ｓ２）、次の試験位置で試験模型に加わる空気力、この空気力から当該位置での支持装置の撓み量を算出する。 - 特許庁

To provide an eddy current testing method capable of confirming adhesion when pressing a probe to a surface to be tested even if a curvature radius of the surface to be tested is unknown.例文帳に追加

被検査面の曲率半径が不明な場合でも、被検査面にプローブを押付けた際の密着性を確認できる渦電流探傷方法を提供することにある。 - 特許庁

To provide a power train testing device and method which can easily test a test piece of a power train under various road disturbance environments.例文帳に追加

本発明は、パワートレーン系試験装置及び試験方法に関し、様々な路面外乱下で行うパワートレーン系の供試体の試験を簡易に実現することを目的とする。 - 特許庁

To provide an impact testing device and method of a conveyor belt for promptly and accurately evaluating impact resistance by repeatedly dropping a weight in a fixed period.例文帳に追加

一定の周期で繰り返し錘を落下させて、迅速に精度よく耐衝撃性を評価することが可能なコンベヤベルトの衝撃試験装置および方法を提供する。 - 特許庁

RANDOM-NUMBER GENERATING CIRCUIT, NONCONTACT IC CARD AND READER/WRITER HAVING SAME RANDOM-NUMBER GENERATING CIRCUIT INSIDE, AND METHOD FOR TESTING DEVICE HAVING SAME RANDOM-NUMBER GENERATING CIRCUIT INSIDE例文帳に追加

乱数生成回路、当該乱数生成回路を内蔵する非接触ＩＣカード及びリーダ／ライタ、並びに、当該乱数生成回路を内蔵する装置のテスト方法 - 特許庁

To provide a tester and testing method which enable one to test silicon wafers for dirt with a simpler configuration and more simplified information processing.例文帳に追加

本発明は、より簡単な構成で、より簡易な情報処理でシリコンウェハの汚れを検査し得るシリコンウェハ汚れ検査装置およびシリコンウェハ汚れ検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and apparatus for testing a semiconductor integrated circuit in which the time required for manufacturing the semiconductor integrated circuit (including the time required for examinations) is shortened.例文帳に追加

半導体集積回路の製造（検査に要する時間を含む）に要する時間を短縮できる半導体集積回路の試験方法及び試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an elution testing method that allows measurement of an elution amount of a component having elution property from an inorganic substance such as steel making slag with higher accuracy in shorter time.例文帳に追加

製鋼スラグ等の無機物からの可溶出成分の溶出量をより高精度かつ短時間で測定することが可能な溶出試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of testing an engine shortening test time and allowing engine torque to be accurately found even for an engine with an unknown inertia value, and to provide a device therefor.例文帳に追加

試験時間を短縮することができ、且つ、慣性値の分からないエンジンであってもエンジントルクも精度良く求めることができるエンジン試験方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus and method for ultrasonic non-destructive testing which includes an elongate strip of ultrasound transmissive material coupled at a proximal end to an object under test.例文帳に追加

近位端で試験対象物に結合される細長い超音波伝達材料のストリップを備える、超音波非破壊検査のための装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of testing the operational margin of an information storage device having marked random variations, and an information storage device having the function of self-diagnosing the operational margin.例文帳に追加

ランダムばらつきが大きい情報記憶装置について動作余裕をテストする方法、及び動作余裕を自己診断する機能を有する情報記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus and method for detection of signal generation, capable of testing objects to be measured whose multiplication and separation can not be properly performed.例文帳に追加

本発明は、多重化や分離が適切に行なえない被測定物の試験が可能な信号発生検出装置及び信号発生検出方法の提供を目的とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor device capable of effectively deteriorating a gate oxide film of the semiconductor device in a short period of time in a burn-in test, and to provide a method for testing the same.例文帳に追加

バーンイン試験において、半導体装置のゲート酸化膜を短時間で効果的に劣化させることができる半導体装置及びその試験方法を提供する。 - 特許庁

The method and a system have the technical effect of automatically testing an overspeed protection system associated with a plurality of power plant machines of a power plant (100).例文帳に追加

本発明の実施形態は、発電プラント（１００）の複数の発電プラント機械に関連する過速度保護システムを自動的に試験する技術的作用を有する。 - 特許庁

To provide a method and system of testing a pattern, in which the contour data of the pattern is extracted without failure, and a high speed and accurate test of the circuit pattern is performed.例文帳に追加

パターンの輪郭データの抽出を失敗すること無く、高速かつ正確に回路パターンの検査を行うことのできる、パターン検査方法及びシステムを提供する。 - 特許庁