「testing method」に関連した英語例文の一覧と使い方(71ページ目) - Weblio英語例文検索

REINFORCING MEANS OF WIRING BOARD, SUPPORTING TOOL OF WIRING BOARD, AND METHOD FOR TESTING RELIABILITY OF ELECTRONIC DEVICE例文帳に追加

配線基板の補強手段及び、配線基板の支持具、電子装置の信頼性試験方法 - 特許庁

FIXING TOOL OF RECORDING DISK DRIVE, MANUFACTURING METHOD OF RECORDING DISK DRIVE, AND TESTING APPARATUS OF RECORDING DISK DRIVE例文帳に追加

記録ディスク・ドライブの固定具、記録ディスク・ドライブの製造方法及び記録ディスク・ドライブのテスト装置 - 特許庁

CORROSION RESISTANCE EVALUATION METHOD OF METAL MATERIAL, METAL MATERIAL, AND CORROSION PROMOTION TESTING DEVICE OF METAL MATERIAL例文帳に追加

金属材の耐食性評価方法と金属材、並びに金属材の腐食促進試験装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR RECOGNIZING PART, SURFACE MOUNTING MACHINE, PART TESTING DEVICE AND SUBSTRATE INSPECTION DEVICE例文帳に追加

部品認識方法、部品認識装置、表面実装機、部品試験装置および基板検査装置 - 特許庁

To enhance a yield in a product test, in a semiconductor device and a testing method therefor.例文帳に追加

半導体装置およびそのテスト方法における製品テストでの歩留まりを向上させる。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING RESISTANCE VALUE OF ON-DIE-TERMINATION DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEVICE HAVING SAME例文帳に追加

オンダイターミネーション抵抗値テスト装置および方法、ならびに前記装置を有する半導体装置 - 特許庁

WET TESTING DEVICE FOR POWER GENERATOR STATOR WIRING INSULATOR USING CROSS CAPACITANCE AND METHOD THEREOF例文帳に追加

クロスキャパシタンスを用いた発電機固定子巻線絶縁物の吸湿試験装置及びその方法（ＡＰＰＡＲＡＴＵＳＡＮＤＭＥＴＨＯＤＯＦＷＡＴＥＲＡＢＳＯＲＰＴＩＯＮＴＥＳＴＦＯＲＧＥＮＥＲＡＴＯＲＳＴＡＴＯＲＷＩＮＤＩＮＧＩＮＳＵＬＡＴＯＲＵＳＩＮＧＣＲＯＳＳＣＡＰＡＣＩＴＡＮＣＥ） - 特許庁

To provide an effective testing method and device to check tunneling magnetoresistive effect elements.例文帳に追加

トンネル磁気抵抗効果素子の良否を判別する効果的な試験方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing a visual field, which is easily operated and shortens inspection time greatly.例文帳に追加

実施が簡単であり、検査時間を大きく短縮した視野検査のための方法を提供する。 - 特許庁

To provide an arrangement and alignment method of structured light system for carrying out optical gage testing of an object (A).例文帳に追加

物体（Ａ）を光ゲージ試験するための構造化光システムの配置及び位置合わせの方法。 - 特許庁

METHOD, EQUIPMENT AND SYSTEM FOR TESTING OPTICAL PROPERTY OF OPTICAL FIBER DEVICE例文帳に追加

光ファイバデバイスの光学特性検査方法、光学特性検査装置、および光学特性検査システム - 特許庁

CONVENIENT METHOD FOR TESTING COMPOSITIONAL MEMBER OF EXISTING BUILDING AND CONVENIENT PORTABLE TEST INSTRUMENT THEREFOR例文帳に追加

既設建造物における構成材の簡易試験方法とそのための携帯式簡易試験器具 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for testing mechanical endurance of a surface of an optical disk.例文帳に追加

光ディスク表面の機械的耐久性検査装置及び検査方法を提供すること。 - 特許庁

The steel material where high temperature strength is defined by the high temperature tensile testing method of the bar steel material is provided.例文帳に追加

