「testing method」に関連した英語例文の一覧と使い方(89ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a composition capable of restraining the diazonium coupling of the background and a color change thereof to a minimum, when measuring an analyte selected from among leukocyte, esterase and protease in a sample, and to provide a testing tool and a testing method that uses the same.例文帳に追加

試料中の、白血球、エステラーゼ及びプロテアーゼから選択される分析対象物を測定する際に、バックグラウンドのジアゾニウムカップリング及び色の変化を最小に抑えることのできる組成物、それを用いる試験具及び試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a biological testing device and a biological testing method, efficiently picking a precise ultrasonic image in a short time, and reducing variation in test result depending on the ability of an operator using the device and operator's mental burden.例文帳に追加

的確な超音波画像を短時間に効率的に採取することができ、使用する操作者の習熟度による検査結果のばらつき及び操作者の精神的負担を軽減することが可能な生体検査装置及び生体検査方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a device and a method for updating a control program which is capable of assigning control program updating work easily without deteriorating operational efficiency of an apparatus for testing a semiconductor integrated circuit and an apparatus for testing a semiconductor integrated circuit equipped with the above device.例文帳に追加

半導体集積回路試験装置の稼働効率を低下させず、且つ、容易に制御プログラム更新作業の割り当てを行うことができる制御プログラム更新装置及び方法並びに当該装置を備える半導体集積回路試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an accelerated drying method for a hydraulic material for dramatically shortening a test period having required a half year to one year in a conventional test method and to provide a length change testing method for a hydraulic material.例文帳に追加

従来の試験方法で必要であった半年から１年の試験期間を飛躍的に短縮できる水硬性材料の促進乾燥方法および水硬性材料の長さ変化試験方法を提供することにある。 - 特許庁

To provide a light emitting substrate and its manufacturing method, a liquid droplet material landing accuracy testing substrate for a light emitting substrate and its manufacturing method, a measuring method of the liquid droplet material landing accuracy, an electro-optical device, and an electron equipment.例文帳に追加

発光用基板およびその製造方法、発光用基板用液滴材料着弾精度試験基板およびその製造方法、液滴材料着弾精度の測定方法、電気光学装置ならびに電子機器を提供する。 - 特許庁

To provide a method of measuring OTF of a lens at some spatial positions, spatial frequencies, orientations, and defocus positions, a lens testing system using one chart, and to provide a method of generating the test chart.例文帳に追加

１枚のチャートにより、いくつかの空間位置、空間周波数、方向及びデフォーカス位置でレンズのＯＴＦを測定する方法、レンズ試験システム、更に、テストチャートを生成する方法を開示する。 - 特許庁

To provide a bioassay apparatus for testing an adhered organism-preventing method using chlorine, which can improve repeatability in the adhesion test, is inexpensive, and can easily be handled, and to provide a test method.例文帳に追加

塩素を利用した付着生物防止方法を試験する装置において、該付着試験における再現性を向上させ、安価にかつ取り扱い容易な試験装置及び試験方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method capable of reproducing a high-temperature test to be evaluated without using an environmental testing machine, and having productivity with reduced disturbance, compared with a conventional evaluation method.例文帳に追加

本発明は環境試験機を使用しなくても高温試験を再現して評価することができ、従来の評価方法に比べて生産性を妨げない評価方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a compact semiconductor device for SiP or PoP, a method of manufacturing it, and a testing method suitable for SiP and PoP which achieve simplification of a system and enhancement of its efficiency.例文帳に追加

小型化を図ったＳｉＰ又はＰｏＰに向けた半導体装置及びその製造方法とシステムの簡素化及び効率化を実現したＳｉＰ又はＰｏＰに好適なテスト方法を提供する。 - 特許庁

To perform highly accurate quality determination in measurement at high pushing-down speed during a line application time, concerning a quality determination method of a button of an electronic apparatus, a method for manufacturing the electronic apparatus, and an electronic apparatus button testing device.例文帳に追加

電子機器のボタンの良否判定方法、電子機器の製造方法及び電子機器ボタン試験装置に関し、ライン適用時に高速の押下速度による測定で精度の高い良否判定を行う。 - 特許庁

To enable to use a system also with a penetration method by developing the testing system and method operated with incident light which has been used for inspecting a wafer.例文帳に追加

