testabilityとは 意味・読み方・使い方

HIGH RELIABILITY TRIPLE REDUNDANT MEMORY ELEMENT WITH INTEGRATED TESTABILITY AND VOTING STRUCTURE ON EACH LATCH例文帳に追加

テスト機能と各ラッチに対する投票構造が組み込まれた高信頼性３重冗長メモリ素子 - 特許庁

The technique can be fully integrated into flows of design for testability (DFT) and automatic test pattern generation (ATPG).例文帳に追加

記載された技術は、テスト容易化設計（ＤＦＴ）及び自動テストパターン生成（ＡＴＰＧ）のフローに完全に組込むことができる。 - 特許庁

To provide a security circuit of a non-volatile memory in which alternation of security data by a third person is prevented and testability is considered.例文帳に追加

第三者によるセキュリティデータの改竄を防止し、テスタビリティも考慮した不揮発性メモリのセキュリティ回路を提供する。 - 特許庁

A circuit and a method of this high reliability triple redundant latch with integrated testability are provided in a preferred embodiment.例文帳に追加

本発明は好ましい実施形態において、テスト機能が組み込まれた高信頼性三重冗長ラッチの回路および方法を提供する。 - 特許庁

In a preferred embodiment, the invention provides a circuit and method for a high reliability triple redundant latch with integrated testability.例文帳に追加

好ましい実施形態において、本発明はテスト機能が組み込まれた高信頼性３重冗長ラッチに関する回路および方法を提供する。 - 特許庁

To provide a design and a test method that break a linear relationship between a fault detection range or testability and costs of testing or producing a design.例文帳に追加

欠陥検出範囲又はテスト可能性と、設計のテスト又は製造に関するコストとの間の線形的な関係を打ち破る、設計及びテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a memory rest circuit for which a test time can be shortened, which can be tested with actual operation speed, and of which testability can be improved as compared with the conventional one.例文帳に追加

メモリーに対するテスト時間を短縮するとともに、メモリーをその実動作速度でテストすることができ、従来に比べてテスタビリティを向上させることができるメモリーテスト回路を提供する。 - 特許庁

To provide structures and methods for emulation, simulation and tests, capable of shortening development time with superior observability, testability and controllability without having to use an expensive tester for testing or debugging a large-scale integrated circuit.例文帳に追加

大規模集積回路の試験やデバッグを行うために、高価な試験器を用いず、可観測性と試験性と制御性が優れ、開発時間の短縮が可能なエミュレーション、シミュレーション、試験の構造と方法を提供する。 - 特許庁