前記の棒鋼材の高温引張試験方法で高温強度を規定される鋼材。 - 特許庁

PRIMER USED FOR NUCLEIC ACID AMPLIFICATION FOR DETECTING CYTOKERATINS AND METHOD FOR TESTING BY USING THE SAME例文帳に追加

サイトケラチン類の検出のための核酸増幅用プライマーおよび該プライマーを用いた検査方法 - 特許庁

To provide a method for testing a gas leak alarm capable of performing a test easily and speedily.例文帳に追加

試験を容易且つ迅速に行うことができるガス漏れ警報器の試験方法の提供。 - 特許庁

To provide a method 200 and a system 300 for testing an overspeed prevention system of a turbomachine.例文帳に追加

ターボ機械の過速度防止システムをテストする方法（２００）及びシステム（３００）を提供する。 - 特許庁

COMMUNICATION SYSTEM, MULTIPLEXER INCLUDED THEREIN, AND METHOD AND PROGRAM FOR TESTING LINE TRANSMISSION CHARACTERISTIC例文帳に追加

通信システム、そのシステムに含まれる多重化装置、回線伝送特性テスト方法ならびにプログラム - 特許庁

To obtain a fluorescence-labeled ligand usable in a method for testing PPARγ(peroxisome proliferator activated receptor γ) binding ability.例文帳に追加

PPARγ結合能の試験方法に用いることができる蛍光標識化リガンドの提供。 - 特許庁

To disclose an exemplary method for testing a process system, a device, and a product.例文帳に追加

プロセス制御システムを試験するための例示的方法、装置、および製造物品を開示する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR CONTROLLING MATERIAL-TESTING MACHINE FOR FATIGUE CRACK GROWTH TEST例文帳に追加

疲労き裂進展試験のための材料試験機制御方法及び材料試験機制御装置 - 特許庁

PART RECOGNITION METHOD, PART RECOGNIZING DEVICE, SURFACE MOUNTING MACHINE, PART TESTING DEVICE, AND SUBSTRATE INSPECTING DEVICE例文帳に追加

部品認識方法、部品認識装置、表面実装機、部品試験装置および基板検査装置 - 特許庁

To provide a testing method capable of reducing the time required until the rupture of a separator.例文帳に追加

セパレータの破裂までに要する時間を短縮する事が可能な試験方法を提供する。 - 特許庁

VIBRATION TESTING DEVICE FOR STRUCTURE, DIGITAL COMPUTER USED THEREFOR, AND METHOD FOR VIBRATION TEST例文帳に追加

構造物の振動試験装置及びそれに用いるデジタル計算機ならびに振動試験方法 - 特許庁

To provide a new method for testing reliability, which accurately inspects a degradation of hot carriers.例文帳に追加

ホットキャリア劣化を正確に検査できる新たな信頼性試験の方法を提供すること。 - 特許庁

MEMORY DEVICE HAVING OUTPUT CIRCUIT SELECTIVELY ENABLED FOR TEST MODE AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

テストモードのために選択的にイネーブルされる出力回路を有するメモリ装置及びそのテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE WITH OUTPUT IMPEDANCE ADJUSTING CIRCUIT AND METHOD OF TESTING OUTPUT IMPEDANCE例文帳に追加

出力インピーダンス調節回路を備えた半導体装置及び出力インピーダンスの試験方法 - 特許庁

CASK FOR RADIOACTIVE WASTE STORAGE AND ITS TRANSPORTATION METHOD AND ITS GAS LEAKAGE TESTING DEVICE例文帳に追加

放射性廃棄物貯蔵用キャスクおよびその輸送方法並びにそのガス漏洩試験装置 - 特許庁

NEW MICROORGANISM, AND METHOD FOR TESTING BIODEGRADABILITY OF BIODEGRADABLE PLASTIC BY USING THE MICROORGANISM例文帳に追加

新規微生物、及び該微生物を使用して生分解性プラスチックの生分解性を試験する方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT PACKAGE例文帳に追加