本発明の目的は、ウェーハの検査のために用いられてきた入射光によって操作する試験装置及び方法を発展させ、これらの装置を透過法によっても使用できるようにすることである。 - 特許庁

The base paper for the corrugated cardboard obtained by the method has ≥50 sec smoothness based on J Tappi paper pulp testing method No. 5, and ≥20% glossiness based on JIS-P-8142.例文帳に追加

Ｊ Ｔａｐｐｉ紙パルプ試験方法Ｎｏ．５に準ずる平滑度が５０秒以上で、かつＪＩＳ−Ｐ−８１４２に準ずる光沢度が２０％以上であることを特徴とする段ボール原紙。 - 特許庁

(1) A surface pH of an ink accepting layer measured by a glass electrode method, i.e. the paper pulp testing method No. 45-1 of TAPPI, reaches the minimum value within 60 seconds after dripping of a wetting liquid.例文帳に追加

（１）ＴＡＰＰＩ 紙パルプ試験方法Ｎｏ．４５−１：ガラス電極法により測定したインク受容層の表面ｐＨは、湿潤液を滴下してから６０秒以内に極小値に達する。 - 特許庁

With these levels of gene expression in an organic sample as indices, the steroid responsiveness testing method and a method for screening compounds useful for improving steroid responsiveness are provided.例文帳に追加

本発明は、生体試料におけるこれらの遺伝子発現レベルを指標とする、ステロイド応答性の検査方法や、ステロイド応答性の改善に有用な化合物のスクリーニング方法を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR QUANTIFYING METHACRYLIC ACID ALKYL ESTER, ACRYLIC ACID-METHACRYLIC ACID ALKYL ESTER COPOLYMER FOR MEDICINAL PREPARATION FOR EXTERNAL APPLICATION, METHOD FOR TESTING THE SAME, AND COMPOSITION OF MEDICINAL PREPARATION FOR EXTERNAL APPLICATION例文帳に追加

メタクリル酸アルキルエステルの定量方法、医薬外用製剤用アクリル酸・メタクリル酸アルキルエステル共重合体、アクリル酸・メタクリル酸アルキルエステル共重合体の試験方法、及び医薬外用製剤組成物 - 特許庁

To provide a test method which improves a test method performed in an atmosphere in which siloxane gas gets mixed and enables a stable control even with respect to humidity, and testing equipment.例文帳に追加

シロキサンガスが混入された雰囲気中で行う試験方法を改良し、湿度についても安定して制御することができる試験方法及び試験装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a preprocessing method for a semiconductor test program capable of shortening operation time as compared to a conventional program, and a semiconductor testing device equipped with a compiler for executing the preprocessing method.例文帳に追加

従来のプログラムに比べて動作時間を短縮可能とする半導体試験用プログラムの前処理方法および当該前処理方法を実行するコンパイラを備える半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an easy adhesive testing method for selecting an adhesive which is suitable for adhesive connection of an actual structure, an adhesive suitable for adhesive connection of the actual structure, and to provide a bonding method.例文帳に追加

実構造物の接着接合に適した接着剤を選択するための簡便な接着剤の試験法、実構造物の接着接合に適した接着剤、および接着方法を提供する - 特許庁

To provide a RAID (Redundant Arrays of Inexpensive Disks) test system with which a disk controller of a RAID device is substituted with a conventional testing computer to perform a test of another RAID device about a shipping test of RAID devices, a RAID test program and a RAID testing method.例文帳に追加

ＲＡＩＤ装置の出荷試験に関し、より詳細にはＲＡＩＤ装置のディスクコントローラを従来の試験用コンピュータと代替し、他のＲＡＩＤ装置に対して試験の実施を行うＲＡＩＤ試験システム、ＲＡＩＤ試験プログラムおよびＲＡＩＤ試験方法に関する。 - 特許庁

To provide semiconductor device testing equipment capable of supporting even a thin wafer without flexural deformation thereof, and which eliminates the need for moving a probe needle in contact with a back surface electrode of the wafer even when a semiconductor element to be tested is shifted; a testing method using the same; and a coaxial probe needle unit used for the same.例文帳に追加

薄いウエハでも撓みなく支持でき、測定される半導体素子が切り替わった場合でも、ウエハの裏面電極と接触するプローブ針を移動させる必要のない半導体測定装置及び測定方法並びに同軸プローブ針ユニットを提供すること。 - 特許庁

