「testing method」に関連した英語例文の一覧と使い方(87ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a verifying method capable of testing and verifying components of a safety system device such as a nuclear power plant with high standard reliability.例文帳に追加

原子力プラント等の安全系装置の構成品を高効率かつ高水準の信頼性で試験・検証することができる検証方法を提供する。 - 特許庁

To provide the testing method of the physical layer chip of IEEE1394 Standards, which can conduct a system test, without having to construct an expensive and complicated system.例文帳に追加

高価で複雑なシステムを構築せずにシステムテストを行うことができるＩＥＥＥ１３９４規格の物理層チップのテスト方法等を提供する。 - 特許庁

The fatigue testing method of the solder joint part near to a subject substrate of the solder joint structure having the through-hole type inserting and joint part is provided.例文帳に追加

スルーホールタイプの挿入接合部を有するはんだ接合構造体の実体基板に近いはんだ接合部の疲労試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a vertical loading testing method of the directly under ground confirming availability of the directly under ground of a structure without pulling down a foundation of the existing structure.例文帳に追加

既存構造物の基礎を取り壊すことなく、構造物の直下地盤の利用可能性を確認する直下地盤の鉛直載荷試験方法を提供する。 - 特許庁

The testing method eliminates other factors of loss to isolate the loss due to the ferroelectric material and to demonstrate that this loss is low.例文帳に追加

この試験方法は、損失の他のソースを消去して、強誘電体材料に起因する損失を隔離し、かつこの損失が小さいことを実証する。 - 特許庁

To provide a tank pipe pressure test method and a tank pipe pressure testing device by a leak test, by filling water requiring only a small load from the viewpoint of cost and processes.例文帳に追加

費用面と工程面の負担が少なくて済む水張り試験によるタンク配管耐圧試験方法とタンク配管耐圧試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a method for testing a nonvolatile memory element which does not separately execute operations for masking failed bits when the nonvolatile memory element is tested on a wafer.例文帳に追加

不揮発性メモリ素子をウェーハ上でテストするとき、フェールしたビットのマスキング動作を別途に行わない不揮発性メモリ素子のテスト方法の提供。 - 特許庁

To provide a method and an instrument that can easily and continuously measure a local specific resistance in a testing subject.例文帳に追加

試験体の局所的な比抵抗を簡易且つ連続的に測定することの可能な比抵抗測定方法及び比抵抗測定装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a computer system, a test device, a test method, and a test program for reliably testing whether an overtaking function works normally or not.例文帳に追加

追い越し機能が正常に動作しているか否かを信頼性よく試験することができる、コンピュータシステム、試験装置、試験方法、及び試験プログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device which shares a read/write amplifier among a plurality of banks and a method for testing the same, capable of improving test efficiency.例文帳に追加

テスト効率を向上させることができる、リードライトアンプを複数のバンクで共有する半導体記憶装置及びそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for evaluating storage life of a product in a package, and to provide a system for accelerating penetration of testing gas inside the package.例文帳に追加

パッケージ内の製品貯蔵寿命を評価するための方法、ならびにパッケージ内への試験気体の透過を加速させるための装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a prober capable of conducting an accurate test without reference to variation in test temperature, and a semiconductor wafer testing method using the same.例文帳に追加

検査温度の変化にかかわらず、正確な検査を行なうことが可能なプローブ装置及びそれを用いた半導体ウェハの検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a highly reliable tire inflating method for a tire testing machine, capable of unfailingly completing inflation by making effective use of existing facilities.例文帳に追加

既存の設備を有効利用して確実にインフレートを完了させることが出来る信頼性の高いタイヤ試験機のタイヤインフレート方法を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method of testing a report communication for a higher-order management system including a human-machine interface in a power transformation automation system.例文帳に追加

変電自動化システム内のヒューマンマシンインターフェースを含む上位運営システムに対するＩＥＣ ６１８５０基盤のレポート通信試験装置および方法。 - 特許庁

To provide a device and method for exchanging rims of a tire testing machine, capable of easily and automatically exchanging rims, without using any rim palettes and attachments.例文帳に追加

リムパレットやアタッチメントを用いることなく容易にリムを自動的に交換することができるタイヤ試験機のリム交換装置及びリム交換方法を提供する。 - 特許庁

To provide a more efficient weld metal crack sensitivity evaluation testing method when a component-system welding wire which is difficult to be produced is developed.例文帳に追加