半導体集積回路、半導体集積回路の試験方法、および半導体集積回路パッケージ - 特許庁

GROUT HOLE CLOSING STRUCTURE FOR TUBE, AND STRUCTURE AND METHOD FOR TESTING WATER TIGHTNESS OF GROUT HOLE例文帳に追加

管体のグラウトホールの閉塞構造、グラウトホールの水密試験構造、および水密試験方法 - 特許庁

METHOD, DEVICE FOR TESTING REAL PAGE NUMBER BIT IN CACHE DIRECTORY, AND COMPUTER RECORDABLE MEDIUM例文帳に追加

キャッシュ・ディレクトリ内の実ページ番号ビットのテスト方法、装置、およびコンピュータ記録可能な媒体 - 特許庁

To provide a method for testing an overclock of a VGA card; and to provide a system of the VGA card.例文帳に追加

ＶＧＡカードのオーバークロックをテストする方法及びそのＶＧＡカードのシステムを提供すること。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE TESTER, BURN-IN TESTER AND METHOD OF TESTING IN SEMICONDUCTOR DEVICE TESTER例文帳に追加

半導体デバイス試験装置、バーンイン試験装置、および、半導体デバイス試験装置における試験方法 - 特許庁

This testing method of a clock synchronization type semiconductor integrated circuit goes through the following steps.例文帳に追加

本発明は、クロック同期式の半導体集積回路のテスト方法であって、以下のステップを経る。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, TESTING APPARATUS THEREOF AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR例文帳に追加

半導体集積回路、半導体集積回路検査装置、及び半導体集積回路製造方法 - 特許庁

To provide a method for testing the mitogenic activity a test sample a keratin cell.例文帳に追加

ケラチン細胞に対する被検のサンプルのマイトジェン活性を試験する方法を提供すること。 - 特許庁

MULTICHANNEL AMPLIFIER IC, MULTICHANNEL AMPLIFIER IC-MOUNTED FLEXIBLE SUBSTRATE, AND METHOD OF TESTING MULTICHANNEL AMPLIFIER IC例文帳に追加

マルチチャネルアンプＩＣ、マルチチャネルアンプＩＣ実装フレキシブル基板ならびにマルチチャネルアンプＩＣの試験方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING MEMORY MODULE IN TRANSPARENT TRANSMISSION MODE AND HUB OF MEMORY MODULE FOR EXECUTING TEST例文帳に追加

透過伝送モードでメモリモジュールをテストする方法及びこれを実行するためのメモリモジュールのハブ。 - 特許庁

COMPUTER-READABLE STORAGE MEDIUM, LOGIC MODULE, AND SEMICONDUCTOR AND TESTING METHOD THEREFOR例文帳に追加

コンピュータ読み取り可能な記憶媒体、論理モジュール、ならびに半導体装置およびそのテスト方法 - 特許庁

METHOD OF TESTING AIRTIGHT LAYER FORMED BY BONDING RECLAIMED MATERIAL TO INNER WALL FACE OF STEEL UNDERGROUND TANK例文帳に追加

鋼製地下タンク内壁面に更生材を貼り付けて形成した気密層の試験方法 - 特許庁

METHOD AND STRUCTURE FOR TESTING SEMICONDUCTOR WAFER PRIOR TO EXECUTION OF FLIP CHIP BUMPING PROCESS例文帳に追加

フリップ・チップ・バンピング・プロセスの実行に先立って半導体ウェハを試験するための方法および構造 - 特許庁

TEST APPARATUS AND METHOD FOR TESTING A PLURALITY OF DEVICES, AND SEMICONDUCTOR WAFER LEVEL TEST DEVICE例文帳に追加

複数のデバイスを試験するための試験装置、方法および半導体ウェーハ・レベル試験デバイス - 特許庁

To provide a method capable of surely and comprehensively testing memory modules on a computer system.例文帳に追加

コンピュータシステム上のメモリモジュールが、確実かつ包括的に試験され得る方法を提示すること。 - 特許庁

DEVICE FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT USING SAME例文帳に追加

半導体集積回路の試験装置およびそれを用いた半導体集積回路の製造方法 - 特許庁