To provide a system and method for measuring wind tunnel internal phase pair distance, capable of quantitatively conducting proximity decision of a plurality of mutual testing bodies with high accuracy, while contactlessly measuring a relative distance of the testing bodies used for internal test of a wind tunnel measurement unit in a short time.例文帳に追加

風洞測定部内試験に用いられる複数の試験体の相対距離を非接触かつ短時間で計測しつつ、試験体同士の近接判定を高精度かつ定量的に行うことができる風洞内相対距離計測システム及び風洞内相対距離計測方法を提供する。 - 特許庁

To provide an electrical testing method for printed-wiring boards capable of providing an effect that resistance values which a 4-terminal inspection originally has are measured in an electrical testing process, ensuring high inspection efficiency, and performing a stable inspection at an inexpensive cost.例文帳に追加

電気検査工程において４端子検査が元々有する抵抗値を高精度で測定するという効果を発揮すると同時に、高い検査効率を確保し、安定した検査を安価で行うことができるプリント配線板の電気検査方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a deciphering processing testing device and a method by which abnormality in deciphering processing can easily be analyzed in occurrence of a fault in the deciphering processing of an opposed device by easily testing the deciphering processing of the opposed device by using a W-CDMA system, etc.例文帳に追加

Ｗ−ＣＤＭＡシステム等に用いる対向装置の秘匿解読処理を容易に試験することができ、対向装置の秘匿解読処理に障害が発生した時に秘匿解読処理の異常を容易に解析することができる秘匿解読処理試験装置及び方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a twist-testing machine, capable of precisely and simply controlling the torque value applied to a test target and capable of easily eliminating deviation between a target twist torque value, capable of being produced in an arbitrary step during a test and an actual measured value in a next step, and to provide a twist-testing method.例文帳に追加

被試験物に加圧されるトルク値を精度よく簡易に管理することができ、試験中の任意ステップにて生じ得る目標ねじりトルク値と実測値との偏差を次のステップにて容易に解消することのできるねじり試験装置およびねじり試験方法を提供する。 - 特許庁

In this testing method, Au-plated lands 7a are provided in a ball fitting hole 7 on a frame substrate 1 in the loading state of IC chips 2 so that the testing can be performed by bringing contact pins 6a into contact with these lands 7a later for fitting balls 3 to be cut into a final shape.例文帳に追加

フレーム基板１上にＩＣチップ２が載置された状態でボール付け用穴７内に金メッキされたランド７ａを設け、このランド７ａにコンタクトピン６ａをコンタクトすることによりテストを行ない、その後半田ボール３を付け、最後に最終形状に切断する。 - 特許庁

Then, the testing method comprises a formation process for pushing the flat work 5 into the forming dice 1 by the punch 3, and a machining process for pushing a flat work 5' formed in the formation process into the ironing dice 2 by the punch 3, by using the testing apparatus, thus measuring the damage generated during the machining process.例文帳に追加

そして、上記装置を用い、板状ワーク５をパンチ３により成形ダイス１に押し込む成形工程と、成形工程で成形された板状ワーク５’をパンチ３によりしごきダイス２に押し込んでしごく加工工程と、からなり、しごき加工工程中に発生する損傷を測定する。 - 特許庁

This solid preparation for dissolution in oral cavity comprises a part containing an oral medicine for treatment of common cold disintegrated within 45 sec to 2 min and a part containing antiinflammatory ingredient to throat disintegrated beyond 3 min, when carrying out disintegration testing according to a disintegration testing method of Japanese Pharmacopoeia.例文帳に追加

日本薬局方の崩壊試験法に従って崩壊試験を行ったとき、４５秒〜２分間に崩壊する風邪治療内服薬物を含む部分及び３分を超えて崩壊するのどに対する消炎成分を含む部分からなる口腔内溶解用固形製剤。 - 特許庁

To provide a probe card capable of performing a testing process of a plurality of semiconductor elements (for instance, 4 elements) with same performance as that when one element is tested to a plurality of semiconductor elements formed on a semiconductor substrate; and to provide a testing method thereof.例文帳に追加

本発明によれば、一つの半導体基板に形成された複数個の半導体素子に対し、１個測定の場合と同等の性能をもって、複数個（例えば４個）同時に試験処理を行うことができるプローブカード及び試験方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a method for testing and inspecting valve by which the performance changes of valves with temperature changes can be obtained by testing the valves under conditions close to the actual working conditions of the valves and which is suitable to, particularly, flow passages for low- temperature fluids requiring high accuracy.例文帳に追加