製造が難しい成分系の溶接ワイヤを開発する際において、より効率のよい溶接金属の割れ感受性評価試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a water damage testing method of a gas sensor, which allows an experiment to be performed by supplying condensed water of which the amount is suitable for actual conditions.例文帳に追加

実際の状況にあった好適な量の凝縮水を供給して実験を行うことができるガスセンサの被水試験方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a semiconductor device having non-volatile memory elements with which testing at a high temperature is possible and shortening of the manufacturing process is realized.例文帳に追加

高温での試験が可能となり製造工程の短縮を実現する不揮発性記憶素子を有する半導体装置の製造方法の提供。 - 特許庁

To provide a substrate for hybridization with nucleic acid chains immobilized thereon with surface coverage and the degree of activity enhanced, and a complementary testing method using this substrate.例文帳に追加

表面被覆率及び活性度を高めた核酸鎖を固定化したハイブリダイゼーション用基板、この基板を用いた相補性試験方法の提供。 - 特許庁

To provide a semiconductor-device testing method for executing high-reliability determination of a non-defective product and a defective product of semiconductor devices.例文帳に追加

信頼性の高い半導体デバイスの良品／不良品判定を行うことができる半導体デバイス試験方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a method and a system for testing conductivity of Ethernet in an arbitrary test section from a terminal.例文帳に追加

イーサネットワークにおいて、端末機器から任意の試験区間に対して、容易に実施可能な導通性試験方法および導通性試験システムを提供する。 - 特許庁

To provide a nondestructive testing method for inspecting a piezoelectric ceramic element, capable of surely detect internal flaws, and is incapable of being detected at normal temperatures.例文帳に追加

常温では検出することができない内部欠陥を、非破壊で確実に検出することができる圧電セラミック素子の検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide an indoor tire durability testing method capable of reproducing and accurately evaluating tire failures on the market, using an indoor tire durability machine.例文帳に追加

室内タイヤ耐久試験機を用いて市場でのタイヤ故障を精度良く再現して評価することを可能にした室内タイヤ耐久試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a scratch resistance evaluation method for a coating film capable of obtaining an evaluation result of high reliability, without having to perform actual testing of car washing machine.例文帳に追加

実際の洗車機試験を行わずに、信頼性の高い評価結果を得ることのできる塗膜の耐擦り傷性評価方法を提供する。 - 特許庁

To provide semiconductor wafer reduced in the manufacturing cost thereof and the testing method of a ferroelectric memory device which is capable of reducing the manufacturing cost of the same.例文帳に追加

製造コストが低減された半導体ウエハ、ならびに製造コストを低減することができる強誘電体メモリ装置の試験方法を提供する。 - 特許庁

The method also has a characteristic capable of testing the presence or absence of plural activities of the physiologically active substance by performing plural assays in parallel.例文帳に追加

また、生理活性物質が有する複数の活性の有無を、複数のアッセイを並列的に実施することにより検定できるという特徴を有している。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device and a semiconductor test method capable of measuring fluctuation of a withstand voltage of a semiconductor device caused by an external electric field.例文帳に追加

外部電界による半導体素子の耐圧の変動を測定することができる半導体試験装置および半導体試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device, a testing method for the semiconductor device and tester for the semiconductor device, capable of realizing a high speed timing test at a low cost.例文帳に追加

低コストで高速なタイミングテストを実現できる半導体装置、半導体装置の試験方法及び半導体装置の試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing a non-volatile memory capable of simplifying a test program and carrying out write and read-out tests as a series of tests.例文帳に追加

試験プログラムが簡素化でき、書込みと読出しの試験を一連の試験として行うことができる不揮発性メモリの試験方法を提供する。 - 特許庁

To achieve a testing method and IC tester of a semiconductor integrated circuit capable of detecting a short between pins even when it is not a complete short.例文帳に追加

完全なショートでなくとも、ピン間ショートの検出が行える半導体集積回路の試験方法及びＩＣテスタを実現することを目的にする。 - 特許庁

To provide a word line driving device for easily detecting a defective word line, a semiconductor memory device including the same, and a method for testing the semiconductor memory device.例文帳に追加

ワードラインの不良検出を容易にするためのワードライン駆動回路及びこれを備える半導体メモリ装置並びにそのテスト方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method of testing a separator for a storage device, in which resistance to the polarity of an electrode of the separator for the storage device can be easily confirmed.例文帳に追加

