「testing method」に関連した英語例文の一覧と使い方(91ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a method realizing a precise leak test by completely filling pores in a selective separation layer of a porous film having asymmetric structure with leak testing liquid.例文帳に追加

非対称構造を有する多孔質膜の選択分離層の細孔中にリークテスト用の液体を完全に充填し、正確なリークテストを可能にする方法を提供する。 - 特許庁

In this method and this system, multi-ported memory is separated into at least two parts used for testing one or a plurality of ports which is not directly accessible.例文帳に追加

この方法およびシステムでは、直接アクセス可能ではない１つまたは複数のポートをテストするために使用する少なくとも２つの部分にマルチポート化メモリを分離する。 - 特許庁

To provide an initialization method of a fuel cell stack capable of optimizing wettedness of an electrode without using a large-scale power generation testing device, without involving consumption of fuel.例文帳に追加

燃料の消費を伴わず、大掛かりな発電試験装置を用いずに電極の濡れ性を最適化することができる燃料電池スタックの初期化方法を提供する。 - 特許庁

To provide a connection testing method in replacing a railway electronic interlocking device capable of shortening the total number of working days required for a connection test of a new electronic interlocking device.例文帳に追加

新設の電子連動装置の接続試験に要する延べ作業日数を短縮化できる鉄道用電子連動装置取替時の接続試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit and a method for testing the same, which use a clock signal gating technique capable of reducing a power consumption in a test operation.例文帳に追加

テスト動作時の消費電力を低減することのできるクロック信号ゲーティング技術を利用した半導体集積回路およびそのテスト方法の提供を図る。 - 特許庁

To realize a temporally parallel test between a predetermined circuit block having a self-diagnosis circuit and another circuit block in a testing method for an IC having a plurality circuit blocks.例文帳に追加

複数の回路ブロックを有するＩＣのテスト方法において、自己診断回路を有する所定の回路ブロックと、その他の回路ブロックとの時間的な並列テストを実現する。 - 特許庁

To obtain a method and device for monitoring static damage, capable of readily testing the presence or absence of the static damage caused, when a processing is effected by use of ions of ion implantation, etc.例文帳に追加

イオン注入等のイオンを用いる加工を行う際に生ずる静電破壊の有無を容易に検査可能な静電破壊モニタリング方法および装置を提供すること。 - 特許庁

To provide system and method which can generate signals for testing optical device at a time in a plurality of remote test stations to simultaneously test a plurality of optical devices.例文帳に追加

遠く離れた複数の試験局において光学装置を試験するための信号を同時に生成し得て、複数の光学装置を同時に試験することができるようにする。 - 特許庁

To provide a testing method for a slack type emergency stopping device capable of working with various types of elevator devices and performing the motion check simply and quickly.例文帳に追加

種々のエレベータ装置に対応することができるとともに、簡単に、且つ、短時間に動作確認を行うことができるスラック式非常止め装置の試験方法を得る。 - 特許庁

To provide a method and a composition for stabilizing a clinical sample (namely, a cell in a biological sample) for its transport and subsequent testing for diagnosis.例文帳に追加

臨床標本（すなわち、生物学的試料中の細胞）を輸送用およびその後の診断検査用に安定化する方法および組成物を提供すること。 - 特許庁

To provide a testing method capable of evaluating precisely and easily freezing and thawing durability in a short time under a condition of a reproduced aggregate, without using any special device.例文帳に追加

再生骨材の状態のままで、凍結融解耐久性を短期間で精度良く、特殊な装置などを用いずに簡易に評価することのできる試験法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device and method in which termination processing can be carried out efficiently in safety upon occurrence of abnormality in a test object, i.e. a power converter.例文帳に追加

試験対象である電力変換器の異常発生時に、効率的かつ安全な異常検出時終了処理が可能な試験装置および試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing microorganisms, capable of quickly and easily monitoring the increase or decrease of the microorganisms presenting on a tested surface after passing a certain period of time from a time point.例文帳に追加

ある時点から一定時間経過後の被験面に存在する微生物の増減を、迅速かつ簡易にモニタリングできる微生物試験方法を提供することである。 - 特許庁

To provide a combination test method capable of testing easily a receiver for inputting a signal including a desired amount of jitter, even when an output signal from a transmitter is at a high speed.例文帳に追加

送信装置の出力信号が高速でも所望量のジッタを含む信号を入力する受信装置のテストを簡易に行える組合せ試験方法の提供。 - 特許庁

To generate a fault list of a delay fault, a wire breaking fault, and a path delay fault which can be detected by a transient source current testing method with high observableness and a test pattern series.例文帳に追加