実際の使用状態に近い状態でバルブの試験を行なうことによって、温度変化によるバルブの性能の変化を得ることのできるバルブの試験方法であり、特に、高精度が要求される低温流体流路に好適なバルブの試験・検査方法を提供すること。 - 特許庁

This solid preparation for dissolution in oral cavity comprises a part containing an oral medicine for treatment of common cold disintegrated within 45 sec to 2 min and a part containing a sterilization ingredient in oral cavity disintegrated beyond 3 min, when carrying out disintegration testing according to a disintegration testing method of Japanese Pharmacopoeia.例文帳に追加

日本薬局方の崩壊試験法に従って崩壊試験を行ったとき、４５秒〜２分間に崩壊する風邪治療内服薬物を含む部分及び３分を超えて崩壊する口腔内殺菌成分を含む部分からなる口腔内溶解用固形製剤。 - 特許庁

To realize a burn-in test simply even by a beginner by forming a waveform forming file and a schedule file and performing the burn-in test of an IC to be tested in an apparatus and a method for testing which supplies a testing waveform to the IC to be tested and performing the test.例文帳に追加

本発明は、試験波形を被試験ＩＣに供給して試験を行う試験装置および試験方法に関し、波形成形ファイルおよびスケジュールファイルを作成してこれらをもとに被試験ＩＣのバーイン試験を行い、初心者でも簡易にバーイン試験を可能にすることを目的とする。 - 特許庁

To provide a communication recovering method for material testing device and a material testing device, with which a material test before communication recovery can be continued as long as possible in the case of communication recovery and communication can be recovered as automatically as possible in the case of communication abnormality.例文帳に追加

通信復帰の際に通信復帰前の材料試験を極力続行することできるとともに、通信異常の際に極力自動的に復帰することができる材料試験装置における通信復帰方法および材料試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a testing method and a testing device of a nearly flat-plate shaped member in which abnormalities in formation or the like of cracks and through-holes or the like can be detected with excellent precision even if these abnormalities occur on the surface of the nearly flat-plate shaped member in which uneven shape has been formed on the surface.例文帳に追加

表面に凹凸形状が形成された略平板状部材の表面に、亀裂や貫通孔等が形成される等の異常が生じていたとしても、これらの異常を精度よく検知することが可能な略平板状部材の検査方法及び検査装置を提供する。 - 特許庁

To obtain a conjugate suitable for a lateral flow testing method and other testing methods for detecting the presence of a test specimen in a test sample, stable even when the humidity fluctuates and capable of forming stable covalent bonds with molecules containing a free primary amine or a free secondary amine or a sulfhydryl group even after long-term storage.例文帳に追加

試験サンプル中の被検体の存在を検出するための横流および他の試験法に適し、湿度が変動しても安定で、かつ長期の貯蔵後でも遊離第１または第２アミンあるいはスルフヒドリル基を含む分子と安定な共有結合を作る共役体の提供。 - 特許庁

This decoration sheet for the game board decoration panel of the game machine is formed by providing a printing layer of designed pattern on one side surface of a sheet made of a biodegradable resin having a biodegradability by a testing method selected from testing methods of JIS K 6950, JIS K 6951, and JIS K 6952.例文帳に追加

ＪＩＳ Ｋ ６９５０、ＪＩＳ Ｋ ６９５１、及びＪＩＳ Ｋ ６９５２から選ばれるいずれかの試験法にて生分解性を有する生分解性樹脂からなるシートの片面に意匠模様の印刷層を設けた遊技機の盤面化粧板用装飾シートを用いる。 - 特許庁

To provide an inexpensive semiconductor testing device which saves a test pattern storage memory by generating a fast clock while generating a test pattern in slow test cycles and is further slow and small in the storage capacity of a test pattern storage circuit, and a semiconductor testing method using the device.例文帳に追加

低速なテスト周期でテストパターンを作成しながら高速なクロックを発生させることでテストパターン格納メモリの節約を実現し、さらに低速かつテストパターン記憶回路の記憶容量が少ない安価な半導体試験装置及びその装置を用いた半導体試験方法を提供する。 - 特許庁