本発明は、蓄電デバイス用セパレータの耐電極性を簡便に確認しうることができる試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide the accurate and efficient adjustment testing method and device of digital communication equipment using a quadrature modulation signal.例文帳に追加

通信機器の調整試験に関し、特に直交変調信号を用いるデジタル通信機器の正確で効率的な調整試験方法及びその装置を提供する。 - 特許庁

At this time, the PLL counter copy uses a resistor incorporated into a test route including test facilitating means for testing the LSI by a scan path method.例文帳に追加

このとき、ＰＬＬカウンタコピーは、ＬＳＩをスキャンパス法により試験するための試験容易化手段を含む試験経路に組み込まれたレジスタを用いる。 - 特許庁

A computer implemented method, a data processing system and the processor are provided for thermal throttling control for testing of real-time software.例文帳に追加

リアルタイム・ソフトウェアを試験するためのサーマル・スロットリング制御のための、コンピュータによって実施される方法、データ処理システム、およびプロセッサを提供する。 - 特許庁

To provide a method for using automated testing by idealistically creating a test case in a design phase as fast as possible in a life cycle of a software product.例文帳に追加

ソフトウェア製品のライフサイクルにおいてできるだけ早く、理想的には設計フェーズにテストケースを作成し、自動テストを使用するやり方を提供すること。 - 特許庁

To provide a testing method for confirming the compatibility of an ink-jet printer without actually replacing an ink-jet head cartridge and executing a printing test.例文帳に追加

実際にインクジェットヘッドカートリッジを交換して印字検査を行うことなく、インクジェットプリンタの互換性を確認することができる検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a circuit opening test system and circuit opening testing method which permit elimination of a waiting time for an opening test even when the opening tests overlap with each other.例文帳に追加

開通試験が重なっても、開通試験の待ち時間を無くすことを可能にする回線開通試験システムおよび回線開通試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide an accurate and convenient method for testing perfectness of a package in order to hold an electronic device in a moistureless environment.例文帳に追加

電子デバイスを水分のない環境内に保持するために、パッケージの完全性を試験するための正確でかつ好都合な方法を提供すること。 - 特許庁

METHOD FOR EVALUATING AND TESTING OPTICAL TRANSMITTER- RECEIVER, MULTIPLEXING INTEGRATED CIRCUIT, DEMULTIPLEXING INTEGRATED CIRCUIT, UNITED MULTIPLEXING/DEMULTIPLEXING INTEGRATED CIRCUIT, AND OPTICAL TRANSMITTER-RECEIVER例文帳に追加

光送受信器、多重化集積回路、多重分離集積回路、一体型多重化／多重分離集積回路及び光送受信器の評価・試験方法 - 特許庁

To obtain a connecting device for a flexible substrate, in which high frequency electric signals can be transmitted stably from a testing device to the flexible substrate, and to provide a connecting method.例文帳に追加

検査装置からフレキシブル基板に高周波電気信号を安定に通すことができるフレキシブル基板用の接続装置及び接続方法を得る。 - 特許庁

To provide a light fastness tester capable of accurately testing even a material sensitive to humidity like ink jet recording paper, and a humidifying method therefor.例文帳に追加

インクジェット用記録紙のような湿度に敏感な素材でも、正確な試験ができるような耐光性試験機およびその加湿方法を提供する。 - 特許庁

To provide a wind resistance testing device using no wind tunnel and a method for wind resistance test by which the stability of the wind resistance of a model which is an object to be tested for wind resistance can be confirmed.例文帳に追加

風洞を用いない耐風試験装置と耐風試験対象物である模型の耐風安定性を確認する試験の方法を実現する。 - 特許庁

To provide a durability testing method for tires comprising a deterioration acceleration process capable of reproducing a secularly deteriorated state of a tire in a short time with high precision.例文帳に追加

タイヤが経時劣化した状態を短時間で精度良く再現させうる劣化促進工程を含むタイヤの耐久試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a device evaluation apparatus and method, capable of testing durability of a device which is used in a higher temperature region in comparison with conventional one.例文帳に追加

従来より高温域で用いられるデバイスの耐久性を検証することが可能なデバイス評価装置およびデバイス評価方法を提供する。 - 特許庁