可観測性の高い過渡電源電流試験法により、検出可能な遅延故障、断線故障、パス遅延故障と又テストパターン系列との故障リストを生成する。 - 特許庁

To provide a testing method of evaluating (determining) the staining capacity of cosmetics for discriminating cloth hard to adhere the cosmetics from cloth easy to remove the cosmetics if the cosmetics adhere.例文帳に追加

化粧品が付着しにくい布帛やあるいは付着しても落ちやすい布帛を見分ける化粧品汚染性能を評価（判定）する試験方法を提供する。 - 特許庁

The present invention provides an on-chip circuit and a testing method which evaluate transistor electric charge transfer performance and electric charge storage capability of a DRAM cell in an real operating environment.例文帳に追加

本発明は、実動作環境におけるＤＲＡＭセルのトランジスタ電荷転送性能および電荷保持能力を評価するオン・チップ回路およびテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a preparation method and its system for testing BSE, which have such advantages that abnormal prions can be rapidly and accurately detected, and a lot of specimens can be treated.例文帳に追加

異常プリオンを迅速かつ的確に検出可能ならしめる、検体が大量でも対応可能である、等の利点を持つＢＳＥ検査前処理方法及びシステムを提供。 - 特許庁

To provide a testing method of a CMOS integrated circuit whereby the fault current of the CMOS integrated circuit having a high static power current and a high variation thereof can be detected.例文帳に追加

静止電源電流が大きくそのバラツキも大きいＣＭＯＳ集積回路の欠陥電流を検出可能なＣＭＯＳ集積回路の試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection device and an inspection method for a fare adjustment program for easily testing the fare adjustment program, and for easily developing the highly reliable fare adjustment program.例文帳に追加

容易に精算プログラムをテストすることができ、信頼性の高い精算プログラムを容易に開発することができる精算プログラムの検査装置及び検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device and a test method capable of measuring efficiently an input/output characteristic of a test object circuit equipped with a plurality of input terminals, synchronously with a clock.例文帳に追加

クロックに同期して、複数の入力端子を備えたテスト対象回路の入出力特性の測定を効率良く行えるテスト装置及びテスト方法の提供。 - 特許庁

To provide an apparatus and method for testing a phase locked loop (PLL) that can solve a task of conducting an enhanced test including verification and/or stop sequence of a frequency dynamic revision.例文帳に追加

位相同期ループ（ＰＬＬ）のテストにおいて、周波数の動的変更の検証および／またはストップシーケンス・チェックを含む、改良されたテストを行うことが課題である。 - 特許庁

To provide a power transmitter and a method for testing the power transmitter, efficiently and reliably executing a test (e.g., test by public certificate authority) for the power transmitter in a noncontact power transmission system.例文帳に追加

無接点電力伝送システムにおける送電装置の試験（例えば、公的認証機関による試験）を、効率的かつ確実に実行できるようにする。 - 特許庁

To provide a durability test method by which a durability test for testing the durability of an automobile coating film in its actual use is simply carried out.例文帳に追加

自動車用塗膜の実際の使用時における自動車塗膜の耐性を試験するための耐性試験を、簡便に行うことができる耐性試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide an initial adjustment method of a card-type wireless trans mission device, in which the labor for program writing and testing is reduced and working time thereof is shortened.例文帳に追加

プログラム書込み作業及びテスト作業の労力の低減、それらの作業時間の短縮を図ったカード型無線伝送機器の初期調整方法を提供する。 - 特許庁

To provide a measuring method in which the thickness of a scale stuck to the inner surface of a tube to be measured is measured with satisfactory accuracy by an ultrasonic testing system by taking into consideration the shape and the property of the scale.例文帳に追加

被測定管の内面に付着したスケールの厚さを、超音波探傷試験方式により、スケールの形状や性状も考慮して極めて精度よく測定する。 - 特許庁

To provide a design and a test method that break a linear relationship between a fault detection range or testability and costs of testing or producing a design.例文帳に追加

欠陥検出範囲又はテスト可能性と、設計のテスト又は製造に関するコストとの間の線形的な関係を打ち破る、設計及びテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing sensitivity of a smoke sensor capable of using no real smoke, suppressing generation of noise of a circuit, and surely conducting a sensitivity test of the smoke sensor.例文帳に追加

実際の煙を用いず、しかも回路のノイズの発生を抑え、確実な煙感知器の感度試験が行える煙感知器の感度試験方法を提供することにある。 - 特許庁

To provide a device and a method for testing the emergency stop of an elevator capable of checking the operation of an emergency stopping device while preventing any damage of a rope.例文帳に追加

ロープの損傷を防止しつつ非常止め装置の作動を確認することができるエレベータの非常停止点検装置及び非常停止点検方法を提供する。 - 特許庁

The semiconductor element is provided with the sealing film in which the hardness value calculated by a micro-pushing testing method is within a range of ≥4GPa and ≤14GPa.例文帳に追加