Both ends of the covered electric wire 3 inserted freely with a bellows tube 2 are fixed to a support frame 4 with the wire kept at a nearly horizontal attitude, and vibrations in the axial directions P and Q are applied to the covered electric wire 3 for testing by a vibrator 5 in this state by this abrasion testing method of the covered electric wire.例文帳に追加

この被覆電線の摩耗試験方法は、蛇腹チューブ２が遊挿された被覆電線３を略水平姿勢に保った状態でその両端を支持架台４に固定し、その状態で振動機５により被覆電線３に線軸方向Ｐ，Ｑの振動を付与して試験するものである。 - 特許庁

The composition for measuring the presence of the analyte is a composition containing diazonium salt, ester hydrolyzed in the presence of the leukocyte, esterase or protease, and salt of an alkaline earth metal, and the testing tool and a testing method using the same are provided also.例文帳に追加

分析対象物の存在を測定するための組成物であって、ジアゾニウム塩、及び、白血球、エステラーゼ又はプロテアーゼの存在下で加水分解されうるエステル、及びアルカリ土類金属の塩を含むことを特徴とする組成物、それを用いる試験具及び試験方法。 - 特許庁

To provide an information-processing device which verifies and evaluates the operation of software which is installed in equipment, both under an environment of an evaluation-object machine and under an environment of an emulator, and also to provide an image-processing device, a method for testing software operation, a program for testing software operation, and a recording medium to which the program is recorded.例文帳に追加

評価対象機とエミュレータの両方の環境において、機器に搭載されるソフトウェアの動作を検証・評価することが可能な情報処理装置、画像処理装置、ソフトウェア動作テスト方法、ソフトウェア動作テストプログラム、及びそのプログラムを記録した記録媒体を提供する。 - 特許庁

To provide a reinforcing means of a wiring board for appropriately maintaining the contact between the wiring board and a probe needle when an electronic device is heated to a specific temperature or higher for testing its reliability, to provide a supporting tool of the wiring board, and to provide a method for testing reliability of the electronic device.例文帳に追加

電子装置を所定温度以上に加熱してその信頼性を試験する場合に、配線基板とプローブ針との接触を良好に維持できるようにした配線基板の補強手段及び、配線基板の支持具、電子装置の信頼性試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing to discover an improving means by reproducing surface stress corrosion cracking of a stainless steel used in a certain residual stress state used in a facility installed outdoor in a high temperature atmosphere of about 100°C in a process and to provide a testing apparatus therefor.例文帳に追加

屋外に設置され、かつ、プロセス上、１００℃前後の高温雰囲気になる設備で用いられ、残留応力のある状態で使用されているステンレス鋼の外面応力腐食割れを再現し、その改善手段を見出すための試験方法とそのための試験装置を提供すること。 - 特許庁

The press-fit pin connection testing method uses a printed circuit board 20 having a plurality of through-holes 24, to which respective press-fit pins are to be press-fitted and a testing conductor pattern 26, which is insulated electrically from the through-holes 24 and formed on the surface of the board, so as to cover the surrounding of all the through-holes.例文帳に追加

プレスフィットピン接続検査方法は、各プレスフィットピンが圧入される複数のスルーホール２４と、該スルーホール２４とは電気的に絶縁されて全てのスルーホールの周囲を覆うように基板の表面に形成された検査用導体パターン２６とを有するプリント回路板２０を使用する。 - 特許庁

To provide a method for testing the tacking property of a pasting agent, capable of reflecting the actual pasting state, and high in autocorrelation with the evaluation of functionality, and to provide a device thereof.例文帳に追加

実際の粘着状態を正確に反映し、官能性評価との相関性が高い、貼付剤のタック性を試験できる方法および装置を提供する。 - 特許庁

To provide a wiring board on which pads are formed as test pads or jumpers by printing or applying a conductive material, and to provide its testing method.例文帳に追加

配線基板上に、導電性材料の印刷，塗布によりテストパットまたはジャンパとしてパットを形成するようにした、配線基板およびそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a nonvolatile semiconductor memory that makes it possible to reduce test time after manufacturing and reduces cost by using an inexpensive test system, and to provide a method of testing the same.例文帳に追加

製造後のテスト時間を短縮し、また、安価なテストシステムを用いることにより、コストを低減できる不揮発性半導体メモリ及びそのテスト方法を提供すること。 - 特許庁