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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > testing methodの意味・解説 > testing methodに関連した英語例文

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testing methodの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 5388



例文

To provide a method for preventing wrong control due to a wrong output from a programmable controller by means of a testing circuit.例文帳に追加

検定回路によりプログラマブルコントローラー(以下、PCと略す)の出力ユニットからの誤出力による誤制御を防ぐ方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for realizing certain identification and a true test at comparatively less hardware cost and for recognizing or testing securities.例文帳に追加

比較的わずかなハードウエア−費用で確実な識別及び真性テストを可能にする、有価証券を認識し又はテストする方法を提供する。 - 特許庁

To provide a system for fault sensing prevention of an optical film and tape-shaped printed circuit board, and to provide its testing method.例文帳に追加

光学を利用したフィルムおよびテープ形態の印刷回路基板の過検出防止のためのシステムおよびそれのテスト方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a crash testing device and a crash test method for an automobile body capable of performing a crash test while measuring acceleration applied to a vehicle compartment at a collision time.例文帳に追加

衝突時の車室に作用する加速度を計測しながら衝突試験を行うことができる衝突試験装置を提供する。 - 特許庁

例文

To provide a test method and a test system of a semiconductor integrated circuit capable of easily testing contact between a test probe and a pad.例文帳に追加

テスト用のプローブとパッドとの接触を容易にテストすることが可能な半導体集積回路のテスト方法およびテストシステムを提供する。 - 特許庁


例文

To provide a nonvolatile semiconductor memory capable of easily identifying a memory cell in a state of excessive writing, and a method for testing the same.例文帳に追加

過書き込み状態のメモリセルを容易に特定することが可能な不揮発性半導体記憶装置及びその試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for evaluating a weld zone by nondestructive testing which facilitates simple processing without incurring increase in cost or an equipment space.例文帳に追加

コストや装置スペースの増大を招くことなく、簡易な処理で行うことができる、非破壊検査による溶接部評価方法を提供する。 - 特許庁

To provide a protocol test device capable of testing a network using an optional protocol and to provide a protocol test method.例文帳に追加

本発明は、任意のプロトコルを用いてネットワーク試験を行うことができるプロトコル試験装置又はプロトコル試験方法の提供を目的とする。 - 特許庁

To provide an active matrix test substrate and a testing method which facilitate defect detection even when a scan line driving circuit of CC driving is included.例文帳に追加

CC駆動を行う走査線駆動回路を含んでいても欠陥検出が容易なアクティブマトリクス型検査基板と検査方法を提供する。 - 特許庁

例文

To attain gas-insulation switching device, capable of performing repair work and withstand voltage test, by only stopping one overhead line and a withstand voltage testing method therefor.例文帳に追加

架空線1回線の停止のみで修理と耐電圧試験を行うことができるガス絶縁開閉装置と耐電圧試験方法を得る。 - 特許庁

例文

The durometer hardness herein is measured according to 'Durometer Hardness Testing Method (Type A) of Plastic' defined in JIS K 7215.例文帳に追加

ここでいうデュロメータ硬さとは、JIS K 7215に定める「プラスチックのデュロメータ硬さ試験方法(タイプA)」に準じて測定したデュロメータ硬さをいう。 - 特許庁

To provide an appropriate diffusion testing method for more accurately performing the quantitative evaluation of the elusion of contaminants from a solidified body.例文帳に追加

固化体からの汚染物溶出の定量的な評価をより精確に行い得るようにするために適当な拡散試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide an erase function testing method of a semiconductor nonvolatile memory executing the erase function test in sector units in a short time.例文帳に追加

セクタ単位での消去機能の試験を短時間で実行することができる、半導体不揮発性メモリの消去機能試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing method for a liquid crystal device with which positioning is excellently performed when performing an acceleration test and reliability of a test result can be maintained.例文帳に追加

加速試験する際の位置決めを良好に実行して、試験結果の信頼性を維持できる液晶装置の試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method capable of performing the reliability test of a joint part of an electronic part with a short testing time and a small number of samples.例文帳に追加

試験時間が短く、かつ少ないサンプル数で電子部品の接合部の信頼性試験を行うことが可能な方法を提供する。 - 特許庁

To provide an iceball launcher having a stable directionality without destroying an ice ball and a hailstorm testing method.例文帳に追加

氷球を破壊することなく安定した方向性を備えた氷球発射装置および降雹試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a method and apparatus for testing semiconductor devices which can more efficiently and accurately suppress the effluence of defective products.例文帳に追加

