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testabilityとは 意味・読み方・使い方

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意味・対訳 可試験; 検査能力; 試験性; 試験能力; 試験可能性; 検査可能性; テスタビリティ; テスト可能性; 可試験性; テスト性; テスト容易性


ハイパー英語辞書での「testability」の意味

testability

名詞
用例
Testability is required to test a program.
接尾辞
-ability-able終る形容詞から名詞造る


「testability」を含む例文一覧

該当件数 : 16



例文

ANALYSIS METHOD FOR EASY TESTABILITY AND ANALYSIS SYSTEM FOR EASY TESTABILITY AS WELL AS DESIGN METHOD FOR EASY TESTABILITY例文帳に追加

テスト容易性解析システムおよびテスト容易性解析方法、並びにテスト容易化設計方法 - 特許庁

They are merely prerequisites to the testability of the Travel Reservation Service.発音を聞く 例文帳に追加

パートナーサービスは、旅行予約サービスをテストするための単なる前提条件にすぎません。 - NetBeans

SEQUENTIAL TEST PATTERN GENERATION USING CLOCK CONTROL DESIGN FOR TESTABILITY STRUCTURE例文帳に追加

クロック制御式テスト容易化デザイン構成を用いたシーケンシャルテストパターン生成 - 特許庁

HIGH RELIABILITY TRIPLE REDUNDANT MEMORY ELEMENT WITH INTEGRATED TESTABILITY AND VOTING STRUCTURE ON EACH LATCH例文帳に追加

テスト機能と各ラッチに対する投票構造が組み込まれた高信頼性3重冗長メモリ素子 - 特許庁

To improve general applicability, accuracy, stabilization, cost reduction and also testability.例文帳に追加

汎用性、高精度化、安定化、低コスト化及びテスタビリティーを向上させること。 - 特許庁

To provide an analysis system for easy testability, which executes an analysis for the easy testability by implementing analysis for the controllability/observability in a stage for describing hardware not depending on an architecture.例文帳に追加

アーキテクチャに依存しないハードウェア機能記述の段階で制御性・観測性の解析を実施することによりテスト容易性の解析を行うテスト容易性解析システムを提供する。 - 特許庁

例文

A circuit and a method of this high reliability triple redundant latch with integrated testability are provided in a preferred embodiment.例文帳に追加

本発明は好ましい実施形態において、テスト機能が組み込まれた高信頼性三重冗長ラッチの回路および方法を提供する。 - 特許庁

>>例文の一覧を見る


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コンピューター用語辞典での「testability」の意味

testability


機械工学英和和英辞典での「testability」の意味

testability(performance)


日英・英日専門用語辞書での「testability」の意味

testability

試験試験可能性,テスタビリティ,テスト容易性

クロスランゲージ 37分野専門語辞書での「testability」の意味

testability

テスタビリティ

Weblio英和対訳辞書での「testability」の意味

Testability

Weblio英和対訳辞書はプログラムで機械的に意味や英語表現を生成しているため、不適切な項目が含まれていることもあります。ご了承くださいませ。

Wiktionary英語版での「testability」の意味

testability

「testability」を含む例文一覧

該当件数 : 16



例文

In a preferred embodiment, the invention provides a circuit and method for a high reliability triple redundant latch with integrated testability.例文帳に追加

好ましい実施形態において、本発明はテスト機能が組み込まれた高信頼性3重冗長ラッチに関する回路および方法を提供する。 - 特許庁

To provide a security circuit of a non-volatile memory in which alternation of security data by a third person is prevented and testability is considered.例文帳に追加

第三者によるセキュリティデータの改竄を防止し、テスタビリティも考慮した不揮発性メモリのセキュリティ回路を提供する。 - 特許庁

The technique can be fully integrated into flows of design for testability (DFT) and automatic test pattern generation (ATPG).例文帳に追加

記載された技術は、テスト容易化設計(DFT)及び自動テストパターン生成(ATPG)のフローに完全に組込むことができる。 - 特許庁

To provide structures and methods for emulation, simulation and tests, capable of shortening development time with superior observability, testability and controllability without having to use an expensive tester for testing or debugging a large-scale integrated circuit.例文帳に追加

大規模集積回路の試験やデバッグを行うために、高価な試験器を用いず、可観測性と試験性と制御性が優れ、開発時間の短縮が可能なエミュレーション、シミュレーション、試験の構造と方法を提供する。 - 特許庁

To provide a design and a test method that break a linear relationship between a fault detection range or testability and costs of testing or producing a design.例文帳に追加

欠陥検出範囲又はテスト可能性と、設計のテスト又は製造に関するコストとの間の線形的な関係を打ち破る、設計及びテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide an A/D converter which is capable of operating stably, even if the level of an analog input voltage is near to a threshold voltage at which an analog input is converted into digital codes and improved in testability.例文帳に追加

アナログ入力の電圧レベルが、デジタルコードに変換する際のしきい値の近傍である場合であっても安定した動作を得ることができ、テスト性を向上させることができるADコンバータを提供する。 - 特許庁

To provide emulation, simulation and testability architecture without using an expensive tester in order to perform a test and debug of a large scale integrated circuit, which is excellent in observability and controllability and can reduce development time.例文帳に追加

大規模集積回路の試験やデバッグを行うために、高価な試験器を用いず、可観測性と試験性と制御性が優れ、開発時間の短縮が可能なエミュレーション、シミュレーション、試験の構造と方法を提供する。 - 特許庁

例文

To provide a memory rest circuit for which a test time can be shortened, which can be tested with actual operation speed, and of which testability can be improved as compared with the conventional one.例文帳に追加

メモリーに対するテスト時間を短縮するとともに、メモリーをその実動作速度でテストすることができ、従来に比べてテスタビリティを向上させることができるメモリーテスト回路を提供する。 - 特許庁

>>例文の一覧を見る


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