「testing method」に関連した英語例文の一覧と使い方(72ページ目) - Weblio英語例文検索

SEMICONDUCTOR WAFER, FERROELECTRIC STORAGE DEVICE, ELECTRONIC APPARATUS, AND METHOD OF TESTING FERROELECTRIC STORAGE DEVICE例文帳に追加

半導体ウエハ、強誘電体記憶装置、電子機器および強誘電体記憶装置の試験方法 - 特許庁

TIMING ADJUSTMENT CIRCUIT, AND TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT USING THE SAME例文帳に追加

タイミング調整回路及びこのタイミング調整回路を用いた半導体集積回路のテスト方法 - 特許庁

TIMING CALIBRATION METHOD, TIMING-CALIBRATING APPARATUS, AND IC-TESTING DEVICE WITH TIMING-CALIBRATING APPARATUS例文帳に追加

タイミング校正方法、タイミング校正装置及びこのタイミング校正装置を備えたＩＣ試験装置 - 特許庁

NOVEL GENE, AND OSTEOPOROSIS TESTING METHOD BASED ON SINGLE NUCLEOTIDE POLYMORPHISM ON FONG GENE LOCUS例文帳に追加

新規遺伝子およびＦＯＮＧ遺伝子座の一塩基多型に基づく骨粗鬆症の検査方法 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT HAVING FUNCTION TESTING MEMORY USING VOLTAGE FOR STRESS AND ITS MEMORY TEST METHOD例文帳に追加

ストレス用電圧を用いてメモリをテストする機能を有する集積回路及びそのメモリテスト方法 - 特許庁

MULTI-CHANNEL ARCHITECTURE, AUTOMATIC TESTING MACHINE, TRANSMITTING METHOD AND SOFTWARE PROGRAM OR PRODUCT例文帳に追加

多重チャネルアーキテクチャ及び自動試験機及び送信方法及びソフトウェアプログラムあるいは製品 - 特許庁

ELECTROLYTIC COPPER FOIL, METHOD FOR TESTING ITS PHYSICAL PROPERTY AND COPPER CLAD LAMINATE USING SAME ELECTROLYTIC COPPER FOIL例文帳に追加

電解銅箔及びその物性検査方法並びにその電解銅箔を用いた銅張積層板 - 特許庁

TESTING DEVICE OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT USING DEVICE例文帳に追加

半導体集積回路の試験装置およびそれを用いた半導体集積回路の試験方法 - 特許庁

SAMPLE SUBSTRATE FOR USE IN BIOLOGICAL TESTING, AND METHOD FOR FILLING SAMPLE SUBSTRATE例文帳に追加

生物学的試験において使用するためのサンプル物質とサンプル物質を充填するための方法 - 特許庁

To provide a particularly easy-to-use and effective method for testing bus protocol compliance of a device.例文帳に追加

デバイスのバス・プロトコル準拠性を試験する特に使い易く効率的な方式を提供する。 - 特許庁

The invention relates to the method for testing the skin to predict the state of hair growth or epilation.例文帳に追加

本発明は、皮膚の発毛・脱毛状態を予知するための皮膚検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method, a test chamber and a test setup for leak testing of a closed container.例文帳に追加

閉じた容器の漏れ試験をする方法、そのための試験室、および試験構成を提供する。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR COMPUTING ADJACENT-CHANNEL LEAKING POWER AND TESTING DEVICE例文帳に追加

隣接チャネル漏洩電力算出装置、隣接チャネル漏洩電力算出方法、及び試験装置 - 特許庁

MOUNTING METHOD OF EXCRETA TESTING DEVICE, AND SANITARY WASHING DEVICE HAVING EXCRETA MEASUREMENT FUNCTION例文帳に追加

排泄物測定装置の取付方法および排泄物測定機能付き衛生洗浄装置 - 特許庁

PRETREATMENT METHOD BEFORE THERMAL SPRAYING OF INNER SURFACE OF CYLINDER, PRETREATED SHAPE OF INNER SURFACE OF CYLINDER BEFORE THERMAL SPRAYING, AND METHOD FOR TESTING PRESSURE LEAKAGE IN CYLINDER例文帳に追加

円筒内面の溶射前下地加工方法，同溶射前下地処理形状および円筒内の圧漏れ試験方法 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING THROMBIN INACTIVATION KINETICS FOR ABNORMAL THROMBIN ACTING AS COAGULATION FACTOR, METHOD OF TESTING AND POLYNUCLEOTIDE例文帳に追加

凝固因子として作用する異常トロンビンのためのトロンビン不活化動態測定方法及び試験方法、並びに、ポリヌクレオチド - 特許庁

To provide an optical test apparatus, a test method, a driving method, and a probe card that are suitable for selectively testing an image sensor.例文帳に追加

イメージセンサを選択的にテストするのに適する光学テスト装置、テスト方法、駆動方法、及びプローブカードを提供する。 - 特許庁

To provide a sealed article with which leakage test can easily be conducted, its leakage testing method and its manufacturing method.例文帳に追加