より効率良く、より高い精度で不良品の流出を抑制することが可能な半導体装置の検査方法と検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a convenient and nondestructive testing method capable of acquiring an interface data and limit dimension information of a material.例文帳に追加

材料の界面データおよび限界寸法情報をもたらし得る、便利かつ非破壊的な試験技術の必要性が強く感じられている。 - 特許庁

To provide a semiconductor device capable of easily driving an internal circuit on the outside of a chip under the state of a package and a testing method.例文帳に追加

パッケージ状態においてチップの外部で容易に内部回路を駆動することができる半導体装置及びテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing method for a magnetic head for a magnetic disk drive which can improve the limit performance corresponding to a very- narrow-width head.例文帳に追加

極小トラック幅ヘッド対応の限界性能を向上させることができる磁気ディスクドライブ用磁気ヘッドの試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a reading comprehension testing method and device with which the document reading comprehension of a human being can be measured in a short time and with high accuracy.例文帳に追加

人間の文書読解力を、短時間かつ高精度に測定することを可能とする読解力試験方法及び装置の提供。 - 特許庁

To obtain a test burn-in board(TBIB) control method and a burn-in testing system which dissolves the overflow problem of the production numbers of TBIBs.例文帳に追加

テストバーンインボード(TBIB)の製造番号のオーバーフロー問題を解決したTBIB管理方法及びバーンイン試験システムを提供する。 - 特許庁

To provide a method for measuring a lactic acid dehydrogenase which is useful for inspection sensor for the purpose of "Point of care testing".例文帳に追加

Point of care testingを目的とする検査センサに有用な乳酸脱水素酵素の測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a system and method for metallic-testing a subscriber line that provides both voice and digital subscriber line services.例文帳に追加

音声及びDSLサービスを提供するメタル加入者回線のテストを行なうシステム及び方法を提供することが本発明の課題である。 - 特許庁

To provide an automatic penetration testing machine and a method for pulling out a penetration rod by which the penetration rod can be pulled out surely from a ground.例文帳に追加

貫入ロッドを地中からより確実に引き抜くことのできる自動貫入試験機および貫入ロッドの引き抜き方法の提供。 - 特許庁

To sufficiently detect a defect of a magnetic metal body, using a magnetic impedance effect type sensor by a magnetic leakage flux testing method.例文帳に追加

磁性金属体の欠陥を漏洩磁束探傷試験方法により磁気インピーダンス効果型センサを用いて良好に検出できるようにする。 - 特許庁

To provide a device for destructively testing a jig clamper capable of precisely grasping the strength of a jig clamper, and a method therefor.例文帳に追加

治具クランパの強度を精度高く把握することができる治具クランパ破壊試験装置及び治具クランパ破壊試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing chemical sensitivity of metallo-β- lactamase-producing strains that are regarded as microorgansms causing serious nosocomial infections.例文帳に追加

本発明は院内感染の原因菌として問題になっているメタロ−β−ラクタマーゼ産生菌の薬剤感受性試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a circuit test tool and a circuit testing method capable of stably performing a test using metal pogo pins.例文帳に追加

金属ポゴピンを使用して行う試験を安定した状態で行なうことができる回路試験用治具および回路試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a prove finger structure which can be used for the various testing structures, and to provide a manufacturing method for the probe finger structure.例文帳に追加

種々の試験用構造体に使用することができるプローブフィンガ構造体及びプローブフィンガ構造体を製造する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method which enables the simple and early acquisition of test results in a dyeing fastness test, and a testing machine therefor.例文帳に追加

染色堅ろう度試験において、簡易、かつ、早期に試験結果を得ることができる方法及びその試験機を提供することを課題とする。 - 特許庁

TESTING DEVICE, HOLDER FOR TEST STRIP, KIT FOR DETECTING PRESENCE OF ANALYTE IN SAMPLE, AND METHOD FOR DETECTING ANALYTE IN SAMPLE例文帳に追加

試験装置、試験ストリップのためのホルダ、サンプル中の分析物の存在を検出するためのキット、及びサンプル中の分析物を検出する方法 - 特許庁

To provide a device including a testing circuit formed on a wafer to perform a radio test of a wafer having an integrated circuit and a method.例文帳に追加

集積回路を有するウェーハの無線試験を行うためのウェーハ上に形成された試験回路を含む装置および方法を提供する。 - 特許庁

To obtain particles for concentrating virus for concentration of virus in a sample, a reagent for concentrating virus and method for testing virus.例文帳に追加