微小押し込み試験法により算出された硬度値が４ＧＰａ以上、１４ＧＰａ以下の範囲にある封止膜を有する半導体素子を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing lateral pressure of an optical fiber capable of accurately measuring light transmission losses in periodic macro bents of the optical fiber, and an instrument therefor.例文帳に追加

光ファイバの周期的なマクロベントに対する光伝送損失をも正確に測定可能な光ファイバの側圧試験方法及びその試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a mother panel allowing an energization test in the form of the mother panel, an energization testing method for the mother panel, and an information display panel manufactured by using the mother panel.例文帳に追加

マザーパネルの状態でも通電検査することができるマザーパネル、その通電検査方法およびマザーパネルを用いて作製した情報表示パネルを提供する。 - 特許庁

To provide a method for heating and cooling test, capable of testing by imparting a thermal conduction phenomenon the same as self-heating to an electronic component mounted on a circuit board.例文帳に追加

回路基板に実装された電子部品に、自己発熱と同様の熱伝導現象を与えて試験できる加熱冷却試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a method for testing water resistance of a cured thermosetting resin product, capable of accurately conducting the water resistance test of the cured thermosetting resin product in a short time.例文帳に追加

熱硬化性樹脂硬化物の耐水性試験を短時間で正確におこなうことができる熱硬化性樹脂硬化物の耐水性試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for testing embedded-type time domain reflectivity that specify faults in the wirings in a printed circuit substrate with minimum cost, and in minimum time.例文帳に追加

プリント回路基板の配線の故障を最小限のコストと時間で特定する埋め込み型時間領域反射率試験の方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To achieve a testing method on the basis of source current in static state of a semiconductor integrated circuit by which the determination of good or no-good is exactly made even if there are manufacturing variations.例文帳に追加

製造バラツキがあっても良否判定が正しく行われる半導体集積回路の静止状態電源電流に基づいた検査方法の実現を課題とする。 - 特許庁

To provide a testing method, in which some of same integrated circuit (IC) chips are tested, in parallel with asynchronous actions via two physical connections between a circuit tester and each chip.例文帳に追加

いくつかの同一の集積回路チップを、テスタと各チップとの間の２つの物理的接点を介して非同期動作で並列に試験する方法を提供する。 - 特許庁

In this insulation performance testing method of a wafer-level CSP (Chip Scale Package) using a TEG pattern, a spiral TEG pattern is used.例文帳に追加

本発明の第１の態様は、ＴＥＧパターンを用いたウエハレベルＣＳＰの絶縁性テスト方法において、渦巻き状のＴＥＧパターンを用いたことを特徴とする。 - 特許庁

To provide a corrosion testing method using laboratorial reproduction of corrosive environments in cargo holds of coal carrying ships and combined coal/ore carrying ships.例文帳に追加

本発明は、石炭船・石炭および鉱石兼用船のホールド内の腐食環境を実験室的に再現した腐食試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a system and method for testing a scale model of a steam system of a boiling water reactor (BWR) to determine an acoustic load of a main steam system of the BWR.例文帳に追加

ＢＷＲの主蒸気システムの音響負荷を決定するために、ＢＷＲの蒸気システムの縮尺模型に試験を行うシステムおよび方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method and a device for testing a what is called, two- stage blow head which is used for the production of glass product, especially for the final blow operation of a glass product producing machine.例文帳に追加

ガラス製品の製造、特に、ガラス製品製造機械の最終吹込操作に使用されるいわゆる２段階ブローヘッドを試験するための方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit capable of securing independence between a normal mode and a test mode without increasing the number of pins, and to provide a method for testing the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

本発明は、ピン数を増加させることなく、通常モードとテストモードとの独立性を確保することができる半導体集積回路及びそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device having a plurality of test modes, in which a set test mode is reliably determined, and to provide a method for testing the semiconductor device.例文帳に追加

複数のテストモードを有する半導体装置において、設定されたテストモードを確実に判定できる半導体装置及び半導体装置のテスト方法を提供する。 - 特許庁

This is a testing method for a morbid state of a wound in which an exudate is brought into contact with collagen gel containing a fibroblast and the contraction degree of the collagen gel is measured.例文帳に追加

創部の浸出液を、線維芽細胞を含むコラーゲンゲルに接触させ、該コラーゲンゲルの収縮程度を測定することを特徴とする創傷の病態の検査方法。 - 特許庁

To provide a slide testing method and machine capable of accurate evaluation of a seizure surface pressure, and of evaluation of conformability and abrasion resistance.例文帳に追加

焼付き面圧を正確に評価することができるとともに、なじみ性及び耐摩耗性を評価することができる摺動試験方法及び摺動試験機を提供する。 - 特許庁