漏れ検査を容易に行うことのできる密閉品並びにその漏れ検査方法及び製造方法を提供する。 - 特許庁

To perform a highly accurate nondestructive compressive strength testing method or a stress estimating method using a propagation velocity of vibration.例文帳に追加

振動の伝播速度を利用して高精度かつ簡単な非破壊圧縮強度試験或いは応力推定を行う。 - 特許庁

To improve an electronic device and method for self-testing an optical waveguide network, and a program for executing the method.例文帳に追加

光導波体ネットワークをセルフテストする電子装置、方法およびこの方法を実施するプログラムを改善すること。 - 特許庁

TESTING MACHINE SUPPORT TABLE, TENSILE TEST METHOD OF FASTENER, UNIT FOR TENSILE TEST, AND METHOD OF PERFORMING MOUNTING CONSTRUCTION OF PROPERTY TO BUILDING STRUCTURE例文帳に追加

試験機支持台、締結具の引張試験方法、引張試験用ユニット、建築構造物への器物取付施工方法 - 特許庁

To provide a complementarity testing method improved in the sensitivity of detecting hybridization, and to provide a means for use in the method.例文帳に追加

ハイブリダイゼーションの検出感度を向上させた相補性試験方法及びそれに用いる手段を提供する。 - 特許庁

BULK CURRENT INJECTION TRANSFORMER, BULK CURRENT INJECTION TEST METHOD, CONDUCTOR EXCITATION MODE MEASURING METHOD, AND TRANSFORMER TESTING DEVICE例文帳に追加

バルク電流注入トランス、バルク電流注入試験方法、導体励起モード測定方法、およびトランス試験装置 - 特許庁

METHOD FOR TESTING ACTIVATED CLOTTING TIME LOW IN SENSITIVITY TO PRESENCE OF APROTININ AND METHOD FOR EVALUATING ADROTININ SENSITIVITY例文帳に追加

アプロチニンの存在に対する感受性の低い活性化クロッティング時間試験方法、およびアプロチニン感受性の評価方法 - 特許庁

The method includes a step for generating deficiency management information, as testing information, generated after performing the initialization to be verified on a testing disk obtained by generating a well- known physical deficiency on an empty testing disk and a step for confirming the testing information by using reference testing information about the initialization to be verified to provide the test result.例文帳に追加

空テストディスク上に周知の物理的な欠陥を生成することによって得られるテストディスク上に検証する初期化を行った後に生成される欠陥管理情報をテスト情報として生成する段階及び、検証する初期化についての基準テスト情報を使用して前記テスト情報を確認してテスト結果を提供する段階を含む。 - 特許庁

v) In case the person accredited has a laboratory in which he/she is personally to conduct product testing pertaining to the Certification, name and address of the laboratory and the division of testing method to be conducted in such laboratory (meaning the division of the testing method prescribed in Paragraph 1 of Article 57 例文帳に追加

五　登録を受けた者が自ら認証に係る製品試験を行う試験所を有する場合にあつては、その名称及び所在地並びに当該試験所で行う試験方法の区分（第五十七条第一項に規定する試験方法の区分をいう。） - 日本法令外国語訳データベースシステム

To provide a point penetration testing method using a dynamic cone penetration testing machine and a penetration testing machine used for the method capable of measuring N-value of more accurate ground in a state to have no circumferential frictional resistance by soil while preventing the collapse of the ground without using any bentonite.例文帳に追加

ベントナイトを使用せず、地盤の崩壊を防ぎ、土による周面摩擦抵抗の無い状態で、より正確な地盤のＮ値を測定できる動的円錘入試験機を利用したポイント貫入試験方法とこの方法に使用する貫入試験機の提供。 - 特許庁

INDUCTOR RECOGNIZING METHOD, LAYOUT TESTING METHOD, COMPUTER READABLE RECORDING MEDIUM RECORDED WITH LAYOUT TEST PROGRAM, AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

インダクタ認識方法、レイアウト検査方法、レイアウト検査プログラムを記録したコンピュータ読取可能な記録媒体および半導体装置の製造方法 - 特許庁

METHOD OF MEASURING DISTRIBUTION OF BENT LOSS IN LONGITUDINAL DIRECTION OF OPTICAL FIBER AND OPTICAL FIBER LINE, METHOD OF TESTING OPTICAL LINE, AND METHOD OF MANUFACTURING OPTICAL FIBER例文帳に追加

光ファイバおよび光ファイバ線路の曲げ損失の長手方向分布の測定方法、光線路の試験方法および光ファイバの製造方法 - 特許庁

To provide a testing terminal for chip type electronic part capable of precisely measuring characteristic without exposing an internal electrode layer constituting the outer electrode of a chip type electronic part, and a testing method and testing device using it.例文帳に追加

チップ型電子部品の外部電極を構成する内部の電極層を露出させることなく、正確に特性を測定することができるチップ型電子部品の検査端子と、それを用いた検査方法および検査装置を得る。 - 特許庁

To provide a testing method and a testing circuit, which enable the user to perform the test of ADC in a time shorter than that in conventional ones, without using a high-precision, high-resolution, and expensive analog voltage generating circuit for an ADC testing circuit.例文帳に追加