試料中のウイルスを濃縮するためのウィルス濃縮用粒子、ウイルス濃縮用試薬、ウイルス濃縮方法およびウイルス検査方法を得る。 - 特許庁

To provide a semiconductor test system and semiconductor testing method which is high in productivity per unit occupying area and is superior in effective working ratio.例文帳に追加

単位占有面積当りの生産性が高く、実効稼働率に優れた半導体テストシステムおよび半導体試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing method for accurately grasping the damages generated in a metal material inside a living body and the durability, and to provide its apparatus.例文帳に追加

生体用金属材料が生体内で受ける損傷および耐久性を正確に把握できる試験 方法及びその装置を提供する。 - 特許庁

RING OSCILLATING CIRCUIT, DELAYED TIME MEASURING CIRCUIT, TEST CIRCUIT, CLOCK SIGNAL GENERATING CIRCUIT, IMAGE SENSOR, PULSE GENERATING CIRCUIT, SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

リング発振回路、遅延時間測定回路、テスト回路、クロック発生回路、イメージセンサ、パルス発生回路、半導体集積回路、及び、そのテスト方法 - 特許庁

The testing method includes a procedure to move the substrate table in the first direction x, and one to measure the characteristic of the extending pattern in the first direction.例文帳に追加

検出方法は、基板テーブルを第一方向に移動させ、その第一方向xに沿って延在パターンの特性を測定することを含む。 - 特許庁

To provide a semiconductor element testing method enabling easy test with a good reproducibility even if a semiconductor chip has a warp.例文帳に追加

半導体チップが反りを生じていても再現性よく、かつ、簡便にテストを実施することができる半導体素子の試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a patch for testing skin reaction and its test method capable of easily and accurately performing tests regardless of the color of the skin of a subject.例文帳に追加

被験者の皮膚の色に関係なく、容易に正確な試験をすることができる皮膚反応試験パッチとその試験方法を提供する。 - 特許庁

This device 1 is used for testing a tire 10 having two sidewalls 11 and 13 and a tread part 15 particularly by an interference measurement method.例文帳に追加

2つの側壁11、13およびトレッド部分15を有するタイヤ10を特に干渉測定法によって試験するための装置1である。 - 特許庁

To provide a device and a method for mounting/incorporating a micro device in a macro instrument to be used for analyzing or testing a reagent.例文帳に追加

マイクロ装置を、試薬の分析又は検査のために用いられるマクロ機器に実装し、組み込むための装置及び方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method of testing precisely and easily a degree of discoloration in a resin caused by nitrogen oxides, with a reduced measuring dispersion and error.例文帳に追加

測定のバラツキ・誤差が少なく、窒素酸化物による樹脂の変色度合いを精度良く且つ簡便に測定できる方法を提供する。 - 特許庁

To provide a device and a method for testing a bearing, capable of reproducing brittle separation caused by hydrogen brittleness, in a short time and with precision.例文帳に追加

水素脆化に起因する脆性剥離を短時間で的確に再現できる軸受試験装置と軸受試験方法を提供することである。 - 特許庁

To provide the semiconductor chip and the testing method of the chip, with which damage to a guard ring and the damaged location can be specified.例文帳に追加

ガードリングが損傷していること、および、その損傷箇所を特定することができる半導体チップおよびそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a new cell growth suppressor gene, a protein encoded by the gene, and a method for a genetic testing using the gene.例文帳に追加

新規な細胞増殖抑制遺伝子、その遺伝子がコードするタンパク質、およびその遺伝子を用いた遺伝子検査方法等を提供すること。 - 特許庁

The X server may also be started directly by the user, though this method is usually reserved for testing and is not recommended for normal operation.例文帳に追加

X サーバはユーザが直接起動することもできるが、この方法は一般にテスト用のものであり、通常の操作では使わない方がよい。 - XFree86

To provide a prompt method of testing a drug sensitivity of microorganisms by determining quantity of metabolic activity of the microorganisms based on mass spectrometer analysis.例文帳に追加

微生物の代謝活性を質量分析により定量することで、微生物の薬剤感受性試験において迅速な方法を提供する。 - 特許庁

To provide a device and method for testing semiconductor integrated circuit by which the measured result of a specific pin can be easily made to be referred to.例文帳に追加

特定のピンの測定結果を容易に参照することができる半導体集積回路試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁

例文

To provide a method for preparing an article having a thermal-spray coating and, in more detail, to provide a method for testing such an article in order to assure the integrity of the joining of the coating to an article substrate.例文帳に追加

本発明は、溶射皮膜を有する物品の作製に関し、より詳細には、皮膜と物品基材間の結合の完全性を保証するための、このような物品の試験に関する。 - 特許庁




  
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