ＡＤＣの試験回路に高精度かつ高分解で高価なアナログ電圧発生回路を用いることなく、従来と比較して短時間でＡＤＣの試験を行うことができる試験方法および試験回路を提供する。 - 特許庁

This method finds a function expressing an approximate curve Q for approximating a relation between a brittle fracture rate of a testing object and a testing temperature therein, and determines the testing temperature where the brittle fracture rate comes to 50% in the found function, as the fracture transition temperature (FATT).例文帳に追加

各試験体の脆性破面率と試験温度との関係を近似する近似曲線Ｑを表す関数を求め、求めた関数において脆性破面率が５０％となる試験温度を破面遷移温度（ＦＡＴＴ）とする。 - 特許庁

To accurately and easily move an imaging means to the testing location on a substrate and to improve testing efficiency, even if there are manufacturing errors detected in the location reference unit and an allocation error of substrate in the substrate testing apparatus and method.例文帳に追加

基板検査装置および方法において、位置基準部の製作誤差や、基板の配置誤差があっても、基板上の検査位置に撮像手段を正確かつ容易に移動することができ、検査効率を向上できるようにする。 - 特許庁

To provide a discharge characteristic testing apparatus and a discharge characteristic testing method which can shorten a charge time per discharge characteristic test and reduce a unit price of the apparatus.例文帳に追加

１回の放電特性テスト当たりの充電時間を短くでき、また、装置単価を低廉にできる放電特性テスト装置、および放電特性テスト方法の提供を図る。 - 特許庁

To provide scratch resistance testing equipment capable of detecting the occurrence of the scratch produced on the surface of a work in a real time with high precision, and a scratch resistance testing method.例文帳に追加

ワークの表面に生じる傷の発生をリアルタイムにかつ高精度に検出することができる耐擦傷性試験装置および耐擦傷性試験方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an IC testing device and an IC testing method capable of acquiring data in a short time, judging a necessary portion, and displaying the result of an accurate SHMOO plot.例文帳に追加

データ取得時間を短時間に行い、必要な部分の判定が行われ正確なSHMOOプロットの結果を表示することが可能なIC試験装置及びIC試験方法の提供。 - 特許庁

To provide a loop-back testing apparatus, a loop-back testing method, and a program therefor in which accuracy in the examination of a data error in an Etherframe(R) to facilitate an execution.例文帳に追加

イーサフレームにおけるデータ誤りの検査の精度を向上させ、容易に実行するループバック試験装置、ループバック試験方法、およびそのプログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a dust testing device and dust testing method for a electronic apparatus, whereby the adhering state of dust in the electronic apparatus used for a long time can be suitably reproduced.例文帳に追加

長期間使用した電子機器における埃の付着状況を適切に再現可能な、電子機器用の埃試験装置および埃試験方法を提供する。 - 特許庁

To evade damage of a test pad caused by contact of a defective probe needle by a simple mechanism, with respect to a vertically-movable type probe card, testing method and testing device.例文帳に追加

上下可動式プローブカード、試験方法及び試験装置に関し、簡単な機構により不具合のあるプローブ針のコンタクトによるテストパッドの損傷を回避する。 - 特許庁

To provide a mount testing apparatus by which the propriety of land pattern design formed on a printed wiring board can be tested for a short time, and to provide its mount testing method.例文帳に追加

プリント配線板上に形成されるランドパターンの設計の適否を短時間で試験することができる実装試験装置およびその実装試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for water pressure testing of a steel pipe capable of drastically and efficiently improving a water pressure test by achieving a simple improvement in a conventional water pressure testing device.例文帳に追加

既存の水圧試験装置に簡単な改良を加えることによって、大幅に水圧試験の能率を向上できる鋼管の水圧試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a durability testing method for a pneumatic tire capable of evaluating efficiently durability of the tire after deteriorated by use, in conformity with actual travel, while shortening a testing time.例文帳に追加

試験時間を短縮して効率よく、実走行に則した使用劣化後のタイヤの耐久性を評価することができる空気入りタイヤの耐久試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing method capable of testing a product with high accuracy for an occupant discrimination system made by installing a sensor mat 6 under the seating surface of a seat 1.例文帳に追加

シート１の座面下部にセンサマット６を組み込んだ乗員判別システムにおいて、精度の高い製品検査を実施できる検査方法を提供することにある。 - 特許庁

To provide a testing device for obtaining accurate test results by mounting a tire with a wheel without making it eccentric to a tire mounting shaft, and to provide a testing method.例文帳に追加

ホイール付きタイヤをタイヤ取り付け軸に対して偏心させることなく装着し、正確な試験結果を得ることを可能にした試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test sample mounting device, a bending testing apparatus, and a bending testing method, etc. which can accurately apply load to an object.例文帳に追加

当該対象物に正確に荷重を加えることができる試験試料装着装置、曲げ強さ試験装置及び曲げ強さ試験方法等を提供することを目的とする。 - 特許庁